Патенты с меткой «антимонида»

Способ создания электронно-дырочных переходов в дендритах полупроводникового антимонида индия

Загрузка...

Номер патента: 146049

Опубликовано: 01.01.1962

Авторы: Дашевский, Лазарев, Миргаловская

МПК: C30B 29/40, C30B 31/04

Метки: антимонида, дендритах, индия, переходов, полупроводникового, создания, электронно-дырочных

...антимонида индия зашлифовки, полировки и травления лектронно-дырочный переход на опрефигурации,ма установки для осуществления спор - и переходов ведут следующим обр нь 1 помещают в печь 2 сопротивления температуру которой измеряют при поз иевого стерпня, обращенный к плоскост ом режим печи подбирают таким, чтоб от падения силами поверхностного натя) оя индия на поверхность дендрита 4 ст в сторону дендрита и, касаясь его пов азом.(с регу ОЩИ тЕР- и дендриы капля кения.ерпень 1 ерхности,ц лируе мопар та 4, индия мопе смачи Кдиевыи стержень 1 и печь 2 могут перемещаться в ости, что позволяет регулировать размеры поверхлоя индия. Как показано на схеме, тигель 5 с расертикости роцесс создачиндиевый стерпмым нагревом)ы 3, Конец...

Полирующий раствор для антимонида индия

Загрузка...

Номер патента: 521620

Опубликовано: 15.07.1976

Авторы: Козлова, Ольховикова, Приходько, Хашимов

МПК: H01L 21/306

Метки: антимонида, индия, полирующий, раствор

...обра521620Ф 4 Формула изобретения Составитель В, МальцевТехред Е. Подурушина Редактор И. Шубина Корректор А. Дзесова Заказ 1793/1 О Изд.1551 Тираж 963 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, 5 К, Раушская наб., д, 4/5Типография, пр, Сапунова, 2 зом, пригодны для исследования методом трансмиссионной электронной микроскопии.Предлагаемым методом возможно исследование микроструктуры материала, в частности дефектов кристаллического строения. Особое значение метод трансмиссионной электронной микроскопии преобретает при исследовании структурного совершенства тонких эпитаксильных слоев.П р и м е р 1. Подготовку образцов к утоньшпию производят следующим...

Травитель для антимонида индия

Загрузка...

Номер патента: 521921

Опубликовано: 25.07.1976

Автор: Еланская

МПК: B01J 17/00

Метки: антимонида, индия, травитель

...ляет Травление длил цы промывали вод выявлялись в виде вершиной. атемисл ми л к о онусообразных я и быть рмула и етени инТравитель для антимо ший соляную кислоту и п личаюшийся те,выявления дислокаций по 111), (110 (100,нительно содержит молоч следующем соотношении к Соляная кислота Пергидроль я Молочная кислотасо ем с 0 - 250 0 - 150 0 - 400 лупроводниковых материалов,Известен травитель, выявляюшийкации в монокристаллах антив состав которого входят азая и уксусная кислоты,Однако известный травитель выядислокационные ямки травления толодной или двух кристаллографическикостях,Известен также травитель, состоиз соляной кислоты и пергидроля.Однако этот травитель не может1использован для травления антимони дня.Целью изобретения...

Способ получения антимонида диспрозия

Загрузка...

Номер патента: 854881

Опубликовано: 15.08.1981

Авторы: Абдусалямова, Бурнашев, Власов, Миронов

МПК: C01F 17/00

Метки: антимонида, диспрозия

...выдержку 5-6 ч и повышают температуру ВНИИПИ Заказ 6796/30 Тираж 505 Подписное Филиал ППП "Патент", г, Ужгород, ул. Проектная, 4 монида диспроэия, состоящему вгсмешивании стехиометрических количеств порошков исходных компонентов, прессовании, загрузке в реактор, эвакуировании, заполнении инертным газом, нагревании и охлаждении до комнатной температуры, нагревание гедут.от комнатной температуры до 440-460 С в течение 1-2 ч, затем деолают выдержку 5-6 ч и повьппают температуру от 440"460 до 490-510 С во течение -2 ч с последующей выдержкой 5-6 ч, после чего увеличивают температуру от 490-510 до 540-560 С в течение 1-2 ч с выдержкой 5"6 ч и отожУ женную смесь растирают в порошок, прессуют в таблетки и нагреваюот комнатной температуры...

Полирующий травитель для антимонида индия

Загрузка...

Номер патента: 1059033

Опубликовано: 07.12.1983

Авторы: Сорокина, Улин

МПК: C30B 33/00

Метки: антимонида, индия, полирующий, травитель

...чтопри большой скорости травления приводит к созданию неровностей типа"апельсиновой корки" .Кроме того, очень высокая скорост/травления около 800 мкм/мин) непозволяет контролировать малые толщины удаляемых слоев,Цель изобретения " улучшение качества обработки поверхности и снижение скорости травления.Поставленная цель достигаетсятем, что травитель для антимонидаиндия, содержащий концентрироваиную плавиковую кислоту и окислитель, дополнительно содержит 7,610,4-ный водный раствор щавелевойкислоты и в качестве окислителя перекись водорода и концентркрованнувсерную кислоту при следующем соотно-,шении компонентов, об.ч.;Плавиковая кислота 2-4Перекись водорода 0,3-1,5Серная кислота 2-47,6-10,4-ный водныйраствор .щавелевойкислоты...

Травитель для прецизионного химического полирования монокристаллов антимонида галия и твердых растворов на его основе

Загрузка...

Номер патента: 1135382

Опубликовано: 15.10.1986

Авторы: Лазарев, Луфт, Хусид, Яссен

МПК: H01L 21/306

Метки: антимонида, галия, монокристаллов, основе, полирования, прецизионного, растворов, твердых, травитель, химического

...и 457-ного ра 40створа плавиковой кислоты НР при соотношениях компонентов, указанных впримерах 1-5. Используются реактивы .марок ОСЧ или ХЧ (молочная кислота)и деионизованная вода марки АТравление поверхности монокристал 45лов СаЯЬ.Образец, например монокристаллическую пластину СаЯЬ ориентации100) или 111 В толщиной 400 -600 мкм, предварительно подвергнутую химико-механическому полированию (ХМП), очищают от поверхностныхзагрязнений, помещают во фторопластовую кассету и подвергают химико-динамическому полированию вначале в55 известном составе травителя (1) или(2) с большой скоростью травления35382 43 мин; обработка в концентрированной НГ - 5 мин, промывка в воде2-3 мин, сушка в центрифуге - 2 мин.Такая последовательная обработкапри...

Способ получения антимонида самария

Загрузка...

Номер патента: 1397409

Опубликовано: 23.05.1988

Авторы: Абулхаев, Чуйко

МПК: C01F 17/00

Метки: антимонида, самария

...Г 7 3111, 8 Ь 32,69; эксцсричецг,льный 8 ш 67,35; 8 Ь;)2,511 Отцость рсцгсцовскся 8, 30 гсм 3, и кцомстрисски 5 8,230 г см . 1 хрцсталлохццческцс харак.ТГ)ИСТР(КЦ: Г(.КСс 1 ГОНПЛ ЬН а Я СЦ Ц (О(И Я, СТр КТу р 1 ЫЙ ТИ 31 М)8,3, 13 ро(Т 1)с НС ГВС(1(515Г)мппа5(, 1 с ч, .ара (с 11 ы )с ц(. тки. с 1 = 8,932 г., с = 6,381 .сФизНсскис с 30 йст 3 с,ьцос лск(р- со и ост ц 3; с ц Р(с О, 2)61 (ч (, ( а 1; цц (1 51 . ( о.- при Р м ц и 1 Ость 1691,сц. с к(фф ц (сц( Холла 1,9910,11 Сл, к(ффи,цс и тсрч цеского рсц ир(.ц,(Я 10Г. х;рак (ср - Гццескс 51 (с 1 цсра 1 );с 3,1 с( 51 16 с Ь Г(ч(, и) проволцол ь 3,6 11 т ч В. ) с рч: .9с.80 мкБ К .На и.рвои с"Гал 1 и син Ге:с,)п(;1)п.)и 300 ).30" С и выдержке 1,5- 2,0 и. Происходи( полное вцслрсцие...

Способ получения монокристаллов антимонида индия

Загрузка...

Номер патента: 1756392

Опубликовано: 23.08.1992

Авторы: Векшина, Нагибин, Пепик, Попков

МПК: C30B 15/00, C30B 29/40

Метки: антимонида, индия, монокристаллов

...эффективного коэФФициейта распределенияпримесей от величинымагнитного поля,воздействующего на расплав, При этом легирование проводят на концентрации носителей заряда (3 - 6)10" см . В работе сиспользованием критериев тепломассопереноса объясняются причины возрастаниякоэффициентов распределения указанныхвыше примесей, 8 данном случае исследования по влиянию магнитного поля на электрофизические параметры получаемогоматериала не проводились,Целью изобретения является увеличениявыхода монокристаллов с подвижностью носителей заряда более 5 10 см /В с ч,э 2Поставленная цель достигается с помощью МГД устройства "поперечйого магнитного поля, позволяющего получать в"центре тигля магнйтное поле с индукциейдо 0,3 Тл.После наложения...

Способ приготовления раствора для полирования антимонида индия

Загрузка...

Номер патента: 1669337

Опубликовано: 23.09.1992

Авторы: Мироненко, Налькина, Нестеров, Хрящев

МПК: H01L 21/306

Метки: антимонида, индия, полирования, приготовления, раствора

...супермедленным трввителем состава МВТВК1:50 по приведеннойвыше методике в течение 30, 60, 90 с.Часть образцов, облученных той аедозой, обработана при соОтношенииМВТ ; ВК " 1:100 в течение 2 н 3 мин.Результаты определения средней скорости травления сведены в таблицу,-раздел 111.Пример 4, В раздел 1 Ч таблицы сведены результаты по определению средней скорости травления присоотношении МВТ : ВК = 1:100 образцов внтимонида индия, нмплантированных большей дозой ионов магния,Из сравнения результатов разделов111 и 1 Ч таблицы видно, что даае приодинаковых степени разбавления и времени травления на скорости травлениясказывается степеньарушения струк-туры материала при р.зпичных дозахоблучения. Из результатов т;блицы следует, что...

Состав для очистки поверхности антимонида индия

Номер патента: 1530013

Опубликовано: 20.03.1996

Авторы: Веселова, Гусев, Космодемьянская, Прокофьев, Слесарева

МПК: H01L 21/306

Метки: антимонида, индия, поверхности, состав

СОСТАВ ДЛЯ ОЧИСТКИ ПОВЕРХНОСТИ АНТИМОНИДА ИНДИЯ, содержащий поверхностно-активное вещество, гексаметафосфат натрия и воду, отличающийся тем, что, с целью повышения качества очистки поверхности, в качестве поверхностно-активного вещества используют оксиэтилированный моноалкилфенол формулы RO6H4O(CH2C2H4O)nH, где n = 9 - 12, при следующем соотношении компонентов, мас.%:Оксиэтилированный моноалкилфенол формулы RC6H4O(CH2C2H4O)nH - 0,18 - 0,22Гексаметафосфат натрия - 0,65-0,85Вода - До 100

Раствор для травления антимонида индия

Номер патента: 1480674

Опубликовано: 10.04.1996

Авторы: Веселова, Гусев, Космодемьянская, Слесарева

МПК: H01L 21/306

Метки: антимонида, индия, раствор, травления

РАСТВОР ДЛЯ ТРАВЛЕНИЯ АНТИМОНИДА ИНДИЯ, включающий органическую кислоту, перекись водорода, азотную кислоту, отличающийся тем, что с целью улучшения качества травления за счет повышения его равномерности, раствор дополнительно содержит фторид аммония и алкилсульфонат натрия, а в качестве органической кислоты винную или лимонную кислоту при следующем соотношении компонентов, об.Винная или лимонная кислота (30%-ная) 66,7 72,7Перекись водорода (30%-ная) 15,5 23,3Азотная кислота (65%-ная) 3,3 5,7Фторид аммония (40%-ный) 2,9 6,2Алкилсульфонат натрия (1%-ный) 1,7 2,9

Способ получения структур диэлектрик-полупроводник на основе антимонида индия

Номер патента: 1424643

Опубликовано: 20.05.2000

Авторы: Балин, Гузев, Шкляев

МПК: H01L 21/316

Метки: антимонида, диэлектрик-полупроводник, индия, основе, структур

Способ получения структур диэлектрик - полупроводник на основе антимонида индия, включающий очистку поверхности полупроводниковой подложки, формирование потока молекул окиси кремния в атмосфере кислорода при давлении от 1,15 до 4,0 Па, зажигание ВЧ-разряда с плотностью мощности от 0,3 до 1,0 Вт/см2 на электроде с подложкой, охлаждение на подложке пленки двуокиси кремния, отличающийся тем, что, с целью улучшения электрофизических свойств структур за счет уменьшения влияния высокочастотного газового разряда, перед зажиганием газового разряда осаждают подслой двуокиси кремния толщиной от 150 до при температуре от 293...

Способ обработки антимонида индия

Номер патента: 660499

Опубликовано: 20.09.2001

Авторы: Коршунов, Тихонов

МПК: H01L 21/265

Метки: антимонида, индия

Способ обработки антимонида индия облучением ионами, отличающийся тем, что, с целью обеспечения регулируемого по глубине увеличения скорости электрохимического травления без изменения типа проводимости и уменьшения подвижности носителей заряда, антимонид индия во время облучения подвергают нагреву от 100 до 290oC.

Способ определения концентрации электронов в приповерхностном слое вырожденного антимонида индия п-типа

Номер патента: 708792

Опубликовано: 10.11.2001

Авторы: Коршунов, Морозов, Тихонов

МПК: G01N 21/21

Метки: антимонида, вырожденного, индия, концентрации, п-типа, приповерхностном, слое, электронов

Способ определения концентрации электронов в приповерхностном слое вырожденного антимонида индия, n-типа, включающий освещение монохроматическим поляризованным светом образцов исследуемого и взятого в качестве эталона невырожденного полупроводника, многократное измерение эллипсометрического параметра и соответствующих ему длин волн, определение энергетического сдвига края полосы собственного поглощения, отличающийся тем, что, с целью упрощения способа перенесением измерений в видимую область спектра, перед освещением поверхности исследуемого образца и эталона аморфизируют с сохранением исходной концентрации электронов, при...

Способ получения кристаллов антимонида индия insb, легированного висмутом

Номер патента: 1279279

Опубликовано: 20.11.2002

Авторы: Браташевский, Васильков, Дорошенко, Ковалев, Стоян

МПК: C30B 13/10, C30B 29/40

Метки: insb, антимонида, висмутом, индия, кристаллов, легированного

Способ получения кристаллов антимонида индия InSb, легированного висмутом путем направленной кристаллизации из раствора - раствора исходных InSb и In2Bi, отличающийся тем, что, с целью получения высокоомного антимонида индия, исходный InSb берут с содержанием не более 4,6 1015 см-3 фоновой примеси, раствор-расплав содержит 2,6-22,5 мол.% In2Bi и кристаллизацию ведут со скоростью 0,8-3,2 мм/ч.