Патенты с меткой «исследовапия»

Способ спектрального исследовапия структуры электронных пучков

Загрузка...

Номер патента: 306432

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Заморозков, Муравьев, Радюк, Ставский

МПК: G01J 3/28, G01N 21/31

Метки: исследовапия, пучков, спектрального, структуры, электронных

...в объеме пучка ионов является причиной того, что оптическое интегральное излучение пучка состоит из только из излучения возбуждения нейтральных атомов, но и из свечения возбуждения ионов. Поэтому распределение интенсивности интегрального излучения по сеченшо пучка зависит не только от распределения плотности тока первичны.; электронов пучка по его поперечному сеченшо, 5 но и от распределения ионов, что искажаетпнформацшо о структуре первичного электронного пучка.Чтобы устранить искажающее влияние излучения ионов, предлагается способ исследо вания структуры электронных пучкоь, основанный на регистрации не интегрального излучения электронного пучка, а излучения отдельной спектральной линии или полосы спектра возбуждения...