Способ контроля размеров и формы объектов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 983454
Автор: Седельников
Текст
(22) Заявлено 01.04.81 (21) 3269367/25-28 с присоеринением заявки Нов(23) Государственный комитет СССР по делам изобретений н открытий(088. 8) 1 Дата опубликования описания 23.12.82(72) Авторизобретения Ю;Е. Седельников Казанский ордена Трудового Красного Зйамеви=.(54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ РАЗМЕРОВ И ФОРМЫ ОРЬЕКТОВ Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано, в частности,. для контроля раз. меров и формы объектов.Известен, способ контроля размеров иформы объектов, заключающийся в том, что измеряют расстояния для различных точек контролируемого объ-екта при помощи облучения объекта электромагнитной или световой волной, ,получают информацию о дальности. по времени запаздывания отраженного сигнала, по которой и судят о размерах и форме объектов 11. Однако согласно известному спосо- . бу должно производиться большое число измерений и, следовательно, тре- буется большое время на измерение.Наиболее близким к изобретению по технической сущности является способ контроля размеров и формы объектов, заключающийся в том, что облучают волновым полем эталонный и контролируемый объекты,.принимают и регистрируют отраженные сигналы от обоих Объектов, сравнивают эти сигналы,. по которым судят о.размерах и Формеобъекта: 21.Эталонный и контролируемый объекты облучают волновым полем с шириной полосы частот менее - - де ч - скофОрость распространения волнового поля,Ь - минимальный контролируемый размер объектаСогласно известному способу регистрируют.,аьвтлитудные пространственные спектры .сигналов, отраженныхот контролируемого и эталонного объ О ектов. Недостатком известного способа.является низкая производительностьконтроля,Цель изобретения - повышение производительности контроля,Поставленная цель достигается тем,что согласно способу контроля размеров и формы объектов, заключающемсяв том, что облучают волновым полемэталонный и контролируеьый объекты,принимают и регистрируют отраженныесигналы от обоих Объектов, сравнивают эти сигналы, по которым судято размерах и форме объекта,этапонный и контролируемый объекты облучают волновым полем с шириной полосычастот не менее -, где ч вскоростьчраспространения волнового поля, Ь -минимальныйконтролируемый размеробъекта, и регистрируют частотные983454 4Блок 8 сравнения проверяет их совпадение, причем наличие совпадениясвидетельствует об идентичности объектов и наоборот.Преимущество предложенного способа ь состоит в Возможности осуществленияоперативного бесконтактного контроля размеров деталей и других объектов в процессе производства, причемсуммарное время контроля, его трудой )О емкость и стоимость будут меньшимипо сравнению с известными методами,К числу дополнительных преимуществможно отнести и то, что по сравнению с известными интерференционны 5 ми, где результат регистрируемой интерференции происходит в пространстве, здесь требуются меньшие объемыдля аппаратуры, так как наблюдаемаяинтерференция происходит в точке,соответствующей расположению приемной антенны. Последнее обстоятельство может быть особенно полезным приконтроле крупногабаритных деталейили объектов с ограниченным доступом. формула изобретения ВНИИ Заказ 9890/46 Тираж 614 Подписн Филиал ППП "Патент",г. Ужгород, ул.Проектная,4 спектры сигналов, отраженных от контролируемого и эталонного объектов,На чертеже изображена принципи-альная схема устройства, реализующего предЛоженный способ.Устройство содержит последователно расположенные генератор 1, модулятор 2, передающую 3 и приемную 4антенны, приемник 5, блок б для измерения частотного спектра, блок 7памяти и блок 8 сравнения. Эталонныобъект 9 и измеряемый объект 10 устанавливают в измерительной камере11(безэховая радиоволновая или гидроакустическая камера).Предложенный способ контроля размерови формы объектов осуществляется с помощью укаэанного устройства.следующим образом,Высокочастотные колебания генератора 1 модулируются модулятором 2таким образом, чтобы излученные передающей антенной 3 волны имели равномерный частотный спектр в широкойполосе частот не менее - где ч -Юскорость распространения волновогополя, Ь - минимальный контролируемыйразмер объекта 10, В измерительнуюкамеру 11 помещают эталонный объект9, который облучают волновым полем.Отраженные волны принимаются приемнойзантенной 4, усиливаются приемником5 и поступают на блок б для измерения частотного спектра. Последний,например, представляет собой ряд узкополосных фильтров, настроенных наразличные часто, впределах иссле 35дуемой полосы частот и имеющих отклики-напряжения, пропорциональныезначениям измеряемого частотногоспектра. Укаэанные величины (значения частотного спектра) считаются 40эталонными и запоминаются блоком 7.памяти. Теперь устройство готоводля контроля объектов, однотипныхэталонному. Для этого в измерительнуюкамеру 11 помещают очередной измеряемый объект 10. С ним проводят аналогичную операцию облучения и приемаотраженных волн, В результате наблок 8 сравнения подают значения измеряемого спектра, полученного от 5 Оизмеряемого объекта 10, и от эталонного. объекта 9 из блока 7 памяти. Способ контроля размеров и формыобъектов, заключающийся в том, чтооблучают волновым полем эталонный иконтролируемый объекты, принимают ирегистрируют отраженные сигналы отобоих объектов, сравнивают эти сигналы, по которым судят о размерах иформе объекта, о т л и ч а ю щ и йс ятем, что, с целью повышения производительности контроля, эталонныйи контролируемый объекты облучаютволновым полем с шириной полосы часмтот не менеегде Ч - скоростьдраспространения волнового поля;минимальный контролируемый размеробъекта, и регистрируют частотныеспектры сигналов, отраженных от контролируемого и эталонного объектов,Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1, Патент .Англии Р 1496897,кл. 6 01 8 9/02, 1978,2. Авторское свидетельство СССРР 270699, кл, 6 01 В 9/02, 1974
СмотретьЗаявка
3269367, 01.04.1981
КАЗАНСКИЙ ОРДЕНА ТРУДОВОГО КРАСНОГО ЗНАМЕНИ АВИАЦИОННЫЙ ИНСТИТУТ ИМ. А. Н. ТУПОЛЕВА
СЕДЕЛЬНИКОВ ЮРИЙ ЕВГЕНЬЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 11/02, G01B 11/24
Метки: объектов, размеров, формы
Опубликовано: 23.12.1982
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-983454-sposob-kontrolya-razmerov-i-formy-obektov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ контроля размеров и формы объектов</a>
Предыдущий патент: Способ контроля перемещений объекта и устройство для его осуществления
Следующий патент: Прибор для контроля качества поверхности детали
Случайный патент: Способ получения связующего для графитопластов, содержащего дифурилиденацетон