G01B 11/16 — для измерения деформации твердых тел, например оптические тензометры

Номер патента: 1330461

Опубликовано: 15.08.1987

Автор: Щербаков

МПК: G01B 11/16

Метки: зеркальной, поверхности, поворота, углов

...9 управления двигателем 8,вспомогательное зеркало 10 для измерения угла поворота полупрозрачного ,ЗОзеркала 5 и оптический угломер 11,На фиг2 обозначено: А, - положение иэображения точки В растра приповороте зеркала 5 на угол р, А -начальное положение иэображения точки В; Р - нагрузка,Способ осуществляют следующим образом.Изображение растра в зеркальнойповерхности пластины 4 (фиг. 1) совмещают на матовом стекле фотоаппарата 2 с изображением эталонного растра, отраженного от полупрозрачногозеркала 5. Возникающая картина муарапозволяет определить форму и деформации зеркальной поверхности пластины 4. Относительный сдвиг дх на фотопластине линий эталонного и рабочегорастров для смещения полосы муара взаданную точку и последующей...

Номер патента: 1330462

Опубликовано: 15.08.1987

Авторы: Еременко, Костандов, Федоркин

МПК: G01B 11/16

Метки: композита, модели

....выдерживают при.этой температуре в течение 20-40 ч до завершения процесса студнеобразования. Далее пластину студня желатина извлекают из формы и размещают плотно между двумя плоскими трафаретами с отверстиями. Предварительно прилегающую к студню сторону трафаретов сма зывают минеральным маслом, например, ВМ. Трафареты изготавливают, например, из органического стекла толщиной 1-2 мм, вырезая в них отверстия, по размеру и форме соответствующие разме- ЗО ру и форме жестких включений в композите, например, щебня в тяжелом бетоне. Трафареты изготавливают с одинаковым расположением отверстий. Затем студень желатина с плотно прилегающими трафаретами помещают в 8-10%-ный раствор формальдегида, Время эадубливания студня в формальдегиде...

Номер патента: 1348734

Опубликовано: 30.10.1987

Авторы: Китаев, Наконечный, Новоселецкий

МПК: G01B 11/16, G01F 3/36

Метки: датчик, импульсный, фотоэлектрический

...а прорези вего боковой поверхности выполненыпод углом к образующей. Угол наклонапрорезей зависит от их ширины и шагаФразмещения фотоприемников 5 и выбирается из условия обеспечения привращении полной засветки только одного фотоприемника. В качестве источника 3 света могут быть использованы, например, светодиоды, а в качестве фотоприемников - фотодиоды.Фотоэлектрический датчик работаетследующим образом,При вращении барабана 2 его прорезь последовательно открывает фотоприемники 5. При этом очередная прорезь открывает первый фотоприемникпосле закрытия последнего предыдущей.Интервал между открытием последнегои первого фотоприемника соседнимипрорезями равен интервалу между открь 1 тием любых двух соседних фотоприемников, что...

Номер патента: 1355864

Опубликовано: 30.11.1987

Автор: Алпысова

МПК: G01B 11/16

Метки: грунта, деформаций, образца

...деформацией резиновой оболочки, имеющей конечнуютолщину, растр наносят на внутреннюю поверхность оболочки, контактирующуюс образцом. Образец с надетой на него резиновой оболочкой фотографируют одновременно с двух противоположных сторон до и после деформирования, Затем накладывают негативное изображение недеформированного образца на позитивное иэображение деформированного образца и изменяют масштаб одного из изображений образца до величины, при которой муаровые полосы располагаются только в одном направлении, и продолжают изменять масштабиэображения до величины, при которой муаровые полосы располагаются только перпендикулярно первому направлению,Например, для определения деформацииГ вдоль оси образца изменяют масштаб позитивного...

Номер патента: 1357703

Опубликовано: 07.12.1987

Авторы: Костандов, Федоркин

МПК: G01B 11/16

Метки: взаимодействия, волн, изучения, методом, модель, напряжений, поляризационно-оптическим, процесса

...1 по краям в плоскостях,перпендикулярных плоскости надреза,а прокладки 6 расположены в разрезах 7, перпендикулярных основаниюсоответствующего основания,Модель работает следующим образом.В вершинах 8 и 9 надреза 4 одновременно генерируют упругие волнынапряжений, например взрывом проводника импульсом тока, Упругие волны,распространяясь вдоль надреза, вызывают образование вторичных волннапряжений из-за акустического контакта надреза. Вторичные волны напряжений распространяются навстречудруг другу и взаимодействуют междусобой. Процесс взаимодействия вторичных волн напряжений наблюдают в зоне 10 модели и регистрируют на фото-пленку, Отверстия 2 и 3, имеющиеформу треугольника, препятствуют попаданию в зону 10 упругих волн, рас...

Номер патента: 1359668

Опубликовано: 15.12.1987

Авторы: Афанасьев, Зуева, Ионина

МПК: G01B 11/16

Метки: напряжений, образце, поляризационно-оптический

...при о пс 90и 3=0,1Из уравнений (3) и (4) следует,что число неизвестных компонентов напряжений больше числа уравнений, Поэтому определение напряжений по урав"нениям (3) и (4) невозможно без привлечения каких-либо дополнительныхусловий эксперимента. Рассматривая выражения (5) Р и Р 4 ф мОжнО заиетитьф что 1"сли ) +3= =90, то Р =Р =О, Это позволяет из уравнения (4) определить 51 . Удовлет" ворить условию О +=90 можно, испольозуя наклонное просвечивание образца при подходящем угле=90 -о, зависящем от величины ориентирующего углаЕсли45 о, то поворот образца, вокруг оси Б на угол/3"/агсвпп 4 (90 -): соответствует направлению светового луча вдоль плоскости симметрии кристалла, параллельной плоскости кристаллографического куба (001). Из...

Номер патента: 1364863

Опубликовано: 07.01.1988

Авторы: Костандов, Федоркин

МПК: G01B 11/16

Метки: бегущей, вершине, исследования, напряжений, образец, трещины

...двухотдельных участков, разделенных прямолинейным зазором шириной 0,5 - 1 мм,расположенным против пропила, вследствие чего трещина распространяетсясо стороны покрытия в указанном зазореНа фиг, 1 представлен образец дляисследования напряжений в вершине бегущей трещины, общий вид; на фиг. 2то же, поперечный разрез,Образец для исследования напряжений в вершине бегущей трещины представляет собой пластину 1 из испытываемого непрозрачного материала спропилом 2 на одной иэ сторон, нанесенный на пластине 1 с противоположной стороны светоотражающий слой 3и нанесенный на светоотражающий слой3 слой оптически чувствительного материала, выполненный в виде двух уча- Зстков 4 и 5 с разделяющим их прямолинейнымзазором 6 шириной 0,51 мм, расположенным...

Номер патента: 1379613

Опубликовано: 07.03.1988

Авторы: Дмитриев, Маймистов, Миронос

МПК: G01B 11/16

Метки: волоконно-оптический, тензодатчик

...решет- ки сов (и г а 1) 1 у 1 х-хКроме того, г и ЭИЛ.Тогда интеграл по плоскости в О распадается на сумму интегралов по каждой апертуре (щели) в дифракционной решетке. Пусть- координата точки в центре дифракционной решетки, тогда хх + , где х - координата края щели. Тогда легко показать, что А ехрГд 1 сг+дЛсх /2 эЛ 2а 42 а в(а С(ра)Ьа(рЛ), . )5)1-сгде Р1 сх/гь - ЙМ(у)- . -у ехр 1- О 2(1-1)у 1вдп Ь/2)вьпу 727 Рассмотрим дифракцию на двух рещетках, когда вторая дифракционная решетка находится в ближней зоне первой дифракционной решетки (фиг.2). Поле в точке Ро определяется вновь через интеграл (1) или (3), но задать У на плоскости г=1 можнор если знать О в ближней зоне первой дифракционной )решетки, расположенной в плоскости г=О. Иожно...

Номер патента: 1379614

Опубликовано: 07.03.1988

Авторы: Ильин, Левковский, Нелюбин, Шерман

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, изделия, поверхности

...лазерного луча изменяется, паз 345 деформируется, то отраженный луч смещается на экране 6, и по этому смещению судят о величине малых деФормаций.Деформация паза 3 может быть различной в зависимости, например, от дефектов, которые встречаются на пути упругой волны, Чтобы продефек-тоскопировать по всей длине иэделия, лазерный источник 5 смещается вдоль паза 3. Чтобы продефектоскопировать по высоте изделия, выполняют необходимое число пазов 3 по высоте иэделия и повторяют смещение лазерного источника 5, отмечая отклонения отраженного луча на экране 6 по отношению к нейтральному положению отраженного луча невозбужденного изделия 1. В процессе измерений анализируется также спектральный состав колебаний отраженного луча на экранеВ...

Номер патента: 1381331

Опубликовано: 15.03.1988

Авторы: Ермолин, Климов, Кремешный, Лоцманов

МПК: G01B 11/16

Метки: деформации, изгиба

...и через схему ИЛИ 25 про 3выход - с одним из входов каждой из двух схем И 20 и 21, а инверсный выход - с управляющим входом блока 34 регистрации. Установочный 5-вход Р 5-триггера 29, выполняющего функции триггера знака линейной деформации, соединен с выходом схемы И 20, а выход - с одним из информационных входов блока 34 регистрации. Счетный вход информационного счетчика 33 соединен с выходом схемы И 21, а выходы всех его разрядов - с информационными входами блока 34 регистрации. Указанные элементы образуют канал измерения линейной деформации.Устройство работает следующим образом.Световодный канал 1 устанавливают на исследуемом объекте и закрепляют его торцы на поверхности объекта. В исходном положении проекция щелевого...

Номер патента: 1384941

Опубликовано: 30.03.1988

Автор: Деревщиков

МПК: G01B 11/16

Метки: объекта, перемещений, поверхности, поля, скоростей

...к интерферометру и к периферии, если длина волны возрастает (движение объекта направлено от интерферометра). Если прозрачный штрих, относящийся к интерференционному кольцу с Хь сдвинут по направлению к центру интерференционной картины, то изменение цветового оттенка поверхностных областей объекта, движущихся к интерферометру, будет направлено от Х и Х, а удаляющихся - от Х к Хз. При смещении того же штриха в противоположном направлении изменение оттенков приближающихся и удаляющихся участков будет обратным.Непрерывное изменение оттенков от Хг к Х и от 1 к Х возможно в том случае, когда время сканирования интерференционных колец различного цвета по соответствующим им прозрачным штрихам одно и то же. Поскольку постоянные...

Номер патента: 1386848

Опубликовано: 07.04.1988

Авторы: Гришин, Дружинин, Моисеев, Яблонский

МПК: G01B 11/16

Метки: поверхностей, различий, формы

...тров, достигаемое благодаря нанесен на сравниваемые поверхности лин путем сканирования лазерным пучк м и сравнению Формы проекций нанес нных линий, получаемых репродукци о ной съемкой.На чертеже показана схема реализзции способа.На схеме представлены лазер 1, к нтролируемая поверхность 2, зона 3 20 к торой подверглась деформации, тратории 4 и 4, пятна лазерного изения при сканировании контролируей поверхности и поверхности, форма торой выбрана в качестве эталона, 25 оскость 5 анализа и проекции 6 и линий 4 и 4соответственно в плосости анализа.Способ осуществляют следующим образом. 30Пучком лазера 1 по определенному закону сканируют сначала контролируеЙую поверхность, а затем эталонную. траектории 4 и 4 пятна лазерного Излучения...

Номер патента: 1388710

Опубликовано: 15.04.1988

Автор: Евстратов

МПК: G01B 11/16

Метки: конструкциях, методом, напряжений, поляризационно-оптическим, температурных

...заданному темпера 3 турному полю модели табл. 2, начиная с элемента, имеющего минимальную температуру, "замораживают" элементы, а после "замораживания" охлаждают части модели до отсоединения металлических пластин, склеивают чаСти в модель конструкции кронштейна 1 замо 11раживают модель и определяют температурные напряжения обычными приемами поляризационного-оптического метода, На этой составной модели определение температурных напряжений осуществляется с погрешностью вследствие того, что деформации свободного температурного расширения создают и "замораживают 1 только в поверхностях элементов, к которым приклеивали металлические пластины. Это приводит к воспроизведению свободного температурного расширения элементов только по части их...

Номер патента: 1388711

Опубликовано: 15.04.1988

Авторы: Брыскина, Зинченко, Корчагин, Марасин, Попов, Свистунов, Харбергер

МПК: G01B 11/16

Метки: оптический, тензодатчик

...(фиг.1),При деформации подложки 2 в указанной плоскости результат интерференции, а следовательно., и сигнал с фотоприемника 5 изменяются в зависимости от величины деформации, Это про"исходит потому, что при изгибе подложки 2 в плоскости У 2 изменяетсяоптическая длина пути излучения вкаждом иэ плеч интерференционного модулятора в результате растяжения одного плеча и сжатия другого. Возникающие при этом механические напряжения вследствие фотоупругого эффекта вызывают изменения показателяпреломления в каждом плече интерфе"50ренционного модулятора Маха-Цандерапротивоположного знака, что такжевызывает появление разности фаэ интерферирующих пучков. Таким образом,по сигналу с фотоприемника 5, регист 55рирующего результат...

Номер патента: 1392354

Опубликовано: 30.04.1988

Авторы: Махов, Потапов

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, образца, температурных

...диапазоне изменения положения базовых поверхностей по высоте, Объективы 5 и 6, оптические оси которых лежат(7) Выходные периодические сигналы (с ) и 1 ( ) с выходов Фотоприемников 9 и 10 в каждом из каналов усиливаются неселективными усилителями- ограничителями 11 и 12 с ограниче нием амплитуды соответственно и подаются на входы фазового детектора 13, измеряющего разность фаэ усиленных и ограниченных периодических сигналов, которая будет связана с изменением базовой длины Н,+д Н образца следующей зависимостью:(4) 1, Способ определения температурных деформаций образца, заключающийся в том, что формируют две реперные метки на поверхности образца, иодулируют и регистрируют изображения мев плоскости осевых лучей ," и 1,", нормалей И и И и...

Номер патента: 1392355

Опубликовано: 30.04.1988

Автор: Колесов

МПК: G01B 11/16

Метки: напряжений, объекте, оптически, чувствительного

...часть светового потока впределах, обеспечивающих работу фотоприемника на линейном участке егохарактеристики, Это достигается пу 5тем использования дополнительногоисточника света, добавляющего илиубавляющего световой поток эа анализатором в соответствии с обратнымзаконом изменения 1 Управление яркостью дополнительного источникасвета осуществляется схемой автоматического регулирования, где в качестве обратной связи используется сигнал на фотоприемнике,Способ осуществляют с помощьюоптической схемы следующим образом.Луч лазера 1 делится полупрозрачным зеркалом 2 на два луча. Первыйлуч с помощью кругового поляризатора 3 приобретает круговую поляризацию, после чего проходит через полярископ .со скрещенными плоскостямиполяризатора 4 и...

Номер патента: 1394031

Опубликовано: 07.05.1988

Авторы: Александрова, Громова, Демидова

МПК: G01B 11/16

Метки: конструкции, механических, напряжений

...коэффициент оптической чувствительности,Изобретение относится к определе нию напряжений в конструкциях поля-, рйзационно-оптическим методом.Цель изобретения - повышение точ 5 ности посредством измерения двупреломления, вызванного возникновением необратимой аниэотропной структуры,На чертеже приведен график зависимости остаточного двупреломления 10и напряжений.Отверждение полимера в поле механ ческих напряжений приводит к нео ратимым структурным изменениям, прскольку эксперимент начинается от 15 тЬчки геля, т.е. когда сформирована с 6 тка достаточно больших размеров, но недостаточно прочная, При действии нагрузок накапливаются разрывы в сетке, Возникающая структура ориен труется в поле напряжений, вызваннЬм действием нагрузок. Это и...

Номер патента: 1397721

Опубликовано: 23.05.1988

Автор: Деревщиков

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, динамических, оболочек, цилиндрических

...объективом 14 пучок регистрируютфотоумножителем 15, а во втором с 2помощью осветительной системы 16 по"сылают на входную щель спектральногоФотохронограАа 17.Использование источника света сосплошным спектром позволяет разделить эААекты ослабления просвечивающего светового потока, обусловленныерадиальной деАормацией и рефракциейна оптических неоднородностях и резонансным поглощением, При этом регистрация прошедшего в первом каналеизлучения в режиме беэ ограничивающейдиаАрагмы дает инАормацию о радиаль 15 ной деАормации и оптическом поглощении, а регистрация во втором (спектральном) канале позволяет определитьраздельно как ослабление световогопотока за счет радиальной деформациии реАракции (по сплошному спектру),так и суммарное ослабление...

Номер патента: 1397722

Опубликовано: 23.05.1988

Авторы: Гвардионов, Трунов

МПК: G01B 11/16

Метки: пленки, показателя, преломления, толщины

...10 травления с регулируемымуровнем травителя, лазер 11, светоделитель 12, опорное зеркало 13 исистему 14 регистрации интерференционной картины. Элементы 11-14 раз" 25мещены по схеме интерферометра Майкельсона, в котором вместо зеркала,размещенного в измерительном плече,использован свободный край подложки2, которая консольно закреплена в камере 10 травления так, что лучи света, падающие на подложку под разнымиуглами, сходятся на ней вблизи точки закрепления,Устройство работает следующимобразом, ционной картины, где они интерферируют,При стравливании пленки с подложки 2 получают информацию о толщине,показателе преломления и распределе"нии напряжений по толщине пленки, Дляраспределения напряжений по толщинепленки справедлива...

Номер патента: 1404813

Опубликовано: 23.06.1988

Авторы: Васильев, Ильянков

МПК: G01B 11/16

Метки: амплитуды, градуировки, измерителей, колебаний, механических, фотоэлектрических

...механических колебаний.Устройство содержит лазерный источниксвета, объект 2 исследования, отражатель3, соединенный с маломощным вибратором 4,щелевую диафрагму 5, установленную перед фотоприемником 6, лазерный интерферометр 7, включающий лазер 8, отражатель9, делитель 1 О лазерного луча, фотоприемник 11 и измерительный отражатель 12,связанный с маломощным вибратором 4,решающий блок 13 и цифровой дисплей 14.Способ осуществляется следующим образом,Луч света от источника 1 направляютна неподвижный объект 2 исследованиявдоль его поверхности, которая частично 25перекрывает луч. Часть луча света, не перекрытая поверхностью объекта 2, падает наотражатель 3 и после отражения - на фотоприемник 6, проходя при этом через щелевую диафрагму 5....

Номер патента: 1413416

Опубликовано: 30.07.1988

Авторы: Бахтин, Городнюк, Костюченко, Сидорова

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций

...цилиндров, при этомв качестве источника излучения использован лазер, ось которого смещена относительно оси измерительного элемента на величину, не превышающую радиуса последнего,ВНИИПИ Заказ 3782/41 Тираж 680 Подписное Произв.-полигр, пр-тие, г. Ужгород, ул, Проектная, 4 Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения деформаций движущихся объектов.Целью изобретения является расширение технологических возможностейпутем обеспечения измерения деформаций движущихся объектов.На чертеже изображена схема описы Оваемого устройства для измерения деформаций.Устройство содержит лазер 1, ось которого смещена относительно оси измерительного элемента, состоящего 15 из прозрачного для лазерного излучения цилиндра...

Номер патента: 1415054

Опубликовано: 07.08.1988

Авторы: Игнатьев, Чигорко

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций

...ирасширение технологических возможностей путем измерения деформаций движуЩегося материала.На чертеже изображено устройстводля измерения деформаций материалов.Устройство содержит источник 1 све та, нерегулярный световод 2, первыйолоконный цилиндрический элемент 3,первый оптически прозрачный растр 4,первый регулярный световод 5, второйрегулярный световод 6, второй оптически прозрачный растр 7, второй волоконный цилиндрический элемент 8 иоторегистратор 9.1Устройство работает следующим обфазом,Пучок света (показан стрелками)фт источника 1 света проходит черезнерегулярный световод 2, первый волоконный цилиндрический элемент 3 и 30Ьсвещает первый оптически прозрачныйрастр 4. Далее изображение первогоЬптически прозрачного растра 4...

Номер патента: 1415055

Опубликовано: 07.08.1988

Авторы: Платонов, Сапожников, Ульянов

МПК: G01B 11/16

Метки: анизотропный, материал, модельный, оптически, чувствительный

...в= 39 - = 1 Ч = 0 33,ф 45Материал изготавливается склейкойслоевшпона между собой, затем полученный аниэотропный пакет приклеивают к полимерной эпоксидной основе, представляющей собой пластинки. Меняя количество и ориентацию слоев,а также толщину пластинок .основы, получают модельный материал, которыйподобен по упругим характеристикам конструкционному углепластику с опре"55 деленной укладкой.Материал на основе древесного шпона обладает более широким диапазоном 2свойств; например, для моделированиястеклопластика на основе нити из волокна ВМ 1 можно использовать бук иликлен, Кроме того, предлагаемый материал по отношению к известному проявляет новое свойство, облегчающеемоделирование по подобно упругих характеристик. Это свойство...

Номер патента: 1421993

Опубликовано: 07.09.1988

Авторы: Бахтин, Костюченко

МПК: G01B 11/16

Метки: деформационных, перемещений

...материала и пуансона в плоскости регистрирующей среды, Получают на ней голограмму сфокусированного изображения обьекта. После приложения через пуансон к материалу внешней нагрузки, приводящей к жесткому смещению пуансона и суперпозиции жесткого и деформационного перемещений прессуемого материала, на ту же регистрирующую среду записывают голограмму сфокусированного изображения объекта в измененном состоянии. После фотохимической обработки на полученной двухэкспозиционной голограмме восстанавливают нерасширенными пучками когерентного излучения два участка, один из которых соответствует точке на пуансоне, а второй - исследуемой точке на поверхности прессуемого материала. В плоскости действительного изображения регистрируют...

Номер патента: 1421994

Опубликовано: 07.09.1988

Авторы: Бахтин, Костюченко

МПК: G01B 11/16

Метки: напряжений, остаточных, пластинах

...в двух точках 4 и 5 (4 и 5 ) (пластина показана в первоначальном 3 и конечном 3 состояниях), расстояние между которыми равно Ьх; отраженные от поверхности пластины 3 (3) пучки 6 и 7 оптически совмещаются системой 8 (например, плоскопараллельной пластиной) и образуют в области 9 пересечения интерференционную картину.Способ осуществляется следующим образом.На поверхности пластины 3 по нормали к ней освещают две точки 4 и 5, расстояние между которыми равно Лх, двумя нерасширенными пучками 1 и 2, когерентного излучения, лежащими в плоскости изгиба пластины 3. Затем осуществляют удаление с неосвещенной поверхности пластины 3 слоя материала, в результате чего из-за перераспределения остаточных напряжений пластина изгибается и принимает...

Номер патента: 1427171

Опубликовано: 30.09.1988

Авторы: Алпаидзе, Макаренков, Макаров, Михеев

МПК: G01B 11/16

Метки: методом, модель, напряжений, поляризационно-оптическим, температурных

...материалом соответствующегокольца 1, На кольцах 1 размещенывнешние нагреватели 4, а между кольцами 1 - внутренние нагреватели 5.Нагреватели 4 и 5 соединены через переключатель б с источником 7 электрического тока. Датчики 3 температурыподключены через усилитель 8 к блоку 9 сравнения, который соединен спереключателем б. Модель снабженадополнительными коаксиально сопряженными кольцами 10 тех же размеров ииз материала с теми же характеристиками, что и основные кольца 1. На контактирующих и внешних поверхностяхколец 10 установлены нагреватели 11, 40подключенные через переключатель 6к источнику 7 тока.Температурные напряжения определяют следующим образом.Кольца 1 с дополнительным набором колец 10 нагревают нагревателями 4,5 и 11....

Номер патента: 1428912

Опубликовано: 07.10.1988

Автор: Остроуменко

МПК: G01B 11/16

Метки: волоконно-оптический, датчик

...ул пре ятие,Изобретение относится к измерительной технике, в частности к исследованию деформаций, перемещений,давления оптическими методами.5Целвю изобретения является расширение области использования путемобеспечения возможности простого иудобного преобразования механическоговоздействия в изменение светового 10сигнала,На чертеже изображен волоконно-оптическийдатчик,Устройство содержит одномодовыйВолоконный световод 1, намотанный 15Йа цилиндр 2 из упругого материала,и направленный ответвитель 3, обеспечивающий свободное осевое перемещение участков световода 1 друг относительно друга. 20Устройство работает следующим образом,Оптическое излучение поступает наодин из концов одномодового волоконного световода 1, проходит кольцевой...

Номер патента: 1428913

Опубликовано: 07.10.1988

Авторы: Борулев, Косцов, Круцан, Макеев

МПК: G01B 11/16

Метки: массива, моделирования, разрушения, скального

...области применения способа пу: тем моделирования слоистого массиваСпособ осуществляют слецующим сб" разом оВ зависимости от выбраннсгО мас" птаба моделирования (как правило, рав 1",. ого 100-200) изготавливают однорсд- Йую пластину из неорганического стек:= ла, которую размещают в нагружающем устройстве. Затеи, исходя из реальной 1 еологии слоистой натуры и соответ Ствувюнх значений удельной поверхно: Етной энергии кажцого слоя, стеклянНую модель в соответствии с гесметри ческим масштабом послойно нагревают до такого значения температуры в каж дом слое, при которой его удельная 6 оверхностная энергия становится рав" Ной удельной поверхностной энергии материала реального слоя натуры. ПоСлойньй нагрев осуществляют, напри мер, с...

Номер патента: 1435934

Опубликовано: 07.11.1988

Авторы: Кочетов, Нефедьев

МПК: G01B 11/16

Метки: исследования, муаровая, тонкостенных, элементов

...вых полос при перемещении экранов 1 или 2 с полосами растра или при нагру 1435934жении испытуемого образца 3. Выходные сигналы включенных фотареле мат" ,рицы 11 поступают вновь на входы линий 18 задержек и управляемых пере"5 ключателей 17. С выходов управляемых переключателей 17 . сигналы поступают на одни входы схемы И блока 19, на другие входы. которых к этому моменту времени поступают сигналы с вы ходов линий 18 задержек.Сработают те схемы И блока 19, на оба входа которых будет подано напряжение с выходов фотореле матрицы 11. 15Под действием выходных сигналов схем И блока 19 включаются соответствующие лампочки 30 табло 16 в виде муаровых полос с высокой степенью контрастности, определяемой разностью 20 светового потока ат светящихся...

Номер патента: 1441193

Опубликовано: 30.11.1988

Авторы: Бабенко, Гавриков, Фуженко

МПК: G01B 11/16

Метки: деформации, образца

...световой импульс попадает в середину центрального фотоэлемента - многоэлементно 55го фотоприемника 1. На выходе блока3 обработки и регистрации при этомбудет нуль. При деформации образца дискретный узконаправленный световой импульс приходит не на центральный фотоэлемент многоэлементного фотоприемника 2, а на какой-либо другой фотоэлемент этого фотоприемника, Блок 3 обработки и регистрации осуществляет определение величины и направления деформации. Это осуществляется за счет того, что многоэлементный фотоприемник 2 представляет собой по существу координатную сетку с началом координат в центре фотоэлемента, расположенного на пересечении (И+1)-го столбца и (И+1)-й строки, Расстояние и направление от этого фотоэлемента до...