Растр и способ определения деформаций с помощью растра
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
)ЯО 2 4 Ы 5. Р 1) С 01 В 11/16 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМПРИ ГКНТ СССР(56) Сухарев И.Н., Ушаследование деформацийметодом муаровых полосстроение, 1969, с,33-3.Орлов и азиещают н близи нее,поверхносвещаютражения д ков Б. Н, Иси напряженийМ,; Мдпицо 4 о1 РЕДЕЛЕНИЯ ДЕ- СТРА ют его из формации и получают муаровые кар На пути света, прошедщего растр, иещают анализатор с возможностью ворота плоскости поляризации, а гистрацию иэображений растра про водят фотокамерами раздельно при мещении плоскостей поляризации р ных систем полос растра и анализ ра. По муаровым картинам определ деформации. 1 э.п.ф-лы, 2 ил. раз" оия жет быть исполдеформаций средств. Цельние точности и атояют Изобретение отно ной технике и может но при измерении де оптических средств. Целью изобретения является шение точности измерений за с дельной регистрации муаровых и обеспечение возможности упр ния чувствительностью измерен тем ее дискретного изменения. На фиг,1 изображен растр жащий системы полос, ориентир ные друг относительно друга п лом 90 о(а, г) и 0 (б,в); на устройства для реализации пре мого способа, зацпи способ с помощью раисточник 2 отокамеру 4. повыет разартин Полосы выполнены из материала, обладающего поляриэационными свойствами, такими, что плоскости поляризации полос, относящихся к разным системам, ориентированы по разным направлениям. Наг полос в разных сис" темах различен (фиг.1 б,в,)Растр может быть выполнен нз полос с одинаково ориентированными плоскостями поляризации, пространство между кото-, рымн заполнено материалом с другой авл оде -анод угфиг.2 агае(57) Изобретение оттельной технике и мзовано при измерениипомощью оптическихизобретения - повьпп сптся к измерительбыть использоваформаций с помощьюмерений за счет разделции муаровых картин ииожности управления чуизмерений путем ее диснепия. Растр из материщего полярйзационныии Устройства для ре определения деформац стра содержат растр света, анализатор 3,ьной регистра- обеспечение воэвствительностью кретного иэмеала, обладаю- свойствами, ти объекта ипи астр, регистрио и после де 1 б 49258ориентацией плоскости поляризации (Фиг.1 г).Способ определения деФормаций с ,помощью растра осуществляют следую 5 щим образом.Растр 1 размещают на поверхности " объекта цли вблизи нее, освещают, растр 1,регистрируют его изображения до и после деФормации и получают муаровые картины.Освещение растра 1 производят с помощью источника 2 света. Иа пути света, прошедшего растр 1, устанавливают (Фиг. 2 б, в) анализатор 3 с возможностью поворота плоскости поляризации. Регистрацию иэображений растра 1 производят раздельно при совмещении плоскостей поляризации каждой системы полос и ана О лнзатора 3. Таким образом получают две раздельные картины муаровых полос, несущие инФормацию о перемещециях точек исследуемого объекта в двух .различных направлениях. Ио муа ровым картинам определяют деФормации.Способ может быть реализован с помсщь 1 о различных устройств (фиг.2 а,б,в,По схеме (Фиг,2 а) анализатор 3 может быть размецен между растром 1 и 3 п источником 2 свата, а регистрация муаровых картин ведется раздельно двумя Фотокамерами 4, Каждая Фотокамера 4 регистрирует свою систему полос при совмещении плоскостей поляризации этой системы и анализатора 3. В результ ате наложения изображений недеФормированного и деФормированного растров 1 на негативах Фотокамер 4 образуются две раздельные картины муа.4 О ровых полос, несущие инФормацию о деФормаципх по двум направлениям.По схеме (Фиг,2 б) растр 1 нанесен на объект и па прозрачную плас- тину, помещенную вблизи поверхности объекта, На поверхности объекта - известный растр 1 а на пластине - предлагаемьц 1. После деФормации объекта возникают муаровые картины, которые ФотограФируют раздельно Фотокамерой 4 при совмещении плоскостей поляриза" . ции анализатора 3 с плоскостями поляризации каждой системы полос растра 1,Ир длагаемьд способ может быть реализован по схеме теневого муара(Фиг.2 в), Растр 1 с параллельными си-. стемами полос устанавливают вблизи поверхности объекта. 11 ри освещении объекта белым светом от источника 2 возникают муаровые картины интерФеренции полос растра 1 с полосами, спроецированными на поверхность объекта. Начальные картины ФотограФируют Фото" камерой 4 при совмещении плоскостей поляризации анализатора 3 и каждой системы полос растра 1 в отдельности.Таким образом, ФотограФируют муаровые картины после деФормирования объекта. Ири этом получают муаровые картины, соответствующие различным шагам полос, т.е. разной чувствительности системы. Формула изобретения1. Растр, содержащий системы полос, ориентированные одна относительно другой под углом, кратным й/2,о т л и ч а ю щ и й с я тем, что,с целью повышения точности измерений,полосы выполнены из материала, обладающего поляризационными свойствами,такими, что плоскости поляризации полос, относящихся к разным системам,ориентированы по разным направлениям,2. Растр по п., о т л и ч а ю -щ и й с я тем, что, с целью обеспечения возможности управления чувствительностью измерений путем ее дискретногоизменения, шаг полос в разных системах различен,3, Способ определения деФормацийс помощью растра, заключающийся втом, что растр размещают на поверхности объекта или вблизи нее, освещают растр, регистрируют его изображения до и после деФормации, получают муаровые картины и по ним определяют деФормации, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что, с целью повышения точности измерений и обеспечения возможности управления чувствительностьюизмерений путем ее дискретного изменения, на пути света, прошедшегорастр, устанавливают анализатор с возможностью поворота плоскости поляризации, совмещают плоскости поляризации каждой системы и анализатора ипроизводят раздельную регистрацяюизображений растра.1 б 49258 иг Составитель В.Костюченкодактор Е.Копча Техред А,Кравчук Коррект ал Раж 3 ГКНТ СССР изводственно-иэдательский комбинат "Патент",Гагарина, 1 ород Заказ 1511НИИПИ Государственного к113035, М ьитета п сква, ЖПодписное изобретениям и открытиям Раушская наб., д. 4/5
СмотретьЗаявка
4681030, 20.04.1989
ТЮМЕНСКИЙ ИНДУСТРИАЛЬНЫЙ ИНСТИТУТ ИМ. ЛЕНИНСКОГО КОМСОМОЛА
ВОРОНОВ ВИКТОР СТЕПАНОВИЧ, ОРЛОВ АНДРЕЙ ПЕТРОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 11/16
Метки: деформаций, помощью, растр, растра
Опубликовано: 15.05.1991
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1649258-rastr-i-sposob-opredeleniya-deformacijj-s-pomoshhyu-rastra.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Растр и способ определения деформаций с помощью растра</a>
Предыдущий патент: Устройство для контроля диаметра световодов и оптических волокон
Следующий патент: Способ бесконтактного измерения деформаций лопаток турбомашины
Случайный патент: Вторичные часы