Устройство для измерения геометрических параметров, например, кочанов капусты

Номер патента: 1322078

Опубликовано: 07.07.1987

Авторы: Кононов, Попов, Романовский, Ростонская

МПК: G01B 5/24

Метки: геометрических, капусты, кочанов, например, параметров

...размеров, выполненным в виденаправляющей втулки 6, жестко закрег, -ленной в центре круговой шкалы 1 перпендикулярно ей. Во втулке 6 расположен с возможностью перемещения вдольнее измерительный стержень 7, который взаимодействует с вертикальнойлинейной шкалой 8, выполненной натранспортире 3. Направляющая втулка6 соединена с угломерами 4 и 5. Транспортир 3 и круговая шкала 1 соединены между собой неподвижно, и их начала отсчетов совпадают. Угломер 4 выполнен в виде кружка, угломер 5 - ввиде подпружиненной пружиной 9 кручения пластины с пазом под транспортир 3, шарнирно закрепленной на направляющей втулке 6. Устройство снабжено ручкой 10, На нижнем торце измерительного стержня 7 со стороны круговой шкалы 1 установлен упор 11 ввиде...

Номер патента: 1052956

Опубликовано: 07.11.1983

Авторы: Агеев, Гоганов, Казанский, Комяк

МПК: G01N 23/20

Метки: варианты, его, заданного, кристалла, кристаллографических, ориентации, отклонения, относительно, плоскостей, поверхности, среза, угла

...разности измеренных углов 2.5 Наиболее близким кпредлагаемомуявляется способ определения отклонения угла ориентации кристаллографических плоскостей от заданного угла относительно поверхности среза кристалла, включающий облучение поверхности среза исследуемого кристалла пучком рентгеновских лучей и регистрацию отраженных от него лучей с помощью детектора 13Недостаток способа состоит в том,что необходимо поворачивать исследуемый кристалл для лоиска отражения и нахождения углового положения его максимальной интенсивности, что существенно снижает экспрессность анализа. Кроме того, точность определения угла отклонения таким способом зависит от точности изготовления узлов, обеспечивающих поворот и определение углового поло.ения кристалла,...

Номер патента: 40003

Опубликовано: 30.11.1934

Автор: Аршинов

МПК: G01N 21/21, G02B 21/34

Метки: измерений, кристаллооптических, микроскопа, поляризационного, столику

...экватора, Угол азимута измеряется а столике микроскопа угломмежду начерченной на плоскости вспомогательного сегмента линией ХБ и центральной линией дужки. начерче:Ной нацеллюлоидной ленте.2, Полусфера со скользящим сегментом(Протрактором) (фиг, 3), Длв Определения сф.-ричеслих координат наклона олусферы более , крупных размеров, около 35 .и,1, врашаюшейся в плоско. вогнуто линзе, мож 110 предложить / скользящий по полусфере сегмент.Се "мент (протрактор), изготовленный из стекла или пластической массы, слегка смочем-ный глицерином, скользит одноьременно как пополусфере, так и по подставке ь виде вогнуто-плоской лйнзы, Скользящий сегмент(протрактор) с толшиной стенки между сферическими его поверхностями около 3 - 4,с,г имеет форму...

Номер патента: 110343

Опубликовано: 01.01.1957

Автор: Финкельштейн

МПК: G01C 1/06

Метки: круговых, прибор, точности, шкал

...отсчетов без необходимости в точной центрировке шкал, Прибор прост, надежен в работе и несложен в изготовлении.Отличительная особенность прибора заключается в том, что его оптическая система выполнена по схеме сравнительного микроскопа, в поле зрения которого одновременно видны совмещаемые попарно диаметрально противоположные хи эталонной и проверяемой расположенных соосно. переносится в горизонтальную плоскость, совпадающую с острым ребром призмы 7. Это ребро и является в поле зрения микроскопа 8 линией раздела, на которой производится совмещение попарно штрихов эталонной и проверяемой шкал.Качающаяся плоскопараллельная стеклянная пластинка 9 служит для выверки системы до начала измерений. Пластинка 10 является измерительной и служит...

Номер патента: 445364

Опубликовано: 05.08.1976

Авторы: Ефанов, Комяк, Лютцау, Рабодзей

МПК: G01N 23/20

Метки: кристаллов, топограмм

...кристалла ц положение соответствующего цм акта заиси ца детекторе. Причем в зависимости от требований к съемке матрица параллельных капилляров может быть установлена как перед исследуемым кристаллом, так и перед детектором.На чертеже схематически изображен один из вариантов исполнения предлагаемого устройства.Источник излучения 1 выполнен в в",де растровой рентгеновской трубки с анодом 2, нанесенным непосредственно на выходное окно из бериллия.Непосредственно у выходного окна источника излучения расположен коллиматор 3 в виде двумерной матрицы параллельных капилляров, вплотную к которому размещен исследуемый кристалл 4. 32 ис. следуемым кристаллом перед детектором 5 размещен другой коллиматор 6, выполненный также в виде двумерной...