G01B 11/16 — для измерения деформации твердых тел, например оптические тензометры

Номер патента: 1619018

Опубликовано: 07.01.1991

Авторы: Бахтин, Глухов, Городнюк, Костюченко, Николаев, Перк

МПК: G01B 11/16, G01B 9/021

Метки: голографический, деформированного, напряженно, объектов, параметров, состояния

...состояния,Вытравливание полосок, параллельных линии крепления, обусловлено следующим. При вытравливании идентичных полосок, проходящих через круглое отверстие, происходит частичная разгрузка окружной компоненты тензора остаточных напряжений по контуру полосок. По голографической интерферограмме можно определить распределение окружной компоненты по контуруполосок, Для этого по распределению окружной компоненты сначала определяют распределение радиальной компоненты в темплете, а затем рассчитывают компоненты обьемного напряженного состояния ввалке, т.е. вытравливание полосок позволяет определить параметры напряженно-деформированного состояния бандажированного 20 25 30 35 40 45 валка, В результате вытравливания полосок происходит...

Номер патента: 1619019

Опубликовано: 07.01.1991

Авторы: Кобелев, Котов, Николаев, Олейник, Рапопорт

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, композиционного, конструкции, слоистого

...напряженно-деного состояния конструкции изного материала, Целью изобрете Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в исследованиях напряженно-деформированного состояния конструкции из композиционного материала.Целью изобретения является повышение точности путем уменьшения влияния датчиков на параметры напряженно-деформированного состояния конструкции,Способ осуществляется следующим образом,В процессе формирования конструкции устанавливают между слоями композиционного материала оптические волокна, схожие механическими свойствами и геометрическими параметрами с волокнами композиционного материала. Пропускают через оптические волокна когерентное излучение и регистрируют его фазовые или поляризационные...

Номер патента: 1620819

Опубликовано: 15.01.1991

Автор: Ракушин

МПК: G01B 11/16, G01B 9/021

Метки: настройки, спекл-интерферометр

...расстоянии отвыходного торца жгута 4, зависящим ст параметров используемых граданов,Таким образом, жгут 4 Я-граданов осуществляет кусочно-непрерывное преобразование поверхности объекта в егополностью сфокусированное изображение.Сформированная жгутом 4 поверхностьизображения совпадает с поверхностью регистрирующего материала 5, форма которойаналогична рельефу исследуемого объекта.что обеспечивается с помощью юстировочного блока 6.При исследовании деформированногосостояния объекта его дважды фотографируют соответственно до и после нагруженияна один и тот же регистрирующий материал5, в результате чего и записывается двухзк, спозиционная спекл-фотография, 55 ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышенияточности измерения перемещений в...

Номер патента: 1629753

Опубликовано: 23.02.1991

Авторы: Барашев, Хапачев, Чуховский, Шухостанов

МПК: G01B 11/16

Метки: градиента, деформации, монокристаллических, неоднородных, образов, пленочных, рентгенодифракционный, составу

...0 до наиболее интенсивного максимума приведены в табл, 1. Из выражений (8) и (10) получают формулы (2) и (3), по которым, измеряя на КДО угловое расстояние Ьдц, между интерференционными максимумами 1 и ), сопоставляя его с соответствующим ЬЧ и Ф 11 из таблицы 1, можно рассчитать градиент деформации в линейной и квадратичной моделях.Ввиду монотонности линейного и квадратичного законов изменений деформаций и в случае, когда деформация Ьео =Ье "о +Ье 1 о;Ье 10 = ЬЧг ЬО 12 садЬЧо 1ЬЧг 12Ля 1 о ЛО 1 г с 1 ц О (16)Л Ф 1 о з 1 п О ЛФ 1 г у нсозр равна нулю(фиг, 1) при г= и или (фиг. 3) при= 0 соответствующие этим случаям изменения деформации КДО приведены на фиг.4), из (2), (3) и (15) получаютй - Х б н 2 лсоз где ЛО 1 г - угловое расстояние от...

Номер патента: 1634996

Опубликовано: 15.03.1991

Авторы: Жилкин, Тырин, Шеффер

МПК: G01B 11/16

Метки: вблизи, величин, вершин, напряжений, полей, трещин, характеристических

...пластинки.Голщипа клеевого слоя должна быть мипнл,дльпо возможной для того, чтобы обеслечи гь идентичность искривления зсркдлыого слоя и поверхности обьекта в црлцсссс ндгружения, При использовании укдздцных компаундов толщина клеевого с Оч дслж а быть це лченее 50 мкм, если и, рьпис наносится при 15 - 25 С, и не меч.; 30 .)кль соли ко; гцауцд предварительно д; рс ь д 50-60 С, Уменьшение толщины ,сдсго слприводит к снижению качест- Д ОтРДжаь-ОЛГО ЦОКРЫтИЯ ИЗ-ЗД ПОЯВЛЕНИЯ , -.,пы,. усгог и местных отслоений.г."сбусмдл толщина покрытия (30 - 50 мкм) дб. гцсчцвдстсч калибровочными прокладка,)п гпсжду поосрхностью образца и стеклцой пластинкой,Пучок свсгд От лоцохроматичсского исгц,ппкд 1, например лазера, превращается : и;г)дллсльпый с...

Номер патента: 1640534

Опубликовано: 07.04.1991

Авторы: Журавский, Захаренко, Круглов, Орел

МПК: G01B 11/16

Метки: деформации, образца, поперечной

...от образца, два крепежных элемента 4 и 5, предназначенных для соединения с захватами силовозбудителя, соединенные с первым крепежным элементом 4 цилиндрические направляющие 6 и 7, оси которых параллельны и лежат в плоскости оси захватов силовозбудителя, установленную на направляющих 6 и 7 с возможностью продольного перемещения и соединенную с вторым крепежным элементом 5 каретку 8 и два захвата 9 и 10, предназначенных для крепления образца, Один из захватов соединен с направляющими 6 и 7, а другой - с кареткой 8,Устройство работает следующим образом.Испытуемый образец 11 из каучукоподобного материала или композиции на его основе закрепляют в захватах 9 и 10, а крепежные элементы 4 и 5 соединяют с захватами силовозбудителя....

Номер патента: 1640535

Опубликовано: 07.04.1991

Авторы: Платонов, Черновол

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, интерференционного, перемещений

...спекл-интерферограмму обьекта и восстанавливают с нее пучком полихроматического излучения картину интерференционных полос. Пучок фокусируют до появления на всем изображении объекта интерференционных полос. Перемещают пространственный фильтр до появления полихроматических интерференционных полос. Определяют последовательность изменения цвета полос, по которой определяют направления возрастания порядков полос, а по цве-,огым оттенкам полос определяют их порядки. интерференционных полос, Определяют последовательность изменения цвета полос, по которой определяют направление возрастания порядков полос. По цветовым оттенкам полос определяют.их порядки и, используя их, определяют деформации и перемещения,Способ интерференционного...

Номер патента: 1640536

Опубликовано: 07.04.1991

Автор: Гриневский

МПК: G01B 11/16

Метки: контакта, перемещений, участках

...участках контакта, усжду опорными деталями, зец, например, сжимаюм сдвигающей силой и зарамму сфокусированного траженный неконтактируи опорной детали второй пучок света от источника 1 учения светоделителями 2 опорный обьектный и втоный пучки соответственно.Опорный пучок через формирователь 11опорного пучка подают на регистрирующуюсреду 16. Объектный пучок отражают зеркалом 9 и через формирователь 10 обьектногопучка и опорную деталь 14 подают на объект 513. Отразившийся от образца пучок проходит через оптическую систему 15, формирующую иэображение объекта в плоскостирегистрирующей среды 16. Второй, дополнительный, пучок отражают зеркалом 4 и 10через формирователь 12 направляют вопорную деталь 14. Второй пучок попадаетнаконтактную...

Номер патента: 1640537

Опубликовано: 07.04.1991

Авторы: Бурцев, Моргунов

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций

...источника 2 света и имеющий в стенке отверстие 6 заданной формы, бокс 5 размещен так, что стенка с отверстием 6 расположена между источником 2 света и светочувствительным материалом 4, светонепроницаемую шторку 7; выполненную из пластины в форме сектора. размещенную возле отверстия 6 в стенке бокса 5 с возможностью поворота в плоскости, параллельной плоскости отверстия 6, и ориентированную одной из поверхностей к светочувствительному материалу 4, упругие волокна 8, размещенные на поверхности перпендикулярно ей, пластинчатую пружину 9, размещенную между боксом 5 и шторкой 7 и скрепленную одним концом с боксом 5, а другой конец имеет скользящий контакт со шторкой 7,Устройство работает следующим образом.Светонепроницаемую шторку 7...

Номер патента: 1640538

Опубликовано: 07.04.1991

Авторы: Бахтин, Задорин, Игнатьев, Пызин, Тросман

МПК: G01B 11/16

Метки: внутренних, напряжений, объекте

...во включенном состоянии, что приводит к преобразованию излучения во вторую гармонику, Далее излучение видимого диапазона проходит через тепловой фильтр 4, обеспечивающий защиту регистрирующей среды, и микрообьектив 5, размещенные на основании узла 3 крепления, введенного с помощью системы смещения, выполненной в виде электромагнита, на оптическую ось устройства. Микрообьектив 5 при этом установлен на расстоянии от линзы б, равном ее фокусному расстоянию. Следовательно, микрообьектив 5 и линза 6 обеспечивают преобразование излучения в коллимированное световое поле, Далее с помощью светоделителя 7 и полупрозрачных зеркал 8 и 9 осуществляется создание двух одинаковых пучков освещения поверхностей эталонного и контролируемого объектов...

Номер патента: 1649258

Опубликовано: 15.05.1991

Авторы: Воронов, Орлов

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, помощью, растр, растра

...поляризации каждой системы полос и ана О лнзатора 3. Таким образом получают две раздельные картины муаровых полос, несущие инФормацию о перемещециях точек исследуемого объекта в двух .различных направлениях. Ио муа ровым картинам определяют деФормации.Способ может быть реализован с помсщь 1 о различных устройств (фиг.2 а,б,в,По схеме (Фиг,2 а) анализатор 3 может быть размецен между растром 1 и 3 п источником 2 свата, а регистрация муаровых картин ведется раздельно двумя Фотокамерами 4, Каждая Фотокамера 4 регистрирует свою систему полос при совмещении плоскостей поляризации этой системы и анализатора 3. В результ ате наложения изображений недеФормированного и деФормированного растров 1 на негативах Фотокамер 4 образуются две...

Номер патента: 1649259

Опубликовано: 15.05.1991

Авторы: Валитов, Зиновьев, Патосин, Фетисов, Шестаков

МПК: G01B 11/16

Метки: бесконтактного, деформаций, лопаток, турбомашины

...2 - радиус огибающей торцов 10 лопаток,Способ осуществляется следующим образом.8 неподвижном корпусе турбомашины 5закрепляют оборотный, корневой и периферийный датчики 2, 3, 4, соединенн.:е сизмерительно-вычислительным блоком 1. Вкачестве датчиков 2, 3, 4 используют датчики, выполненные в виде источника 5 излучения и фотоприемника 6, оптическисвязанных между собой посредством волоконного световода 7, разветвленного с одного конца на две ветви, одна из которыхнаправлена на источник 5 излучения, а другая - на фотоприемник 6, а неразветвленный конец световода 7 направлен наметки-возбудители 8, 9 или на торцы 10 лопаток, Оборотную и корневые метки-возбудители 8, 9 наносят на вращающуюся часть 20туобомашины, а именно на...

Номер патента: 1651094

Опубликовано: 23.05.1991

Автор: Ракушин

МПК: G01B 11/16

Метки: больших, деформаций

...внутазмещен накрепления(57) Иэоб ной техни при опре деформац конструкц расширен маций эа ние подаю оно попад мации объ 1 меняетс определя ретение относится к измерительке и может быть использовано делении оптическими методами ий и перемещений элементов ий, Целью изобретения является ие диапазона измеряемых дефорсчет малых деформаций, Излучет в световод 1, после световода 1 ает на фотоприемник. При дефоректа светопропускание световода я, по величине этого изменения ют деформации, 1 ил,стве источника излучения может быть использован светодиод АЛ 107-6, После прохождения световода 1 излучение попадает на фотоприемник, в качестве которого может быть использован фотодиод ФД 26 К с усилителем, и регистрируется, При деформировании объекта...

Номер патента: 1652814

Опубликовано: 30.05.1991

Авторы: Анчугин, Савченко, Салищев, Трунов, Фирцак

МПК: G01B 11/16

Метки: внутренних, напряжений, покрытиях

...выемкой, проходит его и попадает на подложку с покрытием. Излучение отражается от сферической выемки и от подложки с покрытием. Совмещают отраженные части излучения наэкране системы регистрации и получают интерференционную картину, покоторой определяют внутренние напря-.жения. 1 з,п. ф-лы, 2 ил. довлетворяющим соотноше К-Ьгде К - радиус сферическойЬ - ее глубина,онсольный зажим 8, предкадля крепления подложки 2 сием и размещенный на держУстройство работает слеазом.Излучение лазера 1 напрма 8 на расстоянии, равном двумтретьим расстояния между зажимом 8 иопорой 4, Окрестности этой точки образуют зону измерений, Часть излучения отражается от подложки 2 с покрытием, а часть отражается сйеричЕской выемкой 1. Перемещая блок...

Номер патента: 1656319

Опубликовано: 15.06.1991

Авторы: Галкин, Круглый, Смирнов

МПК: G01B 11/16

Метки: механических, напряжений

...ОПРЕДЕЛЕНИЯ МЕСКИХ НАПРЯЖЕНИЙ(57) Изобретение относится к изной технике и может быпгь использ Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения механических напряжений в деталях.Целью изобретения является повышение точности путем получения промежуточных значений напряжений,На поверхность объекта наносят двухслойное покрытие, состоящее из пьезокерамической пленки и слоя люминофора, нанесенного на ее внешнюю поверхность, В качестве пленки может быть использована пьезокерамика ЦТСтолщиной 0,5 мм, а в качестве люминофора - родоминЖ, нанесенный слоем толщиной порядка 10 мкм. Освещают люминофор монохроматическим источником (это может быть, например, ОКГ ЛГ), Нагружают объект. Регистрируют интенсивность...

Номер патента: 1661568

Опубликовано: 07.07.1991

Автор: Деревщиков

МПК: G01B 11/16

Метки: оболочки, перемещения, поверхности, скорости

...времени к уменьшению радиальной скорости оболочки, спутный поток газаопережает ее и перед поверхностью оболочки возникает волна разрежения (ВР ),передний фронт которой (ПФВР ) движется1по спутному потоку газа с абсолютной скоростью, равной скорости ЗФВУ (достигну К+ К+ 1О+аа + О Оа=-аО 1) о и р "о д у 40 КК-(а=а,+ О о=а, - ц г(2) 45 где О - скорость газового патака, равнаясксрости перемещения стенкл;а, ас - местная скорость звука и скорость звука для покоящегося газа соответственна;50 СРК = , - отношение теплоемкастей,равное 1,4 для воздуха;Ср - теплоемкость при постоянном давлении;55 Сч - теплоемкость при постоянном обьемеИспользуя экспериментальные значения Оа, определяемые по кинограммам,с помощью соотношений (1)...

Номер патента: 1663405

Опубликовано: 15.07.1991

Авторы: Адонин, Москвин, Серьезнов, Стариков

МПК: G01B 11/16, G01B 7/16

Метки: деформаций, изделии

...- повышение точности определения деформаций. Для этого на поверхности контролируемого изделия закрепляют чувствительный элемент из активного диэлектрического материала с электрической доменной структурой. При этом его поляризуют электрическом полем, Деформацию изделия определяют по изменению характеристик высокочастотных составляющих спектра поляризации диэлектрика чувствительного элемента. 2 ил,верхних частот, усилителю 8 ному устройству 9, Потенци рительные электроды 2 специальным электропров Мост б (фиг. 2) переменного тока со р из стандартных комплектующих по схеме двойного моста.Способ осуществляется следу бразом,На поверхности изделия 4 закрепляют чувствительный элемент 3, выполненный из диэлектрика с электрической доменной...

Номер патента: 1663414

Опубликовано: 15.07.1991

Авторы: Лейбов, Макеев, Цыганов, Шкараев, Ярмольчук

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций

...с внешней стороны выравнивают его подложкой 7 в виде оптически прозрачной пластины с эапрессовкой. В отверстии 4 матрицы 3 до достижения положения, когда подложка 7 войдет в контакт с опорами 6, прижав материал таким образом к исследуемой поверхности, выдерживают его до отверждения, затем отделяют полученную первую реплику 5 вместе с матрицей 3 и подложкой 7 от исследуемой поверхности и помещают в рамку 8 со сквозным отверстием 9, размещенную в оптическом измерительном устройстве, в качестве которого использован спекл-интерферометр,С помощью тарированных усилий приж ма матрице 3 придают заданное положе 1663414ние на шаровых опорах 10, идентичных установленным на объекте 1, Затем на первую реплику 5 го стороны подложки 7 подают через...

Номер патента: 1663415

Опубликовано: 15.07.1991

Авторы: Герась, Матвеева, Сыродоев

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, моделей, склонов

...моделей скло обретения пределения деформа- , содержащая прямо-.Ф змещенные на ней дназначенные для поФормула из Установка для о ции моделей склонов угольную раму, ра приспособления. пре(71) Отдел географии АН(56) Вопросы формировавысоких склонов, - М.:159,(54) УСТАНОВКА ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДФОРМАЦИЙ МОДЕЛЕЙ СКЛОНОВ бретение относится к измерительной и может быть использовано при иссиях напряженно-деформируелого ия мо елей геологических обьектехнике ледован состоян д тов. Целью изоб ние производит На чертеже определения д нов, Усталу 1, раэ предназ фото кам1 Выполн пендикул рых служ 5 являют собление модели, диня ющ ребра 4 мещен в сти, обр фотокам новка содержит прямоугольную рамещенные на ней приспособление, аченное для поворота модели, и...

Номер патента: 1663416

Опубликовано: 15.07.1991

Авторы: Гужов, Кузнецова, Солодкин

МПК: G01B 11/16

Метки: интерференционное, объектов, перемещений

...простыми модулями: 25Х = Ь(п 1 об)х = Ь(проб Ь).Решить систему можно, применяя теорему.Пусть числа М и Мз определены из 30условийИ.2.;= МЬ, М М -- 1(вобЬ)и пустьХО=М 1 М Ь 1+ М 2 М 2 Ь 2++ММс ЬьТогда совокупность значений Х опреде ляется сравнениемХ: - Хс(побИ г,"Ь).Определить разность фаз в пределах одного периода ее изменения - это значит определить остаток от деления полной раз кости фаз на длину волны.Пусть Х= п 1 Л 1+ г..Если существует возможность определить г с достаточно большой точностью, можно поставить в соответствие.вещест венным значениям длины волны и фазы, определенной с точностью до 2 к, целые числа с определенным количеством значащих цифр и перейти к рассмотрению системы сравнений.50Устройство работает следующим...

Номер патента: 1665226

Опубликовано: 23.07.1991

Авторы: Дробахин, Овчинников

МПК: G01B 11/16

Метки: действием, изделии, массы, напряжений, поляризационно-оптический, собственной

...и вырезают иэ модели темплеты. Поляризационно-оптическим методом у) определяют напряжения,С: качестве такой пленки может быть использован вулканизированный силиконовый каучук. Выполняя во внутренних полостях модели пары отверстий, обеспечивают воз можность заполнения полостей модели жидкой средой. Устанавливают модель на , опорах, нагревают ее до температуры Т из диапазона 0,4 ТаамТ0,8 Тзам. и погру.жают в жидкую среду с той же температурой, имеющую плотность уср., меньшую плотности ум, материала модели. В качестве такой среды может быть использовано вазелиновое масло, Затем модель со средой нагревают до температуры Тзам. замораживания и выдерживают при этой температуре несколько часов, Модель охлаждают и вырезают из нее темплеты,...

Номер патента: 1668860

Опубликовано: 07.08.1991

Авторы: Пизар, Рудяк

МПК: G01B 11/16

Метки: напряженно-деформированного, состояния

...быть использовано для определения параметров напряженно- .деформированного состояния (НДС) прозрачных тонкостенных материалов. Целью изобретения является повышение информативности определения НДС объектов, поверхность которых имеет шероховатость с параметрами В, = 50200 мкм, Я = 510 мкм. Объект освещают пучком света и регистрируют интенсивность прошедшего или отраженного потока до и после деформации объекта. По полученным данным рассчитывают значения суммы главных деформаций и отдельных компонент деформации. деформаций е 1 + е 2= - 0 - 1 для объектов, (сК имеющих перекрещивающуюся или произ- Оф вольную шероховатость, или деформацию СоКо (с еу, ех, Яо- -- 1 для объектов с параллельК ной, перпендикулярный или кругообразной шероховатостью...

Номер патента: 1669991

Опубликовано: 15.08.1991

Авторы: Двухглавов, Камаев, Кривоногов, Михалев, Попов

МПК: C21D 7/02, G01B 11/16

Метки: деталях, деформаций, упругопластических

...интервал измерения предельной относительной деформации до (3,2-5,2) 10 1 табл,ют в эксплуатационные условия и подвергают нагружению. При этом допускается воздействие на покрытие повышенной влажности и агрессивной среды. Представленные в таблице результаты статических испытаний свидетельствуют о том, что тензочувствительное покрытие, в состав которого входит эпоксидная смола с массовой долей эпоксидных групп 16-18, фталевый ангидрид и дибутилфталат, взятые в массовом соотношении 1:0,4:0,01, температура его отверждения 130-1500 С, удовлетворяет по предельной относительной деформации условию получения в упрочняемых деталях пластической деформации 0-0,3 , соответствующий интервал предельной относительной деформации (3,2 - 5,2) 10 ....

Номер патента: 1670386

Опубликовано: 15.08.1991

Авторы: Захаров, Слепченко

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, изгиба

...ачальное распределение яр(57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения изгибных деформаций. Цель изобретения - определение пространственного распределения деформаций изгиба, Для этого узел передачи излучения, расположенный между источником и приемником излучения, выполнен в виде решетки из перекрестно переплетенных световодов, прикрепляемых к исследуемому объекту, выходные торцы которых образуют магрицу. 2 ил. кости по площади, которое фиксируетс в эуально или с помощью измерителя 5 Когд объект подвергается деформации изгиба, радиус кривизны световодов в местах и,еломления также изменится, и нз выходных торцах световодов 3 картича распределения яркости изменится. С помощью блока 6...

Номер патента: 1670387

Опубликовано: 15.08.1991

Авторы: Григорьев, Ларионов, Лукин, Рафиков

МПК: G01B 11/16

Метки: круговых, структур, точности

...комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул.Гагарина, 101 Л - длина волны используемого источника света.Формула изобретения Способ контроля точности изготовления круговых структур, выполненных в виде чередующихся прозрачных и непрозрачных кольцевых зон, заключающийся в том, что измеряют характеристики кольцевых зон и определяют отклонения характеристик от расчетных, по которым контролируют точность изготовления кольцевых зон, о т л ич а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения производительности и точности контроля, в процессе изготовления выполняют не прозрачные метки кольцевой формы в нескольких непрозрачных кольцевых зонах...

Номер патента: 1670388

Опубликовано: 15.08.1991

Автор: Рудяк

МПК: G01B 11/16

Метки: напряженно-деформированного, объекта, параметров, состояния

...излучением и регистрируют интерференционную картину, по которой определяют разность главных напряжений и разность главных деформаций. Одновременно с регистрацией интерференционной картины регистрируют фотоприемником интенсивность отраженного или прошедшего излучения. Экспериментально установлено, что величины этих ванного состояния объектов из оптически чувствительных материалов, Целью изобретения является повышение информативности путем определения суммы главных напряжений, К объекту из оптически чувствительного материала прикладывают механическую нагрузку, Просвечивают обьект поляризованным излучением и регистрируют интерференционную картину, по которой определяют разность главных напряжений, Одновременно с этим регистрируют...

Номер патента: 1670389

Опубликовано: 15.08.1991

Авторы: Абен, Иднурм, Пуро

МПК: G01B 11/16

Метки: материалах, напряжений, прозрачных

...пластмасс, Целью изобретения является повышение информативности за счет определения компоненты тензора остаточных напряжений по направлению перпендикуляра к сечению. Объект помещают в иммерсионную среду и просвечивают в двух параллельных сечениях поляризованным излучением под разными углами. Для каждого угла регистрируют параметр изоклины и относительную разность хода. По полученным данным определяют с помощью расчетных соотношений компоненту тензора остаточных напряжений по направлению перпендикуляра к сечениям. регистрируют параметр изоклины и относительную разность хода. По полученным данным определяют с помощью расчетных а соотношений компоненту тенэора остаточ- р ных напряжений по направлению перпендикуляра к сечениям. Формула...

Номер патента: 1675666

Опубликовано: 07.09.1991

Авторы: Новиков, Писарев, Фурсов, Щепинов

МПК: G01B 11/16

Метки: сдвига, спекл-интерферометр

...1, последовательно расположенные по ходу его излучения на одной оси элемент 2 для получения раздвоенного изображения, обьектив 3 и фоторегистратор 4, элемент 2 для получения раздвоенного изображения выполнен из двух оптических клиньев в форме колец с одинаковыми внешними и внутренними диаметрами О, б, соединенных по плоским поверхностям с возможностью сОвместного и взаимного поворота вокруг оси, а их внешние и внутренние диаметры О; г 1 соотносятся между собой как 2: 1, клинья могут быть выполнены с одинаковыми углами а,3 при вершинах (а =-3), кольца соединены посредством цилиндрической оправки 5 с внешним диаметром, равным внутреннему диаметру б колец. На чертеже показан объект 6 и обозначена величина сдвига д...

Номер патента: 1675667

Опубликовано: 07.09.1991

Авторы: Берзин, Гитерман, Караулов, Слезингер

МПК: G01B 11/16

Метки: деформации, измеритель, объекта, пьезооптический

...методом регистрируют деформации чувствительного элемента и по ним определяют деформации объекта. Изменения температуры окружающей среды не приводят к изменению показаний измерителя деформаций благодаря тому, что полый цилиндр изготовлен из материала с заданным коэффициентом линейного расширения. 1 ил.1675667 Ьа М Вв Мо ХТ Г ЗТ Г Йп4 Составитель В.КостюченкТехред М,Моргентал дактор С.Кулакова рректор М,Максимищи Заказ 2993 ВНИИПИ Тираж зрственного коми 113035, МоскПодписноеа по изобретениям и открытиям при ГКНТ ССЖ, Раушская наб 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул,Гагарина, 10 у - удельное удлинение чувствительЬ 3 кного элемента 3; 4 - линейный размер полого цилиндра 5,На чертеже также показаны...

Номер патента: 1679180

Опубликовано: 23.09.1991

Авторы: Матлахов, Овчаренко, Румянцев, Царева

МПК: G01B 11/16, G01B 7/16

Метки: индикатор, трещин, усталостных

...схемы измерения; на фиг.2 - сечение А - А на фиг.1.Индикатор содержит изоляционную подложку 1, на которой закреплена металлическая фольговая лента 2, На ней, в свою очередь, с помощью связующего 3 жестко закреплен волоконный световод 4.Индикатор трещин работает следующим образом.Индикатор закрепляют на исследуемой поверхности. В световод 4 вводится излучение от светодиода. В выходного торца све(54) ИНДИ (57) Изоб ной техни стности м в условияхповыше щины дос катор тре ленту, зак ложке, со жестко з ленте, 1 и птический сигнал поступает нанаправлении трещины под индикатором, независимо от того, произойдет разрушение фольги, световода или их отслоение в зоне прохождения трещины, информация о трещине будет получена. 5П р и м е р, За...