G01B 11/16 — для измерения деформации твердых тел, например оптические тензометры
Устройство для определения чувствительности голографического интерферометра
Номер патента: 1027511
Опубликовано: 07.07.1983
Авторы: Гриневский, Петров
МПК: G01B 11/16
Метки: голографического, интерферометра, чувствительности
...мембраны, кроме смещений, нормальных к исход ной поверхности, подвержены также смещениям тангенциальным.Цель изобретения - поведение точности определения чувствительности голографического интерферометра, 65 Укаэанная цель достигается тем, что в устройстве для определения чувствительности голографического .интерферометра, содержащем корпус, закрепленные в нем вдоль оси измеритель перемещения, нагружатель и деформируемый элемент, нагружатель выполнен в виде тела вращения с рабочей частью конической Формы, ось которого совпадает с осью корпуса, а деформируемый элемент - в виде пакета стержней, установленных в корпусе с воэможностью перемещения вдоль его оси и поочередно контактирующих с рабочей частью нагружателя.На чертеже изображено...
Оптический тензодатчик
Номер патента: 1029001
Опубликовано: 15.07.1983
Авторы: Берзин, Остроуменко, Шмалько
МПК: G01B 11/16
Метки: оптический, тензодатчик
...материала, два волоконныхсветовода, соединенные с его торцами, Источник света и фотоприемник 25соединенные со световодами,.и двеметаллические полоски, нанесенныена монокристалл21,Недостатком этого тензодатчикаявляется недостаточная точность из- З 0мерений из-за малой чувствителйностиматериала к механическим напряжениям,Цель изобретения - повышение чувствительности и точности измерений путем использования более чувствительного материалаПоставленная цель достигается тем,что оптический тензодатчик, содержащий основание в виде монокристалла,два волоконных световода, соединенные 40с его торцами, источник света и фотоприемник, соединенные со световодами, снабжен диэлектрической полоской с показателем преломления п п,1где и - показатель...
Способ определения температуры фиксации деформаций
Номер патента: 1029003
Опубликовано: 15.07.1983
Автор: Верещагин
МПК: G01B 11/16
Метки: деформаций, температуры, фиксации
..."замораживания" за счетисключения оператора из процессаизмерения. 1 10290Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к измерению деформаций оптическими методами.Известен способ определения температуры перехода модели изделия из высокоэлластического в стекло- образное состояние так называемой температуры замораживания", заключающийся в том, что изготовляют О металлополимерный образец, охлаждают его от температуры "замораживания" до нормальной и сравнивают размеры полимерной части образца с деофрмациями до и после отжига 1 11. 15Однако для известного способа характерны невозможность автоматизации процесса измерения и высокая трудоемкость способа, обусловленная необходимостью присутствия оператора 20 при измерениях в...
Способ определения напряжений в конструкциях
Номер патента: 1029004
Опубликовано: 15.07.1983
Авторы: Бидерман, Тартаковер, Ушаков
МПК: G01B 11/16
Метки: конструкциях, напряжений
...кроме того, этим способомнельзя измерять напряжения в непрозрачных материалах,Цель изобретения - повышение точности измерений путем помещенияв исследуемые сечения оптически чувствительного материала с заданнымимеханическими характеристиками,Поставленная цель достигаетсятем, что согласно способу определения45напряжений в конструк циях, заключающемуся в том, что изготавливаютгеометрически подббную модель, помещают в исследуемые сечения вклейки изоптически чувствительного материала,нагружают модель, "замораживает" напряжения, извлекают вклейки, изготавливают срезы и определяют напряженияпутем просвечивания их поляризованным .светом, изготавливают образцыспутники в виде чередующихся слоевматериала модели и недополимеризованных слоев...
Способ определения деформаций детали
Номер патента: 1030647
Опубликовано: 23.07.1983
Авторы: Ковалевский, Равин, Резников, Харченко
МПК: G01B 11/16
Метки: детали, деформаций
...что согласно способу определения деформацийдетали, заключающемуся в тэм, что из:готавливают модель детали из свинца,наносят на поверхности модели координатную сетку, измеряют деформации модели 55от действия факторов, имитирующих факторы, воздействующие на детальи поням определяют деформации детали, изменяют линейные размеры модели в сторону увеличения, а разнос;:ь температур в различкых точ.ках модели = в сторону уменьшения при сохранении условия геометрического и теплового подобия модели и детоли.Способ осушествляот слеруюшим образом.Ддя определения деформаций детали, например матрицы, предназначенной для горячего прессования цилиндр ческого стального профиля и изготовленной иэ высокопрочной легированной стали, изго тавливают из...
Способ определения деформаций поверхности объекта
Номер патента: 1033859
Опубликовано: 07.08.1983
Авторы: Бахтин, Кудрин, Полухин
МПК: G01B 11/16
Метки: деформаций, объекта, поверхности
...измерений,Цепь изобретении - повышение точ ности определения цеформаций.Поставленная цепь цостигаегся тем, что согласно способу опрецепения це формаай поверхности обьекта, заключающемуся в том, что регистрируют цвукэкспознционную голограмму обьев та, фиксируют восстановленное иэобра жение, опрецепяют контраст интерферен ционных полос, по которому опрецепают деформации, восстановленное изображение фиксируют на раэличнык расстояниях от голограммы обьекта,и измериют область покализащи интерференаонных полос.На фиг. 1 изображена оптическая схема регистрации цвухэкспоэиционной 033859 ггопограммы 1 на фиг. 2 - схема фиксации восстановленного изображения.Скема регистрации цвухэкспозиционной голограммы соцержит светоцепитепь 1,первый...
Поляризационно-оптический способ определения напряжений в резьбовом соединении
Номер патента: 1033860
Опубликовано: 07.08.1983
Авторы: Бондарчук, Кровопуск, Ольховатский, Ситников
МПК: G01B 11/16
Метки: напряжений, поляризационно-оптический, резьбовом, соединении
...иэ электродов 1 и 2 и ниппеля3 (фиг. 1), иэ оцтически-чувствительногоматериала. Резьбовую рабочую поверх-ность электродов 1 и 2 и ниппеля 3покрывают тонким слоем графитизщованного материала для обеспечения подобия контакта и условий трения с натурнойконструкцией. К модели прикладываютнагрузку (момент свинчивания Мс ), модель фзамораживаютф, разрезают ее насрезы, в срезах измеряют оптическую.разность хода, по которой определяютзамороженные ф напряжения, Затем;кдиаметральному срезу модели, включающему в сборе плоские элементы 4 - 6электродов 1 к 2 и ниппеля 3 соответственно (фиг. 2) прикладывают дополнительную нагрузку ( о - силы, имитируюшие действие отброшенных частеймодели; Р - растяжение; М - изгибающий момент). Р и М - нагрузка,...
Интегрально-оптический тензодатчик
Номер патента: 1035417
Опубликовано: 15.08.1983
Авторы: Бородакий, Быковский, Смирнов
МПК: G01B 11/16
Метки: интегрально-оптический, тензодатчик
...;. -аа использованияжидкостноГО ВслнОВОда.Цепь изобретения - повышение точности измерени.-.О 1 ПР.;РР 1 - т; О ВТ 11 Ч 8.К 11 й тю 110 паттпьк3.1СОД 8 РЭК 0--ЗХОДП О Е Свето по ОВ ОДНО 8 ВОЛОКно, те 118:,чу:.=,.тв 11 тельный элемент в видеппюхарнст О 1 .лок 11 адифракционную решеткудве подложки, между которь 1 ми расположвн тэнзочувствитезтьнь 1 й элементи Вьп,"Одное светопрОВОдк 08 ВолокнО, снаб- з 5жен двумя Оуаст 11 чн рц" проклвд 1".вмираспол 1.;-,: ь%"и ме,кду подложками ПООбоим торцам плвнярнОГО волцоводау кОтОрый иэготовиеп иэ анизотропного материала, в 11 в его боковую поверхностьнанесена дь 1 фрвкционнвя решетка.На 1 ерте 1 ке показана схема предлвга."; с."; интегрально-оптического тензодатиИнтегрально-оптический тенэодат...
Устройство для измерения удлинения образцов
Номер патента: 1046610
Опубликовано: 07.10.1983
Авторы: Кришталь, Лещинский, Никитин, Пятаков
МПК: G01B 11/16
...является устройстводля измерения удлинения образцов,содержащее корпус с направляющими,два захвата для крепления образца,две каретки со следящими приводами,установленные на направляющих, два 30осветителя и четыре фоторезистора,размещенные на каретках по однусторону от плоскости, проходящей через губки эахватон и соединенные сцепями управления приводов, и мет1ки в виде светлых и темных прямоугольников, располагаемзе на границах измерительной базы образца вшахматном порядке 21.Однако иэнестное устройство не 40обеспечивает высокой точности измерений,. так как слежение происходиттолько за одной поверхностью испытываемого образца,Целью изобретения является повышение точности измерений,45Поставленная цель достигается тем,что устройство...
Способ получения растворов перхлоратов щелочноземельных металлов
Номер патента: 942376
Опубликовано: 15.11.1983
Авторы: Акерман, Кожуков, Кузнец, Якименко
МПК: G01B 11/16
Метки: металлов, перхлоратов, растворов, щелочноземельных
...("11. 0Известен также способ полученияраствора перхлората магния путемвзаимодействия хлорнокислого натрияс хлористым магнием, взятых в стехиометрических количествах 2 1. 15Однако при хранении в случае высыхания раствора.соль является огнен в э рыв о опасной .Цель изобретения - обеспечениеогне-и взрывобеэопасности соли при 2хранении.Цель достигается тем, что в способе получения растворов перхлоратовщелочноэемельных металлов, включающем взаимодействие хлорнокислого 25натрия с хлоридом соответствукщегощелочноземельного металла, раствор,хлорнокислого натрия используют вконцентрации 200-1200 г/л, предпочтительно 400-700 г/л, а хлорид соответ-ЗОствующего щелочноэемельного металлаилн смесь хдоридов этих металловберут в...
Способ определения деформаций зеркальной поверхности объекта
Номер патента: 1055961
Опубликовано: 23.11.1983
МПК: G01B 11/16
Метки: деформаций, зеркальной, объекта, поверхности
...наобъекте, выбирают базовые точки на экране, деформируют объект, из фиксированной точки наблюдения регистрируют положения отражений базовых точек от зеркальной поверхности до и после деформации объекта и по их разности определяют деформации 2 .Однако известный способ не позволяет измерять углы поворота нормалейв произвольно заданной точке и в произвольных сечениях зеркальной поверхности, поскольку в зависимости от кривизны З 5эеркальнои поверхности изображения базовых точек в этой поверхности смеща-,ются, принимают нерегулярную структуру, неконтролируемы и могут не находиться в области, интересуюшей исследо-.40ва тели,Бель изобретения - повышение точности определения деформаций.Для этой цели согласно способу оп 45ределения деформаций...
Поляризационно-оптический способ определения напряжений и деформаций в изделии
Номер патента: 1055962
Опубликовано: 23.11.1983
Автор: Тараторин
МПК: G01B 11/16
Метки: деформаций, изделии, напряжений, поляризационно-оптический
...изобретения - повышение точнос ти определения напряжений при упругопластических деформациях,Зта цель достигается тем, что согласно поляризационно-оптическому способуопределения напряжений и деформаций визделии, заключающимся в том, что изготавливают модель изделия из оптически чувствительного материала, нагружают ее, "эамораживают" в ней напряженияи деформации, разрезают модель на срезы,измеряют в них оптическую разность хо, 50да, по которой определяют напряжения идеформации, изготавливают элементы дополнительной модели, имеющие формы,соответствующие областям пластическихн упругих деформаций в основной модели,в элементе, соответствующем зоне пластических деформаций, создают и "замораживаютф деформации, равные по величине 62...
Устройство для измерения динамических деформаций валов в стационарном режиме вращения
Номер патента: 1060944
Опубликовано: 15.12.1983
Авторы: Ивлев, Киселев, Пронякин
МПК: G01B 11/16
Метки: валов, вращения, деформаций, динамических, режиме, стационарном
...ветвь системы формирования интерференционных полос и связываемым свалом, блок управления частотойсъема информации выполнен в видепоследовательно соединенных генера-,тора и схемы регулировки частотыследования импульсов, соединенной соптическим затвором, а блок анализапараметров деформации вала выполнен в виде соединенных последовательно фотоприемника, схемы счета и кодирования, схемы сравнения и индикатора, второй вход которого соединенс вторым входом системы регулировкичастоты следования импульсов, второй и третий выходы которого соединены соответственно с вторыми выходами схемы счета и кодирования, исхемы сравнения, третий вход последней соединен с выходом опорного блока сравнения, а выход электронно-Оптического преобразователя...
Способ определения деформаций
Номер патента: 1064128
Опубликовано: 30.12.1983
Авторы: Евстратов, Евстратова, Кузьменко
МПК: G01B 11/16
Метки: деформаций
...цель достигается тем, 40что согласно способу определеииядеформаций, .заключающемся в том,что на образце выполняют четырехгранные углубления пирамидальнойформы, измеряют координаты характерных точек углубленйй, дефОрмируютобразец, вновь измеряют координаты,характерных точек и по разности координат определяют деформации, выпол. няют углубления с контуром основания 50в виде ромба, острый угол которогоравен 30-60 0, угол между большей диагональю и направлением главной деформации составляет 30-450 а в качестве характерных точек используют различимые после деформации вершиныромба.На фиг.1 представлено одно изполученных углублений до нагруженияобразца, Общий внд, на фиг.2 - то же,после нагружения образца. Выбор значений углов...
Чувствительный элемент оптического тензодатчика деформаций
Номер патента: 1067349
Опубликовано: 15.01.1984
Авторы: Андриеш, Бородакий, Быковский, Пономарь, Смирнов
МПК: G01B 11/16
Метки: деформаций, оптического, тензодатчика, чувствительный, элемент
...волокна 2.Недостатком известного датчика является низкая чувствительность ввиду малых изменений параметров волокна от действия механических напряжений.Цель изобретения - повышение чувствительности.С этой целью чувствительный элемент оптического тензодатчика деформаций, выполненный в виде цилиндрического оптического волокна, снабжен, двумя волноводами с нанесенными на них дифракционными решетками, размещенными параллельно на диаметрально противоположных образующих цилиндра волокна. 067349 На чертеже представлен чувствительныйэлемент оптического тензодатчика деформации.Он содержит чувствительный элемент,выполненный в виде цилпндрического оптического волокна 1, волноводы 2 и 3 с нанесенными на них дифракционными решетками 4 и...
Устройство для измерения деформаций объекта
Номер патента: 1073570
Опубликовано: 15.02.1984
Авторы: Нечипоренко, Петров, Уразко
МПК: G01B 11/16
Метки: деформаций, объекта
...2, два плоских зеркала 3 и 4, расширяющую линзу 5, регистратор б, вогнутое зеркало 7, третье плоское зеркало 8, экран 9, расположенный между первым плоским зеркалом 3 и регистратором 6, светозащитную маску 10, установленную перед регистратором б, третье вогнутое зеркало 12, устайовленное между регистратором 6 и первым вогнутым зеркалом 7, два дополнительных светоделителя 13 и 14, установленных между источником 1 света и и первым светоделителем 2, чет-, вертое плоское зеркало 15, установленное между вторым дополнительным светоделителем 13 и вторым вогнутым зеркалом 11, и пятое плоское зеркало 16, установленное между третьим дополнительным светоделителем.14 и третьим вогнутым зерка-лом 12. Объект 17 установлен позади второго 11 и...
Устройство для определения деформации изгиба тонкостенных прозрачных объектов
Номер патента: 1073571
Опубликовано: 15.02.1984
Автор: Щербаков
МПК: G01B 11/16
Метки: деформации, изгиба, объектов, прозрачных, тонкостенных
...в центре, источник. света и фоторегистратср, установленный за отверстием экрана 2,Недостатками известного устройства являются невозможность исследо. -вания сильно искривленных объектовс поверхностью двойной кривизныс требуемой точностью иэ"за отсутствия эталонной поверхности исследуемого объекта.Цель изобретения - повышение точности определения деформаций.Это достигается тем, что устройство для определения деформаций изгиба тонкостенных прозрачных объектов, содержащее основание и установленные иа нем нагружающий узел, экран с нанесенным растром и отверстием в центре, источники света и фоторегистратор, установленный за отверстием экрана, снабжено зеркалом спрофилированной поверхностью, установленным вдоль оптической осиустройства...
Способ нанесения растра на поверхность изделия
Номер патента: 1084599
Опубликовано: 07.04.1984
Авторы: Бахтадзе, Озбегашвили
МПК: G01B 11/16
Метки: изделия, нанесения, поверхность, растра
...на поверхности изделия и удаляют сетку Г 23.Недостатком известного способа является то, что получение отпечатка сетки на твердых материалах (например металлы) затруднено, так как требуются высокие температуры для нагревания поверхности изделия,что не.всегда возможно. Кроме того, точность нанесения растра на такие 1материалы недостаточна, так как необходимые большие усилия прижатия сетки могут привести к искажению ее формывЦель изобретения - повышение точности и прочности нанесения растра.Укаэанная цель достигается тем, что согласно способу нанесения растра на поверхность изделия, заключаю" щемуся в том, что на изделие накла 084599 2дывают токопроводящую нагревательную сетку, пропускают через нееэлектрический ток до...
Интегрально-оптический тензодатчик
Номер патента: 1092361
Опубликовано: 15.05.1984
Авторы: Бородакий, Быковский, Рогозкин, Рязанов, Смирнов
МПК: G01B 11/16
Метки: интегрально-оптический, тензодатчик
...в одной плоскости волновода.Цель изобретения - повышение чув- ЗОствительности измерений,Указанная цель достигается темичто интегрально-оптический тензодатчик, содержащий планарный волновод,входную и выходную подложки, на первую из которых нанесена дифракционная решетка и между которыми помещенпланаркый волновод, и входное к выходное светопроводные волокна, соеди"ненные с соответствующими подложка- ,цчми, снабжен волноводным слоем, поме-.щенным между входной подложкой и пленарным волноводом, а период дифрак":.1 конной решетки выбран кз условия возникновения фазового синхронизма.На чертеже показана схема интегрально-оптического тензодатчика,Интегрально-оптический тензодатчкк содержит планарный волноводвходную 2 к выходную 3...
Интегрально-оптический тензодатчик
Номер патента: 1092363
Опубликовано: 15.05.1984
Авторы: Остроуменко, Прудкий, Шмалько
МПК: G01B 11/16
Метки: интегрально-оптический, тензодатчик
...тсцэал;:;"чик, содержащий подложку иэ фо -оупругбго материала, расположеные на;)ейвходной и выходной полосковые мх)кро.волновады, размещенный ме);цу ими исоединенный с ними направленнымиответвителями тензочувстнительцыйэлемент в виде кольцевого резовтор".снабжен двумя дапол)италь)Ми направс,(эленными ответвителями и четыр,мязеркалами, кольцевой резонатор выполнен из двух отрезков полосковогоМИКРОВОЛНОВОДа, СОЕДИНЕННЫХ У КОНОЯмежДУ СОбОЙ ДвумЯ .ДОпалнительцыминаправленными ответвителями, а наторцах отрезков микроволнанода закреплены четыре зеркала. микроволоводы, размещенный между ими и соединенный с ними направлен )ми ) тв е тв цтелями 4 и 5 )л". 2тоза увстзительный элемент (кольцевой резонатор), выполненный из двух отрезков б...
Поляризационно-оптический способ определения напряжений в изделии
Номер патента: 1096494
Опубликовано: 07.06.1984
Авторы: Летанина, Мальцева, Платонов, Ульянов
МПК: G01B 11/16
Метки: изделии, напряжений, поляризационно-оптический
...в том, что иэготавливают модель изделия из смеси эпоксидно 1смолы и отвердителя, полимеризуютмодель до резиноподобного состояния,нагружают, окончательно полимеризуютмодель под нагрузкой, разгружают ч 25разрезают модель на срезы, в которых определяют напряжения ( 2 3,11 едостатками известного способаявляются большая трудоемкость из-задлительной полимериэации, значительный разброс характеристик материала,связанный с неопределенностью момента окончания предварительной полимеризации и с трудностью определениямомента начала нагружкния, а такженевозможность механической обработкимодели после предварительной полимеризации, так как недополимериэованный материал плохо обрабатывается,Цель изобретения - повьшение точ- щкости и уменьшение...
Способ определения деформаций поверхности объекта
Номер патента: 1099099
Опубликовано: 23.06.1984
Автор: Воеводин
МПК: G01B 11/16
Метки: деформаций, объекта, поверхности
...заключающийся в том, что фотопластинку устанавливают между источником света и объектом, освещают объект пучком когерентного света через фотопластинку, записывают первую30 голограмму, деформируют объек, записывают вторую голограмму, восстанавливают одновременно обе голограммы, наблюдают и регистрируют интерференционную картину, по которой определяют деформации Г 2 1.Недостатком известного способа является недостаточная точность из - за того,что освещающий пучок света являетсяодновременно опорным,что не позволяет 40применить в нем методы изменения частоты полос при помощи поворота освещающего пучка без изменения опорногопучка. 45Цель изобретения - повышение точности определения деформаций.Это достигается тем, что согласно способу...
Способ определения напряжений в объемной модели из оптически чувствительного материала
Номер патента: 1099100
Опубликовано: 23.06.1984
МПК: G01B 11/16
Метки: модели, напряжений, объемной, оптически, чувствительного
...являетсяспособ определения напряжений в объемной модели иэ оптически чувствительного материала, имеющей внутреннюю полость, заключающийся в там,что 25изготавливают модель, нагревают еедо температуры "замораживания", нагружают, охлаждают, разрезают насрезы и регистрируют в них интерферецционные картины полос, по которым ЗОопределяют напряжения г.2 ,Недостаткам известцага способа также является значительная трудоемкость, вызванная необхадимосью подключения к модели устройства подачи цавлеция и З обеспечения нагружения модели при высокой температуре.Цель изобретения - уменьшение трудоемкости определения напряжений.Цель достигается тем, что согласна 4 О способу определения напряжений в объемной модели из оптически чувствительного...
Устройство для измерения деформаций поверхности объекта
Номер патента: 1100496
Опубликовано: 30.06.1984
Авторы: Алиев, Гресько, Кордубан
МПК: G01B 11/16
Метки: деформаций, объекта, поверхности
...пластины и светорегистратор 2 3.Недостатками такого устройстваявляются значительная трудоемкость измерений и невысокая вибростойкостьустройства, вызванные высокой прецизионностью голографических измерений,Цель изобретения - снижение трудоемкости и повышение .вибростойкости,Цель достигается тем, что устройство для измерения деформаций поверхности объекта, содержащее источник когерентного света, чувствительный элемент, выполненный в виде прозрачной пластины, и светорегистратор, снабжено чувствительным слоем прозрачного магнитоодноосного материала с полосковой доменной структурой,35 нанесенным на поверхность прозрачной пластины, и зеркальным покрытием, нанесенным на поверхность чувствительного слоя, а прозрачная пластина выпопнена из...
Устройство для бесконтактного измерения деформаций
Номер патента: 1101672
Опубликовано: 07.07.1984
Автор: Быков
МПК: G01B 11/16
Метки: бесконтактного, деформаций
...биссектрисы угла междупучками,и электронным фазометром,опорный и измерительный входы которого подключе ны к выходам фотодетекторов.,На чертеже представлена схемаустройства для бесконтактного измерения деформации.устройство содержит установленные 45,вдоль оптического пучка лазер 1,коллиматор 2, расщепитель 3, формирующий два пучка света, оси которыхпересекаются в плоскости расщепленияи дифракционную решетку 4, преднаэначенную для установки на исследуемой поверхности в зоне пересеченияпучков перпендикулярно биссектрисеугла между осями этих пучков, оптический частотный модулятор 5, Фотоприемный блок б, выполненный издвух жестко связанных друг с другомфотодетекторов 7, установленныхв плоскости расщепления симметричноотносительно биссектрисы...
Устройство для измерения скорости деформации
Номер патента: 1118853
Опубликовано: 15.10.1984
Автор: Деревщиков
МПК: G01B 11/16
Метки: деформации, скорости
...в. виде системы прозрачных и непрозрачных концентрических колец, представляющих собой негативное или позитивное изображение интерференционной картины в плоскости диафрагмы, и скоростную кинокамеру, дополнительно введены второй источник монохроматического света с иной длиной волны и коллиматор, оптическая ось которого совмещена с оптической осью первого источника с помощью светоделителя, и второй фильмовой канал, оптическая ось которого совмещена с оптической осью первого фильмового канала с помощью свето- делителя, причем на входе каждого фильмового канала установлены полосовые светофильтры, а на визуализирующих диафраг.мах выполнены дополнительные прозрачные и непрозрачные кольца, ширина каждого из которых равна ширине...
Устройство для измерения деформаций диффузно отражающих объектов
Номер патента: 1126812
Опубликовано: 30.11.1984
Автор: Хопов
МПК: G01B 11/16
Метки: деформаций, диффузно, объектов, отражающих
...исто и;ик когеоенсного ИЗЛУЧЕНИЯ ТОЯНСП ЯР а Ств НО 1 Г интерферо метр сдвига, состосгший Двух параллелььщх дифракционньгсрешеток с параллельно ориентированньий штрихями дна 0:ОтопнееиИка Б фаэометр, подключенный к выходам фОтоприРмникон, снЯбженосЯновлении между источником кс гер нтногсизлучения и транспарантом ГетероДИННЫМ ИНТРРфЕРОИЕТРОМ С;,Внга С апертурной диафрагмой, всличи; сдвига которого равна диаметру етс япертурнОй ИафряГмы трявспарант выполнен н виде спекл-фотографии с разнесенной спекл-структурой., промОдулировяннОй Бнтерфаренииониь 2 иполосами, ориентированными перпендикулярно вектору смещения рыка- СЕННОИ СПЕКПтруктуы и ,ЛЕН ПОД УГЛОМ ВРЗГГЯ К ОПТИЧЕСЭТЯК ЧТО НЯПРЯВсЕНИЕ ПВ 7 РРд.родичного интерферометря лент з...
Устройство для измерения деформаций в скважинах
Номер патента: 1130738
Опубликовано: 23.12.1984
Авторы: Анцибор, Беззубов, Казикаев, Кириченко, Мирошник
МПК: G01B 11/16
Метки: деформаций, скважинах
...и исполь-ЗОзуемой для размещения регистрирующей светочувствительной среды, двумятрубопроводами для подвода и отводажидкости из камеры, и передающей телевизионной камерой, установленной состороны герметичной камреры, освещаемойлучом лазера,На чертеже изображено предлагаемоеустройство, продольный разрез,Устройство для измерения деформа Оций в скважинах содержит корпус 1,выполненный в виде разъемной обоймы,лазер 2, расширитель 3 пучка,поворотную кассету 4 с эксцентричнорасположенным грузом 5, герметичную 45.камеру 6 с торцовыки стенками 7 и 8из оптически прозрачного материала,два трубопровода 9 и 10 для подводаи отвода жидкости иэ камеры 6, передающую телевизионную камеру 11 установленную со стороны герметичнойкамеры 6, освещаемой лазером...
Устройство для измерения напряжений в объекте
Номер патента: 1133481
Опубликовано: 07.01.1985
Автор: Кологривов
МПК: G01B 11/16
Метки: напряжений, объекте
...оптической оси источник света, поляризатор, оптическую систему и анализатор, синхронизированные между собой, вторую оптическую систему и систему регистра-, ции 123.Однако известное устройство не пригодно для получения динамических картин изохром в объекте из-за того, что картину изохром создают посредством двух экспозиций интерференционнык картин при направлениях поляризации света, отличающихся на 45 о35Целью изобретения является расширение технологических возможностейза счет обеспечения измерений также и динамических напряжений.Эта цель достигается тем,что устройство для измерения напряжений в объекте, содержащее расположенные последовательно вдоль оптической оси источник света, поляризатор, оптическую систему, анализатор, вторую...
Пьезооптический измеритель деформаций
Номер патента: 1136010
Опубликовано: 23.01.1985
Авторы: Берзин, Горяинов, Миронов, Слезингер, Стецюк, Ширяев
МПК: G01B 11/16
Метки: деформаций, измеритель, пьезооптический
...включения.Устройство содержит. опорные платы 1 и 2, связанные между собой соединительными элементами 3, имеющими поперечные утоньшенные участки 4. Между элементом 5 иэ фотоупругого материала и опорной платой 1 установлены вспомогательные стержни 6 и 7, причем стержень 7 установлен перпендикулярно оси нагружения по диагонали ромба, образованного упругими пластинами 8 и 9, Концы упругих пластин 9, образующие одну из вершин ромба, присоединены к опорной плате 1, а концы опорных пластин 8, образующие вторую вершину ромба, присоединены к концу вспомогательного стержня 6, установленного по оси нагружения и контактирующего с элементом 5. Вспомогательные стержни содержат средства 10 и 11 нагрева, подкщоченные дифференциально к выходу усилителя...