G01B 11/16 — для измерения деформации твердых тел, например оптические тензометры

Номер патента: 147002

Опубликовано: 01.01.1962

Автор: Бойко

МПК: G01B 11/16, G02B 27/28

Метки: импульсное, поляризационно-оптическое

...среды в плоском конфузоре при больших числах Рейнольдса, Здесь,как обычно для конфузора, за число Рей 0 нольдса принято отношение секундного расхода среды к ее кинематической вязкости.Деформация чистого сдвига осуществляется в плоскости симметрии конфузора, в товремя как у стенок имеет место простой сдвиг.5 В этих условиях скорость деформации рассчитывается и выражается через ширину выходной щели 2 в, давление Р и плотность исследуемой среды р раствора В максимуме скорости деформЗО Р = 500 кг/смя, Ь = 0,015 сит и р= - 0,66 10" 1/сек, что соответствует скоростисдвига 1,32 10 1/сек, т. е, более чем в 20раз превышает скорости сдвига, достигнутыеранее.Предлагаемое устройство содержит контейнер с конфузором, электромагнитное нагружающее...

Номер патента: 158684

Опубликовано: 01.01.1963

МПК: G01B 11/16, G01B 7/16

Метки: 158684

...вокруг него четь.рыщя чувствительными элементами, на которые наклеивают восемь тензодатчиков.На фиг. 1 схематически изображен предлагаемый прибор; на фиг. 2 - принципиальная электрическая схема прибора,Подвюкный шток 1 выполнен в средней части в виде конуса. Вокруг конусной части подвижного штока радиально расположены четыре упругих элемента 2 с наклеенными на цих тензодатчиками 3, 4, 5, б, 7, 8, 9, 10.Прибор, выполненный по этой схеме, позволяет проводить измерения при стационарных тепловых процессах в диапазоне температур от - 200 до +800- С.Наличие охлаждаемого водой корпуса обеспечивает работу чувствительного упругого элемента с наклеенными ца пего пленочными датчиками -П прц температуре 20 - 50 С, постоянную...

Номер патента: 162685

Опубликовано: 01.01.1964

МПК: G01B 11/16, G02B 1/10, G02B 27/28 ...

Метки: 162685

...и пластические напряжения и деформации. Для осуществления указанного способа на поверхность образца, предназначенного для изучения напряжений, наносят (методом напыления или ионной бомбардировки в вакууме) слой чистого серебра, который будет отражающей поверхностью как со стороны образца из хлористого серебра, так и со стороны покрытия, т, е, позволит вести наблюдение методом отраженного света с двух сторон. На слой металла наклеивается слой низкомодульного оптически чувствительного материала, повторяющего деформацию поверхности основного образца во всех точках, Наблюдая с двух сторон оптические картины (картины изохром) после отражения от поверхности металлического слоя, получают со стороны хлористого серебра линии, равные...

Номер патента: 163772

Опубликовано: 01.01.1964

Авторы: Музалевский, Токмаков, Щебров

МПК: G01B 11/16

Метки: деформации, пластической

...с ц оценки очага де Подписная гругггга1 Известен способ определения искажения делительных сеток, применяемых для исследования деформации иа внутренних слоях материалов просвечиванием рентгеновскими лучами, Делительную сетку наносят составом, 5 содержащим тяжелые элементы, например свинцовыми белилами, или вырезают на внутренних поверхностях в виде углублений.Однако этот способ дает лишь приближенную картину пластической деформации ме талл а.Предлагаемый способ отличается от известного тем, что испытуемый образец изготовляют из пластин, на поверхностях которых предварительно нанесена координатная сет ка, образованная рядом точек из металла с одинаковыми пластическими свойствами, не влияющими на физические свойства испытуемого...

Номер патента: 163775

Опубликовано: 01.01.1964

Автор: Алексеев

МПК: G01B 11/16, G01N 21/17

Метки: активных, материалах, напряжений, оптически

...по ниженные порядки полос изохром в виде пе.тель. В сечении, перпендикулярном направле нию большего главного напряжения, накромках отверстия наблюдается концентрация напряжений. По осям, составляющим с направлениями главных напряжений угол 45, образуются своеобразные лепестки изохром 30Заказ 29784 Тираж 1050 Формат бум. 60 р(90/в Объем 0,16 пзд. л. Цена 5 коп. ЦНИИПИ Государственного комитета по делам изобретений и открытий СССР Москва, Центр, пр. Серова, д, 4Типография, пр. Сапунова, 2 По картине изохром вокруг отверстия определяют направления главных напряжений поля.Неизвестные главные напряжения материала без отверстия о и о б принимают в точке размещения отверстия за средние интенсивности поля напряженного состояния. В...

Номер патента: 174412

Опубликовано: 01.01.1965

Авторы: Крупко, Чес

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций

...образования и распределения трещин в покрытии определяют наиболее напряженные зоны и направления главных осей деформаций и напряжений, от.гичаго гчийся тем, что, с целью упрощепия способаполучения покрытия и снижения его себестоимости, деталь увлажняют водой и помещают ее в условия отрицательных температур для образования на ее поверхности пленки льда,ом, что а испыи помеодписная группа172 деформаций гтий, соглаий (напрянесения на пециального хрупкое похностью. По еления треали опредег и направи напряжеИзвестны способы определения с помощью хрупких лаковых покрь сно которым измерение деформац жений) осуществляется путем на поверхность исследуемой детали с лака, дающего после высыхания крытие, прочно связанное с повер характеру...

Номер патента: 185525

Опубликовано: 01.01.1966

Автор: Гирин

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, растяжения, регистрации, сжатия

...неподвижный стержень 2, шток 3, траверсу 4 с передвигаемым при помощи винта б упором б, двуплечий рычаг /, закрепленный на оси 8, поворотный валик 9 с зеркальцем (на чертеже не указа но).Принцип работы устройства.При деформации образца связанные с нимподвижные кварцевые стержни 1 перемещаются относительно неподвижного стержня 2, 10 шток 8 с траверсой 4 поднимается или опускается, а передвижной упор б разворачивает двуплсчий рычаг 7, установленный на оси 8 независимо от штока и траверсы. При этом валик 9, несущий на себе зеркальце, повора чивастся относительно горизонтальной оси.Луч света, падающий от осветителя на зеркальце, направляется последним на перемещающуюся светочувствительную бумагу, на которой и регистрируется в виде кривой из...

Номер патента: 188110

Опубликовано: 01.01.1966

Авторы: Земисев, Карташов, Шиканов

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, тензометр

...пенсацпеппя для посвета, отлапя дефо чпых и бразце 1 каццош ьва номе ны к гальвасхеме. Источы на образцеричем источ ент понапрягякам Известны тецзометры маций образцов пород, ные на образце источни компенсационные источ мент, гальванометр, к фотоэлементы по комп источники напряжения ния источникам света.Предлагаемый тензо что источник света и фо ца образце с помощью о пенсациоцный источник мощность, чем источник образце,Такое выполнение тен ность измерений. На чертеже изображена схемаго тензометра.Тензометр для измерения дефразцов из слабых, пластическихжит укрепленные на образце 1 иста и фотоэлемент 3, компенсациник 4 света и фотоэлемент 5, га,и источники 7 и 8 напряжения д.пряжеция источникам света,Фотоэлементы 3 и 5...

Номер патента: 188111

Опубликовано: 01.01.1966

Автор: Тараторим

МПК: G01B 11/16

Метки: замораживания, напряжений, температурных

...1 х сосуду присоединяют трубопроводы с жидкимтеплоносителем, представляющие собой замкнутые контуры с циркуляциоцными цасосдмц3 и теплообменниками 4. Отдельный трубопровод соединяет сосуд 2 с насосом 5 высоко го давления цлц с друпо 1 сосудом высокого лдвлецця большего обьсмд, в котором предварительно создается высокое давление, Все трубопроводы сц;1 ожецы кр 11 ПЯ 11 ц 6 всоого Дс 1 ВЛ ЕЦ И Я,Первоца 1 длы 1 о крдц трубопровода, по которому в сосуд передается высокое ддвлеццс, перекрыт, д кр;1 цы контуров с теплоносителем открыты. Вкл 1 очдют ццркуляццоцные насосы 3 ц ц с 1 г рева 1 с; 11 тсп, Ооб.1 ец ни ко в та кцОО- разом, чтобы модель 1 приобрела температуру высокоэластцсного состояния, соответствуюшую атмосферному...

Номер патента: 188732

Опубликовано: 01.01.1966

Авторы: Гехниг, Деомидов, Кли

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций

...муарового эффекта, котору увеличенном виде в плоскости т - и рирует приемник 5 очки А кта 1 в и и - и р объек - и линсоздаетю в этомрегисттроиство отличается талонной сеткой, подо а деформируемом объ у линзами в плоскости за переносит изображ ъекта, увеличиваемое устройство позволяет ое наблюдение кар а в чооой мометт тем, бной екте , на ение вто- протины вретроиство поясняется черте 2 ржит деформируемый объна его поверхности мелой, две линзы 2 и 3, этаприемник 5 изображения а. Сетка 4 подобна сетке, рмируемом объекте,Предлагаемое ус что оно снабжено э сетке, нанесенной и и помещегной межд которуто первая лин деформируемого об рой линзой, Такое изводить визуальн муарового эффет мени,Описываемое ус жом. Устройство соде ект 1 с...

Номер патента: 189198

Опубликовано: 01.01.1966

Авторы: Государственный, Раизин

МПК: G01B 11/16, G01C 1/06

Метки: изгиба, элементов

...отличающеделения деформации ем горизонтальных сколькими реперами,трубы в заданных цы которых служат расположенного над а схема устройств - то же (вид сбоку) 2. Устройство по п, 1, отлггчающееся тем,то реперы выполиены в виде подсвечиваемых трубе стержней с отверстиями на концах. Известны устройства для измерения горизонтальных смещений оснований сооружений,ссдержащие металлическую трубу, закрепленнук в теле испытуемого сооружения, и репер,установленный в нижней части трубы.Отличие предлагаемого устройства заключается в том, что по высоте трубы расположено несколько реперов, концы которых служатвизирами для теодолита, расположенного надверхним отверстием трубы, а также в том, 1что реперы могут быть выполнены в виде подсвечиваемых в...

Номер патента: 190046

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Вишневецкий, Шнырёв

МПК: G01B 11/16, G02B 27/32

Метки: деформаций

...проектирующими рабочие кромки шторок параллельно направлению полос эталонных решеток. Благодаря этому обеспечивается повышение точности измерения. фиг, 1 изображена схема устройства;. 2 - шторки,ойство содержит источник 1 ультратовых лучей, парные шторки 2, 3, укрепна измерительной базе 4 посредстржателей б, изготовленных из этого жеала, что и исследуемый образец б,ю диафрагму 7, приемник 8 излученияичный измерительный регистрирующий(на чертеже не показан). Рубиновый термостойкпй оптический элемент 9 с коллпмацнонпо-отражательным рпфлением установлен на середине измерительной базы на деформируемой поверхности.5 Оптические эталонные решетки 10, 11 и вогнутые зеркала 12, И проектируют рабочискромки шторок параллельно направлению полос...

Номер патента: 191179

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Кусков, Сухарев

МПК: G01B 11/16, G01N 3/06

Метки: деформаций, замера, испытании, прибор, пружин, растяжение, сжатие

...отличается от известных тем, что снабжен оптической системой, 1 нросктцрующсй мнкрошкалу н риску на экран, сняоженныЙ нгк;1;1 ОЙ, прн совмещении риски котороц с риекой пластины силоизмерцтельного устройства в процессе измерения устраняетсл параллакс ц обеспечивается отсчет деформаций непосредственно по шкале экрана,-Это позволяет повысить точность замера деформаций.Ня фцг. 1 показан прибор для замера деформацш 1 пружин прц испытяшш на растяЭксн:н н (жтне (цд сбэоку); на фнг. 2 -- тот же прибор с опнческой сцстемои (внд спереди).Прибор содержит нагружающее устройство выполненное в виде подш;жной каретки 1 с укрепленной на пей микрошкалой 2 деформаций, и силоизмерительное устройство 3, на опоре 4 которого установлена пластина 5 с риской....

Номер патента: 191190

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Квт, Машиностроени, Овсеенко, Федоров, Центральный

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций

...от известных тем, что до удаления металла на торцовую поверхность детали наносят две визирцые точки и определяют с помощью оптического прибора по двум осям координат перемегценил этих точек, по которым судят о всличине и направлении деформации детали. Это позволяет определять величину деформаций профилированных деталей, например турбинных лопаток.На чертеже изображена схема взаимного расположения двух визирнлых точек, поясняющая предлагаемый способ.Для определения деформации профилированных деталей 1 и 2, например турбинных лопаток, до удаления металла на торцовую поверхность наносят две визирные точки А и С, Для предохранения от травления торцовую поверхность покрывают прозрачным лаком. Перемещения визирплых точек в результате...

Номер патента: 194399

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Алимов, Питерский, Тсхнй

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, самопроизвольных

...в заданном положении и определяют его деформацию оптическим спссобом.Предлагаемый способ отличается от известных тем, что материал помещают на поверхности жидкой ртути, что исключает влияние трения исследуемого материала по опорной поверхности.Это позволяет повысить точность измерения самопроизвольных деформаций.Способ заключается в том, что образец из исследуемого материала выдавливают при помощи пуансона на поверхность жидкой ртути, Затем фиксируют его в заданном положении с помощью постоянного магнита. Для этого в образец заформовывают стальную пластинку. Деформацию образца определяют с помощью оптического прибора по визирной точке па образце.Для повышения точности измерения материал помещают па поверхности жидкой ртути, что...

Номер патента: 194590

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Витенберг, Всесоюзный

МПК: B07B 13/00, G01B 11/16

Метки: керамических, кривизне, плиток, поверхности, сортировки

...света б и фотоэлемент 7, а на рычагах 3 усгановлены флажки 8 с отверстиями.Устройство работает следующим образом.Плитка 9 движется по роликовому транспортеру и отклоняет рычаги 3, 4 и 5, свободно вращающиеся вокруг оси.Если кривизна плитки находится в пределах заданной величины, то луч света от источника б свободно проходит через отверстия флажков и попадает на светочувствительную зону фотоэлемента 7. ательскии институт по машинстроительных материалов И КЕРАМИЧЕСКИХ ПЛИТОКПОВЕРХНОСТИ Если же кривизна плитки не соответствуетзаданной величине, рычаги смещаются относительно друг друга, н луч света не попадаетв светочувствительную зону фотоэлемента.Тем самым дается команда о сбрасыванииплитки.Для замера кривизны поверхности в другом...

Номер патента: 195688

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Всесоюзный, Носков, Шейнин

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций

...условия. Такое исполнение позволяет повысить точность измерения малых деформаций, возникающих в объектах во время работы последних.На чертеже представлена схема предлагае.мого устройства для измерения деформаций.Устройство содержит источник 1 монохроматического света, световод 2, жестко закрепленный иа участке 3 контролируемого объекта 4, педеформирующий световод 6, имеющий 10 с телом только тепловой контакт такой жедлины, что и участок 8, оптический клин 6, вводимый между световодом 2 и светоизмерительным устройством 7. 15 Работа устройства состоит в том, что присовмещении световодов 2 и 5 источником 1 монохроматического света по ним будут распространяться лучи света, которые по выходу из световодов смешиваются и фиксируются в 20...

Номер патента: 195689

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Всесоюзный, Носков, Шейнин

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций

...жестко закрепленного участка световода, а следовательно, и деформацию исследуемоготела.Благодаря этому повышается точность измерения деформации. Для исключения температурных погрешностей измерения оба световода ставят в одинаковые тепловые условия, например располагают рядом,Способ поясняется чертежом,Световой поток от монохроматического источника света 1 направляют по двум световодам 2 и 3, Световод 3 жестко связан с контролируемым изделием 4 на участке 5, где измеряют деформацию. Вышедшие потоки лучей из световодов фокусируются объективом 6. По изменению интенсивности потока лучей судят о величине деформации исследуемого тела.Перед началом измерений взаимное расположение выходных концов световодов относительно объектива подбирают...

Номер патента: 196405

Опубликовано: 01.01.1967

Автор: Германска

МПК: G01B 11/16

Метки: непрерывного, образцов, полосовых, стержневых, удлинения

...метки 8 ц 9, Последние нанесены в пределах заданцой цзмсрцтсльЦой ДЛЦЫ,На метку 8 падает луч света от цсточцика 10, собираемый линзой 11. Освсцснцая метка посредством сооираОщеи;ццзы 12 Огра 5 кастся к дифференциал.цоху фотоэлементу 13 так, что обе половины фотоэлемента одинаково освещены. Считывающая головка 2 соДс 5 кт дцрференциальцый фотозлем 1 т 14 и источник света 15.Сба дифферецццальшх фотоэлемента связаны Гио кими провода ви с соответс 1 у 0 ци" мц им ус:Лителями 1 б ц 17. В свою очередь усилители пита 10 т соствстстВующис считывающим головкам электродвцгателц таким образом, чтобы сохранить состоянце равнозсс,я. Система, состоящая цз счцтывающец 1 ОлОВкц, усилителя ц электрод 3 ПГателя, Вк,НОТаС, сТо СцТЫГаЮЩЦС .0;ОВИ дуют за...

Номер патента: 200254

Опубликовано: 01.01.1967

МПК: G01B 11/16

Метки: деформированного, любом, напряженно, сеченииобразца, состояния

...геометрически подобные образцы из слоистых материалов с ортогонально расположенными слоями, негативы сфотографированных шлицов накладывают друг на друга и производят отпечаток, в результате чего получают изображение сдеформиоованной сетки.Такой способ позволяет изучать картину деформирования на поверхности и внутри образца, Кроме того, исключается разрезание образца и нанесение сетки по деформации. Предлагаемый способ значительно проще и точнее по сравнению с известным и мокет использоваться для изучения процессов пластической деформации образцов как в холодном так и в горячем состоянии.Для определения напряженно деформированного состояния согласно предлагаемому 5 способу из заготовки многослоистого металлаизготовляют два геометрически...

Номер патента: 204612

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Бансевичюс, Рагульскис

МПК: F16H 1/00, G01B 11/16, G01B 11/26 ...

Метки: зубчатых, колес, комплексного, однопрофильного

...из эталонного зубчатого колеса 1, образцовой кинематической цепи,выполненной оптической, в виде неподвижнойреверсирующей зеркальной системы (зеркала 2 и 3) и двух поляроидов 4 и б, соединенных с измеряемым б и эталонным 1 колесами,осветителя 7 и фоточувствительного элемента 8.Лучи света от осветителя проходят черезполяроид, соединенный с валом эталонногоколеса, имеющего то же число зубьев, что иизмеряемое колесо. Отразившись от неподвижных металлических зеркал, поляризованчерез второй полям контролируемого оточувствительный ряем ого угловые хронное угол меяроидов, потока, глу пом с эта. сом, опм поля. Предмет изобретения о комплекс- содержащее кинематичествительный с целью упя возможн ю бого ди ая цепь в поляроидов, алонным кость...

Номер патента: 204653

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Некрасов, Сдобырев

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, образцов, продольных, трубчатых, угловых, экстензометр

...предлагаемый экстензомегр.Он сОстОит из стержня 1, )псродающеГО деформацию образца на зеркало 2 зеркальногоотсчетного усгройства, Винта 3 с клином 4,внутреннего полого винта 5 с клином б, фиксирую;цих игл 7 и 8, внутренней тяги, выполненной в )виде трубки 9, на конце которой за креплена упорная шаиоа 10 для передачи деформации н 2 инДРКа)тО)ы 1, которые закреплены иа сте;)жне . 1-52 трсокс 9 установлена дсржавка для второго зерна,2 2 ,счетного устроЙства. С похОп) ь)0 в;СшпеГ) Винта 3, под)кимаю)цс 10 к)1;1: 1) )эаздзиГВОтс 5 фиксирующие ПГлы 7, устанавлВ 25) стерженьс зак 1)еплен;)ых на нем зе;)калом 2 и к 1)онштеЙном 13 Для )(рсплсни 5 НПДНК 210 ров 11.Внутренний полый Вит 5 с прорезью для ОтВертки служит для по;жима клипа б и...

Номер патента: 205336

Опубликовано: 01.01.1967

МПК: G01B 11/16, G02B 1/10, G02B 27/28 ...

Метки: 205336

...элемента; передвижную шторку-диафрагму 2 для включения требуемой части полярископа (для прямого или наклонного просвечивания фото- упругого покрытия), поляризаторные трубы 3 и 4, в которых размещены конденсаторы б и 5 поляризаторы б; полупрозрачное зеркало 7;трехгранную призму 8 с усеченной вершинои, устанавливаемую на фотоупругое покрытие 9; анализаторные трубы 10 и 11, содержащие компенсаторы 12; анализаторы 13; зритель ные трубки 14 с окулярными сетками 15, Полярископ размещен на основании 1 б и имеет механизм с червячной передачей 17, предназначенный для поворота его относительно горизонтальной оси.15 Угол поворота полярпскопа относительновыбранной системы координат берется по лимбу, неподвижно закрепленному на основании...

Номер патента: 205337

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Герлович, Нагибина, Оптики

МПК: G01B 11/16, G01B 9/02, G02B 1/02 ...

Метки: главных, модели, напряжений, оптическое, прозрачной

...пластины б, 7, 8, расположенные последовательно одна за другой.Вторая пластина 7 наклонена относительно третьей пластины 8 на некоторый угол, а первая пластина б наклонена относительно третьей на угол 2 а.Таким образом, проходящие лучи, дважды отраженные от каждой из полупрозрачных поверхностей пластин, выходят параллельным пучком из интерферометра и собираются выходным объективом 9 в плоскости двойной диафрагмы 10 с верхним отверстием 11 и нижним отверстием 12,Интерферирующие лучи, используемые для получения суммы глазных напряжений, проходят огверстие 12, падают на плоское зеркало 13, отражаются от него и направляются на регистрирующую систему 14 (объектив фотокамеры) . Кроме указанных интерферирующих лучей в схеме...

Номер патента: 208313

Опубликовано: 01.01.1968

Авторы: Арбузова, Всесоюзный, Злотников, Кувшинский, Маркшейдерского

МПК: G01B 11/16, G01L 1/24, G02B 1/08 ...

Метки: материуп, оптически, чувствительный

...сесоюзный научно-исследовательский институт горнойи маркшейдерского дела аяиитель механик 3т ОПТИЧЕСКИ ЧУВСТВИТЕЛЪНЪЙ МАТЕ изобрете ых блочных диметакрил ием после ве оптически моделей пол исследованния дмет е сшит ола с держа качест ла для метод При менени 10 парахлорстир гликоля, с с 10 мол. %, в ного материа оптического 15 ний.сополимеров атом этиленднего от 1 дочувствитель- яризационнотя напряжеОптически чувствительный материал не применялся в поляризационно-оптическом методе исследования напряжений и его фотоупругие свойства ранее известны не были.Предлагается применять для изготовления моделей в поляризационно-оптическом методе исследования напряжений сшитые блочные сополимеры парахлорстирола с диметакрилатом этиленгликоля с...

Номер патента: 217807

Опубликовано: 01.01.1968

Автор: Волин

МПК: G01B 11/16

Метки: воздействия, интенсивности, кавитационного, сравнительной

...ПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СРАВНИТЕЛЬНОЙ ИНТЕНСИВНОСТИ КАВИТАЦИОННОГО ВОЗДЕЙСТВИЯИзвестен способ оценки интенсивности кавитационного воздействия, при котором исследуемую поверхность покрывают слоем кавитационно-нестойкого материала (свинцом, алюминием), Недостаток этого способа 5 и том, что нроцесс кавитации должен быть достаточно интенсивным, чтобы следы кавитационното воздействия на поверхности свинца или алюминия проявились за короткий промежуток времени, 10Особенность описываемого способа заключается в том, что исследуемую поверхность покрывают многослойным легкоразрушаемым лаковым покрытием, каждый слой которого обладает различной стойкостью к кавитацион ному воздействию. Для удобства наблюдения и фиксирования на цветной фотографии...

Номер патента: 218587

Опубликовано: 01.01.1968

Авторы: Волин, Всесоюзный, Технологический

МПК: G01B 11/16

Метки: воздействия, зон, клвитационного, покрытие, ускоренного

...получения на покрываем ленки толщиной 0,05 - 1 мм ся в один слой при комнат после чего деталь выдержи - 1,5 час при температуре го,испарения растворителя. сти и носит туре,иеолн р едм ет и зоб 10 В известных покрытиях для ускоренного определения зон кавитационного воздействия на проточную часть гидравлических установок, работающих на воде, обычно применяется канифоль, наносимая на испытываемую поверхность в виде расплава.Однако толщина таких,покрытий неравномерна. Необходимо при нанесении покрытия нагревать всю деталь, а также отсутствуют четкие границы кавитационного,разрушения ввиду размыва канифоли водой.Описываемое покрытие, с целью обеспечения равномерности толщины его без предварительного подогрева, выполнено из раствора...

Номер патента: 234705

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Воропаева, Резников, Физический

МПК: G01B 11/16

Метки: зависимости, температурной

...КОЭФФИЦИЕНТОВ НАПРЯЖЕНИЯ И ДЕФОРМАЦИИ ТВЕРДЫХ ТЕЛ2ры, если при изменении температуры образец может свободно расширяться и в нем не происходит релаксация напряжений. ется определев поляризаци 5 Пре Способ опр мости оптиче и деформаци двулучепрело 10 что, с целью стичности об ломления, в калочные на рого охлажд 15 измерения дв щего этим на изводят приНастоящее изооретение касания фотоупругих коэффициентоонно-оптическим методом.Известен способ определения температурной зависимости оптических коэффициентов напряжения и деформации твердых тел измерением двулучепрсломления. При пользовании этим способом на результаты измерений влияет термопластичность образца,Настоящий способ позволяет исключить влияния термопластичности образца на...

Номер патента: 237432

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Ковальчук, Сенчило

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, клееных, разнородных, соединении

...ня столике 5 микроскопа. Наблюдение за перемещением,в процессе склеивания О уществляется чсрез окуляр 6 микроскопа.Склеиваемый образец состоит из неметаллического хЯтериаля и тонкого металла. Металлическая полоса, огиоая материал с двухсторон, имеет двя вывоза 7 для подкгиочснияэлектрических проводов 8,Зажимнос п;,псиособгение состоит из двухпласти 1-3 Я 5 Н 1 ов 9. К Одной из иих приклеена ознои цяр;ж;Ои стороцои камера 1. В этмже пластин гер:5 етически Врезан штуцер 10.Дл обеспечен;герметического уплотненияВцттрь камсры ВклеиВаетсч пластинка 11. Дл 5110 умспьшения тсцлопотерь в местах зажима прсдусматрьвается тсплоизоляция 12. Жесткое закрепление образца осущесгвлется четырьмявинтами 15.Устроство работает следующим образом.15 Образ...

Номер патента: 238208

Опубликовано: 01.01.1969

Автор: Вишневецкий

МПК: G01B 11/16

Метки: базы, пометки

...от.гичсиоигийся тем, что, с целью повышения точностиизмерений и повышения жаростойкости эле 25 ментов пометки базы, на образце в процессеего обработки образуют отростки, в которыхзакрепляют элементы пометки базы, выполненные пз корунда или другого жаростойкогоматериала с высоким коэффициентом отражения, с гранеными поверхностями,На образце 1 в проце чением, шлифованием, видами) образуют отр крепляют элементы 3 се его обработки (тотитьем или другимп стки 2, в которых заометки базы, выполИзвестны способы пометки базы для измерения оптическими приборами деформаций образцов материалов при нагружении и нагреве путем образования на образце элементов пометки базы, имеюцих смежные контрастные поля, границы которых расположены...