Устройство для измерения отклонения формы поверхности

Номер патента: 480905

Авторы: Левин, Флейшер

ZIP архив

Текст

ДЕТЕЛЬСТВУ М. Кл. 6 01 Ь 11/2 1884120/25-28 с присоединением заявк дарстееннын комитет вета Министров СССРа делам изобретений и открытийлетеньия 1 б,10.7 72) Авторы изобретени А. Г, Флейшер евин вител 4) УСТРОЙ ЕРЕНИЯ ОТКРХНОСТИ И ТВО ДЛЯ ИЗМ ФОРМЫ ПОВ у изображения диаокальной плоскости Отраженное от этабражение диафраг переносится в фоного объектива 7, с атчик измерительноего положение изозультаты измерения етенияотклонения форе корпус с науюся по ним кафтом, жестко свяолненную в виде К АВТОРСКОМУ СВ 1) Дополнительное к авт,(22) Заявлено 13.02,73 (21) 23) ПриоритетОпубликовано 15.08.75. Б Дата опубликования опис Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения качества обработанных поверхностей.Известно устройство для измерения отклонения формы поверхности, содержащее корпус с направляющими, перемещающуюся по ним каретку с измерительным штифтом, жестко связанную с ним головку, выполненную в виде микрообъектива и тубусного объектива, расположенный под ней стеклянный брус с эталонной поверхностью и измерительный блок.Предлагаемое устройство отличается от известного тем, что головка выполнена в виде проектирующего и измерительного микро- объективов, размещенных под углом, например 90, друг к другу с возможностью перемещения перпендикулярно стеклянному брусу.Такое выполнение устройства позволяет повысить точность измерения.На фиг. 1 изображено предлагаемое уст ройство; на фиг. 2 - то же, поперечный ра рез.Устройство для измерения отклонения формы поверхности содержит корпус 1 с направляющими, каретку 2 с измерительным штифтом 3, на котором закреплена голодка, выполненная в виде проектирующего 4 и измерительного 5 микрообъектов, два тубусных объектива б, 7, стеклянный брус 8 с эталонной поверхностью и измерительный блок 9, причем микрообъективы 4, 5 размещены под углом 90 один относительно другого и имеют возможность перемещаться перпендикулярно стеклянному брусу 8.Устройство работает следующим образом.При движении каретки 2 измерительный штиф 3 скользит по контролируемой поверхности, отклонения которой от заданной формы вызывают вертикальные перемещения,Это приводит к сдвигфрагмы 10, стоящей в фтубусного объектива 6.лонной поверхности изомы 10 микрообъективомкальную плоскость тубускоторой совмещен фотодго блока 9, отслеживающбражения диафрагмы. Рпередаются на самописец Предмет изобр Устройство для измерения мы поверхности, содержаще правляющими, перемещающ ретку с измерительным шти занную с ним головку, вып480905 на в виде проектирующего и измерительного микрообъективов, размещенных под углом, например, 90 друг к другу с возможностью перемещения перпендикулярно стеклянному 5 брусу. РОг 7 останитель В. Мартыно Редактор Л. Василькова Техред Т. М ва каз 2557/17ЦН Изд.1697 Тираж 782 ПИ Государственного комитета Совета Министр по делам изобретений и открытий Москва, Ж, Раушская наб д. 4/5ипография, пр. Сапунова,микрообъектива и тубусного объектива, расположенный под ней стеклянный брус с эталонной поверхностью и измерительный блок, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерений, головка выполнеректор Н, Учакина Годписное в СССР

Смотреть

Заявка

1884120, 13.02.1973

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Р-6681

ЛЕВИН БОРИС МАРКОВИЧ, ФЛЕЙШЕР АЛЕКСАНДР ГРИГОРЬЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01B 11/24, G01D 5/26

Метки: отклонения, поверхности, формы

Опубликовано: 15.08.1975

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-480905-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-otkloneniya-formy-poverkhnosti.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения отклонения формы поверхности</a>

Похожие патенты