Обнаружения дефектов; “-зй: x
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 356534
Автор: Лихтман
Текст
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Соеетскит Социалистическнк РеспубликЗависимое от авт. свидетельства-М. Кл. С 01 п 21/32 Заявлено 23.И 1,1970 ( 1465484/25-28)с присоединением заявки-Приоритет -Опубликовано 23.Х,1972, Бюллетень32Дата опубликования описания 13.Х 11.1972 Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРЪ ДК 676.019,258(088,8) Авторизобретения И, Н. Лихтман Заявитель Украинский научно-исследовательский институт целлюлозно-бумажнойпромышленности 1Г в "Г т . т уо аУСТРОЙСТВО ДЛЯ ОБНАРУЖЕНИЯ ЛЕфЕКТОВВ ЛИСТОВЫХ И РУЛОННЫХ МАТЕРИАЛАХ 2 Изобретение отнссигвся к области контроля листовых материалов и может быть использовано, например, в целлюлозно-бумажной промышленности.Известны устройсгва для обнаружения дефектов в листовых и рулонных материалах, содержащие источник света, оптическую систему с щелевсй диафратмой для формирования сканирующего луча, фотоприемники и электронную схему. Однако в известных у 1 стройсгвах необходимо производить регулировку щели на диафрагме, так как мощность попадающего на нее потока достаточна, чтобы навреть диафрагму, изменить ее размеры, что приводит, в свою очередь, к изменению элементов развертки в прсцессе работы устройства,С целью повышения надежности работы в предложенном устройсттве щелевая диафрагма выполнена из двух пар установленных на термокомпенсирующих основаниях шторок, щели которых расположены перпендикулярно одна другой. На чертеже показано предложенное устройство.Устройство состоит из источника 1 света, оптической системы для фармировасния сканирующего луча, а также фотопрпемнпксв с электроиной схемой.. Оптическая система содержит кснденсор2, щелевую диафратму 8, проекционный объ ехтив.4, развертывающий барабан б и линзу б,Диафрагма имеет две пары шторок -шторки 7, 8 и шторки 9, 10, юстирсвочпые прокладки И - 14, четыре термокомпенсн рующих основания 15 - 17 (одно основаниена чертеже не показано). Устройство работает следующим образом.Световой поток от источника через кон денсор попадает на щелевую диафрагму и,формируясь шторками в луч развертки, нагревает ее. При этом края шторок перемещаются так, ччто зазор между ними соскращается. Термокомпенсирующие основания, удлиняясь при нагревании, раздвигают шторки, благодаря чему результирующий зазор между ними, определятощий размер элемента развертки, остается постоянным. (Шторки и основачия могут быть изготовлены нз ма териала с одинаковыми или различнымитемпературными коэффициентами расширения). Затем световой поток через проекционный объективов попадает на развертывающую поверхность барабана и через линзу скани ЗО рует исследуемую деталь 18.Зобо 34 де ектовУстройство для обнаружения ф в листовых и рулонных материалах, содер у систему жащее источник света, оптичеок юдля формирования сканирующего луча, включающую щглевую диафрагму, фотоприемниСоставитель Л. Савенк Техред А, Евдонов596 Тираж 406 Подписное етений и открьпяй при Совете Министров СССР 35, Раушская наб., д. 4/5ки и электронную схему, отличающеесяотц лью повышения надежнос и броиства, щелевая диафрагма выполненаиз двух пар установленных на термокомпен 5 сирующих основаниях шторок , щели которыхрасположены перпендикуля го одна другой.
СмотретьЗаявка
1465484
Украинский научно исследовательский институт целлюлозно бумажной
И. Н. Лихтман
МПК / Метки
МПК: G01N 21/89
Метки: дефектов, зй, обнаружения
Опубликовано: 01.01.1972
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-356534-obnaruzheniya-defektov-zjj-x.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Обнаружения дефектов; “-зй: x</a>
Предыдущий патент: 356533
Следующий патент: Устройство для измерения параметров изоклщьг
Случайный патент: Устройство для допускового контроля частоты следования импульсов