G01B 11/16 — для измерения деформации твердых тел, например оптические тензометры

Номер патента: 587323

Опубликовано: 05.01.1978

Автор: Салин

МПК: G01B 11/16

Метки: исследования, моделей, напряженно-деформированного, объектов, состаяния

...изображено пред 15лвгаемое устройство,Устройство содержит осветитель с включенными в него. и последовательно расноложенными на одной оптической оси источником 1 света, формирующей оптикой, включающей в себя конденсор 2,зеркало З,объектив 4 и интерференционный фильтр 5, светоделительным блоком, в который входят диафрагма 6 с двумя отверстиями и призменяый световод 7, поляризатором 8 и фазовой 25пластинкой 9, ванну 10, заполненную иммерсионной жидкостью, с взаимно нерп,ндикулярными входным 11 и выходным 12 окна;ве й фотоприемник 13, оптически сопряжен-.ный при помощи линзы 14 через выходное.ок но 12 ванны 10 с точкой нв линии,.совпадающей с оптической осью осветителя. Диафрагма 6 размещена так что одно из ее отверстий,...

Номер патента: 588467

Опубликовано: 15.01.1978

Авторы: Резников, Сегаль

МПК: G01B 11/16

Метки: выявления, границ, области, пластической, стационарном, течении

...повышения точности выявления границ пластической области при стационарном процессе течения материала деформирование доводят до установившейся стадии, а два одинаковых изображения линий растра сдвигают в направлении течения материала до появления первой контрастной муаровой полосы, которая выявляет границу пластической области.Способ осуществляется следующим образом.На предварительно подготовленный образец наносят линейный растр в направлении течения и деформируют образец, фотографируя копечное деформированное состояние стационарного процесса. При этом линип деформированного растра в зоне пласти.1 ескпх деформаций истсривляются, оставаясь прямолинейными в других зонах.При смещении в направлении, параллельном линиям исходного растра на...

Номер патента: 588931

Опубликовано: 15.01.1978

Авторы: Ален, Димитри, Жак, Жорж

МПК: G01B 11/16

Метки: исследования, напряженного, образце, состояния

...у поверхности образца, с линиями, расположенными параллельно плоскости поляризации при получении линий максимальных каНАПРЯЖЕННОГО СССТОЯ588931 Формула изобретения 1 ИИ 1111 ниии 1 в1 иРижв яо,тииеио1)илиал 1 П:.П еит;, Уиоорол, уи. 11 роектиии, 4 вращают непрерывно со скоростью, превышающей аналитическую скорость визуального наблюдения, и непрерывно проектируют получаемые изображения на экран.На фиг. 1 приведена схема исследования образца в проходящем свете; на фиг. 2 - схема исследования .образца в отраженном свете.Предлагаемый способ исследования осуществляют следующим образом.Образец 1 из оптически чувствительного материала и растр 2 одновременно просвечивают поляризованным светом от источника 3 света с помощью поляризатора...

Номер патента: 589543

Опубликовано: 25.01.1978

Авторы: Бабадаев, Кузнецов, Никитин, Фридьев

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, линейных

...на другую, вход которого подключен к выходу анализатора 5, и регистратор 7 положения объектива.Р случае необходимости измерения деформаций в нескольких точках объекта анализатор 5 и регистратор 7 выполняют в виде многоканального вычислительного блока, например, на589543 Формула изобретения Редактор Г. КотельскЗаказ 384/32 ГГНР 1 ИГ И Государственного копо делам нзобр3035, Москва, Жал ППП Патент, г базе универсальной ЭВМ (на схеме это условно показано их совмещением),Устройство работает следующим образом.Изображения нанесенных на объект оптических меток, освещаемых источником света 1, передаются с помощью оптических волноводов 2 на объектив 3, преобразующий изображение объекта для получения оптимальных размеров картины оптических...

Номер патента: 593067

Опубликовано: 15.02.1978

Авторы: Демаков, Ененко, Ситников

МПК: G01B 11/16

Метки: валках, датчик, контактных, напряжений, прокатных, фотоупругий

...датчика также является невозможность измерить контактные на 5 пряжения в случае закрытых калибров,Для замера контактных напряжений повсему периметру калибра валков в предлагаемом устройстве оптический блок выполнен ввиде призменной системы Порро 11.10 На чертеже представлена схема размещения фотоупругого датчика в валке и его конструкция,Фотоупругий датчик состоит из оборачива.ющего оптического блока 1 в виде призмен 15 ной системы Порро 11 и размещенной в плос кости симметрии блока вставки 2 из оптически активного материала. Датчик размещенвнутри валка 3 так, что входная и выходнаяграни оборачивающей призменной системы20 расположены в одной плоскости перпендикулярно оси валка 3. Поляризованное излучение через:боховое окно 4 валка после...

Номер патента: 593068

Опубликовано: 15.02.1978

Авторы: Карамзин, Кондратьев

МПК: G01B 11/16

Метки: моделирования, напряженнодеформированного, полых, роторов, состояния

...кимномуженироторливаюельноидкиьсилзам по техни является о-деформи ов, закл т модель го матер имитат иконовым ораживаюНаиболее близсти к предложелирования напрястояния полыхтом, что изготавтически чувствитют ее полость жсреды, напримершают модель иформации 21,полняабочей м, враней де материала рото Изобретение относится к области машиностроения и может быть использовано при исследовании механических напряжений в роторах сепараторов и центрифуг.Известен способ моделирования напряженно-деформированного состояния полых роторов, заключающийся в том, что изготавливают две модели роторов из оптически чувстви. тельного материала, полость одной из которых заполняют жидким имитатором рабочей среды, вращают модели и замораживают в них деформации,...

Номер патента: 593069

Опубликовано: 15.02.1978

Автор: Гребнев

МПК: G01B 11/16

Метки: дефектов, обнаружения, фотоэлектрическое

...электрически связанным с фотоэлектрическим преобразователем.На чертеже изображена схема описываемого устройства.Устройство содержит источник 1 света, призму 2, установленную в потоке света, вращающийся отражатель 3, расположенный в преломленном призмой 2 потоке света и вь- долненный в виде цилиндра, отражающий торец которого расположен под острь 1 м углом относительно другого торца, неподвижный отражатель т, воспринимающий поток света от вращающегося отражателя 3, направляющийего на контролируемый объект 5 и выполненный в виде тороида, внутренняя отражающая поверхность, которого представляет собой поверхность усеченного конуса, призму б, рас. положенную в потоке света, отраженного от контролируемого объекта 5, н фотоэлектрический...

Номер патента: 600387

Опубликовано: 30.03.1978

Авторы: Абен, Бросман, Каплан

МПК: G01B 11/16

Метки: кубической, монокристаллов, напряжений, образцах, поляризационно-оптический, сингонии, цилиндрических

...=Сг+ С 4 (х 1+ г 1+ С 4 ХС 4 - СХ (х 1+ г 1)1+ (х 1 - г 1) бй. (13)После интегрирования последнего выражения получим линейную систему уравнений дляопределения коэффициентов С 2, С 4, Сб,СгРг(х)+С 4 Р 4(х,1) + .С 4 - С,",1 ХГ - 6(5) 55 где хх у 111 1 (6)60Если измерить разность ходами(х) притзначениях координаты х, т. е. при х;=1, 2 , то из соотношения (4) получим линейную систему уравнений для определения коэффициентов а 0 а 2 а 4 а 2 п 65 21 а - / 61 - Х 111(16) дающем с одной из двух кристаллографических осей 100 или 001 образца. Измеряют по всему. диаметру образца суммарную разность хода излучения, прошедшего через излучения, прошедшего через образец, Лналогично проводят измерения при просвечивании образца под углом Р к оси г в...

Номер патента: 605078

Опубликовано: 30.04.1978

Авторы: Миркин, Толкачев

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, непрозрачных, паст

...по расположению и форме зерен образца, определяют деформацию.Недостатком известного способа является его невысокая точность и сложность определения деформаций, определяемые слабой контрастностью зерен образца при его осве-,:щении.Целью изобретения является повышениеточности н упрощение определения деформа 5 цийДля этого по предлагаемому способу приизготовлении образца его насыщают игольчатыми кристаллами из вещества, оптическиесвойства которого не идентичны оптическим10 свойствам пасты.Способ осуществляют следующим образом,Изготавливают образец из глинистой пасты и насыщают его игольчатыми кристаллами антрацена, обладающими в отличие от15 глинистых паст свойством люминесценциипод действием ультрафиолетового излучения.Освещают...

Номер патента: 605079

Опубликовано: 30.04.1978

Авторы: Коваленко, Николаев, Ткачев

МПК: G01B 11/16

Метки: полосы-изохромы, порядка, целого

...10 1 2 3 4 5 б 7 8 9 )10 0,82 1,64 2,46 3,38 4,11 4,93 5,75 6,59 7,40 8,22 9,04 19,85 )10 1,22 2,44 3,64 4,88 6,09 7,30 8,52 9,75 )10 1 2 3 4 5 б 7 8 9 )10605079 Таблица 4 Величина целого порядка полосылг ЛЗиг (Лг)1 1 0 0 0 0 0 0 2 1 1 0 0 0 0 0 0 0 1 1 0 0 0 0 0 0 0 0 1 1 2 1 0 О 1 0 1 1 1 1 0 0 1 0 1 1 1 1 0 0 0 0 1 0 1 1 0 01 0 0 0 1 1 1 1 0 О 1 0 0 0 1 1 1 0 0 0 0 0 1 0 0 1 1 1 1 0 0 0 0 0 1 1 0 1 0 0 1 0 0 1 0 0 1 1 1 0 0 0 0 1 2 1 1 0 О 0 0 0 1 0 0 1в(Лг)= 30 2 1 0 0 0 1 1 О 1 1 1 1 0 0 0 0 1 1 1 0 0 0 1 0 0 1 0 0 1 0 35 40 1 0 0 0 1 1 0 0 1 1 1 0 0 1 0 0 0 0 1 1 1 1 О 0 1 0 0 0 1 1 1 0 1 1 0 0 0 0 1 1 1 11 0 0 0 0 0 2 1 1 1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 01 00 10 01 0аг (Л 1)=0 0 0 0 0 О 0 0 1 1 1 1 0 0 0 0 0 0 2 1 2 1 0 0 0 0 0 1 1 1 1 1 0...

Номер патента: 615358

Опубликовано: 15.07.1978

Авторы: Кытина, Обухов

МПК: G01B 11/16

Метки: оптических, порогов, разрушения

...разрушениялементов из оптических материалов. сущест ф ул а и об ре Способ определния оптических мася. в том, что обра еля Изобре но кчения поро ра рущ ия ою териалов.Известен способ определения порогов разрущеиия оптических материалов, заключающийся в том, что образец облучвют когерентным световым излучением и по состоянию образца определяют пороги раз: рушения 1.Недостаток известного способа в раз- рушении объекта исследования. Кроме того, из-зв технологического разброса свойств материала по образцу данные о величине порога разрушения локальной области образца не являются репрезентативными для всего образца или всей партии образцов.Цель изобретения - о вление не- разрушающего контроля порогов разрушения онтнческих материалов.Это...

Номер патента: 624110

Опубликовано: 15.09.1978

Авторы: Тагиев, Якубов

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, криволинейных, поверхностью, тел, электропроводной

...устройство не обеспечивает возможности измерения деформаций криволинейных тел с малым радиусом кривизны поверхности.Наиболее близким к изобретению по технической сущности и достигаемому ре а зультату является устройство для измерения деформации криволинейных тел, содержащее светящийся отраженным светом растр,.наносимый на контролируемое тело, оптическую систему в виде волокон- зй ного световода, форма одного конца которого соответствует форме контролируемой поверхности тела, и экран с эталонным растром 2. Опнвхо хонструхпня етого устройства сложна яэла необходимости 2 в я световода из многих волокон, орых находятся на поверхности, нтной поверхности контролируеобретения - упрощение конструкства.62411 0 ИИПИ 87/3 иал ПП нтск, г. Ужгород,...

Номер патента: 627315

Опубликовано: 05.10.1978

Авторы: Пенькова, Фролов

МПК: G01B 11/16

Метки: оптико-механических, оптически, характеристик, чувствительного

...второй образец с другими размерами по сравне.нню с размерами первого образца, полимерн.зуют второй образец по режиму, соответствующему режиму первого образца, и по соотношео нию порядков полос в образцах определяют коэффициент Пуассона,Сущность способа показана на примере определения коэффициента Пуассона в цилиндри.ческих образцах.5 В металлических формах в виде цилинд.ров отливают два цилиндрических образца свнутренними отверстиями различных диаметров,Полимериэуют их по идентичному режиму приповышенной температуре, после чего образцы20 постепенно охлаждают до комнатной температуры.")(";,)-")".;)".,11 иЬ - наружные радиусй первогоцилиндрических образцов;О- радиусы внутренних отверстий и вто и ндросрезов;Ф 1 и 1 тг - порстоянии г 1 и 1...

Номер патента: 630525

Опубликовано: 30.10.1978

Авторы: Бахтадзе, Джавахидзе, Кереселидзе, Схиртладзе, Убирия

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, полых, ударных, эластичных

...позволяет обеслечить,измерение объемного раоп 1 ределения ударных деформаций полых эластичных изделий. Успройство для измерения ударных деформаций полых эластичных изделий по 45) Дата опубликования Изобретение отчосится к иэмерительныщ устройстваи, используемыгм для измерения ударных деформаций полых эластичных изделий,По основному авт. ов. Ло 189208 известно устройство для измерения ударных деформаций полых эластичных изделий, содержащее датчики деформации, выполненные в ваде светаводов из стекловолокна, исоедовненные с ними регистрирующие прибо 1 ры.Однако известное устройство .не позволяет измерять объемное раоцределение деформаций в процессе удара, так как датчики деформации .измеряют суммарную де дформацию.Целью...

Номер патента: 630526

Опубликовано: 30.10.1978

Авторы: Гладырь, Дмитренко, Ивлиев, Лаптев, Паншин, Подпалый, Станкевич

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, измерений, объекта

...полос на базовом элементе через у- ругий элемент с полосами,в исследуемой зоне объекта, а номер полосы определяют путем отсчета по интерференцтванным лолосагм на базавам элементе,Изобретение поясняется чертежом.Исследуемую зону объекта 1 соединяют упругим элементом 2 малой жесткости, наСоставитель Б.Текред А. Камь ст ато Корректор И. Симкина О. рк кова едак Подписноеткрытий Заказ У 401146 Изд.681 Тираж 850НПО Государственного комитета СССР по делам изобретенийМосква, Ж, Раушская наб., д, 4/5 ип. Харьк. фил. пред. Патент лример,фо.чьгой, с базовьи э чементом 3, восле чего,в системе реписпрацнгл голопрамРмы 4 реги(сприруют гочопрамиу яенапруженного объекта 1, упругого элемента 2 и базового элемента 3. Затем напруРкают объект 1...

Номер патента: 632898

Опубликовано: 15.11.1978

Автор: Антропов

МПК: G01B 11/16

Метки: образцов, удлинения

...расположены на каждой каретке по разные стороны относительно оси захватов.На фиг. 1 изображено предлагаемое устройство; на фиг. 2 - схема расположения меток на образце.Устройство содержит корпус 1 с направляющими 2, два захвата для крепления образца (на фигурах не изображены), две каретки 3, 4 со следящими приводами 5, 6, установленные на направляющих 2, четыре осветителя 7 - 10, размещенные на каретках, две пары фоторезисторов 11, 12, попарно закрепленных на соответствующих каретках и подключенных к цепям управления привода, и метки 13, 14 в виде темных и светлых прямоугольников, располагаемые на границах измерительной базы образца в632898 г.2 итель А. ПеО. Луговая30итета Совений иРаушскаяУжгород,Состав Техред Тираж 8 ственного ком...

Номер патента: 636475

Опубликовано: 05.12.1978

Авторы: Дверес, Евтратов, Пригоровский

МПК: G01B 11/16

Метки: изделии, напряжений, поляризационно-оптический, температурных

...соответствующей температурному полю модели. Г 1 олученные таким образом форма и размеры элементов соответствуют решению задачи термоупругости Лля разделенной на элемен ты модели.Исходя из решений задач термоупругости для модели и ее отдельных элементов, видим, что необходимым условием совмещения этих элементов в сплошную модель является устранение разрывов свободных тем 15 пературных перемещений в стыках отдельных элементов. Этот результат не зависит от сжимаемости или несжимаемости материала модели. Однако в последнем случае деформирование элемента для совмещения с сосед ними элементами необходимо выполнить без изменения его объема.Так как решение задачи термоупругости для сплошной модели считается неизвестным, то нельзя...

Номер патента: 637702

Опубликовано: 15.12.1978

Авторы: Егоров, Шорр

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, поверхностных

...способа являются низкая ОЧТ и разрещакхдая способность, НЕВОСР,ОЖНОСТЕ ПОЛУЧЕ 1 ТЬ ДОСТ ную картину распределения по ц е фо 1; 1 тн и йа 1 более близким к изобретению является способ Определения поверхностных деформаций деталей, залючающщся в том, что на поверхность детали наносят меки. ИИ 1 рукают деталь, регистрируют карсину распределения физических парамет ров меток многостропым сканированием повевхпости детали электроннолучевым устдейством и по заре Гистрированным ре ся его низкая тОчнОсть н разреспособность,5 Бель изобретения - повьнпенне точности и разрешающей способности определения поверхностных деформаций деталей.Бель достигается тем, что метки формируют наесенеем равномерного слояпьезоактивного вещества с...

Номер патента: 637703

Опубликовано: 15.12.1978

Авторы: Резников, Сегаль

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций

...ПОлос, затем изготав,п 1 вают изображение деформированного растра в другом масштабе, сов мещают его с исходным изображением и регистрируют картину муаровых полос,637703 Составитель Б, ЕвстратовРедактор И, Шубина Техред 3. Фанта Корректор П, Макаревич Заказ 7096(33Тираж 830 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Б, Раушская наб д. 4/5филиал ППП фПатент", г, Ужгород, ул, Проектная, 4 Способ осуцествляют следующим образом,На исследуемый объект наносят растрсетку ), деформируют его, фотографируютдеформированный растр и на полученноенегативное изображение наносят, например, царапанием, полярную систему координат, и получают позитивное изображение. Затем совмещают...

Номер патента: 638843

Опубликовано: 25.12.1978

Авторы: Евтихеев, Кондратьев, Пастушков, Полев, Рожков, Сентюрин

МПК: G01B 11/16

Метки: диэлектрических, изделиях, механических, напряжений

...йзмсряют и; тецсцяцость зеркально Отраженной комп центы. ОдцовременнО с помон)ьк) я Г1 О приемника излучения и НОЛЕпр 03)я 1 цогс) 1)1- яжателя, )(стан)влеццЙГО ця ц) ц црохою известного способа являет- точность из-за изменения ктеристик поверхности изде нанесения дополнительного и чувствительногоматернНедостатком ся его невысока прочностных хар лия в,результате слоя из оптичес ала. Наиболее близким по технической су)пиоси к предложенному изобретеню )Влется пособ Определения механических напряжений в изделиях из диэлектрических матеиалов, заключаю)цийся в том, что облу. ают поверхность изделия модулированным онохроматическнм линейно.поляризованым электромагнитным цзлуением, нзме) Авторы Н, Н. Евтихиев, Б А, 1",.;т.с-., А, .л тялтг)Ков,...

Номер патента: 654851

Опубликовано: 30.03.1979

Автор: Гитерман

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций

...определяют деформацию 11.15Наиболее близким по технической сущности к предложенному техническому решению является способ определения деформаций детали, заключающийся в том, что на исследуемую и эталонную детали наносят 20 сетки в виде нерегулярного растра, прикладывают к исследуемой детали нагрузку, фотографируют обе детали, накладывают один негатив на другой, перемещают их один относительно другого и определяют деформацию по отношению величин перемещений (скоростей) негатива сетки исследуемой детали и образующегося муарового пятна 2.Недостатками указанных способов явля- ЗО ление деформаций по данному производят по образующейся наПодписиоткрытий Заказ 314/13 Изд.258 Тираж 865НПО Государственного комитета СССР по делам изобретений113035,...

Номер патента: 659893

Опубликовано: 30.04.1979

Автор: Медведев

МПК: G01B 11/16

Метки: напряжений, образце, оптически, плоском, чувствительного

...К сои 0 Плоский образец 14, перемещают со скоростью Р и освещают пучком монохроматического света, идущего от одночастотного оптического квантового генератора 1 через светоделительную пластинку 2. Пучок света, отраженный от внутренней поверхности напряженного образца 14 и испытанший двулучепреломленис, выделяют с помощью диафрагмы 3 и поступает на плоскопараллельную пластину из исландского шпата 6, Плоскопараллельная пластинка 6 разделяет обыкновенный Е и необьпсновенный Е," измерительный пучки. Обыкновенный и необыкновенный измерительные пучки, отразившись от зеркала 8, поступают на полупрозрачную светоделительную пластинку 9. Одновременно пучок света, отразившись от светоделительной пластинки 2, поступает на плоскопараллельную...

Номер патента: 659894

Опубликовано: 30.04.1979

Автор: Щербаков

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, объектов, прозрачных, тонкостенных, формы

...от носительно плоскости, перпендикулярнойоптической оси и проходящей через место закрепления объекта в узле нагружения.Суть изобретения поясняется чертежом,где на фиг, 1 представлена схема устройства; на фиг. 2 - вид по стрелке А на фиг. 1,Устройство содержит расположенные наодной оптической оси идентичные цилиндрические экраны 1 и 2 с нанесенными на них вдоль образующей полосами линейного растра, фотоаппараты 3, размещенные за отверстием в центре экранов 1 и 2 и узел 4 нагружения ооъекта 5. Экраны 1 и 2 размещены симметрично относительно пло659894 Р,(г Редактор Л. Гольд Составитель Е. Подпал ректоры: Л. Орлова и И. Позняковская Изд, М 274 Тираж 865 венного комитета СССР по делам изобретений 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д....

Номер патента: 669183

Опубликовано: 25.06.1979

Авторы: Буйновский, Ларин

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, образца

...сдвигают деформированные растры, измеряют сдвиг муаровой полосы,по которым определяют деформацию образца.Сущность способа заключается в том,что на поверхность образца, напримердиаметром 50 мм наносят растр шагом0,4 мм. Образец обжимают на величину6. Полученный растр фотографируютпосле деформации, затем путем фотографирования изготовляют копии деформированного растра, накладывают их однуна другую и сдвигают одну копию относительно другой на 0,05 мм, В результате сдвига появляются муаровые полосы, Фиксируют положение этих полос иизмеряют между ними расстояние.Затем дополнительно сдвигают однукопию относительно другой на величи.Заказ 3645/31 Тираж 86 5 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий...

Номер патента: 672477

Опубликовано: 05.07.1979

Авторы: Дверес, Евстратов

МПК: G01B 11/16

Метки: изделии, напряжений, поляризационно-оптический

...изготавливают из него соответствующий элемент, а после "размораживаниянапряжений модели ее поверхность на6724774объемных напряжений для произвольныхраспределений объемных сил в конструкциях сложной формы на моделях из замораживаемогоф материала, Моделированиепо предложенному способу во многих случаях эффективнее поиска аналитическихрешений задач теории упругости и численных расчетов на ЭЦВМ,Заказ 38744 одпис краж жгород, ул. Проектная пиал ППП "Патент жают давлением обьемных сил и "замораживают" напряжения от них,Чертеж иллюстрирует способ.Сущность способа заключается в томчто заданную систему обьемных сил Р(ку2 ) заменяют статически эквивалентной системой с теми же объемными.силами Р и давлением объемных сил Рф(х, у, ф),...

Номер патента: 684300

Опубликовано: 05.09.1979

Авторы: Резников, Сегаль

МПК: G01B 11/16

Метки: муаровых, полос

...на поверхность изделия наносят растр, деформируют изделие и получают картину муаровых полос путем сравнения с эталонным растром, накладываемым на поверхность изделия 12.Недостатком известного способа является невысокое качество картины муаровых полос из-за невысокой точности совмещения растров. Целью изобретения является повышение качества картины муаровых полос.Указанная цель достигается тем, что эталонный растр наносят на поверхность изделия.Способ осуществляется следующим образом. На поверхность исследуемого изделия механически или фотоспособом наносят растр, деформируют изделие, наносят на поверхность изделия эталонный растр и получают картину муаровых полос. Точное совмещение растров путем использования одной и той же системы...

Номер патента: 693108

Опубликовано: 25.10.1979

Автор: Бугаенко

МПК: G01B 11/16

Метки: напряжений, поляризационно-оптический

...Напряжения вызываются несовместными деформациями; если деформации совместные, они не вызывают напряжений. Два поля дефор маций е и Я, обладающие одинаковой несовместимостью, вызывают одинаковые напряжения, т,е. являются эквивалентными по напряжениям. Поэтому в элементах модели не обязательно создавать заданные деформации е, а можно создавать эквивалентные им по напряжениям деформации Е, Если последние подобрать так, чтобы они не содержали шаровой части, их можно будет создать в несжимаемом материале, Этим требованиям удовлетворяют деформации: а 1 х =ец(м+ 4 % ЧЙТу,йч Й,=1 дя,где Ч - объем испытуемой модели;х,у - вектор-радиусы точек, соответственно,текущей и интегрирования;МЯ - операторы ковариантного дифференцирования,Сцособ...

Номер патента: 696281

Опубликовано: 05.11.1979

Автор: Щербаков

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, пластин, формы

...во времеи формхмации пластин из-за цеобходцмостго фотографирования.Целью изобретения является повышение производ.тельости и точности измерений.Поставленная цель достигается тем, что устройство снабжено плоским цолуцрозрачцым зеркалох 1, рдсцложен 1 кулярно оптической осц междх .1 ср 11 тсль 1 ых Зеркалм, в,1 з тц последнегоНа чертеже показа н д опт устройства.Устройство содержит экрд цым нд цсго растром, фог 1 ш мешеный зд отверстием в и узел 3 нагруженця исследуем закрепленное на поверхност 11 пластины. Устройство работает следуюпи м образом.Растр с экрана 1 цри еготрдженцц т поверхности измерительного зеркдла 6 фиксируется фотоаппаратом 2. Одновреме 1 ц 1 изображение опорного растра, отражене от цедеформируемго полуцрозрдчцогзеркала...

Номер патента: 697808

Опубликовано: 15.11.1979

Автор: Деревщиков

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, оболочек, тонкостенных, цилиндрических

...устройство снабжено собираошим объективом и дополнительной диафрагмой, выполненной в виде кольцевой пластины, которые размещены между формирующей диафрагмой и фотоумножителем.На чертеже изображена исследуемая модель в разрезе и оптическая схема измерения,Устройство содержит последовательно размеценные вдоль оптической оси точечный источник света 1, коллимирующий объектив 2, формирующую диафрагму, выполненную в виде кольцевой пластины 3 и расположенной концентрично внутри пее дисковой пластины 4. Устройство содержит также оптическое окно 5, оболочку 6, собирающий объектив 7, дополнительную диафрагму 8, выполненную в виде кольцевой пластины, объектив 9 и фотоумножитель 1 О.Точечный источник света 1, которым может быть промежуточное...

Номер патента: 702242

Опубликовано: 05.12.1979

Авторы: Резников, Сегаль

МПК: G01B 11/16

Метки: образца, пластического, скоростей, течения

...ЦНИИПИ Государственного ком по делам изобретений и откр 113035, Москва, Ж, РаушПатент, Г. Ужгород, ул. Проектная, 4 иал 3 7022Н чертеже в увеличенном масигзабе приведена часть линейного растра с переменным шагом.Сущность способа заключается в том, что образец для исследованияосесиммет ричного стационарного пластического течения, имеющий форму, например, цилиндра, разрезают на две половины по диаметральному сечению; На плоскость разъема образца наносят, например, фоО тохимическим способом линии растра параллельно оси симметрии образца с величиной шага между ними, уменьшающейся от оси и определяемой по формуле15г -г.,где Р - величина шага между соседними линиями растра;- расстояние и-й линии от оси;С - константа, определяющая частоту линии...