G01B 11/16 — для измерения деформации твердых тел, например оптические тензометры

Номер патента: 1137294

Опубликовано: 30.01.1985

Авторы: Мигаль, Науменко, Рвачев, Чугай

МПК: G01B 11/16

Метки: напряжений, объекте, остаточных

...напряжений в объекте, заключающемуся в том, что объект освещают моно- хроматическим пучком света и по изменению характеристик объекта определяют напряжения, объект помещают в переменное электрическое поле, регистрируют зависимость тангенса угла диэлектрических потерь объекта от частоты оля в ненагруженном и нагруженном состояниях, находят разность полученных зависимостей, устанавливают частоту электрического поля, соответствующую максимуму в значении разности полученных зависимостей, сканируют 55 объект пучком света с длиной волны, соответствующей примесной фоточувствительности материала объекта, одновременно со сканированием измеряют тангенс угла диэлектрических потерь объекта в ненагруженном и нагруженном состояниях, а в качестве...

Номер патента: 1137295

Опубликовано: 30.01.1985

Авторы: Агзибеков, Кузнецов, Никифоров, Серьезнов, Шашурин

МПК: G01B 11/16

Метки: оптико-электрический, тензодатчик

...световода, плоскости поляризации фазосдвигающих пластинок диаметрально расположенных световодов перпендикулярны, а тензодатчик 50 снабжен мажоритарным анализатором, к каждой ячейке которого подключены два фотоприемника, установленные на выходе двух диаметрально расположенных световодов. 55На фиг. 1 изображена конструктивная схема оптико-электрического тензодатчика, на фиг. 2 - сечение 295 2А-А на фиг, 1 (соединениетензодатчикас мажоритарным анализатором),Оптико-электрический тензодатчиксодержит источник 1 света и расположенные по ходу светового пучка излучающий световод 2, поляризатор 3,фотоупругий чувствительный элемент4 и измерительный канал, выполненный в виде четного числа приемныхсветоводов 5 с фа.эосдвигающими пластинками...

Номер патента: 1147927

Опубликовано: 30.03.1985

Авторы: Нагибина, Хопов

МПК: G01B 11/16

Метки: вектора, диффузно, объектов, отражающих, смещения

...излучения, прошедшего отклоняющий элемент 4 и отраженного от интерферометра, блок 10 обработки сигналов, входы которого электрически связаны с выходами приемников 3, 8 и 9, дифракционные решетки 6 и 7 установлены с возможностью одновременного относительного перемещения в направлении, перпен. дикулярном к штрихам решеток в плоскости расположения этих штрихов, и в направлении, перпендикулярном к этой плоскости дифракционные решетки 6 и 7 установлены под углом Брэгга к оптической оси устройства, а спекл-Фотографии 2 и 5 ориентированы так, чтобы их плоскости были параллельны плоскостям дифракционных решеток 6 и 7.Устройство работает следующим образом,Источник 1 когерентного излучения освещает спекл-Фотографию 2. Для того, чтобы...

Номер патента: 1157351

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Верещагин, Першина, Стрелков

МПК: G01B 11/16

Метки: образца, объемной, оптически, полимерного, сжимаемости, чувствительного

...в полимерной частиобразца, который принимают в качестве деформационной характеристики,На фиг.1 показана схема нагружения образца для определения объемной сжимаемости оптически чувствительного полимерного материала;.на фиг.2 и фиг.3 - фотографии картин полос в продольных и поперечныхсрезах двух образцов; на фиг,4 -зависимость от радиуса разности кольцевых и радиальных напряжений в полимерной части образца.Способ осуществляется следующимобразом,С применением метода точноголитья образец 1 (фиг.1) выполняютсоставным из полимерной (эпоксидный компаунд ) и металлической частейв виде толстостенного цилиндра,полимеризуют оптически чувствительную часть образца по режиму, который обеспечивает в составном образце нулевые...

Номер патента: 1158859

Опубликовано: 30.05.1985

Авторы: Блохин, Кернес

МПК: G01B 11/16

Метки: деформации, изгиба

...4Устройство содержит световодныйканал 1, закрепленный.на исследуемойконструкции, источники 2 и 3 света,расположенные внутри канала 1, и 50светоприемник.4, закрепленный иаодном иэ торцов канала 1; Каждыйисточник. 2 и 3 света снабжен свето.фильтром 5 и б, а светоприемник 4выполнен в виде матрицы фотоэлементов 7 и 8, каждый иэ которых имеет. свой диапазон длин волн принимаемогоизлучения, совпадающий с полосой 59, гпропускания соответствующего светофильтра 5 и 6 источника 2 н 3 света,. Источник 2. света содержит. лампочку 9 и отражатель 10, а источник 3 света, расположенный в средней части канала 1, содержит лампочку 11, отражатель 12 и зеркало 13, закрепленное на кронштейне .14, Схема обработки поступающей информации содержит...

Номер патента: 1161820

Опубликовано: 15.06.1985

Автор: Манза

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, объекта

...сеток 23 .Однако при реализации известного способа картины муаровых полос, соот-ЗО ветствующие различным сеткам, Получаются наложенными одна на другую и слабоконтрастными, что затрудняет их обработку и приводит к снижению точности получаемых результатов, 35Цель изобретения - повьппение точности путем улучшения контрастности изображения.Указанная цель достигается тем, что согласно способу определения де- ф Формаций объекта методом муара, заключающемуся в том, что на поверх- ность объекта наносят первый растр, Фиксируют его изображение на Фотопластинке, деформируют объект, вновь Фиксируют деформированный растр на той же Фотопластинке, анализируют полученную картину муаровых полос и определяют деформации объекта, на поверхность первого...

Номер патента: 1161821

Опубликовано: 15.06.1985

Авторы: Карташов, Кузнецов, Малык, Николайчук

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций

...цель достигается тем, фчто в устройстве для,измерения деформаций, содержащем корпус, размещенные в нем измерительное приспособление с поворотной осью и расположенные последовательно вдоль направ- ффления, параллельного упомянутой оси,источник света, диск с отверстиями,равномерно расположенными по дкружности, насаженный на поворотную осьизмерительного приспособления, штор" фОку и фотоэлементы с регистратором,отверстия в диске объединены в группы, а величина отверстий в каждойгруппе различна и возрастает по порядку их следования,ЯНа фиг. 1 показана схема устройства; на фиг. 2 - осциллограмма импульсов тока на выходе устройства Устройство содержит корпус, размещенные в нем измерительное приспособление с поворотной осью 1,...

Номер патента: 1163141

Опубликовано: 23.06.1985

Авторы: Гайтельбанд, Грибков, Переяславец

МПК: G01B 11/16

Метки: детали, исследования, напряженного, состояния

...Тираж 651ВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб д. 4/5 Подписное Л Филиал ППП "Патент", г.ужгород, ул,Проектная, 4Изобретение относится к измерительной технике, а именно к способам исследования распределения напряжений в деталях машин, и может быть использовано для исследования напряженного состояния деталей, характеризующихся сложной формой и большими размерами.Известен способ исследования напряженного состояния детали, заклю чающийся в том, что на поверхность детали наносят слой хрупкого тензочувствительного покрытия,.подвергают деталь ступенчатому нагружению, анализируют плотность и направление 15 трещин на покрытии и по этим данным определяют напряженное состояние 11...

Номер патента: 1173179

Опубликовано: 15.08.1985

Авторы: Артамонов, Ефимович, Некрасов

МПК: G01B 11/16

Метки: деформации, исследования, процессе, резанием, снятия, стружки

...осуществляют следующим образом. 15Боковую поверхность режущего инструмента 1, например отрезного токарного резца, полируют до получения высококачественной отражающей поверх-. ности материала, подлежащего иссле дованию. Затем устанавливают режущий инструмент 1 в рабочее положение, например в суппорт токарного станка. В зажимном приспособлении станка закрепляют заготовку 2, а кинематичес кие цепи станка настраивают для обработки на реальных режимах резания.В процессе обработки заготовки 2 режущим инструментом 1 освещают боковую поверхность последнего пучком ко-З герентного монохроматического излучения от оптического квантового генератора 3, Для получения интерференционной картины, характеризующей геометрические размеры инструмента 1 в...

Номер патента: 1173180

Опубликовано: 15.08.1985

Автор: Евстратов

МПК: G01B 11/16

Метки: конструкции, методом, модели, напряжений, поляризационно-оптическим, температурных

...каждую часть модели выполняют составной из отдельных элементов, которые скрепляют между собой так, чтобы по крайней мере один элемент части ,имел поверхность, совпадающую с соответствующей внешней поверхностью конструкцни, к каждому элементу части модели на все свободные после скрепления поверхности, кроме совпадающей с соответствующей внешней поверхностью конструкции, последовательно приклеивают металлические пластины, каждую при температуре, соответствующей заданному температурному полю модели, начиная с элемента, имеющего минималЬ- ную температуру, а после "замораживания" охлаждают части модели до отсоединения металлических пластин.На Фиг.1 показана конструкция уз ла соединения кронштейна с толстой плитой; на Фиг.2 - схемаразбиения...

Номер патента: 1177659

Опубликовано: 07.09.1985

Автор: Бахтадзе

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, изделия

...устройства; на фиг,2 - разрезЬ-А на Фиг.1; на фиг.3 - вид Б нафиг.1. 1 О1 етррйсРво для определения деформаций изщлия содержит источник 1света, выйолненный в виде импульсного осветителя, полый трубопровод 2,регистрирующее приспособление 3,осветительные гибкие волоконные световоды 4, входные торцы 5 которыхсоединены с источником 1 света, а выходные торцы 6 закреплены на трубопроводе 2, приемные гибкие волоконные световоды 7, входные торцы 8которых закреплены на трубопроводе 2,а выходные торцы 9 соединены черезсветочувствительную матрицу 10 с регистрирующим приспособлением 3. На 25выходных торцах 6 осветительных све"товодов 4 и на входных торцах 8 приемных световодов 7 установлены объективы 11. Выходные торцы 6 осветительных световодов 4...

Номер патента: 1177660

Опубликовано: 07.09.1985

Авторы: Верещагин, Селезнев

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, температуры, фиксации

...11 и,таким образом, усилие предварительного поджатия системы образецпружинный элемент увеличивается,Образец 5 замыкает пружинный контакт2 и удерживает его в замкнутом состоянии модель 7 и образец 5 помещаютв термошкаф 6, температура в которомустанавливается программным механизмом О с помощью датчиков 8 и нагревателя 9, Охлаждают вместе модельи образец по идентичному темпера:турному режиму,ный внутрь образца и сжатый вместес образцом, компенсирует это уменьшение и обеспечивает замыкание пружинного контакта 2 до тех пор, покав процессе охлаждения материал. образца не перейдет в стеклообразноесостояние. При этом жесткость образца возрастает, а его деформациификсируются, Усилие поджатия пружинного элемента воспринимается стеклообразным...

Номер патента: 1185074

Опубликовано: 15.10.1985

Авторы: Игнатьев, Чигорко

МПК: G01B 11/16

Метки: деформации, образца, поверхности

...большие,чем размеры контрольного растра.85074 Составитель Б.ЕвстратовТехред М.Надь Корректор М,Самборская Редактор С.Лисина Заказ 6347/32 Тираж 650 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Филиал ППП "Патент", г.Ужгород, ул.Проектная, 4 1 11Изобретение относится к исследованию деформации конструкций оптическими методами,Цель изобретения - повышение точности определения деформаций.На чертеже приведена схема реализации предлагаемого способа,На чертеже приняты следующиеобозначения; поверхность 1 образца;образец 2; контрольный недеформируемйй растр 3; предварительно растянутая упругая прозрачная пленка 4; рабочий растр 5. Способ определения деформации...

Номер патента: 1185075

Опубликовано: 15.10.1985

Авторы: Алпаидзе, Макаренков, Михеев, Юдин

МПК: G01B 11/16

Метки: методом, модель, напряжений, поляризационно-оптическим, температурных

...методом,Цель изобретения - расширениефункциональных возможностей. 5На чертеже показана схема предлагаемой модели для определения температурных напряжений,На чертеже приняты следующиеобозначения: коаксиально сопряженные кольца 1 отверстия 2 в кольцах,датчики 3 температуры; внешние нагреватели 4, внутренние нагреватели 5;переключатель 6; источник 7 электрического тока; усилитель 8; блок 9 15сравнения. Модель содержит ряд коаксиально сопряженных колец 1, выполненных из оптически чувствительного материала и имеющих различные оптико-меха 20 нические характеристики. В каждом кольце 1 по радиусу модели в цилиндрических отверстиях 2 установлены датчики 3 температуры, напримерхромель-копелевые термопары. Отверс 25 тия 2 с датчиками...

Номер патента: 1188527

Опубликовано: 30.10.1985

Авторы: Ковров, Мошев

МПК: G01B 11/16

Метки: детали, напряжений, полимерного, прозрачного

...Г.Решетник Редактор Е. Копча Заказ б 732/40 Тираж 650 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4 1 1Изобретение относится к исследо-. ванию напряжений в деталях конструкций оптическими методами.Цель изобретения - повышение экспрессности способа при определении максимальных напряжений во всем объеме детали.Способ осуществляется следующим образом.Деталь, изготовленную из прозрачного термопласта сополимера бутили метилметакрилата, нагревают до температуры стеклования материала, нагружают до помутнения материала. При температуре стеклования материал мутнеет в первую очередь в зонах действия максимальных напряжений,...

Номер патента: 1193460

Опубликовано: 23.11.1985

Авторы: Колпаков, Чернов, Шумилов

МПК: G01B 11/16

Метки: образце, репер

...2 - сечение А-А. на фиг. 1;на фиг, 3-5 - узел 1 на фиг. 2, варианты выполнения репера.Способ осуществляют следующимобразом.Формируют на обоих концах, образца 1 полости в виде удлиненных каналов на его поверхности с продольной осью, перпендикулярной оси образца 1, помещают в полость стержни 2, выполненные из жаростойкихэлектропроводных материалов, закрепляют их заподлицо с поверхностьюобразца 1, к концам 3 стержней присоединяют проводники 4. Стержни 2могут быть выполнены с переменнымсечением, имеющим утончение 1,фиг. 3 )или утолщение фиг. 4 ) в среднейчасти, что обеспечивает переменнуюпроводимость электрическому токувдоль их длины, а также могут бытьвыполнены составными из материалов) с различными термоэлектрическими свойствами и к их...

Номер патента: 1193461

Опубликовано: 23.11.1985

Авторы: Першина, Петухов

МПК: G01B 11/16

Метки: конструкциях, напряжений

...впорядке убывания модулей упругостиее частей, Для этого,эпоксидный компаунд заливают в технологическуюформу, которая повторяет,конфигурацию части, имеющей наибольший модульупругости. Перед этим изготавливаютпутем заливки в формы и полимериза.- ции образцы-спутники, выполненные,например, в виде двухсторонних лопаточекИх выдерживают предвари тельно до резиноподобного состояния разные промежутки времени, затем . каждую лопаточку нагружают и отверж" дают 10 сут. После выдержки в тече-.ние трех сут для каждой лопаточкиопределяют ее модуль упругости, величины которых приведены на чертежеи строят график 4 зависимости отношения модулей двух частей модели от разности времени начала полимеризации этих частей до момента нагружения.Зная отношение...

Номер патента: 1196687

Опубликовано: 07.12.1985

Автор: Деревщиков

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, оболочек, цилиндрических

...оптическими методами.Цель изобретения - повышение точности определения деформаций при боль-,5ших скоростях деформирования оболочек.На чертеже показана схема устройства, реализующего предлагаемый способ, 10Устройство содержит внутреннююполость оболочки 1, резиновые прокладки 2 - 5, оптические прозрачныепластины 6 - 8, точечный источник 9света, коллиматор 10, кольцевую диафрагму 11, собирающий объектив 12,круглую диафрагму 13, окуляр 14, фотоумножитель 15, индуктор 16, втулку 17,Изобретение осуществляется следующим образом.Внутренняя полость цилиндрической оболочки 1 с помощью резиновыхпрокладок 2-5 и оптически прозрачныхпластин 6-8, одна из которых (7) имеет отверстие, герметизируют и вакуумируют до величины давления внутриоболочки 1,...

Номер патента: 1199939

Опубликовано: 23.12.1985

Автор: Кулаков

МПК: E21C 39/00, G01B 11/16, G02B 27/28 ...

Метки: датчиках, картины, наблюдения, оптической, скважинных, фотоупругих

...пластинки 16совмещена с оптической осью поляроида 12, а последняя установлена по визиру 24. В этом положении системаполяроидов 12 и 16 полностью пропускает свет,При работе рассматриваемое устройство совместно с источником 29света 1 фиг. 4) размещают перед устьемскважины 30 с датчиком 31, Луч светаот источника 29 света проходит черездополнительную поляроидную пластинку16, поляроид 12, четвертьволновуюпластинку 8, попадает в скважину 30и фотоупругий датчик 31. Пройдя поматериалу датчика 31 и отразившисьот зеркального слоя 32, нанесенногона заднюю торцовую поверхность датчика 31, луч возвращается назад, повгорно проходит по материалу датчика31, далее по скважине 30 попадаетв анализатор 2, проходит через четвертьволновую пластинку 23...

Номер патента: 1201680

Опубликовано: 30.12.1985

Автор: Митрофанов

МПК: G01B 11/16

Метки: длинномерных, непрямолинейности, объектов

...объектов,с комлевой частью.:Н фиг. 1 схймати 4 ески изображен снъект контрол с установленными на нем визирной .грубой и целевым знаком; на фиг. 2 - оптическая схема измерений.Способ осуществляется следующим образом.На консольно закрепленной длинно- мерной балке 1 с комлевой частью устанавливают визирную трубу 2, а на другом конце балки 1 - целевой знак 3. Центр перекрестия сетки целевого знака 3 точку "0" совмещают с оптической осью визирной трубы 2. Нагружают балку 1 в месте установки целевого знака 3 в направлении, перпендикулярном оси трубы 2, и измеряют смещение целевого знака 3 в направлении нагружения, замеряют величину линейного смещения целевого знака 3 на сетке визирной трубы 2На основании полученных данных по известной...

Номер патента: 1216642

Опубликовано: 07.03.1986

Авторы: Богатыренко, Денисенко

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, конструкции

...6 фокусировки предназначендля Фокусирования иэображении крестообразных марок с полупрозрачныхзеркал 3 на модулирующуо диафрагму11 и представляет собой либоф узел со сменными линзами, либо узелс линзой, перемещающейся вдоль оптической оси, В обоих случаях сменалинз или ее перемещение осуществля"ется электромеханическим исполнительным устройством (не показано),которое управляется сигналом с выхода блока 9 коммутации,Блок 9 коммутации обеспечиваетциклическую последовательную комму 50 тацию напряжений питания источников1 света, датчиков 2 , коммутациюсигнала, управляющего электромеха,ническим исполнительным устройствомпоследовательной настройки узла 655 Фокусировки, и последовательнуюкоммутацию сигналов с чувствительного элемента...

Номер патента: 1219916

Опубликовано: 23.03.1986

Авторы: Айвазьян, Коробов, Сазонов

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, образца

...тени, если ожидается утонение испытуемого образца.Если граница свет - тень испытуемого образца в месте ожидаемой деформации не является прямолинейной (испытуемые образцы сложной формы), то используют матричный многоэлементный фотоприемник. В этом случае матричный фотоприемник устанавливают таким образом, чтобы интересуемый участок границы свет - тень попадал в поле зрения матричного многоэлементного фотоприемника.Многоэлементный фотоприемник 8 с помощью юстировочных элементов устанавливают таким образом, чтобы линейка (или одна из линеек) его светочувствительных элементов была строго перпендикулярна границе свет - тень испытуемого образца в плоскости его изображения, создаваемого оптической системой 7. Контроль за юстировкой...

Номер патента: 1224514

Опубликовано: 15.04.1986

Авторы: Замошников, Муринец-Маркевич

МПК: G01B 11/16

Метки: криогенератор

...или бронзы, образующих радиально направленные (вдоль потока рабочего тела) чередующиеся глухие цели 18 и 19, Ребра соединены, например, мягким припоем с корпусом 15.Теплообменник 7 полезной нагруэ" ки (фиг. 3) состоит из корпуса 20 и пористых ребер 21 из теплопроводного пористого материала, образующих чередующиеся глухие щели 22 и 23, направленные вдоль потока рабочего тела Ребра соединены, например, мягким припоем с корпусом 17.Криогенератор работает следующим образом.После открытия впускного клапана 10 рабочее тело заполняет горяную полость 12 и регенаратор 8, в котором рабочее тело охлаждается, и заполняет далее теплообменник 7,15 2 30 35 40 4"мертвый" объем 14, зазор 6 и дополнительный холодильник 5. Осуществляется впуск,...

Номер патента: 1224573

Опубликовано: 15.04.1986

Авторы: Завьялов, Зализовский, Колпаков, Месеняшин, Чернов, Шумилов

МПК: G01B 11/16

Метки: бетона, деформаций, образец, температурных

...повышает точность измерения. 3 ил. С1224573 3образца 1, а затем по мере измененияего температуры, тем же приборомфиксируют изменение расстояния междунаблюдаемыми реперами и по полученнымданным судят о температурных деформациях бетона.При этом репер, обладающий свойством абсолютно черноготела, снижает возможность субъективной ошибки при снятии отсчета оптическим прибором, а следовательно,повышает точность измерения Фо рм ула и зо бр ет ен ия Составитель Т, Николаевадактор А. Огар Техред И.Попович Корректор М. Пожо г 1938/37 Тираж 670ВНИИПИ Государствепо делам изобрет 113035, Москва, Ж,Заказ Подписноного комитета СССРний и открытий ущская наб д роизводственно-полиграфическое предприятие, г. Уж Проектная,1Изобретение относится к...

Номер патента: 1226046

Опубликовано: 23.04.1986

Авторы: Аношкина, Кузнецов, Мельниченко, Мурженко, Недосека, Пархоменко, Швец

МПК: G01B 11/16

Метки: тензодатчика, фотоупругого

...2 мм из оптически чувствительного материала (эпоксидной смолы, поли-. уретанового каучука и т.д.), одну сторону пластины матируют, например, с помощью нулевой наждачной бумаги или тонкой пескоструйной обработки, промывают пластину в проточной холодной воде, обезжиривание осуществляют моющим раствором в ультразвуковой ванне при комнатной температу-. ре, сушат пластину в потоке обеспыленного воздуха при температуре не менее 40 С.Отражающий слой наносят на другую сторону пластины в вакууме методом катодного распыления в системе с плоским магнетроном при 35-40 С. Для этого пластину устанавливают в ячейки подложкодержателя установки для магнетронного распыления так, что гладкая сторона пластины обращена к катоду магнетронного распылитель-...

Номер патента: 1226047

Опубликовано: 23.04.1986

Авторы: Грушко, Лаврентьев

МПК: G01B 11/16

Метки: деформации, остаточной

...и может быть использовано для исследования стабильности линейных размеров материалов после нескольких циклов воздействия температуры.Цель изобретения - повышение точности измерения при многократной смене температур на образце.Достигается эта цель путем обеспечения стабильной базы отсчета линейных размеров измерительным микроскопомНа чертеже представлено устройство с установленными в нем образцами, общий вид.Устройство для измерения остаточной деформации содержит измерительный микроскоп с предметным столиком не показан) ифпромежуточную съемную подложку 1 П-образной формы из ситалла с двумя выступами 2 и 3 на концах. К этим выступам в процессе испытаний закрепляют исследуемые образцы 4 и 5.Устройство работает следующим образом.Перед...

Номер патента: 1226048

Опубликовано: 23.04.1986

Авторы: Качер, Онопко

МПК: G01B 11/16

Метки: внутренних, напряжений, пленках, тонких

...лучасвета от поверхности подложки 3 спленкой 4.Чувствительность устройства М.вследствие кривизны поверхности полу 50прозрачного выпуклого сферическогозеркала 5 возрастает по сравнениюс чувствительностью известного устройства и составляет Р 55"г=о.гс з 1( - +1) 5 ФЧ 1 Г, (ъ) где- угол между падающим и отражающимся от подложки с пленкой лучами света;1 - расстояние от подложки спленкой до полупрозрачноговыпуклого зеркала;К - радиус зеркала;Я - расстояние от выпуклого зеркала до измерительного экрана;Ь - величина перемещения светового луча в предлагаемомустройстве;а - величина перемещения лучав известном устройстве,Величина внутренних механических напряжений пленок определяется по формуле- модуль Юнга подложки; - толщина подложки;-...

Номер патента: 1229569

Опубликовано: 07.05.1986

Автор: Кочкарев

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций

...1, а другой - на свето чувствительном материале 4, двоичный счетчик 6 (фиг.З), выходы которого соединены с источниками 2 света, генератор 7 импульсов, выход которого соединен с входом двоичного счетчика 6, и блок 8 синхронизации, выходы которого соединены с входами генератора 7 импульсов и двоичного счетчика 6. Устройство закрепляют на испытуемом образце 9 по линиям ММ и ММ, расстояние между которыми образует измерительную базу Б, корпусом 1 и стержнем 3.35Устройство работает следующим образом.При испытаниях образец 9 начинает деформироваться и посредством подвижного стержня 3 вытягивает светочувствительный материал 4, который проходит над источником 1 света. В случае, если деформации имеют колебательный характер, пружина 5 возвращает...

Номер патента: 1231401

Опубликовано: 15.05.1986

Автор: Деревщиков

МПК: G01B 11/16

Метки: деформируемого, объекта, перемещения, поверхности, скоростей

...в цвет коротковолнового излучения. С этого момента дальнейшее увеличение скорос 1231 4 О 14 К1+ в взди о/2 Макс то для выполнения условия пропор 35 циональности ширины 3 интерференционного кольца длине волны излучения необходимо, чтобы коэффициент . отражения К был определенным для различных длин волн. В частности, если для длины волны Ф 5145 А В. вы-бран равным 0,90, то для Ъ 4416 А он должен быть равным 0,915, для 6328 А 0,88.. 45Если при этих условиях ширина прозрачных штрихов равна ширине интерференционного кольца для каждой длины волны, то независимо от вели" чины скорости 7, в каждой из трех 50 систем штрихов относительное изменение светового потока будет приблизительно одинаковым, что дает воэможность по изменению цветовой...

Номер патента: 1231402

Опубликовано: 15.05.1986

Авторы: Костандов, Федоркин

МПК: G01B 11/16

Метки: модели, оптически-чувствительного

...открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб , д, 4/5Производственно- полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 Изобретение относится к области исследования напряжений и деформаций в деталях и узлах конструкций поляризационно-оптическим методом.Цель изобретения - повышение точности путем обеспечения фиксации напряжений от нагрузки в материале модели.Способ осуществляют следующим образом,Смешивают фотожелатин с водой, нагревают,его до полного растворенияв воде (65-80 С), заливают в форму,охлаждают до образования студня,извлекают из формы и изготавливаютиз сформированного студня модель,Затем нагружают модель йри помощинагрузочного устройства нагрузкой,не превышающей 0,05-0,5 МПа при сжатии и 0,01-0,1 МПа при растяжении,Далее...