Способ определения химического состава и структуры веществ

Номер патента: 1081578

Опубликовано: 23.03.1984

Авторы: Алекперов, Алиев, Амиров, Искендеров, Исмаилзаде, Исмаилов, Салаев

МПК: G01R 33/12

Метки: нееля, образца, температуры

...2 3,Недостатком известного способаявляется необходимость измерениябольшого числа величин магнитнойвосприимчивости при различных температурах, на что затрачивается много времени.Целью изобретения является повышение экспрессности способа определения температуры Нееля образца.Указанная цель достигается тем,что согласно способу определениятемпературы Нееля образца путемвоздействия на него магнитным полемпри различных температурах, определяют величину напряженностей магнитного поля при различных температурах, при которых на образце возникает максимальный индуцированныйэлектрический сигнал, и по полученным значениям,аппроксимируя эту зависимость к нулю, по оси температуры определяют искомую величинуНа чертеже изображен график...

Номер патента: 1627894

Опубликовано: 15.02.1991

Авторы: Аким, Григорьев, Ерохина, Каталевский, Романов

МПК: G01N 3/18

Метки: образцов, полимерных, стеклования, температуры

...6, после чего образец разгружают, После разгрузки образца привремени С = 1 Н и последующего полногоэластического восстановления длиныобразца измеряют остаточную псевдонеобратимую деформациюЭту последовательность операций,но на разных образцах одного и тогоже испытуемого материала, проделывают при разном времени выдержки образцов под нагрузкой ( Н =2 ф25г) и постоянной температуре Топята, Варьируя время нагруженияполучают при этом временную зависимость 8-которая В полуло 1 арифмической системе координат имеетвид прямой линии (фиг, 4) и такимобразом позволяет найти время действия СН нагрузки до начала размягчения (расстекловывация, Я зэ = О)полимера при Г = сопэ и Т = сопя.Все приведенные операции с образцами нагрузка - разгрузка -...

Номер патента: 721787

Опубликовано: 15.03.1980

Авторы: Васильев, Черепин, Черныш, Шелякин, Юрасова

МПК: G01R 33/12

Метки: кюри, образцов, температуры, ферромагнитных

...(несколько граммов), Это не позволяет производить анализ магнитных свойств в микрообъемах вещества (например, тонкие пленки, микровыделения новых фаз в массовых образцах и т,д.). Кроме того, известным способом определяются магнитные свойст. ва только всего объема образца, что не дает возможность осуществить локальный анализ, т.е. в определенной точке или плоскости образца (на(тример, определенной грани монокристалла) .С целью повышения точности измерений по способу определения температуры Кюри ферромагнитных образцов, включающему нагревание образца, од721787 Формула изобретения 7 Рмлерагпура ааразца, ф с Составитель Ф, .Тарнопольска.".Техред М.КУзьма Корректор И. Муска Редактор Т. Юрчикова Заказ 125/38 Тираж 1019 Подписное ЦНИИПИ...

Номер патента: 121269

Опубликовано: 01.01.1959

Авторы: Орлов, Чулошников

МПК: G01J 1/52

Метки: контактной, образцов, сварке, температуры

...температурных полей производится следующим образом, В нужном масштабе изготавливаются плоские модели сечений свариваемых изделий. Для изделий толщиной до 2 мм, масштаб выбирают с 8 - 20-кратным увеличением. Длина пластин произвольная, порядка 100 - 150 мм, Ширина каждой пластины соответствует реальной толщине свариваемых изделий, увеличенной в соответствии с выбранным масштабом, Сварочные ролики изготавливаются с реальной формой электродов, а размеры увеличиваются в соответствии с масштабом,Режим сварки выбирается таким образом, чтобы сохранилась удельная плотность тока, имеющая место при реальной сварке. Удельное давление на электроды должно быть равно удельному давлению при реальной сварке. Время сварки изменяется пропорционально...

Номер патента: 951938

Опубликовано: 15.12.1993

Авторы: Биленко, Лясковский

МПК: G01J 5/60

Метки: образцов, полупроводниковых, температуры

...меньшей погрешностью. В этих случаях, поскольку РД (Т - То)1, можно получить выраже ния для температуры ТТо соответственно ДоТ=Т. +о.Поскольку и ив фазовом набеге равноправны, а рефракцией на температурныхнеоднородностях мы пренебрегаем, так какрасстояние от неоднородностей до плоскости выходной грани образца мало ( 100мкм), то можно приписать все температурлное изменение фазы показателю преломления и считатьФ(Т) аЬп,ф = поф ЬТ,35Следовательно,Т(х,у,г, х ) = Т + 40, и,Из этих формул видно, что можно динамически измерить распределение температуры в образце, зная его начальную температуру и пространственно-временное эффективное изменение показателя преломления Ьп,ф (х, у, г, х), вызванное неоднородным нагревом. Начальную тем-....