G01B 11/16 — для измерения деформации твердых тел, например оптические тензометры

Номер патента: 1679182

Опубликовано: 23.09.1991

Авторы: Марченко, Ниженко, Рубан, Фот

МПК: G01B 11/16

Метки: настройки, оптических, тензометров

...2 для введения фона, установленное на одной оси с имитатором образца, система дискретных излучателей выполнена в виде источника 3 излучения и световодов 4, одни концы которых закреплены на подложке 1, а другие соединены с источником 3 излучения, диаметр О световодов 4 и расстояние и между поверхностями соседних световодов 4 связаны соотношение О =(1,0.2,0)п,Установка работает следующим образом.Узлом регулирования кривизны подложки 1 придают подложке цилиндрическую форму, идентичную форме исследуемого образца. Фотоприемник 5 настраиваемого оптического тензометра устанавливают на одной оси с имитатором и устройством для введения фона. Подают излучение от источввваавв 1679182 ника 3 на торцы световодов 4. Включают устройство 2 для...

Номер патента: 1682768

Опубликовано: 07.10.1991

Авторы: Бахтадзе, Котов, Лоладзе, Озбегашвили, Панамаренко

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, образцов

...содержштангой 2, на которой (фиг. 2) из жесткого волза выходным торцем ко ской оси световода рас рачное зеркало 4, оп приемный гибкий вол соединенный с блоком мации, имеющим выхо дикулярно оптическ напротив полупрозрач ложены выходной торе ит(фиг. 1) корпус 1 со закреплен ударник 3 оконного световода, торого вдоль оптичеположены полупрозтическая система 5, оконный световод 6, 7 обработки инфорд на ЭВМ, а перпеной оси световодо ного зеркала 4 распоц 8 гибкого волокон 1682768ного световода 9 и соединенный с его входным торцом 10 осветитель 11, блок 7 обработки информации выполнен в виде набора ПЗС матриц 12, имеющих несколько ячеек, соединенных с запоминающим блоком 13, а приемный гибкий волоконный световод 6 выполнен в виде...

Номер патента: 1487621

Опубликовано: 15.10.1991

Авторы: Андреев, Асланян, Лебедев

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, лопаток, турбинных

...виде светодиода, устанавливаемого против передающего светодиода волоконно-оптической линии 3 связи, с оптическим фильтром б, полоса пропускания которого соответствует полосе излучения :ветодиода, фотоприемник 7, устанавлива.,мый протлв приемного световода волоконно-оптической линии 3 связи, умножитель 8 ,астоты, вход которого соединен с выходом датчика 1 углового перемещения, счетчик 9исла импульсов, вход которого соединен с выходом умножителя 8, регулируемый источник 10 питания излучателя 5, соединенный с выходом счетчика 9, и блок 11 обработки, соединенный с выходом фотоприемника 7, а оптический фильтр б уста овлен между приемным световодом и фотоприемником 7,Устройство работает следующим образом,Перед испытаниями на роторе турбины...

Номер патента: 1698626

Опубликовано: 15.12.1991

Автор: Ломаш

МПК: G01B 11/16, G01B 5/30

Метки: регистрирующий, тензометр

...поверхностьюленты-регистратора 5 посредством капиллярно-смачивающего элемента б, расдоложенного на входе ленты в фиксатор 4.Капиллярно-смачивающее устройство б может быть выполнено в виде втулки из материала с упорядоченным. расположениемпор-капилляров (фиг. 2), В качестве лентырегистратора 5 могут использоваться фотоили кинопленка, лента из металлическойфольги с односторонним нанесением фотоэмульсии и т.п,Тензометр работает следующим образом.Опоры 1 и 2 закрепляют на объекте 13измерений любым известным обоазом, Висходном положении шток 8 вдвинут в корпус индикатора 3 так, что расстояние между 30опорами определяет исходную величину 1измерительной базы, при этом лента-регистратор 5, скрученная в спиоаль, уложена всветонепроницаемой...

Номер патента: 1705701

Опубликовано: 15.01.1992

Автор: Черновол

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, интерференционного

...объектив 3. плоскость 5, в которой при записи спекл-интерферограммы располагается фоточувствительный слой регистратора, а при наблюдении субъективных спеклов гружения объекта вновь на ту же фотопластинку записывают спекл-интерферограмму объекта, восстанавливают полученную двух- экспозиционную спекл-интерферограмму и регистрируют картину интерференционных полос. После этого вновь осуществляют нагружение объекта и одновременно наблюдают картину субъективных спеклов в плоскости записи спекл-интерферограммы, и по ее изменению в процессе нагружения судят о порядке интерференционных полос, При наблюдении картины спеклов может фиксироваться как направление смещения спеклов на выделенном участке, так и величина этого смещения; Затем по...

Номер патента: 1709181

Опубликовано: 30.01.1992

Автор: Семенов

МПК: G01B 11/16

Метки: материалах, развития, траектории, трещины, хрупких

...3, И,. П (с этой зависимости начинается переход к микроскопическим исследованиям через мгновенные скороститрещины спомощью фрактографических исследований).Способ осуществляется следующим образом.Образец предварительно нагружается растягивающей нагрузкой. Боек устанавливается по 7-образному над- . резу образца и производится импульсное ударное нагружение, достаточное для инициирования распространения магистральной трещины. В таких условиях нагружения трещина не успевает макроскопически раскрыться, а величина раскрытия трещины сравнима с величиной высоты структуры поверхности разрушения и в таком квазистационарном состоянии двух свободных поверхностей, образующихся трещиной, магистральная трещина успевает пройти всю ширину...

Номер патента: 1710998

Опубликовано: 07.02.1992

Авторы: Заблоцкий, Ройтман, Темис

МПК: G01B 11/16, G01B 7/06

Метки: гибкой, деформации, передачи, связи

...в гибкой связи при измеренииболее высоких частот измеряемых деформа- деформаций наиболее высокой измеряемойций. частоты. Для этого вычисляют оценку шагаПоставленная цель достигается тем, что в миллиметрах по формулепо известному способу измерения дефор- ТЧ/Р,мации гибкой связи передачи, заключающе где Ч - скорость движения гибкой связи,муся в том, что на гибкую связь с заданным мм/с;шагом наносят метки,.авблизи траектории Р - максимальная частота измеряемыхперемещения гибкой связи размещают на продольных. колебаний гибкой связи, 1/с.заданном расстоянии два датчика прохож- Далее определяют приблизительное кодения меток, измеряют интервалы времени 20 личество метокмежду характерными точками сигналов обо- й " ОТих датчиков, один из...

Номер патента: 1711000

Опубликовано: 07.02.1992

Авторы: Бахтин, Казеннов, Коновалова, Перк, Шарафутдинов, Шубин

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, образец

...материала прокладками иэ фольги,В качестве материала Фольги используют материал, не взаимодействующий с материалом матрицы композиционного материала при температурно-деформационных условиях обработки давлением исследуемого 5 композиционного материала. Это условиеобеспечивает отсутствие образования твердого раствора на границе между монослоями, что может исказить картину их деформирования, Подготовленный таким 10 образом образец подвергается температурно-деформацион ному воздействию, результатом которого является деформация образца, которую и необходимо определить. После окончания обработки давлени ем образец разрезается и изготавливаетсяшлиф поперечного сечения, представляющего собой скол торцов волокон, размещенных в...

Номер патента: 1716317

Опубликовано: 28.02.1992

Автор: Рудяк

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, поверхности

...на чувствительный 5 элемент датчика излучние и устанавливаютвзаимосвязь между поверхностными деформациями и изменением интенсивности зеркальной или диффузных составляющих отражен ного света.10 Крепят датчики в исследуемых точкахповерхности объекта.Направляют на чувствительные элементы датчиков излучение до нагружения объекта и в процессе нагружения.15 Фиксируют величины интенсивностейзеркальной и диффузных составляющих до нагружения объекта и в процессе нагружения,По этим данным определяют величины 20 соответствующих деформаций поверхности.П р и м е р 1, Пластину из низкомодульного материала на основе полистирола размерами 50 х 10 х 0,7 мм изгибали дугой 25 (стрелка дуги Ь = 10 мм, хорда= 16 мм) и втаком положении приклеивали...

Номер патента: 1737262

Опубликовано: 30.05.1992

Авторы: Кестельман, Крутько, Стадник, Шейко

МПК: G01B 11/16

Метки: внутренних, материалах, напряжений, полимерных

...оптического диапазона перестройка доменной структуры также происходит в локальных областях. Для удобства наблюдений целесообразно использовать ферромагнетики с полосовой доменной структурой. Чувствительность способа можно регулировать двумя путями; изменением толщины ферромагнитной пластины или изменением толщины полимерного покрытия. Количественную характеристику степени затвердевания и внутренних напряжений можно получить по калибровочным данным, отражающим связь относительной ширины доменов и величины внутренних напрякений,Для определения внутренних напряжений проводят следующие операции. Берут пластинку из ферромагнитного материала известной толщины, имеющего определенный тип доменной структуры, например полосовую....

Номер патента: 1737263

Опубликовано: 30.05.1992

Автор: Ломаш

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, муаровых, объекта, определении, полос

...деформаций объекта, заключающемся в том, что на поверхность исследуемого деформируемого объекта наносят растр, освещают растр, экспонируют отраженным светом фотоматериал и регистрируют картину муаровых полос, объект экранируют от посторонней засветки, освещение производят стробоскопическим источником света, а экспонирование осуществляют с момента начала, деформи-.рования объекта до окончания деформирования.Предлагаемый способ получевых полос при определении деобъекта реализуется следующимЗаказ 1883 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул, Гагарина, 101 На поверхность исследуемого...

Номер патента: 1744449

Опубликовано: 30.06.1992

Авторы: Грачева, Марасин

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, образец, температурных

...свойства отражения, что приводит как к изменению контрастности изображения метки, так и к изменению формы и размеров метки. Это естественно снижает достоверность результатов измерения при определении ТКЛР деструктирующих конструкционных материалов, Поэтому известный образец не может быть использован при исследовании деструктирующих композиционных материалов.Цель изобретения - расширение класса исследуемых материалов за счет деструктирующих материалов.Цель достигается тем, что, в известном образце для измерения температурных деформаций, содержащем стержень с отверстиями, перпендикулярными его оси, в которых установлены параллел ьно друг другу изготовленные из жаропрочного материала стержневые элементы с метками базы, имеющие диффузно...

Номер патента: 1747879

Опубликовано: 15.07.1992

Авторы: Ковалева, Семенов

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций

...по технической сущности к предлагаемому является устройстводля измерения деформаций, содержащееисточник света, приемный и передающийсветоводы, соединенные чувствительным 5элементом, выполненным в виде стыковочного узла, приемник излучения и регистратор.Недостатком известного устройства является большая погрешность измерений, 10вызванная большой толщиной чувствительного элемента и отсутствием фиксированной базы измеренийЦель изобретения - повышение точности измерения деформаций материалов и эа 15счет этого - точности определения параметров напряженно-деформированного состо, яния конструкций,Поставленная цель достигается тем, чтов устройстве для измерения деформаций 20материалов, содержащем источник света,приемный и передающий...

Номер патента: 1758419

Опубликовано: 30.08.1992

Автор: Иванов

МПК: G01B 11/16

Метки: напряжений, остаточных

...реализующий двухлучевую оптическую схему голографирования с внеосевым опорным пучком Лейта-Упатниекса или схему во встречных пучках Ю.Н.Денисюка в зависимости от характера поля остаточных напряжений, в заданное положение относительно неподвижной части разъемного основания.Освещают поверхность объекта пучком когерентного излучения и записывают на регистрирующую фотопластину первую голограмму поверхности исследуемого обьЗ 5 екта. Отделяют обьект вместе с подвижнойчастью разъемного основания от его неподвижной части, выполняют подковообразную канавку (фиг,1), после чего устанавливают объект на неподвижную 40 часть основания в исходное положение изаписывают на регистрирующую фотопластину вторую голограмму той же поверхности,...

Номер патента: 1768963

Опубликовано: 15.10.1992

Авторы: Кринчик, Новиков, Чепурова, Штайн

МПК: G01B 11/16

Метки: механических, напряжений

...падения света) полокении плоскости поляризации,Изменение интенсивности отраженного от испытываемого образца света регистрируется фотоприемником 6, в цепикоторого возникают два сигнала: постоянный - пропорциональный интенсивности света, отраженного от образца в отсутствие магнитного поля, и переменный - пропорциональный глубине модуляции света за счет магнитооптического эффекта, возникающей при перемагничивании образца, Первый сигнал измеряется микровольтметром постоянного тока 8, второй - селективнымусилителем 7 с синхронным детектором 9Отношение показаний синхоонно детектора 9 и микровольтметра 8 определяют величину магнитооптического эффекта д.Известно, что при постоянной напряженности магнитного поля и воздействии наобразец...

Номер патента: 1772616

Опубликовано: 30.10.1992

Авторы: Городнюк, Костюченко, Николаев

МПК: G01B 11/16

Метки: напряжений, объекте, остаточных

...12 со стороны отверстия 5 емкости 4 выполнены выемки глубиной, составляющей половину ширины клейкой ленты, а средства крепления емкости 4 выполнены в виде магнитов 13 в форме трапецеидальной призмы и размещены на свободных торцах стоек 12,Описываемый способ реализуется с помощью описываемого устройства следующим образом.В выбранном месте на поверхности объекта устанавливают фоторегистратор 3 длязаписи голограмм по схеме Денисюка. Вкачестве такого фоторегистратора 3 могут, например. быть использованы фотопластинки типа ПЭили ЛОИ, Излучение лазера 1 расширяют коллиматором 2, оно проходит фоторегистратор 3 и попадает на объект. Часть излучения отражается от обьекта и возвращается на фоторегистратор 3, где интерферирует с излучением,...

Номер патента: 1778515

Опубликовано: 30.11.1992

Авторы: Костандов, Рыжаков

МПК: G01B 11/16

Метки: инициирования, образцах, плоских, трещины

...Поставленная цель достигается тем, что в испытуемом образце материала выполняют инициирующую прорезь, в которой размещают ленточный проводник в виде петли с изоляцией между его внутренними сторонами, изоляцию выполняют в виде ленты с шириной, меньшей ширины проводника, а сам проводник взрывают импульсом тока. 1 ил. В испытуемом образце 1 выполняют инициирующую прорезь 2, в которой размещают ленточный проводник 3 в виде петли с изоляцией в виде ленты с шириной, мень- (Я шей ширины проводника, Изоляцию размещают между внутренними сторонами симметрично изогнутой петли. Затем проводник взрывают импульсом тока, При взрыве проводника в прорези возникает импульс давления, складывающийся из импульсов давления от взрыва каждой иэ сторон...

Номер патента: 1778516

Опубликовано: 30.11.1992

Авторы: Володин, Тулеушев, Турекулова

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, измерителя, оптического, соединительный, узел

...полос интерференционной картины. что позволяет определить величину деформаций. Быстрые 5 деформации не оказывают влияния на положение подвижного зеркала рабочего плеча интерферометра и сглаживаются.Работа устройства основана на том известном свойстве вязкоупругих сред, что при малых характерных временах действия возмущающей силы они деформируются подобно упругим телам, а при больших - подобно жидкостям. Например, для принятой в . теории вязкоупругости модели Максвелла поведение вязкоупругого тела описывается комплексным модулемгде У 1 -йР Е Е 2 +аР 2 Ч 2- +дР 2а - частота действующего возмущения; д - вязкость среды;Е - модуль упругости,У 1 аналогичен модулю Юнга для твердых тел, а У 2 - коэффициенту вязкости для жидкостей, Поведение...

Номер патента: 1779913

Опубликовано: 07.12.1992

Авторы: Барский, Будевич, Гончаров, Иващенко, Мельников

МПК: G01B 11/16

Метки: интерферометр, объекта, перемещений

...эа счет уменьшения потерь энергии,указанная цель достигается тем, что интерферометр для измерения перемещенийобьекта, содержащий последовательно установленные лазер и светоделитель, делящий пуо на два, в одном иэ которыхустановлены фаэовая пластина и уголковыйотражатель, а в другом пучке установленывторая фазовая пластина и уголковый отражатель, предназначенный для установки на 25обьекте, и установленную на одном из выходов интерферометра систему регистрации, выполненную в виде светоделителя идвух фотоприемников, ориентированныхтак, что их оптические оси перпендикулярнь 1, снабкен второй системой регистрации,идентичной первой, установленной на втором выходе интерфераметра, в обеих системах регистрации светоделигели выполненыв виде...

Номер патента: 1779914

Опубликовано: 07.12.1992

Автор: Шабуневич

МПК: G01B 11/16, G01B 9/021

Метки: вектора, компонент, объекта, перемещения, поверхности, точек

...самой фотопластинки.Целью изобретения является повышение точности определения НКВП точек поверхности реальных объектов за счет устранения влияния НКВП точек поверхности фотопластинки,Поставленная цель достигается тем, что в способе определения компонент вектора перемещения (КВП) точек поверхности абьекта, заключа ощемся в том, что закрепляют на поверхности обьекта посредством ПОС фотопластинку, освещают ее пучком когерентного излучения, записывают на ией до и после иагружеиия объекта голограммы его поверхности, восстанавливают полученнуо двухэкспозициоииуо гопограмму, регистрируют иитерферограммы и 5 10 15 20.25 30 35 40 45 рассчитывают КВП, предложено после записи двухэкспозиционной голограммы на поверхность фотопластинки...

Номер патента: 1788431

Опубликовано: 15.01.1993

Авторы: Бутович, Мильцын, Олевский

МПК: G01B 11/16

Метки: голографический, изменения, объекта, состояния

...на поверхности объекта участков, в которых номера полос принимают экстремальные значения, приводит к неоднозначности определения порядков полос, а следовательно,и перемещений по всей поверхности объекта. В таких случаях знание лишь одной точки с нулевым перемещением является недостаточным. Следовательно, совокупность факторов,таких как наличие точек, где деформация меняет свой знак и отсутствие априорной достоверной информации вообще о знаке вектора перемещения в этих точках при сложной интерференционной картине делает данный метод несостоятельным для анализа объектов типа тонкостенных оболочек.Кроме того, для получения информации об абсолютной величине деформаций точек поверхности исследуемого объекта относительно объекта начального...

Номер патента: 1795270

Опубликовано: 15.02.1993

Автор: Рыжиков

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, поверхности

...отражатель ортогонально по отношению к первому, направляют пучок излучения на одну из его граней и регистрируют характеристики излучения, отраженные от другой грани, о деформациях поверхности изделия судят по измеренным значениям смещений отражателей, а направление пучка излучения и регистрацию характеристик отраженного излучения производят одновременно для обоих отражателей.На фиг,1 показан вид на подвижную и неподвижную части литьевой формы; на фиг.2 показан разрез А-А на фиг.1; на фиг.3 - разрез Б-Б на фиг.1.Способ измерения смещения полуформ литьевой формы заключается в том, что в подвижной полуформе 1, содержащей пуансон 2, центрирующие втулки 3, размещают ортогонально друг другу два уголковых отражателя - угловых зеркала 4 и 5. В...

Номер патента: 1796894

Опубликовано: 23.02.1993

Авторы: Бутюгин, Лычагин, Сидельников, Фоменко

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, объектов

...после деформации,Устройство содержит корпус 1 (фиг,1),последовательно расположенные в нем источник света 2.,марку 3, предназначеннуюдля закрепления на испытуемом образце 4(например, с помощью штока 5) и выполненную в виде плоского выпуклого многоугольника (напр, квадратной пластинки илирамки), экран 6, выполненный из двух полу 5 прозрачных(матовых) пластин 7, связанныхмежду собой с помощью механизма их поворота и фиксации (см. фиг,2), включающегоопорный стержень 8, прикрепленный к корпусу 1 и проходящий через две регулировоч 10 ные втулки 9, к которым жесткоприкреплены пластины 7 (по их ребру), причем втулки 9 имеют возможность вращениянезависимо друг от друга вокруг стержня 8и фиксации (к нему) с помощью винтов 10;15 предметный столик...

Номер патента: 1800259

Опубликовано: 07.03.1993

Авторы: Лазовский, Сигитов, Смоляков

МПК: G01B 11/16

Метки: интерферометр, линейных, объектов, перемещений

...с первым пучком на светоделителе 6.Светоделитель б, имеющий поляризационное покрытие, разделяет компоненты излучения каждого попадающего на него пучка по поляризациям и формирует два совмещенных пучка излучения с ортогональными поляризациями, при этом один из пучков излучения имеет частоты ви где, а другой - частоты со 1 ,м 2 ц . Каждый пучок излучения может быть использован в самостоятельном рабочем канале. Для формирования опорного канала на пути одного из пучков устанавливают дополнительный светоделитель 15, отделяющий часть пучка и направляющий его на поляроид 11 и фотоприемник 13, Этот опорный канал может работать на оба рабочих канала,В каждом рабочем канале пучок излучения направляется через коллиматор 7 на поляризационный...

Номер патента: 1800260

Опубликовано: 07.03.1993

Авторы: Лазовский, Сигитов, Смоляков

МПК: G01B 11/16

Метки: интерферометр, линейных, объектов, перемещений

...излучения на взаимно параллельные,После элемента 3 один из пучков излучения проходит через полуволновую фазовую пластину 4, которая поворачивает плоскость поляризации на 90, Второй пучок попадает на отражатель 5, установленный под углом к его оси, и, отражаясь от него, пересекается с первым пучком на светоделителе 6,Светоделитель 6 делит образовавшийся совмещенный пучок излучения на две части, каждая из которых содержит две волны с ортогональными поляризациями, Одна часть совмещенного пучка поступает через поляроид 11 на фотоприемник 13 опорного канала, Другая часть пучка направляется через коллиматор 7 на второй поляризационный светоделитель 8, который разделяет компоненты излучения по поляризации, а тем самым и по частоте, направляя...

Номер патента: 1828995

Опубликовано: 23.07.1993

Автор: Гриневский

МПК: G01B 11/16

Метки: объекта, перемещений, поверхности

...пучка 10 и опорную деталь 5 освещают поверхность объекта 6 под углом, большим угла полного внутренне 1828995го отражения материала опорной детали 5. Опорный пучок отражается от участков поверхности опорной детали 5, не контактирующих с обьектом 6, отражается зеркалом 11, . проходит через светофильтр 12 и отражается зеркалами 13, 14, 15 на регистрирующую среду 8.Опорная деталь 5 представляет собой отражательную призму-куб. Может быть использована также призма Дове, Оптическая система 7 состоит, например, иэ двух положительных линз с равными фокусными расстояниями. Оптическая система 7 формирует изображение объекта 6 в плоскости регистрирующей среды 8 с единичным увеличением.Изобретение выполняется следующим образом,Осуществляют...

Номер патента: 1572176

Опубликовано: 15.03.1994

Авторы: Грановский, Подымака, Шерман

МПК: G01B 11/16

Метки: микродеформации, образца, плоского, поверхностью, полированной

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МИКРОДЕФОРМАЦИИ ПЛОСКОГО ОБРАЗЦА С ПОЛИРОВАННОЙ ПОВЕРХНОСТЬЮ, заключающийся в том, что образец помещают в центрифугу, наносят на его поверхность слой светочувствительной эмульсии, размещают на поверхности шаблон, освещают через него эмульсию, на полученной координатной сетке измеряют микроскопом размеры ячеек до и после нагружения и определяют микродеформацию, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, перед помещением образца в центрифугу определяют местоположение и размеры зоны минимальных отклонений поверхности образца от плоскости, используют шаблон с размерами не выше размеров этой зоны, образец нагревают до 60 - 65oС, после нанесения эмульсии ее сушат при радиальном ускорении выше 1000...

Номер патента: 1450531

Опубликовано: 27.11.1998

Авторы: Данилин, Медников

МПК: G01B 11/16

Метки: вращающегося, деформаций, колеса, турбомашины

1. Способ определения деформаций вращающегося колеса турбомашины, заключающийся в том, что устанавливают в корпусе турбомашины неподвижные датчики, формируют на внешних кромках лопаток зеркально отражающие участки, направляют поток излучения на зеркально отражающие участки перпендикулярно оси колеса, регистрируют отраженный поток излучения, измеряют интервалы времени между серединами электрических импульсов датчиков и с учетом этих параметров определяют деформации, отличающийся тем, что с целью повышения точности и уменьшения трудоемкости, определяют величину зазора между лопаткой и корпусом посредством вихретокового датчика, а при определении деформаций учитывают величину, обратно пропорциональную зазору между лопаткой и корпусом.2....

Номер патента: 1551037

Опубликовано: 10.07.2004

Авторы: Данилин, Дороднов, Ермаков, Кочетов, Медников

МПК: G01B 11/16

Метки: вращающегося, деформации, колеса, лопаток, турбомашины

Устройство определения деформаций лопаток вращающегося колеса турбомашины, содержащее оптически связанные источник света, светопроводящую систему, выполненную в виде двух световодов, вторые торцы которых объединены, фотоприемник, первые торцы световодов оптически связаны с источником света и фотоприемником, два компаратора, информационные входы которых подключены к фотоприемнику, формирователь уровня компарирования, выходы которого соединены с опорными входами компараторов, два блока выделения середины электрических импульсов, входы которых подключены к выходам компараторов, блок регистрации временных интервалов, входы которого подключены к выходам блоков выделения середины электрических...

Номер патента: 1464655

Опубликовано: 10.07.2004

Авторы: Ермаков, Менкина, Олейников

МПК: G01B 11/16

Метки: вращающегося, деформаций, лопаток, ротора, турбомашины

1. Способ определения деформаций лопаток вращающегося ротора турбомашины, заключающийся в том, что в корпус турбомашины устанавливают зонд с размещенным в его полости бесконтактным датчиком перемещения контрольной точки на периферии лопатки, регистрируют импульсный сигнал с датчика при прохождении мимо него каждой лопатки, выделяют в этом сигнале метками середины импульсов, измеряют интервалы времени между ними и по этим данным определяют окружные деформации, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и расширения области применения способа за счет измерения деформации лопатки и смещения ротора в осевом направлении, в полости зонда размещают второй бесконтактный датчик перемещения...