Способ измерения параметров облучения
Описание | Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1356716
Авторы: Гордеев, Николаенко, Самсонов
Описание







Заявка
4073420/25, 14.04.1986
Николаенко В. А, Гордеев В. Г, Самсонов Н. И
МПК / Метки
МПК: G01N 23/20
Метки: облучения, параметров
Опубликовано: 20.06.1999
Код ссылки
<a href="https://patents.su/0-1356716-sposob-izmereniya-parametrov-oblucheniya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения параметров облучения</a>
Предыдущий патент: Способ обработки изделий из спеченных твердых сплавов на основе карбида вольфрама
Следующий патент: Способ изготовления бромиодсеребряной фотографической эмульсии
Случайный патент: Контактная система