Способ измерения деформации кристаллической структуры поверхностных слоев
Описание | Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Описание
Заявка
4336309/25, 03.12.1987
Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов АН СССР
Аристов В. В, Ерохин Ю. Н, Снигирев А. А, Никулин А. Ю
МПК / Метки
МПК: G01N 23/20
Метки: деформации, кристаллической, поверхностных, слоев, структуры
Опубликовано: 20.02.2000
Код ссылки
<a href="https://patents.su/0-1533496-sposob-izmereniya-deformacii-kristallicheskojj-struktury-poverkhnostnykh-sloev.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения деформации кристаллической структуры поверхностных слоев</a>
Предыдущий патент: Способ получения молибдена особой чистоты
Следующий патент: Способ получения 2, 2-диметил-2-(5, 5-диметил-1, 3 диоксанил)этилциклогексилового эфира
Случайный патент: Устройство для выращивания птицы