Явнов

Устройство для определения прямолинейности горизонтального отрезка контура изображения объекта

Загрузка...

Номер патента: 1628071

Опубликовано: 15.02.1991

Авторы: Гурылев, Комиссарик, Лопухин, Соловьев, Шелест, Явнов

МПК: G06K 9/46

Метки: горизонтального, изображения, контура, объекта, отрезка, прямолинейности

...как ца его Б-вход,являющийся третьим ходом блока 11, подкпючен к выходу блока 9 определения начала отрез-.55ка контура а К-вход являюшийся третьим входом блока, подключен к выходублока 12 определения конца отрезкаконтура, Таким образом, на выходе блока 11 разрешении счета будет формиро 1628071виться параллельный. двоичный код, аналогичный тому, который присутствует ца его входе. Этот код поступает ца блок 10 определения экстремума, ца выходе которого будет формироваться параллельный двоичный код соответствующий степени кривизны горизонтального контура, Этот код формируется следующим образом. Начиная с центрального элемента "электронного окна", в зависимости от того, какой контур анализируется (выпуклый или вогнутый) работает...

Устройство дефектоскопического контроля планарных структур

Загрузка...

Номер патента: 1499195

Опубликовано: 07.08.1989

Авторы: Бубнов, Гурылев, Колляков, Лопухин, Румас, Шелест, Явнов

МПК: G01N 21/27

Метки: дефектоскопического, планарных, структур

...форму уголка, которое зв время кадра поСледовательно пробегает все элементыразложения. Работа Р-триггера обеспечивается генератором 7 тактовых импульсов, который синхронизируется1 О 20 25 30 35 40 45 50 кадровыми и строчными синхроимпульсами по соответствующим входам. При .этом синхроимпульсы подаются на двавхода элемента ИЛИ 15, где они смешиваются и по первому входу стробируют собственно генератор, собранный на двухвходовом элементе И-НЕ 16, инверторе 17, резисторе 18 и конденсаторе19, величины параметров которых определяют рабочую частоту генератора 7 тактовых импульсовСигнал разрешения измерения, поступающий на устройство, открывает входные элементы И 49 и 50, через ко торые в блок 14 управления проходят кадровые и строчные...

Устройство дефектоскопического контроля планарных структур

Загрузка...

Номер патента: 1460610

Опубликовано: 23.02.1989

Авторы: Бубнов, Гурылев, Комиссарик, Лопухин, Шелест, Явнов

МПК: G01B 21/00

Метки: дефектоскопического, планарных, структур

...коррекции изображения,6Коммутатор 13 (фиг. 4) выполненн виде первого и второго элементов И39 и 40 и элемента ИЛИ 41, выход ко 5торого является выходом коммутатора13, первый и нторой входы соединенысоответственно с выходами первого ивторого элементов И 39 и 40, первыйвход первого элемента И 39 являетсяпервым входом коммутатора, второйинверсный вход соединен с вторымвходом второго элемента И 40 и управляющим входом блока коммутатора13, первый вход второго элемента И40 является нторым входом коммутатора 13,Блок 14 горизонтальной коррекцииизображения (фиг, 5) выполнен в видепервого и второго счетчикон 42 и 43,20 первого и второго элементов И 44 и "45 и селектора мультиплексора 46,выход которого является выходом блока 14...

Устройство дефектоскопического контроля планарных структур

Загрузка...

Номер патента: 1381731

Опубликовано: 15.03.1988

Авторы: Генералов, Киреев, Лопухин, Шелест, Шумилин, Явнов

МПК: H04N 7/18

Метки: дефектоскопического, планарных, структур

...окна одновременно. Совпадение топологически связанных сигналов о выделенных вертикальных и горизонтальных участкахконтура во времени дает информациюоб угловых элементах изображения.Это совпадение для угловых элементов изображения фиксируется параллельно по всей высоте электронногоокна с первой и второй групп элементов И 23-1 - 23-4 и 24-1 - 24=4. Ин 35формация о выделении угловых элементов раздельно по первому и второмувыходам анализатора 10 подается напервый и второй элементы ИЛИ 11-1и 1-2, которые определяют наличие 4 Оуглового элемента соответствующеготипа в текущем столбце электронногоокна, 11 олученная информация раздельно записывается в первый и второйрегистры 12-1 и 12-2 сдвига и под 45воздействием тактовых импульсов...

Устройство для моделирования резистивной тестовой структуры

Загрузка...

Номер патента: 1339593

Опубликовано: 23.09.1987

Авторы: Крюков, Лопухин, Семенова, Шелест, Шумилин, Явнов

МПК: G06G 7/44

Метки: моделирования, резистивной, структуры, тестовой

..."Ввод дефекта".Поскольку длительность сигнала "Ввод дефекта" носит случайный характер, количество импульсов, выработанных каждым генератором координат Х и У дефекта, также будет случайно. Импульсы генераторов координат Х и У дефекта поступают на два счетчика координат Х и У дефекта, состояние которых огределяет координаты положе" ния дефекта по вертикали и горизонтали на экранах блока 11 и телевизи" онного проектора 3. Информация с выходов разрядов счетчиков случайных координат Х и У дефекта, являкицихся выходом блока определения координат дефекта, поступает на информационный вход регистра 19 хранения координат дефекта. Одновременно сигнал "Ввод дефекта" подается на вход элемента 23 задержки, где задержитсяна 1 мкс и по заднему...

Устройство для выделения информативных элементов контура изображения

Загрузка...

Номер патента: 1297086

Опубликовано: 15.03.1987

Авторы: Генералов, Лапин, Лопухин, Смысленов, Шелест, Шумилин, Явнов

МПК: G06K 9/46

Метки: выделения, изображения, информативных, контура, элементов

...второго регистра 7. Сигнал с выхода элемента задержки 3 поступает на информационныйвход первого регистра сдвига 6. Работа фотоприемника 1 и генератора тактовых импульсов 5 и видеоконтрольного устройства 17 синхронизируетсястандартными строчными и кадровымисинхроимпульсами с соответствующихвыходов синхронизатора 4. Генератортактовых импульсов 5 вырабатываетпоследовательность тактовых импульсов, фаза которых синхронизируется 55 Х 1 Х 2 У 1строчными и кадровыми синхроимпульсами синхронизатора 4. С выхода гене 0 0ратора тактовых импульсов 5 последовательность тактовых импульсов посту 0 13207 О1 11 О Огде Х и Х 2 - входные сигналы; У 1и У 2 - выходные сигналы. 5При одновременном появлении навходах любого из элементов И логических единиц, что...

Устройство для контроля дефектов фотошаблона

Загрузка...

Номер патента: 1233107

Опубликовано: 23.05.1986

Авторы: Голубев, Лернер, Лопухин, Смирнов, Шелест, Шумилин, Явнов

МПК: G05B 23/02

Метки: дефектов, фотошаблона

...10 и третий 1 идентичны первому 9 элементу задержки и поскольку первый 9, второй 10 и третий 11 элементы задержки включены последовательно, то на их выходах видеосигнал задерживается соответственно на один, два, три периода строчной развертки; Задержанные сигналы с выходов элементов 9 - 11 задержки поступают на соответствующие входы первого 12, второго 13 и третьего 14 регистров (фиг.2) сдвига, при этом на тактовые входы подается сигнал синхронизации с блока 5 (фиг.7). Информация в виде видеосигнала контролируемого участка фотошаблона поступает в активное окно в месте развертки передающей телевизионной камеры блока 5 и с такой же скоростью обрабатывается в блоке 15 (фиг.3) и анализаторе 16 (фиг.4). Последний получает информацию...

Устройство для контроля планарных структур

Загрузка...

Номер патента: 1167620

Опубликовано: 15.07.1985

Авторы: Крюков, Лебедев, Лопухин, Меткин, Михайлов, Шелест, Шумилин, Явнов

МПК: G01R 31/303, G06F 17/00

Метки: планарных, структур

...блока счетчиков; на фиг, 7 - структурная схема блока запуска; на фиг. 8 - структурная схема генератора тактовых импульсов; на фиг. 9 - структурная схема блока формирования задержки; на фиг. 10 - структурная схема блока переключения; на фиг. 11 - структурная схема, третьего коммутатора; на фиг,. 12 - структурная схема блока определения координат метки,Устройство содержит координатный стол 1, два оптических дефектоскопа 2, первый преобразователь 3 оптических сигналов в электрические дискретные сигналы, второй преобразо 35 ватель 4 оптических сигналов в электрические дискретные сигналы, синхронизатор 5, блок 6 сравнения, блок 7индикации, первый коммутатор 8, второй коммутатор 9, управляющий триггер 10, первый блок 11 распознованияметки,...

Способ подгонки симметричных интегральных схем

Загрузка...

Номер патента: 911633

Опубликовано: 07.03.1982

Авторы: Водяников, Водяникова, Лопухин, Явнов

МПК: H01C 17/245

Метки: интегральных, подгонки, симметричных, схем

...от номинала, затем изменяют величину подстроечного резистора другой части и доводят до получения номинала, выходного параметра этой части.На фиг. 1 изображена принципиальнаяэлектрическая схена симметричного мультивибратора, подлежащего подгонке; на Фиг,2 - процесс подгонки по известному способу; на фиг.3 - то же, по предлагаемому способу; наФиг,4 - пример конструкции двух резисторов с общей стороной, приспособ"ленных для подгонки по предлагаемомуспособу; на фиг.5 - результат,испарения лазером общей стороны при одновременной подгонке резисторов; на Фиг.б - результат дополнительногоиспарения резистивной пленки резистора 8. 55Рассмотрим процесс подгонки наГ примере симметричной интегральной схемы (фиг. 1), содержащей подстроеч 3 4ные...

Устройство для контроля печатных плат

Загрузка...

Номер патента: 911375

Опубликовано: 07.03.1982

Авторы: Водяников, Водяникова, Лопухин, Явнов

МПК: G01R 31/02

Метки: печатных, плат

...позицию с блока 3 управления выдается сигнал на включение механизма 4 перемещения и источника света 13, а также на подключение ко входу контролируемой структуры генератора 12 высокой частоты, Блок 5 датчиков начинает движение вдоль контролируемой структуры, совпадение с которой фиксируется с помощью фотосекций блока 5 датчиков. Выходные сигнапы фотосекции блока 5 .датчиков (освещены или эате 4 невы источником света 13) обрабаты:ваются анализатором 6, который выдает следующую информацию: на блок 7 коммутации для переключения емкостных секций блока 5 датчиков, а также о совпадении емкостных секций блока 5 датчиков с очередным стержнем контролируемой платы на счетчик 10 для подсчета количества стержней в контролируемой структуре на блок 3...