Устройство для контроля отклонений поверхности от заданной формы

Номер патента: 504079

Авторы: Левин, Флейшер

ZIP архив

Текст

ОП ИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЮТЕЛЬСТВУ уж(11) 504079 Союз Советских Социапистицеских Респубв ч(22) Заявлено 21.03,74(21) 2007231/25-28с присоединением заявки51) М. Кл. 601 В 11/24 ооудврственный кометеСовета Министров СССРоо делам нэооретенийн открытий(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ОТКЛОНЕНИЙ ПОВЕРХНОСТ ОТ ЗАДАННОЙ ФОРМЫИзобретение относится технике, предназначено для нений поверхностей от зад может быть использовано эмерительно контроля отклтой формы ипроизводстве,аетс Предложенное усот известного тем,ство отг что эталон в ой диафрагмь ем выл устаолнен в вице щелев ым изготовлением высокоточных поверхностей,Известно устройство для контроля отклонений поверхностей от заданной формы, содержащее станину, каретку с расположенными в ней микрообъективом, тубусным объ- Оективом, фотодатчиком, несущую пружинныйподвес со шупом, эталон, выполненный в"виде стеклянного бруса, который встроен встанину.Известное устройство имеет сравнитель-но низкую точность измерений и достаточно .сложную конструкцию, так как поверхность стеклянного эталона должна бытьобработана с интерференционной точностью,что не всегда возможно, особенно при 20бОльших размерах и сложной форме этало новлен в предметную плоскость микрообьектива.Такой эталон достаточно просто изготовить известными оптическими или механическими способами с высокой точностью, причем профиль эталона может быть, и сложным. Эталон в виде шелевой диафрагмы позволяет упростить конструкциКЕустройства и повысить точность измере ний,На фиг. 1 представлена схема устройства, на фиг. 2 - схема контроля отклонений поверхности от прямолинейности.Устройство (содержит станину 1, на. которэй закреплены направляющие, эталон,выполненный в виде шелевой диафрагмы 2,и мотопривод для перемещения каретки 3.На каретке 3 укреплены микрообъектив 4,тубусный объектив 5, фотодатчик 6 и пружинный подвес с ощупывающим штифтом 7,связанный с микрообъективом 4.Предметная плоскость микрообъектива4 совмешена с ттлоскостью щелевой диафрагмы заданной формы, укрепленной встанине 1. форма целевой дигьпдгмы мо 504070жет быть выполнена или на делительноймашине для случая измерения отклоненийот нрямоличейности, как показано на фиг,2, или фотопутем для иных форм. В последнем случае направляющие должны бытьвыполнены с приближением. к форме диафрагмы.,При движении каретки 3 ощупывающийштифт 7 скользит по контролируемой поверхности отклонения которой вызывают.помещение его и .укрепленного на нем микрообъектива 4. относительно .неподвижнойосвещенной щелевой диафрагмы 2, что приводит к смещению изображения видимой врикрообъектив 4 части этой диафрагмы вфокадьной плоскости тубусного объектива5, с которой совмещен фотодатчик 6. Сигнал с фотодатчика передается на самописец. Формула изобретениябУстройство для контроля отклонений поверхности от заданной формы, содержащее станину, перемещаемую по ней каретку с располОженными в ней микрообъективом, ф тубусным объективом, фотодатчиком и пружинным подвесом со щупом, эталон, встроенный в станину, о т л. и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности измерений и упрощения конструкции, эталон 1 бвыполнен в виде щелевой диафрагмы и установлен в предметную плоскость микро- объектива.504079 ТиРаж864 Подписное Заказ 6 ИНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

Смотреть

Заявка

2007231, 21.03.1974

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Р-6681

ЛЕВИН БОРИС МАРКОВИЧ, ФЛЕЙШЕР АЛЕКСАНДР ГРИГОРЬЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01B 11/24, G01D 5/26

Метки: заданной, отклонений, поверхности, формы

Опубликовано: 25.02.1976

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-504079-ustrojjstvo-dlya-kontrolya-otklonenijj-poverkhnosti-ot-zadannojj-formy.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для контроля отклонений поверхности от заданной формы</a>

Похожие патенты