G01N 21/23 — двойное лучепреломление

Номер патента: 5514

Опубликовано: 31.05.1928

Автор: Грюнер

МПК: G01J 4/00, G01N 21/23

Метки: поляриметра, трубка

...которой снабжены пропилами и отверстиями для протока жидкости. Концы трубки 1 вставлены в отверстия резиновых пробок 2 и прижаты к стеклам 3. Стекла 3, в форме дисков, зажаты между концами трубки 1 и резиновыми кольцами 4, препятствующими вытеканию жидкости наружу. Резиновые пробки 2 вставлены в конические отверстия камер 5 а и 5 б и удерживаются гайками ба и бб, которые, для уменьшения трения, отделены от пробок 2 металлическими шайбами 7. В камеру 5 а впаяна или завинчена с кольцевой кожаной прокладкой 8 воронка 9, служащая приемником для исследуемой жидкости. Во вторую камеру 5 б впаян или завинчен с прокладкой 8 тройник 10, служащий для стока исследованной уже жидкости.Для исследования вкладывают трубку в поляриметр и наливают...

Номер патента: 14849

Опубликовано: 31.03.1930

Авторы: Леммлейн, Шубников

МПК: G01N 21/23

Метки: гальке, кварца, нахождения, оптической, осей, электрической

...пускается па. раллельный пучек света, который, отражаясь от травленой поверхности ямки, дает на экране, поставленномпути лучи, так назыв, звезду Брюстера", Изменяя положение гальки, можно получитьнужную ориентировку ее оптической оси. Изучая пьезоэлектрические свойства поверхности ямки прибором Мейснера, можно найти положение электрических осей.Способ может применяться при изготовлении как оптических, так и пьезо- з 1 лектрических кварцевых препаратов,и злектрической осеца. млеина, заявленному 11 июня"в 49024). ода. Действие патента распростра а 1930 года. Сйособ нахождения оптической и электрической осей в гальке кварца, не имеющей кристаллографических очертаний, характеризующийся тем, что на произвольном участке гальки выбирают при...

Номер патента: 55517

Опубликовано: 01.01.1939

Автор: Аршинов

МПК: G01N 21/23

Метки: исследования, кристаллизации, процессов

...способу, состоит из стеклянной трубки и вставляемой в нее стеклянной же пробирки, изготовленных из вполне изотропного стекла для работ с высокими темпе. ратурами - кварцевого,Стеклянная трубка отличается тем, что на две противоположные поло. вины ее цилиндрической поверхности наклеиваются две поляроидные пленки или несколько поляроидных пленок, одинаково оптических ориентированных, из которых у одной плен ки или группы пленок направления колебаний, пропускаемых пленками поляризованных лучей, параллельны длине трубки, у другой же пленки или группы пленок колебания поля ризованных лучей направлены по касательной к цилиндрической поверхности трубки и, следовательно, перпендикулярны к направлению колебаний лучей света, пропускаемых...

Номер патента: 79793

Опубликовано: 01.01.1949

Авторы: Ильин, Тюльпанов

МПК: G01N 21/23

Метки: кварца, кристаллографических, кусках, осей, прибор, произвольной, формы

...точкой пересечения нитей окуляра. После этого столик стопор ится.При таком положении куска оптическая ось является перпендикуляром к поверхности площадки, а грань положительного ромбоэдра лежит в плоскости, образуемой источником света и осью трубы,Затем горизонтальная шкала 0 поворачивается на необходимое (по условиям среза) количество граду. сов, в соответствующем для каждого среза направлении плюс или минус, и закрвпляется стопором, Разметочная дуга устанавливается в нужное положение (по условиям среза), и кистью наносится направление разделки куска на нластины,Первоначальное юстирование прибора производится посредством черного зеркала с двумя перекрещивающимися линиями, устанавливаемого под углом 5147, на площадку (при снятом столике...

Номер патента: 102158

Опубликовано: 01.01.1955

Авторы: Никонов, Сакин

МПК: G01N 21/23

Метки: жидкости, кювета, слоев, спектрофотомётрирования, тонких

...рдиличиыо,азор,1 пол учдть нтннрп стеклииык с гаки(е. Ъ 1 пыли нш. числа вкл- лышси в ко 1 пл(кте до одного даг мчи(льиуяо коиомио.Нд и 1 псже 1 зобрджецд скема кюветы, Овст состоит н стокпа (1), вк;- ,ьппа 1,2) 1 двух крьИи-к 3) и 4), нос(ж(нп,к ца оииичсский контдкт, Тот и,(и иной ввор д) для достижения нужной тол игны слоя жидкости создастся призИчшя одного и того же вцлддьппаизве(тпой то;пци(ной 11) и набора сменнык ст;кди,е из обьчш(то ст, кла с рдлличнои вь 1(отои в). В ивт Гць 1 коцструкц(пяк кювет из(нчи зазора д) дотиг 1(тся применением набора сменнык вк.тддьписй с рдз;ги пни толцпной ,б) ири пензаИно высоте 1 В) стакан 1.Вклддьпп 2) гзгот иляется гл криегдллическпк материалов, а стдк(пп 1) из о(н(чно ( стекла. На ковету...

Номер патента: 177114

Опубликовано: 01.01.1965

МПК: G01N 21/13, G01N 21/23, G02B 21/26 ...

Метки: кварцевыхпластин, кристаллографической, круглых, оси, разметки

...механизм выполнен в виде втулки 12, в верхней части которой закреплен диск 13 с лимбом, а в нижней - эластичное кольцо 14, служащее для фрикционной связи с пластиной, находящейся в тефлоновой кассете. Конденсатор 15 подводится к пластине, а диск 7 с пластинами к объективу микроскопа так, что эластичное кольцо поворотного механизма касается пластины. Вращением втулки находят ось г (темную балку) и совмещают ее с вертикальным штрихом окуляра микроскопа.Соориентированная пластина зажимается рычагом 1 б и поворотом диска 7 устанавливается между иглами 17, закрепленными на штоках механизма 4. Иглы разворачиваются в сторону от диска и опускаются через дозирующие отверстия 18 крышки 19 в ванну 20 дозатора, содержащую пасту коллоидного...

Номер патента: 380170

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Глотов, Тумерман

МПК: G01N 21/23

Метки: 380170

...с высокой точностью, однако они ограничены видимым диапазоном спектра.Цель изобретения - упрощение метода измерения двойного лучепреломления в соче тании о высокой точкостью и возможность измерять по тому же принципу другие оптические характеристики веществ (поглощение оптическую активность, дихроизм и пр,).Это достигается тем, что для измерения используют пучок линейно поляризованного света с вращающейся плоскостью поляризации, что позволяет свести измерение двойного лучепреломления к измерению фазы между двумя электрическими сигналами.Способ состоит в скостью поляризации, условно представленный на чертеже (см, чертеж) источником1 света монохроматором 2 и равномерно вращающимся с круговой частотой Ылинейным поляризатором 3,...

Номер патента: 792099

Опубликовано: 30.12.1980

Автор: Лебедев

МПК: G01N 21/23

Метки: двупреломления, измерении, кристаллов, параметров, полной, разности, хода

...к точке потолщине слоя. Таким образом, от точки к точке изменяется интенсивностьрассеянного света. Причем период из -менения в образцах с чистым двупреломлением соответствует разности хода в один порядок, Соотношение междумаксимумом,и минимумом интенсивности 5рассеянного света определяется величиной угла между направлением регистрации рассеянного света и главнымиосями тенэора диэлектрической проницаемости, а величина интенсивности щна входе в исследуемый слой - состоянием поляризации света на входе.На чертеже приведена зависимостьинтенсивности рассеянного света 3в слое толщины Ь от координаты Е,совпадающей с направлением просвечивания,Расстояние между минимумами функции 3, (2) соответствует разностихода в один порядок,В случае,...

Номер патента: 807079

Опубликовано: 23.02.1981

Авторы: Костецкий, Романюк

МПК: G01K 11/18, G01N 21/23

Метки: поляризационно-оптическое, температуры, устройстводля

...в момент перехода некоторых двуосных кристаллов в одноосные, а одноосные в изотропные. Предварительная градуировка устройства производится в координатах: , Т. Определенное таким образом значение температуры слабо зависит от интенсивности и стабильности освещения, от толщины кри 1сталла и изменения параметров светоприемника. Область измерения температуры дТ зависит от величины применяемого спектрального интервала ЬА, а чувствительность прибора и точность измерения температуры определяются монохроматичностью источника излучения (набор фильтров, монохроматор, лазер с непрерывной перестройкой частоты) и свойствами кон - кретного кристалла, используемого в качестве термочувствительного элемента устройства. Градуировочная кривая...

Номер патента: 830198

Опубликовано: 15.05.1981

Автор: Кузнецов

МПК: G01N 21/23

Метки: вкристаллах, двулучепреломления, неодно-родностей

...углом, превышающим угол между гранями клина, В предлагаемом устройстве оптическая ось Еперпендикулярна грани клина 3, Исследуемый образец 6 установлен междуполяризатором 2 и кристаллическимклином 3, причем оптическая ось образца 6 Е лежит в плоскости главныхколебаний клина 3.Устройство работает следующим об-.разом,15Источник 1 формирует монохроматический параллельный пучок света, Проходя через поляризатор 2, пучок светаприобретает линейную поляризацию.В исследуемом образце 6 каждый луч 20пучка разлагается на два когерентныхпуча с взаимно перпендикулярными направлениями поляризации. Эти лучираспространяются в образце 6 с различными скоростями, вследствие чего межцу ними возникает разность фаз, Наличие неоднородностей двулучепреломления в...

Номер патента: 883672

Опубликовано: 23.11.1981

Авторы: Войцехов, Чернякова

МПК: G01J 4/00, G01K 11/18, G01N 21/23 ...

Метки: дистанционного, температуры

...от источника 151 света, проходит через поляризатор3. Поляризованный луч 4 белого светапроходит через двулучепреломляющуюфазовую пластинку 5, помещенную наизмеряемом объекте 6. При изменении дтемпературы объекта 6 меняется температура двулучепреломляющей фазовой пластинки 5, что, в свою очередьприводит к отсутствию двулучепреломления для определенной длины волныспектра в двулучепреломпяющей фа-.зовой пластинке и смене .знака двулучепреломления по обе стороны отизотронной точки, для которой показатель преломления для обыкновеннойволны п больше показателя преломления для необыкновенной волны п доизотронной точки, а после ее показатель преломления обыкновенной волныи меньше показателя преломления необыкновенной волны п, и сдвиг изотронной...

Номер патента: 957073

Опубликовано: 07.09.1982

Авторы: Григорьев, Григорьева, Колобина, Сидоров, Федотов

МПК: G01N 21/23

Метки: дефектоскопии, индикаторный, люминесцентной, пенетрант

...чтог957073 формула изобретения Составитель Г.Шагалова Редактор А.Козориз Техред Л.ПеКарь Корректор О.Билак.Заказ 6586/31 Тираж 887 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д.4/5Филиал ППП "Патент", г.ужгород, ул.Проектная,4 он, легко проникая в дефекты, труднее вымывается из них при удалении избытка его с поверхности изделий.1 8-Нафтоилен,2-бензимидаэол - желтйй порошок /А/, люминесцирует в ультрафиолетовом свете желто-зеленым цветом, не растворим в воде, этиловом спирте.Диксилилэтан при комнатной температуре - белое кристаллическое вещество. Плотность 0,974, температура кипения 330 С. Чистый диксилилэтан не имеет запаха, если есть примеси исходного сырья...

Номер патента: 958923

Опубликовано: 15.09.1982

Автор: Озолиньш

МПК: G01N 21/23

Метки: двулучепреломления

...фазы Г, чем сдвиг фазы, вносимый образцом в дайной точке стробирования Г,/ б , наф= тооб пряжение на выходе стробирующего устройства будет или в фазе, или в противофазе с напряжением рассогласования. Синхродетектирование дает соответственно напряжение положительной или отрицательной полярности, используемой для управления компенсацией двупреломления.Предложенный способ можно реализовать при помощи устройства, измеряющего быстрые изменения двупреломления образца под воздействием импульсного электрического поля малой длительности. Устройство, блок-схема которого показана на фиг. 2, включает поляризационно-оптическую систему, состоящую из источника 1 света лазера ЛГ - 52, поляризатора 2, модулятора 3 света МЛ - 3, вносящего сигнал...

Номер патента: 1013828

Опубликовано: 23.04.1983

Автор: Дудкин

МПК: G01N 21/23

Метки: клин, фотометрический

...Фиксирующими упорами, ус" тановленными с возможностью обеспечения наклона И изгиба кристаллической пластины.Яа чертеже изображен предлагаемый фотометрический клин.фотометрический клин включает поляризатор 1, кристаллическую 60пластину 2 из анизотропного материала, анализатор 3, оправу 4 с упорами 5.Устройство работаетследующим образом. 65 Поляризатор 1 выделяет линейно поляризованную составляющую света, которая в кристаллической пластине 2 разделяется на две ортогональные. Толщина Й и двупреломление Я кристаллической пластины 2 определяют понорот вектора поляризации, н зависимости от длины волны Я, света. Анализатор 3 позволяет выделить заданную линейную поляризацию из смешанного поляризационного состояния. Наклон кристаллической...

Номер патента: 739985

Опубликовано: 23.06.1983

Авторы: Голубева, Дричко, Лейкин

МПК: G01N 21/23

Метки: анизотропии, параметров

...Йа чертеже изображено устройство,рассеянного света. Кроме того йзметря- .реаиизующтеед-прйдиагаемый способ иэмере Йтд утоп поворота объекта от рефеЮНФного нйя,йапргавпения до попожения, при котором устройство вкпвчает источник моие" сигнал в канапе рассеянного света . З 5 ройетрйчегского попяриэованного аэпучвмицимапен; и интенсивность рассеянтйогония "1, вращающуюся от двигатепя цпасу="=света в етомже канапе" при повспеейующесмтийку я /2 2, "две ппастинки3/4 3повороте объекта на 45 . Попучесейййеи 4 ЙВв 3 аае наЩЙвйения которых составаащВФЪсйЫьзуют "Лйя "опейййая айра-тгс.пяте другстс другом угоп 48 О, исспедуе"."мегров аниэотропни объекта, О мый о 64 кет - б Камий регистрации раоНедостатком этого способа...

Номер патента: 1067416

Опубликовано: 15.01.1984

Авторы: Балабанов, Ковтун, Нежевенко

МПК: G01N 21/23

Метки: микронапряжений, монокристалле, полей

...может быть очень малой (не менее0,1 мм), что в свою очередь не позволяет измерять поля микронапряженийв исследуемом монокристалле с высоким пространственным (0,01 мм) разрешением. Кроме того, не обеспечивается воэможности получения и регистрации коноскопических картин одновременно от нескольких областей исследуемого монокристалла, что существенно увеличивает затраты временина проведение измерений полей микронапряжений в монокристалле. Приэтом устройство требует использования дорогостоящих линз Лазо и Бертрана, которые нуждаются в тщательнойюстировке,Цель изобретения - сокращениезатрат времени на измерение полей 0микронапряжений в. монокристалле.Цель достигается тем, что в устройстве для измерения полей микронапряжений в...

Номер патента: 1099256

Опубликовано: 23.06.1984

Авторы: Казбеков, Сумбаев

МПК: G01N 21/23

Метки: величины, двулучепреломления

...степень линейности модуляции, благодаря независимости полезного сигнала от амплитуды модуляции. Использование одной и той же призмы н качестне поляризатора и аналиэатора устраняет проблему поддержания, высокой степени их скрецения, необходимую для достижения высокой чувствительности.На фиг. 1 представлена схема устройства, на фиг. 2 - ход прямого луча в призме; на фиг. 3 - ход обратного луча; на фиг, 4 - зависимость величины двулучепреломления от напряженности .электрического поля в ячейке КерраУстройство содержит источник монохроматического света - лазер 1, плоское зеркало 2, поляриэационную призму 3, вращающуюся кварцевую полунолновую пластину 4, измерителв. ную кювету 5, клоское зеркало б, приемник 7 излучения, многоканальный...

Номер патента: 1141315

Опубликовано: 23.02.1985

Авторы: Айрапетянц, Старовойтов

МПК: G01N 21/23

Метки: величины, двойного, лучепреломления, полимерных

...от заданной ориентации, частичной дезориентации, которая приводит к рассеиванию света,т,е, возникают волны, плоскостьполяризации которых расположенапроизвольно. Рассеянный свет не вступает в интерференцию с основной волной, поэтому при измерении интенсивности прошедшего света через полимерный материал по известному способу накладывается Фон, на которомменее четко или совсем не видны егоэкстремальные положения.Общая интенсивность света ЗО,1;поступающая на Фотоприемник, складывается из интенсивности 3, поступающей на Фотоприемник вследствиеинтерференции волн, распространяющихся вдоль главных направленийанизотропии исследуемого материала,и интенсивности 3 з рассеянных волн,т,е.3 а;.=Ы 3,1Мгде М, - коэффициент...

Номер патента: 1182279

Опубликовано: 30.09.1985

Авторы: Жаботинский, Меньшутин, Ульянов

МПК: G01K 11/18, G01K 5/70, G01N 21/23 ...

Метки: датчик, температуры

...в виде обоймы 5 с размещенной внутри нее плоскопараллельнойпластиной 6 из фотоупругого материала и снабженной двумя регулировочными винтами 7 и 8.Регулировочные винты 7 и 8 выполнены из материалов,. обладающихразличным коэффициентом тепловогорасширения, и установлены в телеобоймы соосно на противоположныхее концах так, что плоскопараллельная пластина 6 оказывается зажатоймежду выступающими из тела обоймы5 концами регулировочных винтов.Устройство работает следуюшим образом.Изменение температуры термочувствительного элемента датчика навеличину дТ вызывает изменение механического напряжения в пластине 6на величину 46, т.е,Ы =(Д В ЕД т (1)где о - длина выступающей внутрьобоймы 5 части одного из регулировочных винтов, например винта...

Номер патента: 1290097

Опубликовано: 15.02.1987

Авторы: Бережной, Влох, Шопа

МПК: G01K 11/12, G01N 21/23

Метки: температуры

...интервала, в котором изменяют длину волны источника 1 света,определяется конкретной температурно-спектральной характеристикой используемого кристалла и заданнымдиапазоном вероятного изменения температуры объекта.Если длина волны монохроматического света будет соответствовать изотропному состоянию кристалла термочувствительного элемента 3, то изнего выйдет линейно. поляризованныйсвет, плоскость поляризации которогосоставит некоторый угол, зависящий от толщины и степени оптической активности кристалла, с плоскостью поляризации падающего на кристалл света, Часть светового потока, прошедшего термочувствительный оптически активный кристалл 3, пройдет через поляризатор 4 и далее на фото- приемник 5, выходной сигнал которого в этом...

Номер патента: 1383162

Опубликовано: 23.03.1988

Автор: Старостенко

МПК: G01N 21/23

Метки: веществ, двойного, лучепреломления

...картины 1 О. В щели 3 устанавливают измеряемый образец 11. Плоскость поляризации света ориентируют так, чтобы онасовпадала с направлением главной осиобразца 11, При установке образца 11происходит смещение экстремумов, Перемещением нижней полуплоскости на расстояние ьЬ компенсируют смещениеэкстремума правой половины интерференционно-дифракционной картины, аперемещением на аЬ - экстремума левой половины. Затем плоскость поляризации света ориентируют вдоль второй главной оси образца 11 и вновь измеряют компенсационные перемещения нижней полуплоскости Ь и Ь для соответствующих экстремумовПри отсутствии измеряемого образца 11 интерференционно-дифракционная картина является результатом интерференции света, дифрагирующего на щели 3...

Номер патента: 1413490

Опубликовано: 30.07.1988

Авторы: Галанов, Мельник, Потихонов

МПК: G01N 21/23

Метки: двупреломления, полупроводниках

...поляризации излучения, обусловленныйдвупреломлением в исследуемомобразце;а - амплитуда качания азимута поляризации, осуществляемого электромагнитом-модулятором; 50О - частота модуляции излучения,Информативный сигнал определяетсявыражениемо Т 2 а з 1 плЛ,После усиления избирательным усилителем 9 и детектирования синхронным детектором 10 этот сигнал первой гармоники поступает в блок 16 автоматического управления током компенсатора 6. После обработки сигнала рассогласования на синхронном детекторе к нулю производится синхронный поворот поляризатора и анализатора на 22,5. Измеряется угол р в этой же точке образца.Обработка результатов измерения поворота плоскости поляризации излучения р ипроизводится на микроЭВМ 13 для определения...

Номер патента: 1469390

Опубликовано: 30.03.1989

Автор: Чудаков

МПК: G01N 21/23

Метки: двупреломления, материалах, оптически, прозрачных, фотоэлектрический

...преобразует линейно поляризованныйсвет в эллиптически поляризованный.После прохождения исследуемого объекта 5 в случае его оптической анизотропии изменяется эксцентриситет 25и азимут осей эллипса поляризацйи,Анализатор 6 вращается с постояннойскоростью, вследствие чего интенсив"ность излучения содержит постояннуюи переменную составляющую, изменяющую-ЗОся с частотой, равной удвоенной частоте вращения анализатора,Селективная измерительная система 8 регистрирует только переменнуюсоставляющую сигнала с фотоприемника 7. Компенсатор 4 перестраиваюттаким, образом, чтобы разность ходамежду компонентави излучения сталатакой, что амплитуда переменной составляющей, регистрируемой иэмери Отельной системой 8, стала равной нулю.Разность фаз о и...

Номер патента: 1495689

Опубликовано: 23.07.1989

Автор: Старостенко

МПК: G01N 21/23

Метки: веществ, двойного, лучепреломления

...поляризатора 1 О устанав-. ливают перпендикулярно плоскости3 1495689 поляризации поляризатора 5. После прохождения исследуемого вещества 6 и четвертьволновой пластинки 7 плоскость поляризации излучения рабочего канала поворачивается на угол, определяемый величиной двойного лучепреломления исследуемого вещества.Так как свет рабочего и компенсационного каналов пропускают через общий 10 вращающийся анализатор 11 и регистрируют с помощью общего Фотоприемника 14, вследствие исключения возможной интерференции пучков, достигаемой прохождением деполяриэатора 12, переменная составляющая сигнала, регистрируемого измерителем 15, равна нулю только в том случае, когда интенсивности рабочего и компенсационного пучков равны, а плоскости их...

Номер патента: 1518729

Опубликовано: 30.10.1989

Авторы: Габа, Романюк, Урсул

МПК: G01N 21/23

Метки: двупреломления, измерении, кристаллов, параметров, полной, разности, хода

...между ними в дцагов 1 и 2(и,1 и) С 1х с где 1 - амплпгудцое значение ццтено сцвности света; и-.и ф - значение двупреломленця+дг) = 1,з 1 и, - аг, а огсюда, дробнаячасгь разности хода буде равна При определении по формуле (2) надо учесть, что одному значению 1могут отвечать два дробные значения разности хода. Для правильного определения дробной части разности хода следует определить соотношение между расстояниями от центра коноскопической фигуры до крайних минимумов в двух , взаимно перпендикулярных цаправлециях - а и Ь (Фиг. 1)Легко видеть, что в случае а(Ь дробное значение разности хода равно лг, а в случае аЬ составляет Л - д г.Дробную часть разности хода можно гакже точно и легко определить по соогношецию расстояний а и Ь в...

Номер патента: 1543307

Опубликовано: 15.02.1990

Авторы: Зильберштейн, Ромм

МПК: G01N 21/23

Метки: анизотропии, горных, оптической, пород

...1 и 1, вышедшего из системы поляризатор - анализатор, от угла Ы поворота шлифа. Вычисляют сред ние за один оборот значения интенсив.". ностей света 1 ц и 1.1.Определяют по построенной зависимости преимущественную оптическую ориентировку индивидов в агрегате.154330 У ности, пучок света сечением, равнымсечению шлифа, пропускают через систему и измеряют интенсивность света,вышедшего из системы, соответственнопри параллельных 1, и при скрещенных1 поляризаторе и анализаторе приразличных углах поворота шлифа вокруг оптической оси этой системы, затем по измеренным зависимостям определяют преимущественную оптическуюориентировку индивидов в шлифе какугловое положение максимума эависимости 1 от угла поворота, среднее значение двулучепреломления и...

Номер патента: 1679298

Опубликовано: 23.09.1991

Авторы: Бурцева, Варикаш, Меркулов

МПК: G01N 21/23

Метки: точки, трикритической

...и с(3) срезах, на фиг, 3 - температурная зависимость спонтанной поляризации кристалла КН 4)о,д 4 Ко,оо)2 ЯО 4 вдоль направления, измеренная с помощью пирозлектрического заряда.На фиг. 4 представлены экспериментальные Л пз и рассчитанные теоретически Д зависимости спонтанного двулучепреломления от разности температур (Т - Т) кристалла (М Н 4)о,д 4 Ко,оф 304 в а (1), Ь (2) и с (3) срезах (точки, рассчитанные теоретически,обозначены символом ).На фиг, 5 представлены зависимости параметра Ь от концентрации ионов калияв кристаллах (МН 4)1-х Кхй 304 вдоль а(2),Ь(1) и с(3) кристаллографических осей.При изменении двулучепреломлениякристаллов ЦМН 4)1-х Кх 2 304 используют известную формулу Лп =Гй,где Г - разность 5хода двух волн; б - толщина...

Номер патента: 1746264

Опубликовано: 07.07.1992

Авторы: Гамарц, Дернятин, Добромыслов, Крылов, Курняев, Трошин

МПК: G01N 21/23

Метки: полупроводниковых

...с выхода ФНЧ 19 анализатора 9 возникает также модуляция поступает на сигнальный вход АЦП 20, в на частоте в 1, Прошедшее вращающийся котором преобразуется в цифровой код в анализатор 9 излучениелинейнополяризова- моменты прихода импульсов на вход запуно, причем плоскость поляризации враща ска АЦП 20. Эти импульсы вырабатываются ется с частотой 2 в 1, Оптические элементы формирователем 11 и 12 опорного сигнала устройства, расположенные на оптической и жестко связаны с угловым положением оси после вращающегося анализатора, мо- анализатора. Таким образом, на вход регигут быть чувствительны к направлению по-стрирующего устройства 21 поступает поляризации проходящего через них света. В 55 следовательность цифровых кодов,особенности это...

Номер патента: 1755122

Опубликовано: 15.08.1992

Авторы: Воропай, Нижников, Торпачев

МПК: G01N 21/23

Метки: лучами, между, микроскопа, необыкновенным, обыкновенным, поляризационного, помощью, разности, хода

...чувствительного . оттенка с Во = 555 нм, поскольку ею снабжаются все поляризационные микроскопы, для нее предусмотрено гнездо в поляризационном микроскопе. Если используется штатная пластинка чувствительного оттенка, то при вводе ее в предусмотренное для этого гнездо микроскопа она уже находится в диагональном положении. При использовании другой пластинки ее поворачивают вокруг оптической оси до тех пор. пока не наступит максимальное затемнение поля зрения микроскопа. От этого положения пластинку поворачивают на угол 45 так, чтобы направление колебаний света в ней составлялоугол 45 с направлением колебаний в поляризаторе и анализаторе, Затем начинают вводить между поляризатором и анализатором оптический клин, наблюдая20 253035...

Номер патента: 1784876

Опубликовано: 30.12.1992

Автор: Кучеров

МПК: G01N 21/23

Метки: панорамный, поляриметр

...на плоскость панорамного приемника излучения 12, квазиодновременно образуя 4изображения на его квадрантах, соответствующие различным состояниям поляризации исследуемого объекта (фиг.З), Световойпоток в каждой точке исследуемого объектахарактеризуется. параметрами Стокса, О, О и Ч. Полный цикл работы поляриметра состоит из двух фаз,В первой фазе работы оптическая осьАФП 4 последовательно занимает положения 0 и 22,5 О, а оптическая ось АФП 6 - соответственно 0 и 45 (фиг,З), затем этот цикл многократно повторяется до накопления необходимого сигнала на панорамном приемнике излучения, т.е, АФП 4 и АФП 6 совершают синхронные колебания.При прохождении излучения через полуволновую АФП 4 с ориентацией оптической оси Оо в исходном векторе...