Абен

Номер патента: 1670389

Опубликовано: 15.08.1991

Авторы: Абен, Иднурм, Пуро

МПК: G01B 11/16

Метки: материалах, напряжений, прозрачных

...пластмасс, Целью изобретения является повышение информативности за счет определения компоненты тензора остаточных напряжений по направлению перпендикуляра к сечению. Объект помещают в иммерсионную среду и просвечивают в двух параллельных сечениях поляризованным излучением под разными углами. Для каждого угла регистрируют параметр изоклины и относительную разность хода. По полученным данным определяют с помощью расчетных соотношений компоненту тензора остаточных напряжений по направлению перпендикуляра к сечениям. регистрируют параметр изоклины и относительную разность хода. По полученным данным определяют с помощью расчетных а соотношений компоненту тенэора остаточ- р ных напряжений по направлению перпендикуляра к сечениям. Формула...

Номер патента: 922595

Опубликовано: 23.04.1982

Авторы: Абен, Иднурм, Клабуновский, Павлов

МПК: G01N 21/21

Метки: веществ, поляризационно-оптических, прозрачных, свойств

...вращения относительно оптической оси поляриметра, при вращении образца фиксируют минимальный и максимальный углы отклонения анализатора относительно скрещенного с поляризатором положения и по ним судят о величине двулучепреломления и оптической активности вещества.Суть способа поясняется чертежом.Свет от источника .через поляризатор 1 попадает на иссследуемый образец 2, прикрепленный к цилиндрической подложке 3, которая имеет отверстие, совпадающее с исследуемым участком образца. Затем подложка с образцом помещается в стандартный поляриметр между поляризатором 1 и анализатором 4 с воэможностью вращения относительно оптической оси поляриметра, Вращая образец и анализатор, по минимуму интенсивности на его выходе определяют...

Номер патента: 800623

Опубликовано: 30.01.1981

Авторы: Абен, Лобанов, Уфферт

МПК: G01B 11/16

Метки: деформа-ций, замороженных, материалах, напряженийот, прозрачных, упругих

...1 1.Данный способ не обеспечивает определение напряжений, обусловленных "замороженными" деформациями.Известен также способ определени напряжений от упругих и "замороженных" деформаций в прозрачных материалах путем измерения параметра изоклины и оптической разности х в точке исследуемого образца до после разрушения образца разрезк его на куски 12).Этот способ обладает тем недо татком, что для раздельного опр ния напряжений от упругих и "заморо женных" деформаций образец необходимо разрезать на куски. Цель изобретения - упрощение способа за счет исключения разрушенияобразца,Указанная цель достигается тем,что после измерения в точке исследуемого объекта параметра изоклины иоптической разности хода высверливают отверстие в данной точке,...

Номер патента: 600387

Опубликовано: 30.03.1978

Авторы: Абен, Бросман, Каплан

МПК: G01B 11/16

Метки: кубической, монокристаллов, напряжений, образцах, поляризационно-оптический, сингонии, цилиндрических

...=Сг+ С 4 (х 1+ г 1+ С 4 ХС 4 - СХ (х 1+ г 1)1+ (х 1 - г 1) бй. (13)После интегрирования последнего выражения получим линейную систему уравнений дляопределения коэффициентов С 2, С 4, Сб,СгРг(х)+С 4 Р 4(х,1) + .С 4 - С,",1 ХГ - 6(5) 55 где хх у 111 1 (6)60Если измерить разность ходами(х) притзначениях координаты х, т. е. при х;=1, 2 , то из соотношения (4) получим линейную систему уравнений для определения коэффициентов а 0 а 2 а 4 а 2 п 65 21 а - / 61 - Х 111(16) дающем с одной из двух кристаллографических осей 100 или 001 образца. Измеряют по всему. диаметру образца суммарную разность хода излучения, прошедшего через излучения, прошедшего через образец, Лналогично проводят измерения при просвечивании образца под углом Р к оси г в...

Номер патента: 518621

Опубликовано: 25.06.1976

Авторы: Абен, Вейгель

МПК: G01B 11/16

Метки: магнитополярископ, фотоэлектрический

...падения света с частотой, выдаваемой генератором 21. Проходя черезанализатор 8, свет модулируется по интенсивности, что вызывает изменение тока нафотоумножителе 12. Если плоскость прохождения анализатора 8 имеет небольшое отклонение от перпендикулярного по отношению к длинной оси падающего на него све -тового эллипса, на выходе анализатора ввыходном сигнале появляется первая гармоническая составляющая, на которую настроенузкополосный усилитель 19. После усиле -идя этого сигнала и сравнения в фазовомдетекторе 20 сигналов генератора 21 иусилителя 19 получается, так называемое,"напряжение погрешности, полярность которого показывает направление отклонения,Напряжение погрешности поступает на уси -литель 23 и далее через блок 24 коммутации...

Номер патента: 493625

Опубликовано: 30.11.1975

Авторы: Абен, Саар

МПК: G01B 11/16

Метки: напряжений, объектах

...фаз при постоянных главных направлениях, с созданием требуемой разности фаз при помощи иммерсионного компенсатора.Однако этот способ характеризуется тем, 15 что дополнительная разность фаз создается с использованием сложного иммерсионного компенсатора специальной конструкции.Целью изобретения является упрощение техники эксперимента. 20Это достигается тем, что разность фаз компенсируется поворотом скрещенных поляризатора и анализатора относительно главных направлений четверть-волновой фазовой пластинки.Сущность метода заключается в следующем.Четверть-волновую пластинку устанавливают перед объектом так, чтобы направление ее главных осей составляло угол в 45 по отно шению к направлению главных напряжений фотоупругого покрытия, Затем...