G01B 11/16 — для измерения деформации твердых тел, например оптические тензометры

Номер патента: 238852

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Лебедев, Матвеев

МПК: G01B 11/16, G02B 5/10

Метки: оптический, тензометр

...зеркал, обеспечивающих изменение угла падения направленного луча света при прямолинейном движении отражателя.Это повышает точность и расширяет диапазон измерений деформаций.На чертеже схематично изображен описываемый тензометр.,К испытуемому образцу 1 крепятся кольца 2 и 3 с установленными на них зеркалами- отражателями 4 и б. Последние выполнены с криволинейной поверхностью, например, в виде винтовых коноидных заркал.От,неподвижных источников б и 7 све ось зеркал направляются лучи, которые, жаясь, падают на градуированные ш 8 и 9. При нагружении образца осевь зеркала перемещаются вместе с точками относительно неподвижны раллельно оси образца. В резуль няется угол падения направленно отношению к образующей отража раженные лучи о 11...

Номер патента: 241021

Опубликовано: 01.01.1969

Автор: Петунии

МПК: G01B 11/16

Метки: 241021

...устанавливаемую на испытуемую конструкцию; контрольную решетку 2; оптическую систему, состоящую из осветителя 3, конденсорз 4, объективов 5, 6 и полупрозрачного зеркала 7; телевизионный датчик 8 с экраном 9 приемной трубки.Работает предлагаемое устройство следующим образом.Решетка 1, установленная на испытуемой- величина деформации конструкции; - расстояние от фокуса объектива доэкрана передающей трубки;шаг решетки на конструкции;шаг муаровых полос до деформации; - шаг муаровых полос после деформации.зьку а и з 1 - величины постоянные в ельной установке, то для измерения ции необходимо определить шаг муаолос до и после деформации,241021 Предмет изобретения 6 Составитель Л. Лобзовадиктор Т. 3. Орловская Техред А. А. Камышникова...

Номер патента: 241781

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Динельт, Зарезанков, Иль, Покровский, Травушкин, Шаманин

МПК: G01B 11/16

Метки: фотоэлектронный, экстензометр

...каждая из которых содержит объектив 1 б, щелевую диафрагму 17 и зеркала 18, каретку 19, блок 20 следящего привода и стойку 21 со шкалой 22.Свет от осветителей 1 и 2, установленных на исследуемом образце 23, проходит через проекционные системы 14 и 15 и попадает на фотоприемники 4 и 5. Ток фотоприемников зависит от интенсивности воспринимаемых им участков светового потока. Развертывающий диск 13 вращается с постоянной скоростью, и пересечение щели диска 13 с диафрагмой 17 5 создает изображение, движущееся с постоянной скоростью. Ток фотоприемников 4 и 5 носит характер П-образных импульсов,При отсутствии деформации образца сигналы с усилителей равны и на выходе сумма тора 10 напряжение соответствует нулевомузначению местной деформации, а...

Номер патента: 243227

Опубликовано: 01.01.1969

Автор: Куб

МПК: G01B 11/16, G01N 3/00

Метки: исследования, кинетики, трещин

...тем, что, с цмерностей зарожде5 объектах сложнойтации, узел фиксацполнен в виде пакеодни торцы которисследуемой частиО ные - экраны. Известны устройства для исследования кинетики трещин в испытуемом объекте, содержащее осветитель, например стробоскопический, и узел фиксации появившейся трещины, выполненный в виде оптико-механической си;- стемыфиксирующей кинетику трещины на фотобу магу.Предлагаемое устройство отличается от известного тем, что узел фиксации появления трещии выполнен в виде пакета волокнистых световодов, одни торцы которых образуют контрформу исследуемой части объекта, а противоположные - экран.Такое выполнение позволяет исследовать закономерности зарождения и развития трещин в объектах сложной...

Номер патента: 243235

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Бекешко, Муравьев, Научно, Ощепков, Родионов, Рыбалка, Упадышев

МПК: G01B 11/16

Метки: диаметра, излерения, микропровода

...снабжено также блоком питания18, механизмом протягивания микропровода, выполненным в виде двух барабанов 14 и 15, между которыми расположены токоподводящие контакты 16 и 17, и микрометрическимвинтом 18.10 Работает устройство следующим образом.От блока 18 питания напряжение подаетсяна токоподводящие контакты 16 и 17, взаимодействуощие с контролируемыми микропроводом 19, и на контакты, взаимодействующие 15 с эталонным отрезком микропровода (на чертежах не показаны).Тепловое излучение от рабочего и эталонного источников, которыми являются участки контролируемого и эталонного микропроводов, 20 соответственно через оптические системы 8 и 4поступает на вращаемый от привода 6 модулятор 5, одна из поверхностей диска которого выполнена с высоким...

Номер патента: 248314

Опубликовано: 01.01.1969

МПК: G01B 11/16

Метки: 248314

...экстензометра имеет трубчатые отростки 8, плотно укрепленные в его отверстиях, К концам трубчатых отростков прикреплены держатели 9 с углублениями для 30 установки в них двух компенсационных сменных стержней 10 из того же материала, что и образец 11, устанавливаемых параллельно образцу. Держатели снабжены зажимами для установки в них призм. Призмы 1 зажаты ребрами между образцом и сменными стержнями, установлены в держателях с зажимами и имеют возможность углового поворота относительно образца. При помощи крепежных упругих деталей корпус экстензометра крепится к устройству 12 для нагрева образца и регулируется величина прижима между образцом и сменными стержнями.Перед началом измерений прибор юстируют, а затем нагревают образец 11 и...

Номер патента: 249016

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Ильпшевич, Рогожкин, Шаманин

МПК: G01B 11/16

Метки: библиотека, плтептпотехнкчесная

...б пропорционально величине деформации образца 1 б.Импульсы с выхода фотоприемника б через 10 электронный усилитель 7 подаются на формирователь 8 импульсов, который исключает влияние низкочастотных составляющих и преобразует входные импульсы в импульсы строго прямоугольной формы по длительности, 15 равные входным.С выхода формировагеля 8 импульсы поступают на вход компенсационной схемы 10, При номинальной измерительной базе образца время 1, первого полуперпода импульса равно 20 времени 12 второго полупериода. Когда навход схемы 10 подается первый полупериод входного импульса, транзистор 11 закрыт, а транзистор 12 открыт. Напряжение на интеграторе 15 будет создаваться током от источ ника Е и определяться напряжением стабилизации...

Номер патента: 258698

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Лихтерман, Хазанов, Центральный, Шишкова

МПК: A41D 1/00, G01B 11/16

Метки: деформации, испытания, многократные, одежды, прибор

...3, имеющим форму локтевогосустава. Часть 1 соединена с шарниром 4 иустановлена на неподвижной оси 5, а часть 2 -с шарниром 6 и установлена на оси, соверша 10 ющей возвратно-поступательное движение понаправляющим 7 кривошипно-шатунным механизмом, содержащим шатун 8 и кривошип9, взаимодействующий с пальцем 10, Движение части 2 сообщается электродвигателем 1115 через ременную передачу 12 и редуктор 13.Шарнирное соединение 3 состоит из ступенчатой оси 14, вращающейся в подшипникахкачения 15, закрепленных гайками 16.Работает прибор следующим образом.20 Испытуемый рукав надевают на держательи закрепляют в верхней части пружиннымкольцом 17, Нижняя часть рукава остаетсясвободной, а ось части 2 держателя соединяется шпилькой с...

Номер патента: 268723

Опубликовано: 01.01.1970

Автор: Пеньковский

МПК: G01B 11/16

Метки: автоматический, поляриметр

...между компенчизатором, преобразователь б анализатора в код, кинематий с приводом прибора 7, реги- углы поворота анализатора, ь 8, электромеханическую омагнитные муфты 10 и 11, упческим устройством. На чертеже и ская схема поляПредлагаемы ко-механическу компенсатором трическое регис ку 5 Фарадея, сатором и ана. углов, поворота чески связанны стрирующего электродвигател связь 9 и электр равляемые логи Описываемый поляриметр работает следующим образом.Луч света, прошедший через поляризатор,попадает на исследуемую модсль 12 и далее5 через компенсатор и ячейку Фарадея на анализатор и фотоэлектрическое регистрирующееустройство,Полный цикл просмотра одной точки моделисостоит из поисков максимального потемнения10 (гашения) света.При...

Номер патента: 280956

Опубликовано: 01.01.1970

МПК: G01B 11/16

Метки: 280956

...не имеет указанных недостатков и отличается тем, что предварительно определяют градиент тем ератур в образце, измеряют соответствующий им угол откло ения светового луча в данной точке и по полученным данным судят о величине теплового напряжения. Способ позволяет измерять полное напряжение в исследуемом образце, а также, используя естественный неполяризованный монохроматический свет, освободиться от поляризатора,Существо способа заключается в том, что при нагревании прозрачного твердого тела его показатель преломления изменяется. Если нагрев неоднороден, изменение показателя преломления объясняется изменением температуры и возникновением тепловых напряжений. Для определения тепловых напряжений неравномерно нагретый образец помещают...

Номер патента: 282730

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Горбачева, Дев, Куликов, Прозорова

МПК: G01B 11/16

Метки: деформации, прибор, текстильноговолокна

...очередьвисящих на ножах 8 и 9 и несущих противовесы (грузики) 10 и 11.На керне имеется тарелка 12 для размещения грузика 13, на нем же укрепл:на няк 20 лонная плоскость 14, служащая для микроскопа 15, объектом рассматривания. Мнкровинт 16 микроскопа служит отсчетным устройством, по лимбу которого определяетсявеличина деформации исследуемого волокна.25 Риска 17, нанесенная ня няк,-.опной плоскости 14, рассматривается в микроскоп, оптическая ось которого отражена лннцсй 18,параллельной горизонтали 19.При деформации волокна керн с закреп 30 ленной ня нем наклонной плоскостью 14 смсаказ 6492/2 Тираж 480 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете МГиистров СССР Москва, Ж, Раушская иаб., д. 4/5 1,Т Л 1( щается по...

Номер патента: 288311

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Испытательных, Конструкторский, Научно, Приборов, Средств

МПК: G01B 11/16

Метки: тензометр, фотоэлектрический

...7 и блоки 8 и 9 измеренияи регистрации. Устройство совмещения состоитиз разделительных призм 10 и 11, цилиндрического конденсора 12, входных призм 3 и И,выходных призм 15 и 1 б и объектива 17, причем выходная призма 15 вынесена в направленин оси образца 18 за пределы измерительной базы. Образец 18 устанавливается между осветителем и устройством совмещения, Два световых потока от осветителя, полученные с помощью разделительных призм 10 и 11, проходят через границы базы образца. Верхний световой поток отражается входной и выходной призмами 13 и 15 таким образом, что после отражения от выходной призмы 15 он располагается по нижним о ооам, идущим от нижнеи границы базы через пару призм И и 16, предназначенных для компенсации оптической...

Номер патента: 288379

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Григорьев, Дашковский, Калин, Московский, Скорое

МПК: G01B 11/16, G01N 3/06

Метки: дефор, исследования, микроструктуры, мировании, образца

...сектора 10 и штока, соединенного одним концом с нажимцым элементом, а другим - с зубчатым сектором, механизм перемещения объектива выполнен в виде зубчатого сектора и штока, соединенного одним концом с зубчатым сск тором, а другим - с объективом, и кицсматически связан с нагружающим механизмом передаточным устройством, обеспечивающим линейное перемещение объектива, равное линейному перемещению цажимцого элемента. 2 Это создает условия для непрерывного исследования микроструктуры образца при изгибе.На чертеже иозбражена принципиальная схема предлагаемого устройства.Оно содержит нагружающий механизм, 25 микроскоп 1 и механизм перемещения объектива микроскопа.Нагружающий механизм выполнен в виде нажимного элемента 2, зубчатого сектора 3 и...

Номер патента: 288396

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Те, Украинский, Финкельштейн, Холоденко

МПК: G01B 11/16

Метки: бумаги, других, жесткости, картона, модуля, прибор, упругости

...расположенным рычагом с роликом, воздействующим на образец, укладываемый в горизонтальное положение на две опоры.На чертеже показана схема описываемого прибора,Он содержит плиту 1, на которой закреплена колонна 2, На колонне смонтировано грузовое рычажное приспособление, состоящее из вертикального рычага 3 с роликом 4 и горизонтального рычага 5 с роликом 6, Оба рычага жестко связаны между сооои и качаются в вертикальной плоскости. На горизонтальном рычаге устанавливается сменный груз 7, подбираемый в зависимости от свойств испытуемого образца. Испытуемый образец 8 в виде полоски закрепляется в вертикальном зажиме 9 консольно за верхнцй конец. Кроме этого, образец 10 может быть установлен на двух опорах 11 в горизонтальное...

Номер патента: 322609

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Дереза, Тульчинский

МПК: G01B 11/16

Метки: исследования, напряженного, объемного, состояния

...сред. Произвоели придаУ азмеров ячеек координат- картине напряженного соет изобретения Изобретение о тся к и ртехнике.Известен способ исследования объемного напряженного состояния материалов, заключающийся в том, что помещают одноцветные координатные сетки в разных сечениях модели из прозрачного материала, нагружают модель и по изменению размеров ячеек координатных сеток судят о картине напряженного состояния, Однако сетки на фоне материала модели нечетко видны,Целью изобретения является повышение точности исследования объемного напряженного состояния материалов.Это достигается тем, что сетки выполняют разноцветными. Кроме того, модуль упругости материала сеток выбирают равным модулю упругости материала модели,Предлагаемый способ...

Номер патента: 291092

Опубликовано: 01.01.1971

Автор: Радченко

МПК: G01B 11/16

Метки: датчиков, деформацией, замороженной, интерференционных, линейной, оптически, перемещений, полос, чувствительных

...оптически чувствичиков с линейной замороженнойс применением фотографированиятерференционных полос на каждгружения, отличающийся тем, чтовыщения точности измерения, неграфируют и по микрофотограммют величины перемещений макситвующих центрам интерфере интерферентельных датдеформацией картины ином этапе нас целью погативы фотоам определямумов, соотнционных поветс лос,Изобретение относится к области измерения относительных деформаций при исследовании деталей машин или строительных конструкций.Известен способ измерения перемещений интер ференционных полос оптически чувстви тельных датчиков с линейной замороженной деформацией и применением фотографирования картины интерференционных полос на каждом этапе нагружения.Предлагаемый способ...

Номер патента: 295969

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Бахмендо, Орлов, Островский, Трубн

МПК: G01B 11/16

Метки: 295969

...Заявитель ОПТИЧЕСКИ ЧУВСТВИТЕЛЬНЫЙ МАТЕРИАЛ Предмет изобретения Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано при измерении усилий методом фотоупругости.Известно применение в качестве оптически чувствительного материала для моделей в поляризационно-оптическом методе исследования напряжений трехмерных сополимеров стирола с диметакрилатэтиленгликолем. Однако значительная величина модуля первого рода этих материалов (3 10 кг/с,ц) затрудняет применение их при моделировании ползучести.Предлагается применять для изготовления моделей поляризационно-оптического метода исследования напряжений оптически прозрачные полиуретаны. Малая величина модуля первого рода (от10 кг/сл) позволяет использовать оптически...

Номер патента: 297861

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Аллахвердов, Донской, Никитин

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, картине, муаровых, полос

...деформируемая вместе с изделием при нагружении. В ре зультате наложения деформированной и недеформированной (эталонной) сеток друг на друга образуется картина муаровых полос, по которой можно получить все компоненты деформации. 15Цель изобретения - повышение точности измерения деформаций по картине муаровых полос.Это достигается тем, что определяют отношение скоростей взаимного перемещения де формированной и эталонной сеток к скорости перемещения муаровой полосы и по величине этого отношения судят о величине деформации.Согласно способу на эталонную сетку с ша гом Х, накладывается деформированная сетка с шагом Хд или ее копия. Деформированная сетка Рд о ки в после поло сдвигается сносительно ненаправлении,дней. Скоростьпри этом, о...

Номер патента: 298817

Опубликовано: 01.01.1971

Автор: Жильцов

МПК: G01B 11/16

Метки: волокон, деформаций, конструкций, малых

...2 и несколь кими подвижными, (На фиг. 1 показана только одна подвижная ножка). Каждая подвижная ножка состоит из кронштейна 3, на котором закреплены подвижные звенья 4 и 5. Конец длинного плеча первого звена соединен с 10 коротким плечом второго звена с помощьюскоб 6 и 7. Скоба 7 имеет две иглы 8, входящие в луночки элементов 6 и 9. Элемент 9 - упругая пластинка. На свободных концах полвижных и неподвижных ножек имеются 15 марки 10, на которые наводится фотоаппарат 11.Элемент 9, прижимая скобы через иглыобеспечивает системе состояние устойчивого равновесия, При этом коротким плечом вто рого звена является расстояние между остриями игл, а шарниром, относительно которого поворачивается звено, - верхняя игла, опертая в упругую...

Номер патента: 299738

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Наумов, Упадышев

МПК: G01B 11/16, G01M 5/00

Метки: кривизны

...летательного аппарата, при статических испытаниях, содержащие подвешенные к испытываемому элементу на нитях индикаторные приспособления в виде жестких траверс и маятниковых измерителей линейных перемещений со стрелочными индикаторами.В известных устройствах сложность непосредственного замера величины второй разности прогибов при большом шаге интерполяции и наличие зоны нечувствительности стрелочных индикаторов при малых угловых дефор. мациях приводит к снижению точности замеров.Целью данного изобретения является повышение точности определения кривизны упругой линии деформированного элемента конструкции за счет непосредственного измерения второй разности прогибов при большом шаге интерполяции.Предлагаемое устройство снабжено...

Номер патента: 299788

Опубликовано: 01.01.1971

МПК: G01B 11/16

Метки: бесконтактного, деформации, образцов, стеклянных

...камеры 8 позволяет создатьв ней разрежение порядка 10 тор,В крышке камеры имеется направляющийстакан, по которому перемещается осветитель 1, Направляющий стакан создает строго осевое перемещение нагружающего органа, например, пуансона.Образец с контрольными метками размещается на опоре таким образом, чтобы,в иллю минатор пуансона были видны контрольныеметки. Затем в рабочей камере создается ва.куум, после чего;пуансон нагружается по за данной программе.Проектируемое теневое изображсние конт рольных меток направляется через обьективс увеличением в 150 раз на измерительные фо.тоэлектричеокие преобразователи 22.Фотоэлектрические преобразователи 22ориентируются относительно изображения ме ток таким образом, что в мостовой...

Номер патента: 312941

Опубликовано: 01.01.1971

Автор: Катков

МПК: G01B 11/16

Метки: горных, деформаций, пород, скважинах, тензометр

...3 и клиновое распорное устройство 4. Три чувствительных фотоупругих диска-датчика 5, изготовленных из оптически активного материала с отражающим слоем и измеряющих деформации горных пород, смонтированы внутри корпуса 1. Диски-датчики 5 расположены в одной плоскости в виде розетки, и оси их повернуты под углом 120 относительно друг друга, Каждый диск-датчик 5 снабжен внутренним б и наружным 7 упорами, взаимодействующими при измерениях с клиновым распорным устройством 4 и стенками скважины.На внешнем торце корпуса 1 имеются три отверстия 8, предназначенные для наблюдения и подсчета посредством одностороннего полярископа порядка полос в центре дисков.При измерениях корпус 1 тензометра вводят в скважину до упора с торцом ее. При этом...

Номер патента: 315021

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Вишневецкий, Звеков, Пивовар

МПК: G01B 11/16

Метки: тензометр, фотоэлектрический

...на оправе смотрового люка испытательной камеры, благодаря этому повышается точность измерений,На фиг. 1 изображен описываемый тензометр; на фиг. 2 - то же, разрез по А - А на фиг, 1,Фотоэлектрический тензометр для измерения деформаций образцов 1 материалов содержит: испытательную камеру 2 со смотровым люком 3, в который вставлено кварцевое стекло 4; осветитель 5 и фотоприемники 6, устанавливаемые против люка 3 камеры 2; жаростойкие шторки 7, закрепленные на образце; отражательные зеркала 8, установленные с двух сторон каждой шторки внутри камеры на оправе люка посредством кронштеинов 9,Фотоэлектрический тензометр работает следующим образом. При деформации образца лучи от осветителя проходят сквозь люк в ка меру, попадают на одно из...

Номер патента: 326454

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Институт, Исаев, Смирнов, Толубеев, Фридман, Шнырев

МПК: G01B 11/16, G01D 5/34

Метки: деформаций

...поставлена сканирующаяголовка, состоящая из каретки, приводимой ввозвратно-поступательное движение вдоль осиобразца с экранами реверсивным двигателем30 и имеющей рсохордный датчик перемещений,фотоэлектрического датчика и осветителя, дающего плоский световой луч. Запись производится самопишущим двухкоординатным потенциометром с синхронной лентопротяжкой,Сигнал от фотодатчика регистрируется на координате Х, двухкоординатного самопишущего потенциометра. На координате У с помощью реохордного датчика перемещения регистрируется положение сканирующей вдоль образца каретки с осветительным устройством и фотодатчиком в установленном масштабе. Самопишущий потенциометр имеет синхронный лентопротяжный механизм для продвижения диаграммной ленты с...

Номер патента: 327377

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Вителицентральный, Промышленности, Центральный

МПК: G01B 11/16

Метки: деформации, испытания, многократные, одежды, прибор

...перфорированную верхнюю площадку 24, на которой укреплены иглы 25 для фиксациями образца 2 б. Емкость установлена в корпусе 27. Емкость 23 через ,патрубок 28 соединяется с эоздуховодом 29 пневмосистемы,Емкость 23 имеет гайку 30, которая соединена с ходовым винтом 31, имеющим рукоятку 32. 1(орпус 27 имеет ролики 33. В измерительную часть входит фотоэлемент.д 4 и стрелочный прибор 35 (микроамперметр).Работает прибор следующим образом. После определенного количества,циклов образец (рукав) снимается с рабочего органа и рас,кладывается на перфорированной площадке 24 емкости 23. При атом образец.накалывается,на итлы 25 и зажимается по краям держателем- зажимом 22, который с помощью, винта 3 б и пружины 37 заиимает образец воируг емкости...

Номер патента: 328336

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Богданов, Шавер

МПК: G01B 11/16, G01D 5/30

Метки: i-es, iitm-i-"-lt, i••, преобразователи, фотоэлектрический, ьлж, •-"тм

...в цепь питания через коммутатор 9. Если осветитель 8включен в цепь питания постоянно, то пре 5 образователь включает в себя обтюратор 10,помещенный перед осветителем предварительной подсветки.В начале цикла измерения все фоторезисторы 5 засвечпваотея осветителем 8 предва 10 рптельной подсветки.В зависимости от размера измеряемого пзделп 51 измерите;ьпыи стержень Воздепстюетна мультпплпкз гор 2, который посредствомотражательного зеркала 8 направляет луч15 света на соотвегствующий размеру изделияфоторезистор 5,Перед подачей напряжения коммутатором7 прекращается подача света на фоторезпсторы 5 от осветителя 8 предварительной под 20 светки.Отключение осветителя 8 осуществляетсяпосредством коммутатора 9 или оотюратора10, После этого...

Номер патента: 330336

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Камина, Кондрашкин

МПК: G01B 11/16

Метки: 330336

...статическим давлением, или сжимают отре занные от цилиндра диски силами, действующими вдоль вертикального диаметра. При этом тензометры получаются с нелинейным радиальным градиентом полос.Предлагаемый способ отличается от известных тем, что напряженное состояние в процессе замораживания материала создают вращением цилиндрического образца с постоянной угловой скоростью. Это позволяет изготовлять оптически активный тензометр с 20 линейным градиентом полос.Описываемый способ осуществляется следующим образом.Образец цилиндрической формы из оптически активного материала, например из 25 эпоксидной смолы ЭД, отвержденной малеиновым ангидридом, закрепляют в термостате в центрах, приводят центры во вращение с постоянной угловой скоростью и...

Номер патента: 331250

Опубликовано: 01.01.1972

Автор: Дементьев

МПК: G01B 11/16

Метки: взаимно, двум, контролируемых, направлениям, перпендикулярным, смещения, точек

...источник светового луча, например лазер, и систему линз, каждая из которых снабжена двухкоординатным фотоэлектрическим датчиком и жестко крепится к контролируемой точке.Такое выполнение устповременно измерятьпроизвольно расположсистеме координат. ц систему линз 5, каждая из которых жесткокрепится к контролируемой точке.Лазер предназначен для создания световоголуча 6, охватывающего фотоэлементы 3. От 5 носительно луча измеряются деформации точек, с которыми жестко скреплены линзы 5,размещенные в лучеводе 1. Э.д.с возникающая на электродах продольных фотоэлементов 3, поступает на двухкоордцнатные датчи 10 ки 4. По показаниям датчиков 4 определяютвеличины вертикальных и боковых смещенийпродольных фотоэлементов 3 относительно луча 6...

Номер патента: 331251

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Андреев, Лисицын, Миронов, Остренко

МПК: G01B 11/16

Метки: давлением, металла, моделирования, процесса, технологического

...О редмет изобретен дели инструмента, на тчески чувствительного Изобретение относится к испытательной технике, а именно к способам моделирования технологического процесса обработки металла давлением,Известны способы моделирования технологического процесса обработки металла давлением, заключающиеся в том, что модели инструмента, например валки, из оптически чувствительного материала нагружают внешним усилием и наблюдают картину изменения напряженного состояния,Однако условия моделирования процесса обработки металла давлением по известному способу далеки от реальных, так как при этом не модулируются касательные составляющие контактных напряжений.По .предлагаемому способу в зоне контакта инструмента и металла помещают упругую ленту и...

Номер патента: 335535

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Клименко, Рудный, Селиванов

МПК: G01B 11/16

Метки: поверхностипроката, чистоты

...лентопротяжный механизм и ролик, периодически прижимающий ленту к контролируемой поверхности, а степень загрязненности опредеИзобретение относится к неразруша контролю материалов и изделий и найти применение в металлургическо мышленности при автоматизации к прокатного производства, процессов ния защитных покрытий, а также для ля чистоты поверхности различных из Известны устройства для контроля нения листовых материалов фотоэле ским методом, основанные на том, что дуемую поверхность освещают направ пучком света и измеряют интенсивнос та, отраженного этой поверхностью, п чине которой судят о степени загрязнепутем определения отн токов, отраженных от ного участков ленты. Э ть исключить влияние ния нестабильности апти лируемой поверхности,...