Способ определения структуры поверхности объектов

Номер патента: 1308864

Авторы: Бондарев, Герасимов, Журавский, Пытлев

ZIP архив

Текст

СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК 01 Б 1/ ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ аничесда во СССР 1978.в, М,: ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ(71) Институт общей и неоркой химии АН БССР(56) Авторское свидетельстФ 819612, кл, С 01 И 1/00Горшков В,С., СавельевТимашев В,В, Методы физикокого анализа вяжущих вещесВысшая школа, 1981, с. 19(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СТРУКТУРЫПОВЕРХНОСТИ ОБЪЕКТОВ(57) Изобретение относится к аналитической химии, а именно к способаммикроскопического изучения поверхности твердых тел, и позволяет упростить способ и повысить долю пригодных реплик поверхности объектов,труднодоступных дпя непосредственно в .го наблюдения. На анализируемую поверхность объекта однократно наносятпленкообраэную компоэицчю, в качестве которой используют 4,8-6 Х-ныйраствор фторопласта в ацетоне, отделяют образующуюся пленочную репликуи изучают с помощью оптического микроскопа, 1 э,п. ф-лы, 1 табл., 2, Способ по п,1, о т л и ч а ю -щ и й с я тем, .что используют4,8-6,0%-ный раствор фторопласта вацетоне. 25 Концентрация Доля прираствора годных фтороплас- реплик, та, % % Способ определенияструктурыповерхностиобъектов 46 Известный Предлагаемый 4,6 92 4,8 5,0 98 100 100 5,5 5,8 6,0 100 100 100 6,5 100 7,0 Составитель Г,ЦойРедактор С,Патрушева Техред И.Попович Корректор С. Черни Заказ 1789/33 Тираж 777ВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Подписное Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 1 130886Изобретение относится к аналитической химии, а именно к способаммикроскопического изучения поверхности твердых тел труднодоступныхдля непосредственного наблюдения. 5Цель изобретения - упрощение способа ( благодаря однократному нанесению пленочной композиции ) и повышение доли пригодных реплик,На участок поверхности бетонного 1 Оизделия с пористой структурой поверхности размером 1 х 2 см наносят пленкообраэующую композицию, представляющую собой 5,0%-ный раствор фторопласта в ацетоне. После улетучивания ацетона производят отделение реп- .лики. В таблице приведены различныеконцентрации фтороппаста в ацетоне,определяющие долю пригодных реплик,20 Как следует иэ таблицы, увеличение концентрации фторопласта в ацетоне выше 6% нецелесообразно. Предлагаемый способ позволяет упростить процесс получения реплик благодаря 4 2однократному нанесению пленкообразующей композиции и увеличить долю пригодных реплик,1, Способ определения структуры поверхности объектов, включающий нанесение на его поверхность пленкообразующей композиции, отделение полученной реплики и последующую количественную регистрацию имеющихся дефектов с помощью оптического микроскопа, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что с целью упрощения способа из-за однократного нанесения пленочной композиции и повышения доли пригодных реплик, в качестве пленкообразующей композиции используют раствор фторопласта в ацетоне.

Смотреть

Заявка

4012346, 22.01.1986

ИНСТИТУТ ОБЩЕЙ И НЕОРГАНИЧЕСКОЙ ХИМИИ АН БССР

ГЕРАСИМОВ АЛЕКСАНДР ВЛАДИМИРОВИЧ, БОНДАРЕВ МИХАИЛ НИКОЛАЕВИЧ, ПЫТЛЕВ СЕРГЕЙ ИВАНОВИЧ, ЖУРАВСКИЙ СЕРГЕЙ ИВАНОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01N 1/28

Метки: объектов, поверхности, структуры

Опубликовано: 07.05.1987

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-1308864-sposob-opredeleniya-struktury-poverkhnosti-obektov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения структуры поверхности объектов</a>

Похожие патенты