Способ измерения параметров облучения

Номер патента: 1356716

Авторы: Гордеев, Николаенко, Самсонов

Описание

Способ измерения параметров облучения, заключающийся в том, что пробу алмазного порошка помещают в зону облучения, выдерживают в течение времени облучения, извлекают и, определив рентгенографически расширение кристаллической решетки алмаза, устанавливают по нему температуру (Т) облучения, отличающийся тем, что, с целью определения одновременно с температурой флюенса нейтронов (F) при снижении трудоемкости способа, часть пробы алмазного порошка предварительно облучают при температуре 70 - 100oC флюенсом нейтронов 5 1019 - 5 1020 см-2 с энергией более 0,5 МэЭ, в зону облучения помещают пробу смеси облученного и необлученного порошков и, определяя рентгенографически расширение кристаллической решетки алмаза этой пробы, устанавливают флюенс нейтронов по разности расширений кристаллической решетки алмаза в предварительно облученной ( V/V)o и необлученной ( V/V)н частях пробы и по предварительно построенному градуировочному графику [( V/V)н-( V/V)o]~ (F).

Заявка

4073420/25, 14.04.1986

Николаенко В. А, Гордеев В. Г, Самсонов Н. И

МПК / Метки

МПК: G01N 23/20

Метки: облучения, параметров

Опубликовано: 20.06.1999

Код ссылки

<a href="https://patents.su/0-1356716-sposob-izmereniya-parametrov-oblucheniya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения параметров облучения</a>

Похожие патенты