Архив за 1992 год
Способ измерения густоты пространственной сетки полимерного связующего в композиционном материале
Номер патента: 1784861
Опубликовано: 30.12.1992
Авторы: Алейникова, Бакова, Батурин, Ольхов
МПК: G01N 11/00
Метки: густоты, композиционном, материале, полимерного, пространственной, связующего, сетки
...ине поглощался им в процессе нической кривой, т.е, плато высокоэластичнабухания, невозможность количественно- носги. Между. продолжением го учета доли Растворителя, заполнившего 35 дилатометрической прямой и плато высоковакуоли между полимером и наполнителемг эластичности при температуре Т определяобраэуемые при набухании полимера и от- ют величину Н, подстановкой которой в рыва его от поверхности наполнителя;а так- уравнение же возможность неконтролируемой деструкции пространственной сетк 11 пол-, 1 2 имерного связующего при его набухании.4В 12, 3 2Целью изобрегения является сокраще- . 4Во, НВТс ние времени измерения, повышение точности и безопасности. определяют густоту пространственной сетУказанная цель достйгается...
Способ контроля момента окончания реакции получения n циклогексилбензтиазолил-2-сульфенамида
Номер патента: 1784862
Опубликовано: 30.12.1992
Авторы: Акчурина, Журавлев, Казаков, Рыжков, Смагина, Чоп
МПК: G01N 11/00
Метки: момента, окончания, реакции, циклогексилбензтиазолил-2-сульфенамида
...к изобретению способ контроля момента окончания реакции получения сульфенамида Ц путем спектрофотометрии, заключающийся в определении количества целевого продукта о присутствии 2-МБТ и ЦГА о разбавленных растворах, Об окончании реакции судят по исчезновению 2-МБТ о реакционной массе. Для анализа отбирают 1 мл реакционной массы и разбаолением приготавлиоают рабочие растворы с концентрациями (0,25-1,00) 10" моль/л. Оптические плотности измеряют в кварцевых кюветах с толщиной поглощающего слоя 1 см. Время проведения анализа составляет 15-20 мин, общее время протекания процесса - 3,5 - 4 ч.Недостаток способа состоит в трудоемкости и длительности анализа,Цель изобретения - упрощение способа контроля и повышение его экспрессности.Поставленная...
Устройство для экспресс-контроля вязкости жидкости
Номер патента: 1784863
Опубликовано: 30.12.1992
Авторы: Городецкий, Шепельский
МПК: G01N 11/08
Метки: вязкости, жидкости, экспресс-контроля
...верхней части корпуса и шеек равно отношению скоростей погрукения шеек и верхней части устройства. 2 ил. соосно с устройством капилляром 3. В нижней части устройства расположена полость 4, внутренний диаметр которой равен наружному диаметру верхней части устройства.На верхней цилиндрйческой части устройства с наружной стороны выполнены шейки 5, 6, первая из которых соответствует линии погружения устройства в начальный момент, а вторая- линияпогружения к концу процесса контроля.Работа устройства заключается ГОЩЕМ.Устройство и вертикальном полокениипогрукают в испытуемую жидкость, предварительно закрыв отверс 1 ие в верхней части устройства, После погружения отверстие открывают, Испытуемая жидкость поступает во внутреннюю полость 4...
Способ определения показателя текучести расплава полимерного термопластичного материала
Номер патента: 1784864
Опубликовано: 30.12.1992
Авторы: Михневич, Мишин, Пашинская, Ратников
МПК: G01N 11/10
Метки: показателя, полимерного, расплава, текучести, термопластичного
...тока, проходящего через стержень; 8 - переменный резистор для регулирования силы электрического тока, проходящего через стержень.Для определения ПТР необходимо знать градуировочную зависимость. Учитывая, что существует стандартный метод определения ПТР, градуировочная зависимость должна обеспечивать получение стандартных данных, Согласно стандарту ПТР определяют при двух "тарированных удельныхнагрузках на расплав; 0,094 МПа и 0,18 МПа, поэтому и в способе согласно изобретению градуиро. вочные зависимости получены для удельных нагрузок 0,094 МПа и 0,18 МПа для различных тсрмопластов; полиэтилена высокого давления (ПЭВД), полиэтилена низкого давления (ПЭНД), полипропилена (ПП). При определении ПТР по стандартному методу использовали...
Устройство для измерения вязкости
Номер патента: 1784865
Опубликовано: 30.12.1992
Авторы: Витер, Мирошниченко
МПК: G01N 11/10
Метки: вязкости
.... (Опримыкают друг к другу, а поверхностьфь,сливного кармана располомеиноа ниже по- Срверхности желоба, Это позволяет, например, исследуемому маслу перетекать вламинарном ремсиме из выемки Ьжелоб,На фиг. 1 показано предлагаемое уст-,рочстао, на фиг, 2 - сечение А - А на фиг. 1,Устройство содержит корпус 1 с эталон-аным каналом 2, выполненным в виде стокляннгой трубки диаметром 8 мм и длиной 200мм, заполненной эталонным маслом, в котором перемещается шарик 3. В корпусе 1имеется также желоб 4 для исследуемогомасла, к которому через У-образный проходпримыкает накопитель масла 5 и сливной1784865 3карман 6. Угол скоса передней кромки по Применение данногоустройства позвоотношению к дну корпуса 150 О, лит быстро и относительно точно...
Устройство для контроля изменения вязкости
Номер патента: 1784866
Опубликовано: 30.12.1992
Авторы: Савицкий, Чегонашин, Шкидченко
МПК: G01N 11/14
...предлагаемое устройство,Устройство для контроля изменения вязкости содеркит неподвижную камеру 1, ротор 2 асинхронного двигателя, ось 3 ротора; часовые подшипники 4, торцевые сквозные отверстия 5, цилиндрический кожух 6 с витымипазами, сквозные отверстия 7 в неподвижной камере, магнитный сегмент 8, индуктивный датчик 9 оборотов, крышку 10 со сквозными пазами, статор 12 асинхронного двигателя, блок 13 питания, включающий усилитель 14 питания двигателя, делитель 15 частоты, кварцевый генератор 16.Устройство работает следующим образом, Устройство помещают в сосуд с исследуемой жидкостыб, так, чтобы отверстия 7 были полностью погружены в исследуемую жидкость. На статор 11 подается напряжение с блока 13 питания. Под влиянием бегущего...
Устройство для определения коэффициентов диффузии в жидкостях
Номер патента: 1784867
Опубликовано: 30.12.1992
Автор: Кричмар
МПК: G01N 13/00
Метки: диффузии, жидкостях, коэффициентов
...запорных устройств и термостатирующей ванны, по периметру верхней плоскости перегородки выполнена течь через конический шлиф, расположенное вверху емкости с раствором запорное устройство имеет перекрывающуюся течь, а сопротивление конвективному массопереносу не превосходит дйффузионного сопротивления перегородки, нижняя емкость до перегородки погружена в жидкостную термостатирующую ванну, а остальная часть устройства закрыта воздушным колпаком, перфорированную перегородку 9, на которой фиксируется устройство с помощью выступов 10 (11 - воздушный колпак с термометром и заслонкой 12, 13- полихлор виниловая муфта).Устройство работает следующим образом.Заполняют полностью верхний сосудраствором вещества, коэффициент диффу зии которого...
Способ определения чистоты поверхности подложки
Номер патента: 1784868
Опубликовано: 30.12.1992
МПК: G01N 13/02
Метки: поверхности, подложки, чистоты
...частей,т.о, процесс измерения чистоты станет невозможн ы м.Если высота падения капли на исследуемую поверхность будет меньше величины1,4 О, то капля или касается поверхностиподложки или находится на таком маломрасстоянии, что силы поверхностного потенциала будут пригибать каплю и влиять на 25величину капли, искажая измеренияНа фиг.1 представлена схема устройства для определения чистоты поверхностиподложки; на фиг,2 - калибровочная эависимость скорости растекания капли воды по поверхности подложки от концентрации атомов примеси на поверхности подложки.Устройство (фиг.1) содержит фотоприемник, регистрирующий количество светового потока, прошедшего через прозрачную подлокку 2 и капл 1 о 3 жидкости или фото- приемник 4, если...
Способ определения угла смачивания расплавом полимера волокнистых наполнителей
Номер патента: 1784869
Опубликовано: 30.12.1992
Авторы: Довгяло, Заборская, Юркевич
МПК: G01N 13/02
Метки: волокнистых, наполнителей, полимера, расплавом, смачивания, угла
...насыпной плотности, При движении в объеме камеры, касаясь ее днища и стенок, частицы приобретают заряд,Частицы диаметром менее 10 мкм комкуются, плохо псевдоожижаются и не оседают отдельными частицами на волокне, что не позволяет их использовать для оценки угла смачивания. Частицы крупные - более 200 мкм плохо электризуются и слабо удерживаются на поверхности волокон.Объемная плотность частиц в псевдоокиженном слое должна быть в пределах 0,4 - 0,7 их насыпной плотности, именно в этих пределах достигается хорошее псевдоожижение полимеров и на поверхность волокон оседают частицы необходимых размеров, При обьемной плотности частиц менее 0,4 их насыпной плотности на поверхности волокон оседают частицы преимущественно мелких фракций, а более...
Способ определения пористости диэлектрического покрытия
Номер патента: 1784870
Опубликовано: 30.12.1992
Авторы: Богданов, Корецкий, Палий, Рогачев, Серенков
МПК: G01N 15/00
Метки: диэлектрического, покрытия, пористости
...двумя текстолитовыми дисками1 (фиг,1) устанавливают образец 2 с испытуемым покрытием, на которое с помощью герметизирующей прокладки 3 крепят стеклянный сосуд 4, В сосуд 4 помещают вспомогательный электрод 5 и посредствомэлектролитического ключа 6 соединяют егос хлорсеребряным электродом 7 сравнения,При осуществлении элементарного цикла измерений стеклянный сосуд 4 заполняют 0,5-молярным раствором хлориданатрия, Образец 2 с испытуемым покрытием, вспомогательный 5 и хлорсеребряный 7 электроды подключаются к соответствующим клеммам потенциостата и в течение заданного промежутка времени проводят 152025 30 35 4050 поляризацию металлического образца 2 потенциалом, выбранным из диапазона от,15 В до -0,20 В. По снятым анодным...
Устройство для измерения максимальных размеров пор образцов
Номер патента: 1784871
Опубликовано: 30.12.1992
МПК: G01N 15/08
Метки: максимальных, образцов, пор, размеров
...одновременногообзораповерхности жидкости о пузырькооом детекторе и показаний индикаторногосчетчика,На чертеже представлена принципиальная схема устройства для измерениямаксимальных размеров пор образцов.Устройство содеркит последовательносоединенные баллон 1 со сжатым газом,ве, гиль 2, манометр 3, редуктор 4, регулятор давления 5, приспособление для зажима образца 6, состоящее иэ кольцевойпрокладки 7 и гайки 8, пузырьковый детектор, выполненный в виде барботажной камеры 9, расположенной над образцом 6, идополнительную барботажную камеру 10,заполненную до определенного. уровняжидкостью с размещенной внутри нее нижеуровня жидкости барботажной тру,кой 11от, регулятора давления 5. По разные стороны выходного конца барботажной...
Способ определения количества углеводородов в единице объема породы
Номер патента: 1784872
Опубликовано: 30.12.1992
Автор: Афиногенов
МПК: G01N 15/08
Метки: единице, количества, объема, породы, углеводородов
...Доставляли в лабораторию дляпроведения исследований, Затем с поверхности керна удаляли излишки нефти и определялась его масса Ро = 28,8816 г, Кернпомещается в экстрактор Закса или его модификацию с получением точности до 1 - 2 О ,В качестве рабочего растворителя применялся ксилол, кипящий при температуреоколо 140 С. Вся остаточная вода из кернасначала выпаривалась, затем конденсировалась и стекала в специальную ловушку, вкоторой улавливался дистиллят, масса которогб А = 0,455 г, Операция отгонки воды изкерна занимала от 30 мин до 2 ч. После этогокерн извлекался из экстрактора и помещался в аппарат Сокслета для окончательногоэкстрагирования от нефти с помощью сильных растворителей и затем помещался всушильный шкаф. Масса...
Устройство для определения проницаемости пористых материалов
Номер патента: 1784873
Опубликовано: 30.12.1992
Авторы: Баланин, Бондарев, Закутин, Карачевцев
МПК: G01N 15/08
Метки: пористых, проницаемости
...процесс определения проницаемости испы туемого материала выполняется устройствомавтоматически по заданному алгоритму,Исходное состояние устройства - все клапаны (14,16,23,25 и 26) закрыты, С блока управления 8 подается команда "измерение". При этом открываются клапаны 14 и 25 и рабочая жидкость из расходной емкости 10 под давлением воздуха поступает по трубопроводу 9 в подвижную камеру 2 ячейки 1, вытесняя из нее воздух через трубопровод 12 во вспомогательную камеру 11 и открытый клапан 14 в атмосферу.При заполнении рабочей жидкостью камеры 2 и достижении ею уровня установки фотодатчика 13 в блок управления 8 от фотодатчика 13 подается сигнал, по которому клапан 14 закрывается. При этом рабочая жидкость под заданным и...
Газодинамический способ определения пористости материалов
Номер патента: 1784874
Опубликовано: 30.12.1992
МПК: G01N 15/08
Метки: газодинамический, пористости
...величину равновесного давления Рр". Далее закрываютклапан 3 и открывают клапан 6, стравливаяизлишки газа из емкости 2 в атмосферу,Затем в той же последовательности осуществляют второй перепуск газа из калиброванной емкости 1 в измерительную емкость2, но при первоначальном давлении в калиброванной емкости 1 Рао аРао" Манометром 7 измеряют величины давлений Рао иГ 8 ЕЕ ЕЕРрС учетом явления адсорбции уравнениегазового баланса в емкостях 1 и 2 имеет видРехР( Ре 1 РР)е ) р РР 81 хехР(ре 1 Рр,1) Ре)1(т)здесь помимо известных параметров Чт -объем тела, площади боковых стенок которого равны площади футерованных исследуемым материалом 8 стенок емкости 1 (2)без учета объема супермакропор; Чпорсобъем супермакропор,С учетом того, что Чт =Ч и Ч+ Чпор...
Двухлучевой пламенно-фотометрический прибор
Номер патента: 1784875
Опубликовано: 30.12.1992
Автор: Ревазов
МПК: G01N 21/01
Метки: двухлучевой, пламенно-фотометрический, прибор
...балансировкалучей происходи оптически. Таким образоо"мра Сширя ются а н ел йтичес кие возможности прибора. К тому" же за счет с"ийоне"грмчного расположения оптических элементов облегчается юстировка и настрбйка Врибора, Предлагаемая схема создает возможность для оптического разделения световых лучей й "в результате отпадает необходимость в электрическом разделении сигнала и выработке сийхронизирующих импульсов, Несложная перестройка позволяет использовать прибор в качестве однолучевого, имбВ 4 б 1 о повйшенную чувствительность.25 30 На фиг.1 показан предлагаемый двухлучевой пламенно-фотометрический прибор; 50 55-деляется на два луча - рабочий и сравнительный, Оба луча посредством сферических зеркал 3 и 4 направляются в 5 10 15 20 Для...
Панорамный поляриметр
Номер патента: 1784876
Опубликовано: 30.12.1992
Автор: Кучеров
МПК: G01N 21/23
Метки: панорамный, поляриметр
...на плоскость панорамного приемника излучения 12, квазиодновременно образуя 4изображения на его квадрантах, соответствующие различным состояниям поляризации исследуемого объекта (фиг.З), Световойпоток в каждой точке исследуемого объектахарактеризуется. параметрами Стокса, О, О и Ч. Полный цикл работы поляриметра состоит из двух фаз,В первой фазе работы оптическая осьАФП 4 последовательно занимает положения 0 и 22,5 О, а оптическая ось АФП 6 - соответственно 0 и 45 (фиг,З), затем этот цикл многократно повторяется до накопления необходимого сигнала на панорамном приемнике излучения, т.е, АФП 4 и АФП 6 совершают синхронные колебания.При прохождении излучения через полуволновую АФП 4 с ориентацией оптической оси Оо в исходном векторе...
Способ определения размера фотосинтетической единицы в клетке фототрофного объекта
Номер патента: 1784877
Опубликовано: 30.12.1992
Автор: Бойченко
МПК: G01N 21/25
Метки: единицы, клетке», объекта, размера, фотосинтетической, фототрофного
...газовую фазу (электрод сравнения должЕн располагаться в буферном растворе ниже этого уровня, чтобы обеспечивалась электрическая замкнутость цепи). Кроме того ограничивают концентрацию клеток в образце, чтобы они в среднем образовывали1784877 ном освещении 2000 лк от ламп накалива - ния,На поверхность платинового электродаплощадью 30 мм микропипеткой наносятг20 мкл суспензии клеток бактерий, образующей слой 0,65 мм с оптической плотностью0,1 - 0,2 при 880 нм, и фиксирую его целлофановой мембраной. Полярографическую-ячейку зайолняют-рйствором 0,05 М КС и0,05 М фосфатного буфера рН 6,8 до уровнянижней границы этой мембраны, оставляянад ее внешней поверхностью до оптического окна слой воздуха, Регистрируют токэлектровосстановлейия...
Способ обнаружения дефектов в поверхности диэлектрических и полупроводниковых материалов
Номер патента: 1784878
Опубликовано: 30.12.1992
Авторы: Сидорюк, Скворцов, Таргонский
МПК: G01N 21/35, H01L 21/66
Метки: дефектов, диэлектрических, обнаружения, поверхности, полупроводниковых
...поглощения материала;ол - сечение перехода с основного состояния дефекта в зону проводимости материала;40п п+ и,ФРПри значениях Амин = 10, ) = 1, арф =,10 10 см ст 10 10 см для и н 45 получается величина п,и. =1010 смВ свою очередь плотность мощности коротковолнового, ультрафиолетового (Уф) излучения, необходимую для заселения электронных ловушек через зону проводи мости, можно оценить из выражения:м 1 Ю,31 мин = - - Пмин 1Х55 где Е ихц-энергия идлительность импульсалазерного излучения соответственно;Я - облучаемая коротковолновым излучением площадь образца;- длина диффузии носителя заряда;50 55 и и - энергия кванта коротковолнового излучения,В тонкопленочных покрытиях, как правило,- б, где б - толщина покрытия. Это...
Устройство для измерения хроматической дисперсии одномодовых волоконных световодов
Номер патента: 1784879
Опубликовано: 30.12.1992
Авторы: Гринштейн, Ивкович, Маренков
МПК: G01N 21/41
Метки: волоконных, дисперсии, одномодовых, световодов, хроматической
...вход фазометра 11,Устройство работает следующим образом. Опорный генератор синусоидального сигнала 1 вырабатывает сигнал, который служит опорным для генератора частот, который, в свою очередь, вырабатывает сигналы с частотами 11 (второй выход), 12 (третий выход), 11-12 (первый выход), Сигнал частоты 11 модулирует излучение ППЛ 3, а сигнал частоты 12 - излучение ППЛ 4-6.Опорный оптический сигнал с выхода ППЛ 3 и измерительный сигнал одного из ППЛ 4-6 с помощью оптического переключателя 7 и оптического соединителя 8 вводятся в исследуемый О В С 9.Вследствие воздействия хроматической дисперсии каж1784879 ф 1 - ф 1 = В/2(т - т 1). Таким образом, видно, что при передачесигнала по ОВС на высокой частоте, измерение разности фаэ осуществляется...
Устройство для определения содержания взвешенных частиц в жидких средах
Номер патента: 1784880
Опубликовано: 30.12.1992
Авторы: Думаревский, Захарова, Медведева, Овечкин, Панченко, Поликарпов
МПК: G01N 21/49
Метки: взвешенных, жидких, содержания, средах, частиц
...блок содержит, по крайней мере, два фотоприемника,.проекционная система установлена между кюветой и фотоприемником, причем проекционная оптическая система выполнена в виде двух полых световодов по числу фотоприемников, одни концы которых герметичны и оптически связаны. каждый со своим фотоприемником, а другие погружены е анализируемую жидкость, а также вы.- полнена е виде линзы.На фиг,1 и 2 показано предлагаемое устройство,Устройство содеркит источник излучения в виде лазера 1, кювету 2, имеющую слиеное 3 и входное 4 отверстия, проекционную оптическую систему 5, фотоприемный блок б, включающий по крайней мере два фотоприемника, соединенный с электронным блоком обработки. На фиг,2 представлена схема устройства с проекционной...
Устройство для измерения фотометрических величин
Номер патента: 1784881
Опубликовано: 30.12.1992
Автор: Вольпян
МПК: G01N 21/59
Метки: величин, фотометрических
...последний включаетмодулятор 10, расположенный в блоке 8, и30 дополнительный приемник излучения 11.Один из вариантов устройства содержиттакже дополнительные источники излучения 1, модулятор 2, приемники излучения4,11,35 Устройство работает следующим образом,Излучение от источника 1 через модулятор 2 падает на полупрозрачное зеркало иделится на два потока, один из которых про 40 ходит через второе полупрозрачное зеркалои попадает на два ортогонально установленных отражающих зеркала с дополнительным модулятором и после отражения от нихчерез четвертое полупрозрачное зеркало45 поступает на приемник 4 излучения, Другойпоток проходит через исследуемый образеци после отражения от четвертого полупрозрачного зеркала регистрируется приемником 4...
Способ диагностики природы окраски минералов
Номер патента: 1784882
Опубликовано: 30.12.1992
МПК: G01N 21/64
Метки: диагностики, минералов, окраски, природы
...и радиотермолюминесценция природного и облученного кварца. Лишь при подаче на ФЭУА напряжения 900 вольт и выше появляется пик термовысвечивания только в интервале температур 150-200 С, с максимумом около 180 С, в то время как у кварца максимумы фиксируются в области 60-80 С, 160 - 200 С и 280 - 320 С. О характере окраски кварца судят по расположению максимумов пиков термовысвечивания, В интервале температур 160 - 200 С только у природных цитринов фиксируются пики, интенсивность которых значительно возрастает после облучения.П р и м е р 1. На установке по описанному способу снима 1 от кривые термолюминесценции природного агата с очень бледной серовато-белой окраской в области 20-400 С, Пики термовысвечивания отсутствуют.П р и м е р 2....
Хемилюминесцентный газоанализатор окислов азота
Номер патента: 1784883
Опубликовано: 30.12.1992
Авторы: Михальчевский, Примиский, Цуканова
МПК: G01N 21/76
Метки: азота, газоанализатор, окислов, хемилюминесцентный
...если концентрация анализи- - мере 3 при концентрации как менее 0,25 ,руемой окиси азотадостигает десятых до- . так и более 0,25 О. Можно и не. изменятьлейилиединицобьемныхпроцентов, озойа, 15 коэффициент усиления регулируемого уси-вырабатываемого из воздуха; не хватает для. лйтеля 4, а при снятиипоказаний результатосуществления хемилюминесцентной реак- , измерений необходимо увеличить во стольции, Оператор производит разбавление ко раз; во сколько раз йроиэведено раэбавпробы воздухом от газопровода 8 разбавле- ление анализируемойпробы.ния, Для этого на обмотку электромагнйтно .В предлагаемом газоаналйзаторе за.: го клапана 10 подается напряжение от счет перераспределейия газовых потоковисточника питания 12 через контакт 11-2 не...
Устройство для контроля структуры дискретных элементов длинномерного материала
Номер патента: 1784884
Опубликовано: 30.12.1992
Авторы: Бродягин, Быховский, Губин, Петров, Рурукина, Фридлянд, Хавкин
МПК: G01N 21/89
Метки: дискретных, длинномерного, структуры, элементов
...2 (например, проволоки, металлических полос, синтетических нитей и т.д.), внутри которых вмонтированы торцы световодов 3, другие торцы которых связаны с соответствующими входами оптического коммутатора 4, выход которого оптически связан с фотоприемником 5. которые составляют многоканальный приемный элемент с устройством последовательного опроса каналов. Над гребенкой направителей установлен осветитель 6. Выход фотоприемника 5 связан с входом компаратора 7,выход которого соединен с входами включенных параллельно индикатора 8 и исполнительного механизма 9 останова машины. Пороговый вход компаратора 7 связан с выходом коммутатора 10, информационные входы которого соединены с набором задатчиков 11 уровня, а управляющие входы...
Низкотемпературная приставка к рентгеновскому дифрактометру
Номер патента: 1784885
Опубликовано: 30.12.1992
Авторы: Мазур, Руфанов, Шпортко
МПК: G01N 23/20
Метки: дифрактометру, низкотемпературная, приставка, рентгеновскому
...теплоизоляционной пленки 13,прозрачной для рентгеновских лучей, хомута 14 и гайки 15.Приставка работает следующим образом, Нажатием на кнопку механизма отвода7 прижим - подпружиненный хладопровод6 отводится и образец 4 на державке (термопаре, на чертеже не показано) по шлюзу2 вводится в приставку, освобождается механизм отвода 7 и образец 4 прижимом -подпружиненным хладопроводом б прижимается к сегментам держателя образцаупора) 3, изготовленным иэ теплоизоляционного материала, при этом поверхностьобразца 4 совмещается С юстировочнойплоскостью держателя образца 3, После этого в сосуд 5 заливается хлоранит жидкий азот). По достижении заданной температуры производится съемка.По окончании съемки механизмом отвода 7 прижим -...
Способ рентгеновского фазового анализа аморфно кристаллических материалов
Номер патента: 1784886
Опубликовано: 30.12.1992
Авторы: Еднерал, Костюкович, Скаков, Шелехов
МПК: G01N 23/20
Метки: аморфно, анализа, кристаллических, рентгеновского, фазового
...аморфно-кристаллического-сплава, где 1- ская фаза не имеет текстуры.интенсивность в произвольных единицах, 2 Использование предлагаемого. способа9- угол дифракции в градусах, "- интег- рентгеновского фазового анализа аморфноральнвя интенсивность линии кристалличе- кристаллических материалов по сравйениюГкой фазы, г - пиковая интенсивность 10 с существующими имеет то преимущество,аморфного гало под максимумомлийии,что по. диФракционной картине в области(ЙК ) - ййдексыййтерференции линйи;-углов едйнственной дифракциойной линииПредлагаемый способ рентгеновского (НКС) станоайтсявозможнымопределение.-фазового айалйза аморфно-кристалличе- среднйх объемных долей аморфной и криских материалов может быть реализован 15 сталлической...
Способ селективного возбуждения ядерного магнитного резонанса при томографичекском обследовании
Номер патента: 1784887
Опубликовано: 30.12.1992
Авторы: Ерегин, Кочетовский, Савиковская
МПК: G01N 24/08
Метки: возбуждения, магнитного, обследовании, резонанса, селективного, томографичекском, ядерного
...томографического обследова ния.. Поставленная цель достигается тем,: что объект помещают в постоянноемагнитное поле, имеющее только составляю-щую Вг = Во, воздействуют на объект 55 селективным РЧ-магнитным импульсом, представляющим собой последовательность из трех идентичных РЧ-импульсов магнигного поля, действующего в плоскости, перпендикулярной направлению основного магнитного паля Во на резонансной частоте во =у Во, соответствующей выбранному сорту ядер, одновременно с РЧ-импульсам на основное магнитное поле Во накладывают дополнительное магнитное поле с градиентом 6, при этом знак градиента 6 меняют на противоположный от импульса к импульсу последоаательнасти; полный угол отклонения магнитных моментов выбранного сорта...
Устройство для измерения деформаций льда
Номер патента: 1784888
Опубликовано: 30.12.1992
МПК: G01B 5/30, G01N 25/16
Метки: деформаций, льда
...в записи деформаций при контролечувствительности поибора, что достигается нежестким закреплением концов кварцевых штанг в постаменте и наличие гидравлического 50 датчика, обеспечивающего контроль чувствительности устройства в режиме его работы.На фиг.1 представлен вид устройства вразрезе по одной из трех кварцевых штанг.Постамент 1 вморожен в ледяной покров, на нем неподвижно установлена плита 2, к которой с помощью болтов 3 крепится гидравлический датчик 4 с регулировочным винтом 5, который упирается в основной шток 6,Последний через сальник 7 вставлен в ка- е 1 + е 2 + ез меру 8 гидравлического датчика 4, запол ненную рабочей жидкостью. В ту же камеру 2 через сальник 9 вставлен дополнительный 3 (е 1 .-е 2) +(е 2 - ез) +(ез - е...
Способ определения теплопроводности материалов
Номер патента: 1784889
Опубликовано: 30.12.1992
Авторы: Варфоломеев, Грошев, Муромцев
МПК: G01N 25/18
Метки: теплопроводности
...тем, что теплоизолированную за счет охранного кольца поверхность полубесконечного в тепловом отношении исследуемого тела воздействуют источником, тепла, проводят температурные измерения в заданных точках поверхности, измеряют мощность 0 тепловога источника, кроме того, измеряют разность температур ЬТ в двух точках, расположенных под охранным кольцом ка расстоянии х друг от друга в радиальном направлении по отношению к источнику тепла, а теплопровадность определяют по следующей формуле с учетом величины радиуса В теплового источника А =Т- х 0 лх +124 К Вт Лх+5,04 В оС Наличие совокупности существенных признаков: измерение разности темперэ тур в двух точках, расположенных под охранным кольцом на определенном расстоянии друг от...
Нестационарный способ определения истинного коэффициента теплопроводности сильнорассеивающих материалов
Номер патента: 1784890
Опубликовано: 30.12.1992
Авторы: Гофин, Моисеев, Петров, Просунцов, Резник, Степанов
МПК: G01N 25/18
Метки: истинного, коэффициента, нестационарный, сильнорассеивающих, теплопроводности
...жения, ролируемых прймесей,Обычно используемая модель (1) - (3) Существенное увеличение точности опявляется частным случаем диффузионной 10 ределения истинного коэффициента тепломодели(4) - (8)адекватно описывает пере- проводности частично прозрачныхнос излучения лишь при наличии следую- сильнорассеивающих материалов в предщих условий; а) среда является лагаемом способе достигается помиморазреЖенной и среднее расстояние между использования более адекватной диффузирассеивателями существейно больше как 15 онноймодели,такжеитем,чтоиспольэуют. размеров рассеивателей, так и длины вол- ся определенные на первом этапены; б) всюду в среде (за исключением быть значения Е и О,можеттонкого поверхностного слоя) имеет Способ осуществляют...