Поляризационный интерферометр

Союз СоветскихСоциалистическихРеспублик ОП ИСАНИЕ ц 4 оо 17ИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ 6 ) Дополнительное к авт, свид-ву(22)Заявлено ОЙ.01.80 (21) 2870501/18-25с присоединением заявки)М. Кл. С 01 М 21/21//С 01 В 9/02 еударстаеиаый комете СССР о делам изобретений и открытий.Рокос (ЧССР) и Л.А.Рокос сследовательский институт: и радиотехнических измерений сесоюзныи науцн иэико-техницеск) ПОЛЯРИЗАЦИОННЫЙ ИНТЕРФЕРОМЕ Недостаткомзационных интто, что на ихцувствительноние состоянияполупрозрачнозаразитную моаоэможно ском известных поляри"рферометров является точность и пороговую сть влияют искажеполяризации лучей назеркале, вызывающее уляцию, которую неенсировать, и нарушеневысокая,твие исИзобретение относится к оптике и измерительной технике и предназначено для прецизионных линейных из-. мерений, а также для исследования оптических параметров прозрачных5 сред.Известны поляризационные интерферометры, для которых общим явля" ется наличие двух лучей с различными состояниями поляризации, разность фаз между которыми измеряется. Для увеличения отношения сигнал/ шум используют модуляцию состояния поляризации входного или выходного луча 11 и 21,15 инейности аппаратной функции.бильность рабочей точки модуля ние лнеста етора.Наиболее близким техническим решением к предлагаемому является поляризационный интерферометр, содержащий оптически связанные источник линейно-поляризованного излучения, одно полупрозрачное зеркало и два непрозрачных зеркала, образующие интерферометр Майкельсона, две фазовые пластинки, расположенные вкаждом плече интерферометра, на выходе интерферометра по ходу луча по" следовательно расположены модулиру" ющий злектрооптический кристалл, оптическая ось которого составляет угол тт 5 ф с плоскостью поляризации источника линейно-поляризованного излучения, анализатор, фотоприемник и блок обработки информации 13 .Недостаток устройства- точность измерений, вследс5 9400 ле 3, так как. последнее влияет на оба луча одинаковым образом, Действие полупрозрачного зеркала проявляет" ся лишь в том, что плоскости, в которых при модуляции перемещаются интерферирующие лучи А.1 и А 2 и результирующий луч А поворачиваются вокруг оси НЧ на угол Ь,Интерферирующие лучи, записанные матрицами Джонсона на выходе после 0 полупрозрачного зеркала, выглядят в видеА Г М(ф +О.(ОЦКТ,Е "Ю со ИЬ+аа 11 ТА Гчи 46.фаей КТе-"д ЬЯ. ЕСО 5 ИЬф+(ФЮ) Ь 5 Т)где А - амплитуда луча,Р к Г- соответственно амплитудЮ 1 %Хцные коэффициенты отражения и пропускания для сос 25тавляющих линейно поляризованных лучей с азимутом0 и 90 о3- разность фаз между составляющими луча, воэникаю 30щими при отражении,Интенсивность выходного луча послеанализатора при этом равна1Э=К К 1 уи 29 ЧиХ-МибюиХ-Чь 2 Ф)- У35 - солсо) сов хчм ь 1Учитывая, что б представляет собой модулирующий сигнал, и разлагаяуравнение в ряд фурье, находим, чтопри работе на неветной гармонике величина Ь не оказывает влияния ни налинейность компенсатора, ни на пороговую чувствительность.45Кроме того, неравность коэффициентов К) и Ку, что приводит к изменению азимутов интерферирующих лучей,также не оказывает влияния. Выбранная ориентация оптических осей эле 50ментов и их взаимное расположениедают возможность использовать анализатор, стоящий на выходе интерферометра, в качестве компенсатора. Одновременное удовлетворение.трем вышеуказанным требованиям дает55возможность довести пороговую чувствительность предлагаемого интерферометра до 10 Й,17 6Предложенный поляризованный интерФерометр можно использовать и дпя исследований двупреломляющих объектов, в этом случае исследуемый объект устанавливат между полупрозрачным зеркалом 3 и фаэовой пластинкой 7, причем азимут оптической оси ,исследуемого объекта должен быть равен 45".Формула изобретения1. Поляризационный интенферометр, содержащий оптически"связанные источник линейно"поляризованного излучения, одно полупрозрачное зеркало и два непрозрачных зеркала, образующие:интерферометр Иайкельсона, две фазовые пластинки, расположенные в каждом плече интерферометра, на выходе интерферометра по ходу луча последовательно расположены модулирующий электрооптический кристалл, оптическая ось которого составляет угол 45 с плоскостью поляризации источника линейно-попяризсванного излучения, анализатор, фотоприемник и блок обработки информации, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений, одна из фазовых пластинок установлена после модулирующего электро- оптического кристалла перед полупрозрачным зеркалом на входе интерФерометра Иайкельсона и ее оптическая ось составляет угол 45 с плосокостью падения света на полупрозрачное зеркало, причем обе фазовые пластинки являются четвертьволновыми,2, Интерферометр по и. 1, о тл и чающий с я тем, что оптическая ось второй Фаэовой пластинки параллельна плоскости падениясвета на полупрозрачное зеркало.3. Интерферометр по и. 1, о тл и ч а ю щ и й с я тем, что оптическая ось второй Фазовой пластинкиперпендикулярна плоскости падениясвета на полупрозрачное зеркало.Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1. Патент Швейцарии Ю 529991,кл. С 01 В 11/02, опублик. 1971.2, Замков В.А., Радкевич В,Я, Сб,докладов Всесоюзного совещания"Оптические и титрометрические анализаторы жидких сред", Тбилиси, 1971.,ц, 2, с. 128.3, Патент Франции Н 2208518,кл. С 01 В Уоо, 1974,940017 Фл. Составитель В. Котеневктор М.Голаковски Техред Т, Маточка Корректор Ю. Макаренко сно аказ 4/5 л ППП атент , г. Ужгород, ул. Проектная ираж НИИПИ Государств по делам иэобре 3035, Москва, Ж П нного комитета ССС ений и открытий 5, Раущская наб