G01B 11/16 — для измерения деформации твердых тел, например оптические тензометры

Номер патента: 706691

Опубликовано: 30.12.1979

Автор: Рыжиков

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, упругих

...зеркало 19 и фотонасадку 20.Деформируемая деталь 21 (пресс-форма)с выталкивателями 22 установлена на столе 5пресса 23, при этом над выталкивателями расположена приводная плита 24.На деталь 21 (см, фиг. 2) нанесены меткив виде точек А А А,.Работает предлагаемое устройство следующим 10образом.На поверхность детали 21 (пресс-формы)наносятся метки А А А,. Затем по этимметкам настраивают устройство: добиваютсятого, чтобы в поле зрения окуляра 8 устройства были видны точки А А А,. Затем ихвыводят на нулевую линию сетки окуляра 8устройства (не показана),К пресс-форме прикладывают усилие Р, приэтом точки А А А, переместятся соответственно в положения,Л А,", А,Эти перемещения точек наблюдаются в устройстве, Объективы 5 и 10...

Номер патента: 706692

Опубликовано: 30.12.1979

Авторы: Акрушкин, Иванов, Конюхов, Кочкарев

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций

...материале.Устройство содержит измерительную базу с двумя концами, один из которых выполнен в виде светонепроницаемого корпуса 1 с закрепленным в нем источником 2 света, а дру гой - в виде расположенного внутри корпуса стержня 3 со светочувствительным материалом 4, закрепленным на стержне 3 напротивисточ ника 2 света. Корпус закреплен в точке 5 ца деформируемом материале 6, а стержець 3 - в точке 7, Источник 2 света, управляемый ге. нератором меток времени (не показан), с выбранной частотой подает световые импульсы, Расстояние между точками 5 и 7 равно длине 1 измерительной базы.Устройство работает следующим образом,При деформации материала 6. источник 2 света движется над светочувствительным мате.70669 гибких крыльев и других...

Номер патента: 706693

Опубликовано: 30.12.1979

Автор: Злотников

МПК: G01B 11/16

Метки: материал, оптически, чувствительный

...отверждения и получения материала с низким модулем упругости.Пример изготовления материала. Пластинызеркального стекла, из которых составляют фор..му для помещения оптически чувствительногоматериала, моют, сушат и обрабатывают 8%-нымраствором каучука СКТ в толуоле и вновь су.шат, Производят сборку формы,К 100 г эпоксидной алифатической смолы(44,6 вес,%) компоненты перемешивают втечение 5 мин,В полученную смесь вводят 24 г полиэти.ленполиамина (10,8 вес.%) и производят пере3 44,6 - 46,3 44,6-46,3 7,4-.10,8 Составитель Б. ЕвстратовТехред М,Келемеш Корректор Е.Лукач Редактор О. Юркова Заказ 8205/34 Тираж 845ЦНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Подписное Филиал...

Номер патента: 711351

Опубликовано: 25.01.1980

Автор: Ларин

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, образца

...негативное и позитивное изображения недеформированной микрострук 2 О туры. Затем на негативное изображение микроструктуры накладывают соответствующее позитивное изображение,совмещают эти фотоизображения так,чтобы темные места зерен микроструктуры совпали со светлыми, и поворачивают негативное изображение относительно позитивного до появлениямуарового пятна, Измеряют угол поворота, размер муарового пятна и поего размеру опрецеляют диаметр зер7113 51 Составитель Б. ЕвстратовТехред З.Фанта Корректор А, Гриценко Редактор Л. Народная Заказ 8994/25 Тираж 801 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб д, 4/5Филиал ППП Патентф, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 на ми к рост рук...

Номер патента: 714144

Опубликовано: 05.02.1980

Авторы: Де, Козачок, Логинов, Солодкин

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, объекта

...деформацию путем подсчета числа интерференционных полос, проходящих через выбранные точки (2,Недостатком укаэанного способа., является значительная сложность процесса определения деформации, обусловленная необходимостью счета интерференционных полос,.Целью изобретения является упрощение процесса определения деформаций.Указанную цель достигают тем, что дифференцируют сигнал фотоприемника, детектируют его огибающую и по амплитуде детектированного сигнала определяют деформацию в заданных точках., На чертеже представлена схема реализации способа.Способ заключается в том, что регистрируют голографическую интерферограмму 1 деформированной поверх3 , ,741144ности 2, восстанавливают интерферограмму 1 расширенным в коллиматоре 3 пучком лазера 4,...

Номер патента: 715932

Опубликовано: 15.02.1980

Авторы: Глухов, Кудрин, Лисин, Нетребко, Полухин

МПК: G01B 11/16, G01B 11/24, G01B 9/025 ...

Метки: голографической, интерферометрии, методом, объекта, перемещений, плоскости

...муаро.объекта, Выбирают два освещенных участка на алых полос, рассчитываемая по формуле, гдеголограмме так, чтобы прямая, соединяющая О а - измененное расстояние между освещенны их центры, была параллельна искомой компо- ми участками. В ряде задач механически доста.ненте перемещения, Восстанавливая действитель точно определить только одну компоненту перепое изображение объекта освещением голограм мещения.мы одновременно через оба участка, получают Таким образом, использование способа пози регистрируют картину, муаровыхполос. Затем 1 Б воляет рассчитывать каждую компоненту пере.для исследуемой точки объекта определяют по- мещения в плоскости объекта по одной картирядок муаровой полосы, которыйоднозначно не полос, а не по трем, как в...

Номер патента: 720294

Опубликовано: 05.03.1980

Авторы: Егоров, Сафаров, Сахелашвили, Тутынин, Шур

МПК: G01B 11/16

Метки: моделях, напряжений, оптически, сосудов, чувсвительного

...измерений, Прк известном способенагружения полностью также исключается возможность моделирования распределения сил давления по границам(контуру) тех элементов конструкцийсосудов давления, которые в процессеэксплуатации омываются потокамитеплоносителя, Это также сказывается на достоверности исследованиянапряженного состояния конструкцийс помощью оптически чувствительныхмоделей.Целью изобретения является повышение точности моделирования условийнагруженкя и ускорения процесса испыта ний,Для достижения поставленной целяв способе определения напряжений вмоделях сосудов иэ оптически чувствительного материала, работающих вуСловиях воздействия потока жидкости, через сосуд прокачквают под,цавлением жидкость, а давление на выходе сосуда...

Номер патента: 742706

Опубликовано: 25.06.1980

Авторы: Аверкин, Беляев, Морозов, Соловьев

МПК: G01B 11/16

Метки: напряжений, образце, распределения

...твердых органических или керамических диэлектрических материалов,Цель изобретения - определение расттрецеления напряжений .в непрозрачных тверцых органических или керамических диэлектрических материалах.Это достигается тем,.что на образец наносят фотоматериал, помещают его в поле между обкладками конденсатора и подают на конденсатор переменное напряжение высокой частоты.. Воликом Техред Н. Ковалем Кор И, Муска Подписноеитета СССРрыти йая набд, 4/5 6 Тираж 801ЦНИИПИ Государственного кпо делам изобретений и от 13035, Москм, Ж, Рауш аз 344 лиал ППП Патент, г. Ужгород, ул, Проектная, 4 3 742На чертеже представлена схема размещения образца в поле конденсатора,Образец 1 с нанесенным на его поверхности светочувствительным фотоматериалом...

Номер патента: 744227

Опубликовано: 30.06.1980

Авторы: Зацаринный, Кращин, Стрельчук, Терехов, Усов

МПК: G01B 11/16, G01C 1/00

Метки: скручивания, углов

...24 углоизмсрптсльного датчика 2. Пройдя объектив 25 и (разигнисьОт ОтряжателыОго зеркала 25,;)уОк Вторично в обратном ходе прохо,шг обьскт;.В25 и фазовую чствертьвол(1 овую пласт)1;у24. Выходящий из дат ика 2 пучок буде глинейно поляризован с азимутом 8.=90,так как сумма двух чсгвертьволновых пластинок с одинаковым направлением глацных Осей работает как по,уволпова)е ф(0 Вяя пластин;(а, Пройдя расстоя)шс г в обЯтиом кодс, пучок света поступает на о)1- ПСскц Ко)гшецсатор 10, который ири отсутствии ск)учиВдния (В нулсзом г.оложсици) цоораиНаст плоскость поляризации ИОС УП 210(ЦСГО Иа НСГО СВСТЯ Иа УОЛ О: =-90 в(г)атсх пучок светя поступает на 21:ялизвтор-мод",л 5 тор 11, азимут пг 10 скост) наибольше го цропускания Оторогорас:оло)кеи под...

Номер патента: 746179

Опубликовано: 05.07.1980

Авторы: Портнов, Сафаров, Сахелашвили

МПК: G01B 11/16

Метки: модели, нагружения, оптически, соединения, фланцевого, чувствительного, элемент

...для наметаллический стеконцом нагружаюку 3 из оптическисоединенную шарипня, выполненнымкруглую шайбу 5,между ними, Мышки б и кори груженыржень 1щий орга чувстви вляется вого о мате.з оптио виде и распол одель с уса 7 с жен но кр м Наиболее близким к изобретению я элемент для нагружения модели фланц соединения нз оптически чувствительно риала, содержащий резьбовую втулку и чески чувствительного материала, соедин с ней одним концом металлический сте и нагружающий орган, соединенный с д концом стержня 2. я модели содержит соединенный с егон 2, резьбовую втултельного материала, другим концом стерж озусферы 4 через женную концентричстоит из фланца судч авленияЦНИИПИТираж 801 Заказ 3925/2 Подписное 3"7461Элемент для нагружения работает...

Номер патента: 769317

Опубликовано: 07.10.1980

Авторы: Лисицын, Лукьянова, Сагов, Свиденко, Тулеушев

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, объекта

...сетку ввиде нерегулярного растра, Фотографируют изображение сетки до и после деформации 20 объекта в одинаковом масштабе. Для усиления муарового эффекта негатив одной из сеток превращают в позитив того же масштаба и совмещают негатив одной сетки с позитивом другой. Сдвигая растровые сет ки одна относительно другой, помещаютмуаровое пятно в исследуемую точку поверхности, Поворачивая одну из растровых сеток вокруг центра муарового пятна, переводят пятно в муаровую полосу. Затем зО осуществляют дальнейший поворот до полу76931 7 Формула5 изобретения Составитель Б. ЕвстратовТехред И. Пенчко Редактор Г. Петрова Корректор С. файн Заказ 1230(1340 Изд.475 Тираж 810 ПодписноеНПО Поиск Государственного комитета СССР по делам изобретений и...

Номер патента: 769318

Опубликовано: 07.10.1980

Авторы: Дверес, Евстратов

МПК: G01B 11/16

Метки: изделии, напряжений, поляризационно-оптический, температурных

...6), кото рую затем разыораживают и определяют напряжения обычными приемами поляри. зационно-оптического метода.Применение способа дозволяет .повысить точность определения термоупругих напряжений в изделиях, возникающих от трехмерных полей температур или наличия включений,из материала с друпим коэффициентом теплового расширения.Формула изобретения Поляризационно-оптический способ определения температурных напряжений в изделии, заключающийся в том, что изготавливают элементы модели;изделия из оптически чувствительного материала с размерами, соответствующими температурному полю модели, деформируют элементы и заморажявают по их присоединяемым поверхностям перемещенная материала, соеди- няют элементы, раэмораживают модель, я определяют...

Номер патента: 777409

Опубликовано: 07.11.1980

Авторы: Петров, Сохач

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, объекта

...материал, а изображения сетки в процессе деформации регистрируют через светофильтры различного цвета на один светочувствительный элемент.Способ осуществляется следующим образо,м.На контактную грань объекта в виде прямоугольного параллелепипеда наносят координатную сетку. Деформируют объект двумя видами сложного нагружения: осевое сжатие и изгиб; осевое сжатие и кручение. Координатную сетку на объекте фотографируют на цветную фотопленку последовательно до деформации и в процессе деформации при двух ридах сложного нагружения. Недеформированную сетку фотографируют без светофильтра, а деформированную при действии первого и второго видов сложного нагружения через фиолетовый и красный светофильтры соответственно. Исследуя...

Номер патента: 781564

Опубликовано: 23.11.1980

Автор: Бугаков

МПК: G01B 11/16

Метки: напряжений, поляризационно-оптический

...по которым":ойределяют"напряжения из следующей45 системы управленияЬ = АЪХ + А 2 ЪЧ + Аз ЪхЗЬа= А 4 ЬХ+ .АЪц+ АьЬйЪх + ВрЪ + В Ъхцде ЬЬВЬ.- параметры эл 5 ОлиптическогодвупреломленияА(,.,Аа,В,В,В - коэффициентыЬхЬчЪХ - , напряжения.55 Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1. Алехсандров А.Я., Ахметзянов И.Х.поляризй(йЬВнЧЖЙРййЧесКие"методы меха-,ники деформируемого тела. М., Наукаф, 1973, с. 72-73,ф 47815 бСущность способа, заключается в том,что Ь и Ь связаны с изменением диэлектрического тензора при механическомвоздействии, а Ь- с изменением гира"ционного тензора при механическом воздействии. Параметры эллиптического"становятся. известными величиныЬ, Ь,Л Девять в общем случае неза 1 2 Ъвисймых...

Номер патента: 783580

Опубликовано: 30.11.1980

Авторы: Викторов, Упадышев, Чурсин

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, объекта

...8 изме. рений. Шторки 1 и 2 выполнены в виде перекрывающжся в направлении оптической оси пластин и изготовлены из материала, имеющего коэффициент теплового расширения, соответству. ющий материалу объекта, а поверхность внутренней, шторки 1, обращенная к источнику света, выполнена зеркальной.Устройство работает следующим образом. При отсутствии деформации объекта 3 шторки 1 и 2 установлены так, что они полностью пере. крывают друг друга, В этом случае отраженный783580 7- 1 Составитль Б. ЕвстратовТехред А,Щепанская Корректор А, Гриценко Редактор Г. Улыбина Тираж 801ВНИИПИ Государственного комитета СССРTо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж.35, Раушская набд, 4/5 Подписное Заказ 8525/41 Филиал ППП "Патент", г, Ужгород, ул,...

Номер патента: 796657

Опубликовано: 15.01.1981

Авторы: Бондал, Колесникова

МПК: G01B 11/16

Метки: напряжений, раз-рушающих, усталостных

...от длины этогоФучасткаф)на фиг. 6 - зависимость коэффициента интенсивности напряжений, характери.зующего напряженное состояние у вершинытрещины в начале участка равноускоренногороста шага бороздок (ко), от значений на.чального шага бороздок (Ь), соответству.ющих различным условиям нагружения.Способ определения усталостных разрушающих напряжений реализуется следующим образом,На поверхности разрушения исследуемойдетали выбираютСя направления измеренияшага бороздок (одно - перпендикулярнофронту разрушения, второе - под углом кпервому) и производятся его измерения вуказанных направлениях. По результатамизмерений вычисляется усталостное разрушаю.щее напряжение,Формула для расчета напряжений можетбыть получена следующим образом.По результатам...

Номер патента: 800623

Опубликовано: 30.01.1981

Авторы: Абен, Лобанов, Уфферт

МПК: G01B 11/16

Метки: деформа-ций, замороженных, материалах, напряженийот, прозрачных, упругих

...1 1.Данный способ не обеспечивает определение напряжений, обусловленных "замороженными" деформациями.Известен также способ определени напряжений от упругих и "замороженных" деформаций в прозрачных материалах путем измерения параметра изоклины и оптической разности х в точке исследуемого образца до после разрушения образца разрезк его на куски 12).Этот способ обладает тем недо татком, что для раздельного опр ния напряжений от упругих и "заморо женных" деформаций образец необходимо разрезать на куски. Цель изобретения - упрощение способа за счет исключения разрушенияобразца,Указанная цель достигается тем,что после измерения в точке исследуемого объекта параметра изоклины иоптической разности хода высверливают отверстие в данной точке,...

Номер патента: 800624

Опубликовано: 30.01.1981

Авторы: Гаврищенко, Игнатьев, Чемерилов

МПК: G01B 11/16

Метки: деформа-ций, объекта, поверхности

...11 волоконныесветоводы и регистрирующее приспособление, включающее Фотоприемник 12,усилитель 13 и сравнивающий и записывающий прибор 14, плоскую пластину15 с постоянным коэффициентом отражения, закрепляемую незастывающейклейкой массой на поверхности объекта 16.Устройство работает следующим образом,Источник 1 света посылает параллельный пучок света в делительнуюпризму 2, где он делится на два равных гучка. Один из них через осветительный волоконный световод б попадает на исследуемую поверхность объекта 16, а другой, отразившись отзеркала 3, через второй осветительный световод 11 попадает на поверхность плоской пластины 15, закрепленной на поверхности объекта 16.Между призмой 2 и осветительным световодом б и между зеркалом 3 и вторым...

Номер патента: 800625

Опубликовано: 30.01.1981

Авторы: Денисенко, Коломиец, Кузнецов

МПК: G01B 11/16

Метки: диэлектри-ческих, изделиях, механическихнапряжений

...повышение точности измерений.Поставленная цель достигаетсятем, что измеряют интенсивностькомпоненты отраженного излучения вплоскости поляризации падающего излучения.15 На чертеже представлена схема реализации способа.Способ осуществляется следующимобразом.Пучок 1 монохроматического излуг 20 чения от лазера 2 поляризуется поляризатором 3, проходит через модулятор 4 и освещает поверхность 5 изделия из диэлектрического материала.Отраженное излучение проходит через 25 анализатор б, который вращается наоси 7, перпендикулярной пучку, регистрируется фотоприемником 8 и измеряется осциллографом 9, Таким образом, фотоприемник 8 регистрирует 30 интенсивность компоненты отраженного800625 Формула изобретения Составитель Н.ужов актор А.Мотыль Техред...

Номер патента: 808837

Опубликовано: 28.02.1981

Авторы: Марасин, Музыка, Нищенец

МПК: G01B 11/16

Метки: деформацийповерхности, образца

...деформаций поверхности образца,Устройство содержит реперы 1, закрепленные на образце 2, оптическоерегистрирующее приспособление 3 ивставку 4, выполненную из оптическипрозрачного твердого материала. Устройство служит для измерения деформаций образца 2, находящегося поддействием повышенного давления газовой среды и различных температур,и помещенного в герметичную камеру 5,Устройство работает следующим образом.В камере 5 создается высокое давление и соответствующий температурный режим, При нагружении образца 2его деформацию определяют через вставки 4 с помощью оптического регистрирующего приспособления 3. Иэображе-,ние репера 1 проходит по вставке 4и попадает в оптическое регистрирующее приспособление 3. При этом устраняется влияние...

Номер патента: 813134

Опубликовано: 15.03.1981

Авторы: Дверес, Евстратов, Фомин

МПК: G01B 11/16

Метки: изделии, напряженийв, поляризационно-оптический, способопределения, температурных

...температурного поля модели. Из оптически-чувствительногоматериала изготавливают элементы сразмерами, соответствующими температурному полю модели, т.е. с добавлением к размерам элементов в ненагре 40 том состоянии величин перемещенийсвободного теплового расширения (сжатия), Затем путем приложения нагрузок или смещений поверхностей вэлементах "замораживают" перемещения,45 компоненты которых есть производныекоординаты от термоупругого потенциала перемещений. Соответствующиеэтим перемещениям нагрузки Р определяют также по решению О , Йз "замороженных" элементов посредствомсклейки собирают модель. Затем ее"размораживают". и обычными приемамиполяризационно-оптического методаопределяют напряжения.Применение предложенного способа55...

Номер патента: 815488

Опубликовано: 23.03.1981

Авторы: Быковский, Смирнов, Толстопятов

МПК: G01B 11/16

Метки: интегрально-оптический, тензодатчик

...а наличие волоконных световодов снижает чувствительность устройства из-за деполяризации излучения. Цель изобретен вствительности и уции тензодатчика.С этой целью источник излученияи фотоприемник выполнены из полупроводника на той же подложке по планарной технологии, асостав материалполупроводника волновода отличаетсяна 1-5 по одной из компонент от материала полупроводника источника излучения и Фотоприемника.На чертеже показана схема интегрально-оптического тензодатчика,Тензодатчик содержит подложку 1с нанесенными на нее по планарнойтехнологии источником 2, Фотоприемником 3 и тензочувствительным элементом в виде волновода 4.Интегрально-оптический тензодат чик работает следующим образом.Световое излучение от источника2...

Номер патента: 819575

Опубликовано: 07.04.1981

Автор: Деревщиков

МПК: G01B 11/16

Метки: деформацийвнутренних, поверхнос-тей, цилиндрических

...изобретения являетсячение разрешающей способностиройства.Поставленная цель достигаетсчто модулятор светового пучка вполнен в виде кольцевых полос,симых на внутреннюю цилиндричесповерхность объекта в,исследуесечениях с определенным интервмежду ними, а регистратор светоизлучения - в виде. волоконноговода и Фоторегистратора.На чертеже приведена оптичессхема устройства.Устройство содержино расположенные вдолпучка источник 1 моно819575 Формула изобретения ВНИИПИ Тираж Заказ 1365/3742 Подписное излучения, Формирователь кольцевого пучка, выполненный в виде коллиматора 2 иоптических конических элементов .3, кольцевые полоски 4, наносимые на внутреннюю цилиндрическую поверхность объекта 5, регистратор оптического излучения в виде...

Номер патента: 832326

Опубликовано: 23.05.1981

Автор: Штанько

МПК: G01B 11/16

Метки: деформацийобекта

...восстановлениеголограьыой на объекте действитель"ных изображений источника излучения,внутри входного зрачка оптическойсистемы.На чертеже приведена схема работыустройства для измерения деформацийобъекта.Устройство содержит источник 1 из-.лучения, освещающий эталонную голограмму 2. Пучки 3, восстановленныеэтой голограммой, являются опорнымидля голограммы 4, нанесенной на объект 5, которая восстанавливает двасопряженных изображения 6 источникаизлучения внутри оптической систеьн7, с помощью которой наблюдают полосы интерференции,Устройство работает следующимобразом.При деформации объекта 5 изменяются геометрические характеристикиголограммы 4, нанесенной на объект5, что вызывает изменение расстояниямежду восстановленными...

Номер патента: 832327

Опубликовано: 23.05.1981

Авторы: Бернштейн, Губин, Комов, Кретова, Муромова, Перова, Сапожников

МПК: G01B 11/16

Метки: деформа-ции

...иЯг детекторов 3 и 4 в сигнал, про порциональный отношению этих выходныхсигналов, подключенный к выходамобоих детекторов,На чертеже представлены также испытуемый материал 6 и две метки 7 30 и 8, нанесенные на нем.Опорный сигнал синхронного детектора 3 нечетных гармоник должен иметь частоту, равную частоте сканирования, а синхронного детектора 4 четных гармоник - удвоенной частоте сканирования,Работа устройства заключается в следующем.При изменении расстояния между метками 7 и 8, нанесенными на материал 6, подвергаемый деформации, оптический блок 1 проектирует изображение обоих меток в плоскость сканирующей диафрагмы, Оптическая информация о положении меток далее йоступает в фотоприемник 2, который вырабатывает на выходе электрическое,...

Номер патента: 832328

Опубликовано: 23.05.1981

Авторы: Дорогинский, Лазарев, Рубинштейн

МПК: G01B 11/16

Метки: деформацийобразца

...1 показано устройство, вид спереди; на фиг.2 " то.же, вид сверху; на фиг, 3 - разрез А-А на фиг. 1.Устроство содержит корпус 1 и два датчика 2 и 3 перемещений, выполнен-, ные в виде растровых фотоэлектрических преобразователей, с опорами 4 и .5. В корпусе 1 установлен механизм перемещения подвижных растров 6 и 7, содержащий зубчатую рейку 8 и зубчатое колесо 9, находящиеся в зацеплении. Неподвижные растры находятся внутри датчиков перемещений 2 и 38 4точность измерения деформаций образ- . ца. Устройство для измерения деформаций образца, содержащее корпус и два датчика перемещений с опорами, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что,с целью повышения точности измерения деформаций, датчики перемещений выполнены в виде растровых фотоэлектрических...

Номер патента: 834390

Опубликовано: 30.05.1981

Авторы: Андрианова, Афанасьев

МПК: G01B 11/16

Метки: напряжений, образце, поляризационно-оптический, способопределения

...следующим образом.Берут произвольно ориентированныйобразец монокристалла и в нем подходящим образом вводят оси декартовых координат ХЪ . Определяют углы ориентацииэтих осей относительно основных осей 10разметки кристалла и просвечивают образец вдоль различных направлений, поворачивая его вокруг одной из осей Хили У, причем свет в исходном положении распространяется вдоль оси. йля 15каждого угла поворота образца вокругизвестной оси измеряют оптическую разность хода лучей, по которой рассчитывают из пьезооптического уравнения соответствующие фотоупругие постоянные для 20всех компонент тензора напряжений.Возможное число определяемых компонент напряжений зависит от ориентацииосей в решетке кристалла. Если оси ХУ 2коллинеарны...

Номер патента: 834391

Опубликовано: 30.05.1981

Авторы: Андрианова, Афанасьев

МПК: G01B 11/16

Метки: кристаллахкубической, напряжений, поляризационно-оптический, сингонии, способопределения

...света при нормальных и наклонных положениях падения света на образец, измеряют оптическую разность хода пучка и10 его изоклину, по которым определяют на- .пряженияНедостатком данного способа является то, что он требует постановки дополнительных экспериментов, связанных с при 15 менением иммерсионных жидкостей.Наиболее близким к предлагаемому является поляризационно оптический способ определения напряжений в кристаллах кубической сингонии, заключакнцийся в том, что кристалл просвечивают параллельно его кристаллографическим плоскостям (100) и (111) поляризованным лучом света, измеряют оптическую раз 2ь хода и параметр изоклины, по котоопределяют напряжения 1,21.Недостатком известного способа является то, что он не дозволяет...

Номер патента: 836519

Опубликовано: 07.06.1981

Авторы: Платонов, Ульянов, Черновол

МПК: G01B 11/16

Метки: модели, напряжений, про-зрачной

...трудоемкость, взванная необходимостью обеспечениявысокой точности юстировки зеркал относительно друг друга. Целью изобретения являетсяшение трудоемкости.Для этого пучок света разв сдвиговом интерферометре натерферирующих пучка, смещсительно друг друга на вга изображений.На чертеже показана схемазации способа.Исследуемую модель 1 пчок монохроматического свким волновым фронтом 3 .Формула изобретения Составитель Б. Евстратов Ж. Рожкова ТехредЗ.Фанта Корректор Н БабиРед акаэ 3099/31 Тираж 642 ВНИИПИ Государственного ко по делам изобретений и 113035, Москва, ЖРаушскаяодписное тета СС ткрытий наб., д ППП Патент , г. Ужгород, ул, Проектная, 4 л 3 83651 которого может быть установлена фотокамера.При сдвиге иэображений модели относительно...

Номер патента: 838327

Опубликовано: 15.06.1981

Авторы: Де, Козачок, Логинов, Солодкин

МПК: G01B 11/16

Метки: голографическихинтерферограмм, расшифровки

...1, интерферометра 2, сканирующего фотоприемника 3, дифференцирующего блока 4, двух зеркал 5 и 6 и цилиндрической линзы 7, установленных в нулевом порядке дифракции светового излучения 8, механизма 9 поворота, сканирующего фотоприемника 3, дифференцирующего блока 4 и цилиндрической линзы 7, а дифференцирующий блок 4 выполнен оптическим и установлен в первом по- И рядке дифракции светового излучения 10.Световое излучение от лазера 1 дифрагирует на интерферограмме 11, установленной на интерферометр 2.Редактор Ю. ПетрушкЗаказ 4403/55ВНИИПпо113035, МФилиал ППП ойкас Корректор ГПодписноекомитета СССРи открытийшскаи наб., д. 4/5род ул Проектная 4 о щетин Госуда лам и ква, Ж Патент Устройство работает следующим образом.В первый порядок...