G01B 11/16 — для измерения деформации твердых тел, например оптические тензометры

Страница 5

Устройство для измерения деформаций диффузно-отражающих обьектов

Загрузка...

Номер патента: 487297

Опубликовано: 05.10.1975

Авторы: Власов, Пресняков, Проценко, Смирнова

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, диффузно-отражающих, объектов

...и выполненного в виде непрозрачного экрана 7 с отверстцямц Я - 12.Центр отверстия 8 размещен на оптической 15 ссц, центры двух пар отверстий 9, 10 ц 11, 12расположены на взаимно перпендикулярных прямых симметрично относцтельно оптической оси, а центр отверстия 13 - на прямой, проходящей через центры отверстий 11, 12, оим О метрично центра отверстия 12 по отношениюк опверстию 11.Устройство работает следующим ооразом.Исследуемый объект 14 устанавливают вфокальной плоскости линзы 4.25 Лучом лазера 1 через блок формагрованияпучка освещают объект 14. Дефорюгруют объект и снимают интерферограмму. Фильтр пространственных частот имеет отверстие 8, лропускающее пространственную частоту, созо ответствующую зеркальному отражению, две;ары...

Способ изготовления растра на контролируемой поверхности при исследовании деформации твердых тел при высоких температурах

Загрузка...

Номер патента: 493624

Опубликовано: 30.11.1975

Авторы: Гохфельд, Маковецкий, Шелехов

МПК: G01B 11/16

Метки: высоких, деформации, исследовании, контролируемой, поверхности, растра, твердых, тел, температурах

...поверхность и тер 5 особ заключается в сле способом с растра-оригиительную эмульсию на осатается изображение. Состав эмульсии, г:Двухромовокислый аммониСухая глюкозаАльбумин 702 1 нашать эмульси Крный спирт добавляется до о в лимонно-желтый цвет) рболовая вода, мл 0 стиллированная вода, мл 00 аски Эмульсию поливом наносят стекла стандартных фотопласт в горизонтальном положении ре 45 С и влажности 70 - 80% 25 20 мин. Засветку осуществляют лампой 500 вт с расстояния О,мости от плотности оригинала получают хорошо видимое в о чах, но малоконтрастное изобр ЗО та (растра). Ватным тампономна очищенные инок н сушатри температув течение 10 -3 - 5 мин под 4 м в зависиВ результате траженных луажение объекзабивают (ок О П И С А Н И Е и)...

Способ определения напряжений в объектах

Загрузка...

Номер патента: 493625

Опубликовано: 30.11.1975

Авторы: Абен, Саар

МПК: G01B 11/16

Метки: напряжений, объектах

...фаз при постоянных главных направлениях, с созданием требуемой разности фаз при помощи иммерсионного компенсатора.Однако этот способ характеризуется тем, 15 что дополнительная разность фаз создается с использованием сложного иммерсионного компенсатора специальной конструкции.Целью изобретения является упрощение техники эксперимента. 20Это достигается тем, что разность фаз компенсируется поворотом скрещенных поляризатора и анализатора относительно главных направлений четверть-волновой фазовой пластинки.Сущность метода заключается в следующем.Четверть-волновую пластинку устанавливают перед объектом так, чтобы направление ее главных осей составляло угол в 45 по отно шению к направлению главных напряжений фотоупругого покрытия, Затем...

Устройство для измерения деформации на поверхности объемных деталей

Загрузка...

Номер патента: 497470

Опубликовано: 30.12.1975

Автор: Бахтадзе

МПК: G01B 11/16

Метки: деформации, объемных, поверхности

...шторка устаноперемещения, обеспеотслеживание того же На чертеже приведена схема предложенного устройства, где волоконный световод 1, оканчивается торцом 2, имеющим форму поверхности объемной детали 3; этот торец 5 вместе с торцом 4 в виде плоского экрана набраны из узких прямоугольных полосок, ширина которых определяется из условия рассмотрения части поверхности объемной детали как плоскости. Около плоского экрана 10 или непосредственно на нем установлен мерный элемент 5 (сетка, растр, шкала). Кольцевая шторка 6 вместе с объективом 7 и щелевой диафрагмой 8 имеют возможность поворачиваться, отслеживая торец световода, 15 сохраняя рабочий зазор между поверхностьюобъемной детали 3 и щелевой диафрагмой.Световод помещен в кожух 9, а...

Способ измерения параметров деформированного состояния деталей

Загрузка...

Номер патента: 501272

Опубликовано: 30.01.1976

Авторы: Григорьев, Дашковский, Калин, Скоров

МПК: G01B 11/16

Метки: деформированного, параметров, состояния

...и малые упруго-плас формации) исследование прово трескиванию хрупкого покрытия шем при увеличении деформаци евам искажения делительной сетия на полиплотно наи с необходит хрупкое пока поверхнока, образованмежутками с деформации тическпе дедят по раса в дальней- и по величии. Способ измерен ванного состсяния хрупких покрыти что, с целью расш мых деформаций, в виде делительнои деформиро применение щнйся тем она измеряе ытие нанося я параметро деталей сотличаю ирения диапа хрупкое покр сетки. Изобретение относится к области изучения деформированного и напряженного состояния в образцах при их испытаниях.Известен способ изучения деформированного и напряженного состояния в деталях и об разцах при помощи сплошных хрупких лаковых...

Модель для измерения напряжений в деталях поляризационно оптическим методом

Загрузка...

Номер патента: 502209

Опубликовано: 05.02.1976

Автор: Конев

МПК: G01B 11/16

Метки: деталях, методом, модель, напряжений, оптическим, поляризационно

...практически невозможно. Поскольку в зоне контакта сопряженных колец отсутствует область равной деформации (изотропная точ ка), то для определения номера полос необходимо использовать сложный метод компенсации, поскольку невозможен прямой отсчет номера полосы от нулевой полосы на модели.Цель изобретения - упрощение процесса 20 измерения и сокращение времени измерения при исследовании напряжений, возникающих в детали при обжатии.Это достигается тем, что внутреннее кольцо выполнено разрезным, 2 дНа чертеже изображена предлагаемая модель, общий вид. Модель содержит коаксиально сопряженные внешнее 1 и внутреннее 2 кольца, выполненные из оптически активного материала, причем внутреннее кольцо 2 имеет разрез 3.Суть изобретения...

Способ измерения деформаций

Загрузка...

Номер патента: 502210

Опубликовано: 05.02.1976

Автор: Богданов

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций

...света с помощью тарировочной кри вой определяют величину деформации.На чертеже изображена общая схема измерения деформаций.Луч света 1 от источника света 2, пройдядважды через светопоглоща 1 ощпй слой 3 и 10 отразившись от светоотражающего слоя 4,нанесенных на поверхность исследуемого объекта 5, попадает на фотоэлемент 6, измеряющий силу света, Последняя зависит от плотности светопоглощающего слоя 3, которая в 15 свою очередь зависит от величнны,деофрмации в даннои точке поверхности объекта.Суть изобретения состоит в следующем.На поверхность объекта наносят двухслойное покрытие с внутренним светоотражаю щим и наружным светопоглощаощнм слоем,освещают его лучом света и нагружают исследуемый объект, что приводит к деформнрованию...

Способ определения формы и размеров полей деформаций, возникающих в древесине при ее пилении

Загрузка...

Номер патента: 502211

Опубликовано: 05.02.1976

Автор: Рыжов

МПК: G01B 11/16

Метки: возникающих, деформаций, древесине, пилении, полей, размеров, формы

...усредненную картину полей деформаций, из которой определяют среднее значение координат5 границы,На фиг, 1 изображен прозрачный транспорант с нанесенным на нем профилем режущего инструмента и границами полей деформаций; на фиг. 2 - совмещенные рентгенов 10 ские снимки образца с координатной сеткой,полученные до и в процессе пиления, и отмеченные точки начала отклонений деформированных элементов сетки (границы полей деформации) .15 Способ осуществляется следующим образом.Прозрачный транспарант 1 с нанесеннымна нем профилем режущего инструмента 2накладывают на совмещенные рентгеновские20 снимки 3 таким образом, чтобы профильсреднего зуба пилы на транспаранте совпалс одним из зубьев пилы на совмещенныхснимках. Точки 4, соответствующие...

Способ определения напряжений ползучести

Загрузка...

Номер патента: 506757

Опубликовано: 15.03.1976

Автор: Тараторин

МПК: G01B 11/16, G01L 1/24

Метки: напряжений, ползучести

...деформаций ползучести, окончательные результаты, получаемые с использованием одной из теорий ползучести, имеют погрешности.Цель изобретения - повышение точности контроля,Это достигается тем, что деформации ползу- чести замораживают, охлаждая при температуре ниже температуры стеклования до комнатной температуры в разгруженном состоянии, затем модель разрезают вдоль линии искомых напряжений, фиксируют картину замороженных интерференционных полос, и по найденной разности соответствующей упругим деформациям, определяют напряжения ползучести. Определение деформации ползучести осществляот следуошим образом.Модель, материал которой при комнатнойтемпературе находится в стеклообразиом со стоянии, нагревают до температуры, соответствующей...

Способ измерения упругих деформаций

Загрузка...

Номер патента: 513244

Опубликовано: 05.05.1976

Авторы: Дорожкин, Карпушин, Кашицын, Сахнович, Ярошевич

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, упругих

...как разность результатов юме рений координат точек. деформированной поверхности и поверхности, соответствующей недеформированному состоянию той же детали. Указанную недеформированную поверхность получают путем изготовления слепков из пластичных материалов, что приводит к низкой точности измерения д формаций,Детали сложной формы, изготавливаемые на копировальных станках,в процессеупругих деформаций системы вставок приспособление - инструмент-деталь получают откпояенэя размеров от здной фор" мы, рааеейе мим.упругим деформацням.Дпя койтропя величины упругих деформа ций на том же сташеа изготавттивают де таль. из жесткой,заготовтце упругими де О формациями коъэрой можно пренебречь,проводя обработку ее поверхности только с одной стороны....

Способ дистанционного определения деформаций

Загрузка...

Номер патента: 518620

Опубликовано: 25.06.1976

Авторы: Городецкий, Кузьмин, Ляшенко

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, дистанционного

...процесса 10 анализ определения деформаций. роввнияНаибопее близким техническим решением, пученный к данному изобретению является способ оп- ниров редепения деформаций на поверхности изде- заданной лия, основвнчый на муаровом эффекте, за .15 кпючающийся в том, что на деталь наносятНа чер сетку (растр), нагружают иэдепие, дефор. дпя ревпиз мнрованную сетку анализируют, используя для этого точно такую же, но не деформи рованную сетку, (опорный растр), которую 2 совметцвют оптическим ипи контактным спо собом с деформированной сеткой. Образую тяуюся муаровую картину полос расшифровываке, оппедепяя таким образом деформации изделия.518620 тав едактор В, Дибобес Т Тираж 864 Порственного комитета Совета Мюпо цепам,изобретений и...

Фотоэлектрический магнитополярископ

Загрузка...

Номер патента: 518621

Опубликовано: 25.06.1976

Авторы: Абен, Вейгель

МПК: G01B 11/16

Метки: магнитополярископ, фотоэлектрический

...падения света с частотой, выдаваемой генератором 21. Проходя черезанализатор 8, свет модулируется по интенсивности, что вызывает изменение тока нафотоумножителе 12. Если плоскость прохождения анализатора 8 имеет небольшое отклонение от перпендикулярного по отношению к длинной оси падающего на него све -тового эллипса, на выходе анализатора ввыходном сигнале появляется первая гармоническая составляющая, на которую настроенузкополосный усилитель 19. После усиле -идя этого сигнала и сравнения в фазовомдетекторе 20 сигналов генератора 21 иусилителя 19 получается, так называемое,"напряжение погрешности, полярность которого показывает направление отклонения,Напряжение погрешности поступает на уси -литель 23 и далее через блок 24 коммутации...

Способ исследования деформированного состояния объектов

Загрузка...

Номер патента: 521457

Опубликовано: 15.07.1976

Автор: Кох

МПК: G01B 11/16

Метки: деформированного, исследования, объектов, состояния

...Изменение интенсив ности определяется изменением направления максимума диаграммы направленности дифрагировавшего света в результате поворота или изменения периода сетки при деформировании объекта. 20Недостатком известного способа является его сложность поскольку для определения деформаций необходимо проводить трудоемкие замеры и пересчет измеренных величинкаждого участка поверхности исследуемо-И го объекта, а для форлирования на поверхности сетки необходим мощный лавер,Белью изобретения является упрощение процесса исследования. На поверхности объекта закрегляют свето чувствительный слой ( например, фотоэмульсионный ), формируют на нем скрытое изображение сетки с помощью двух интерфери .- руюших когерентных плоскопараллельных...

Разборный контейнер

Загрузка...

Номер патента: 523002

Опубликовано: 30.07.1976

Авторы: Галкин, Эльберг

МПК: G01B 11/16

Метки: контейнер, разборный

...частей 1 и 2, окантованных в наиболее нагруженных частях вшитыми каи;:оиовыми канатами 3., прикрепленными к половинам полотна при поь.оши зажимов 4 с отверстиями 5 для захвата контейнера при погрузке-выгрузке, и крепежных петель 6. Крепежные петли 6, соединяемые между собой фиксирующим стержнем 7, в собранном виде не имеют возможности перемещаться одна относительнодругой.Йенатруженные концы обеих частей полотна выполнены в виде равнобедренных трапеций с закрепленнымн на них затягивающим замком 8 и круглозвенной цепью 9.Контейнер работает следующим образом.В процессе транспортирования торфяных 10 ковров рулоны их укладываются штабелем насреднюю часть собранного грузозахватывающего полотна перпендикулярно его продольной оси....

Механизированный склад для хранения изделий круглого сечения

Загрузка...

Номер патента: 523003

Опубликовано: 30.07.1976

Авторы: Атращенок, Давыдков

МПК: G01B 11/16

Метки: круглого, механизированный, сечения, склад, хранения

...4 - в зоне проема 11 секциями 10 разгрузки.Предложенный склад работает следующим образом.Устройством 3 для подачи изделий подают изделия к проему 9 секции 8 загрузки. При незаполненных стеллажах 1 изделия, направляемые в проем 9, касаются упоров 7 направляющих 6 верхнего яруса стеллажей таким образом, что образуется вращающий изделие3момент, (см, фиг. 2), который поворачивает изделие относительно упора 7 против часовой стрелки. Изделие проваливается на нижерасположенный ярус стеллажа и направляемое ограничителем 5 касается упоров 7 направляющих 6 этого яруса.Изделие, поворачиваясь, проваливается на следующий ярус. Вращающий момент образуется на каждом ярусе при соприкосновении изделия с кромками направляющих 7, чем обеспечивается...

Способ нанесений растра на поверхность изделий

Загрузка...

Номер патента: 524970

Опубликовано: 15.08.1976

Авторы: Бахтадзе, Иоселиани, Мечиташвили

МПК: G01B 11/16

Метки: нанесений——, поверхность, растра

...определяется пластическими свойствами металлической растровой сетки, а не материала изделия. Кроме т го, данный способ предполагает однократное использование металлических сеток, которые после деформации не могут быть применены в дальнейших исследованиях. Целью изобретения является упрощение технологического процесса.Это достигается тем, что по предлагаемому способу используют сетку из апек трически изолированных проволок и после наложения ее на поверхность изделия пропускают по проволокам ток, величина которого соответствует нагреву материала изделия до пластического состояния.На чертеже представлена схема процесса нанесения растра на поверхность изделия,Регулярную проволочную сетку 1, выполненную, например, в виде...

Способ нанесения растра на изделие

Загрузка...

Номер патента: 529364

Опубликовано: 25.09.1976

Авторы: Быков, Гохфельд, Чернявский, Шелехов

МПК: G01B 11/16

Метки: изделие, нанесения, растра

...Целью изобретения является повышение механической прочности растра при высоких температурах.Это достигается тем, что матрицу выпслнякт в виде литейной формь по форме изделия, на внутреннюю поверхность которой наносят растр-оригинал из вещества, абладаюцтего кристаллохимическим сродством с материалом изделия, а растр перено:ят путем отливки изделия в форме.Изготавливе:От литейчую форму по форме изделия, на внутреннюю (металлическую) поверхность литейной формы методом фото- керамики нанося". растр. Форму с ненесенным рестром нагревают до температуры, составляющей 0,6-0,8 ОС от температуры заливаемо О расплав, после ч го ппоизвоят заливку. После затвердевания Отливки форму разбирают. В результате растр пз вещества, обладающего...

Способ определения температурных напряжений в композитных конструкциях

Загрузка...

Номер патента: 531022

Опубликовано: 05.10.1976

Авторы: Пенькова, Ушаков, Фролов

МПК: G01B 11/16, G01L 1/24

Метки: композитных, конструкциях, напряжений, температурных

...основе эпоксидной смолы холодного отверждения следующего состава; эпоксидная смола ЭД- 100 вес.ч., дибутилфталат - 10 вес.ч., полиэтиленполиамин - 10 вес.ч. Материал заливают в спе - циальные формы, куда вставлены другие элементы композитной модели, изготовленные из других материалов (сталь, дюралюминий, стеклопластик, оргстекло и др,), с которыми заливаемый материал скрепляется в нужных местах, Операцию полимеризации материала проводят по специально по - добранному режиму. Объемные модели помешают в воду при 5-10 оС на 3 - 4 час для отвода тепла, выделяемого на начальной стадии полимеризации, Плоские модели из - за большой поверхности теплоотвода специально не охлаждают; их выдерживают на воздухе " 20 час. Объемные модели после...

Способ определения направления плоскости наибольших деформаций при косоугольном резании

Загрузка...

Номер патента: 534645

Опубликовано: 05.11.1976

Автор: Денисенко

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, косоугольном, наибольших, направления, плоскости, резании

...этой плоскости угол между направлением текстуры и нормалью к отпечатку на корне с кромки режущего инструмента и ренному углу определяют направл кости наибольших деформаций 2Недостатком этого способа яв большая трудоемкость измерений обходимости изготовления микрош Цель изобретения -ти измерений.Это достигается теемому способу напрделяют по направлениНа фиг. 1 представпроекция корня стружкки процесса резания;вая проекция; на фиг.стружки и режуший ин Сущность изобретения состоишем.3 с образованием стружки 4. Далее мгновенно останавливают режущий инструмент1, при этом образуется корень 5 стружки,стружку 4 отрывают у основания 6 погранице 7; определяют, например, с помощью микроскопа на корне 5 стружки в плоскости 6 В , параллельной...

Способ бесконтактного измерения линейных перемещений

Загрузка...

Номер патента: 545856

Опубликовано: 05.02.1977

Авторы: Динельт, Халтурин

МПК: G01B 11/16

Метки: бесконтактного, линейных, перемещений

...измеряемого объекта, а второй - на поверхность базового неподвижного объекта, совмещают на входе фотоприемника отраженные пучки, выделяют частоту доппле ровского сдвига и по ней определяют линейное перемещение 2.Недостатком этого способа является невозможность измерения деформации объекта.Цель изобретения - обеспечение возможности измерения деформации объекта.Это достигается тем, что по предлага му способу второй луч направляют на верхность измеряемого объекта.Сущность способа поясняется чертежам.Когерентное излучение 1 (в частности излучение ОКГ) расщепляют ца два параллельных,цучка 2 и 8, которыс направляют на поверхность измеряемого объекта 4, отраженные в базовых точках Л и В пучки 5 и 6 с помощью оптической системы 7 совмещают...

Способ определения оптической постоянной оптически чувствительного материала

Загрузка...

Номер патента: 545857

Опубликовано: 05.02.1977

Автор: Зайнуллин

МПК: G01B 11/16, G01L 1/24

Метки: оптически, оптической, постоянной, чувствительного

...полос и определяют по ним оптическую постоянную материала 21,Однако эти способы не позволяют определять оптическую постоянную оптическичувствительного материала, который при пориал эбразца при полимеризации пережидкого состояния в твердое и одновререпляется с внутренней поверхностьюз затвердевшего оптически чувствительериала. В результате усадки полимегося материала на стыке колец вознитактное давление, от которого появапряжения и сэответствующая имполос интерференции в соединенных548857 радиус контакта образца с кольцом;наружный радиус кольца;контактное давление;коэффициент ПУассона образца;коэффициент Пуассона кольца.(1 Ю 2) 1 2 р 2н к рн-рн где ЭО Составитель В. ЕвстратовРедактор И. Бродская Техред Н. Андрейчук Корректор В....

Способ измерения контактных напряжений в изделиях

Загрузка...

Номер патента: 550528

Опубликовано: 15.03.1977

Автор: Волков

МПК: G01B 11/16

Метки: изделиях, контактных, напряжений

...этого способа является его невысокая точность, поскольку выдавливаниематериала из зоны контакта приводит к искажению картины распределения напряжений,5 С целью повышения точности измерений попредлагаемому способу прокладку изготавливают из пористого материала, например, осаждают на поверхности изделия слой сажи, а величину контактных напряжений определяют10 по интерференционным полосам равной окраски.Способ осуществляется следующим образом.В зоне контакта осаждают из пламени газовой горелки слой сажи на поверхность изде 15 лия, нагретого выше точки росы насыщенноговодяного пара. Толщина покрытия должна составлять в спрессованном состоянии 0,1 - 0,5средней длины волны используемого света.Затем прикладывают усилие, приводящее к20...

Покрытие для исследования напряженного состояния конструкций

Загрузка...

Номер патента: 555280

Опубликовано: 25.04.1977

Авторы: Аветисов, Корноухов, Стешенко, Югов

МПК: G01B 11/16

Метки: исследования, конструкций, напряженного, покрытие, состояния

...состояния, включающие хрупкую смолу. Смола, например канифоль, смеши. вается с растворителем, например сероуглеро. дом 1. Однако чувствительность таких покрытии ограничена величиной- 0,04%, причем наблюдается ее значительный разброс.Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому покрытию является покрытие, включающее хрупкую смолу и пластификатор 2).Механическая смесь такого покрытия начосится в виде порошка или расплава на предварительно разогретую поверхность конструкции. В качестве хрупкой смолы покрытие содержит канифоль, а в качестве пластификатора - парафин (1-: 5%),Известное покрытие исключает необходимость его сушки, что значительно упрощает технологию :использования покрытия и расширяет возможность его применения....

Устройство для измерения деформаций на поверхности плоских деталей

Загрузка...

Номер патента: 563563

Опубликовано: 30.06.1977

Авторы: Тагиев, Якубов

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, плоских, поверхности

...замыкающую электрод с растром на детали,15 На чертеже изображено предложенное устройство.Устройство содержит блок осветителя, выполненный в виде люмпнесцентного преобразователя, включающего стеклянную подлож у 1, на которую последовательно нанесеныпрозрачный электрод 2, люминесцентный слой 3 и защитная диэлектрическая пленка 4. Диэлектрическая пленка 4 находится в гальваническом контакте с растром исследуемой де тали 5, Люминесцентный преобразовательвключает также электрическую цепь 6 с источником переменного тока, замыкающую электрод 2 с растром детали 5. Картину поля деформаций исследуемой детали наблюдают 30 с помощью блока регистрации, включающегоКорректор А, Степанова Редактор Л, Чепайкина Заказ 1622/12 Изд,570 Тираж 907 Подписное...

Устройство для измерения деформаций тонкостенных цилиндрических оболочек

Загрузка...

Номер патента: 567945

Опубликовано: 05.08.1977

Авторы: Бушуева, Цветков, Щербаков

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, оболочек, тонкостенных, цилиндрических

...закреплена верхняя плита 3 и две фото (кино) камеры 4, расположенные в отверстии гибкого 1 о прозрачного экрана цилиндрической формы, состоящего из прозрачного защитного слоя 5 с закрепленными на его внутренней поверхности гибким прозрачным ортогональным растром 6 и сеткой 7 Ортогональных линий 5 большого шага и диффузно рассеивающего прозрачного слоя 8. Экран закреплен на Основании 1 к плите. 3 посредством фиксатьров 9, обеспечивающих требуемое изменение формы экрана. Сзади экрана установлены 26 осветительные лампи дневного света 10.Механизм крепления оболочек 11 снабжен поворотным столом 12, на котором закреплена исследуемая оболочка 13, трехкоординатным приводом с ходовыми винтами 25 14-18 и приводом вращения оболочки 17,Устройство...

Способ определения компонент тензора напряжений плоских фазовых объектов

Загрузка...

Номер патента: 567946

Опубликовано: 05.08.1977

Авторы: Евтихиев, Кондратьев, Смирнова

МПК: G01B 11/16

Метки: компонент, напряжений, объектов, плоских, тензора, фазовых

...планарной компоненты осуществляют фильтром пространственных частот по даниому направлению, Поворотом фильтра вокругосвоей оси на 90 выделяют ортогональную к ней вторую коминенту. Определение компонент тензора напряже-: ний плоских фазовых объектов с помощью одной голограммы интенсивности позволяет повысить точнссть их выделения, а следовательнои измерения. Способ определения компонент тенэоранапряжений плоских фазовых объектов, заключающийся в том, что объект освеша:отдиффузным когерентным светом, осуществляют селекцию пространственных частотпрошедшего через объект излучения, записывают голограмму интенсивности нагружеено 1 б и ненагруженного объекта, восстанавливают ее и выделяют нормальную и взаимно перпендикулярные планариые...

Голографическое устройство для измерения деформаций изделий

Загрузка...

Номер патента: 575475

Опубликовано: 05.10.1977

Автор: Ханс

МПК: G01B 11/16, G02B 27/00

Метки: голографическое, деформаций

...которого совпадает с медиатрисой соединительной линии между центром падавшегона изделие сферического пучка и входнымзрачком наблюдатепьной системы, а образующая зеркапа выпопнена так, чтобы изотражение образующей исследуемого иэделия.находилось на элпнпсе с фокусами, совпа, дающими с центром предметного пучка н., положением входного зрачка набпюдатепьной системы,Рсточники информации, принятые во внимание при экспертизе1,ЧЪа Ещйкесчйь Оаеа оУ НоЗогарРьц. Ь 4, ЬцЕ.Я. КобеИаов синь У.М.Наоми. ОтиюрМФЧ Рме,6 атЬгЧдде 1970, р. 2392. Методы неразрушающих испытаний,под ред. Р, Шарпа, йМир", 1972,стр. 178-106. зйого пучка и попожением входного зрачка,наблюдатепьной системы.На фиг, 1 показана схема предложенного голографического...

Способ измерения скорости распространения трещины в изделии

Загрузка...

Номер патента: 579540

Опубликовано: 05.11.1977

Авторы: Архипов, Болотин, Маслов, Савченко

МПК: G01B 11/16

Метки: изделии, распространения, скорости, трещины

...волн в котором совпадает со скоростью распрост ранения продольных акустических волнв материале изделия, освещают один изторцов слоя параллельным пучком света, а при помощи линейки фотоприемников, расположеннои на его противопо ложном торце, фиксируют время прохождения трещиной базовых расстояний.На чертеже изображена общая схемаизмерения скорости распространениятрещины в иэделии,Суть изобретения э ается в с е579540 Формула изобретения Составитель Е,Подпал.,иТехред М.Левицкая Корректор И, Гоксич Редактор А.Мурадян Заказ 4387/41 Тираж 907 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий 113035 Москва ЖРаушская наб. д. 4/5Филиал ППП Патент, г, Ужгород, ул . Проектная, 4 ростью...

Устройство для определения относительного изменения диаметра образца

Загрузка...

Номер патента: 579541

Опубликовано: 05.11.1977

Авторы: Больших, Гречинский, Клочко, Клюев, Рыгалин

МПК: G01B 11/16

Метки: диаметра, изменения, образца, относительного

...световому потоку, падающему на фотоприемник 3. Таким образом, чем больше теневое изображение (диаметр) испытуемого образца, тем меньше засветка ячеек фотоприемника 3 и тем меньше напряжение "5 на их выходных электродах.На выходе ячеек фотоприемника 3, расположенных в тени нижнего конца испытуемого образца (на чертеже заштрихованы) напряжение равно нулю, ЗО так как эти ячейки фотоприемника не освещены. По мере удлинения испытуемо. го образца граница тени смещается вниз и появляется напряжение на выходных электродах следующих ячеек. 35Перед прикладыванием к образцу нагружающей силы замыкается выключатель 11, и напряжение с выходных электродов первой ячейки Фотоприемника 3, пропорциональное первоначальному диа-. 40 метру...

Способ контроля качества поверхности металлических изделий

Загрузка...

Номер патента: 586320

Опубликовано: 30.12.1977

Автор: Соркин

МПК: G01B 11/16

Метки: качества, металлических, поверхности

...методом с применением относительно громоздких средств, требующим сравнительно больших затрат времени. Целью изобретения является повышеннтточности и надежности контроля, для чегомежду контролируемой поверхностью и фотоупругим слоем располагают слой из магнито 5 мягкого оптически непрозрачного электропроводного материала и через эти слои и контролируемую поверхность пропускают электрический ток,На чертеже представлена схема устройст 10 ва, реализующего предложенный способ,Слой жидких нематических нли других оптически активных кристаллов 1 размещают впромежутке между непрозрачной ферромагнитной подложкой 2 и оптически прозрачным15 электродом 3, расположенным на рабочейграни прозрачной призмы 4. Создают разность электрических...