Способ электронного моделирования дефектов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
,ния дефектов относится к ультразвуковой контрольно-измерительной технике, Целью изобретенияявляется повышение точностимоделирования дефектов, Сйособ заключается в измерении спектра зондирующего сигнала, в определении коэффициента передачи для каждой спектральной составляющей этого сигнала, несущих основную долю энергии, и в формировании. сигнала отклика путем изменения амплитуды этих спектральных составляющих с учетом полученных коэффициентов передачи. 1 ил. 29 Я.С(57) ЛИРОВАлирова и усилитель 9, выход которого подключен к второму входу блока 3 ления, блок 10 ввода исходных п метров установки, подключенный к второму входу вычислительного блока 6, и последовательно соединенные блок 11 ввода имитируемых параметров и блок 12 памяти АРД диаграмм, выход которого подключен к третьему входу вычислительного блока 6. Кроме того, на чертеже показан контроль но-измерительный прибор 13 с преобра зователем 14. Выход синхронизации прибора 13 соединен с третьим входом блока 3 управления.Устройство работает следующим тся к ультра змерительной управараспользовано звуковои контаппаратуры, аисследовательизучения ос ультразвуковыхдефектов. вляется новы ования дефек дставлена функцио ройства, реализую ронного моделироа чертеже образом Прес прибора дартный вым претандартныино соедиазователь ок 4 цифровычисления урье, вычи ржит вате преобрния, блблок 5вания Ф вои сиг ступает 7 вычисления Фурье,зователь 8 бло зова реоб ции, гдформу,ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИЯМПРИ ГННТ СССР Н А ВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТ 4227320/25-2810.04,8707.08.89. Бюл.А,А.Романко и В.534.6 (088,8)Авторское свидет315, кл. С 01 Итент С 1 ИА3531901 Ю 29/04, 197(21) (22) (46) (72) (53) (56)502Па кл. С СПОСОБ ЭЛЕКТРОННОГО МОДЕДЕФЕКТОВСпособ электронного мод Изобретение относизвуковой контрольно втехнике и может бытьпри калибровке ультрарольно-измерительнойтакже при проведенииских работ в областибенностей регистрациисигналов от различныхЦелью изобретенияшение точности моделитов. нальная схема ус щего способ элек вания дефектов.Устройство со образец 1, после ненные образцовы 2, блок 3 управл вой регистрации, прямого преобраз лительный блок 6 обратного преобр цифроаналоговый разователь 14 поверяемого 13 устанавливается на стан- образец 1. Принятый образцо бразователем 2 ультразвукоал через блок 3 управления по в блок 4 цифровой регистрапреобразуется в цифровую в блоке 5 определяется его1499220 Применение способа позволитучесть индивидуальные особенностикаждого поверяемого прибора, что вконечном итоге повысит их качество. Составитель В,Кольцоведактор И.Горная Техред М.Дидык Корректор М.Максимишин Подписное каэ 4683 41г а по изоб Ж, Ратени ска изводственно-иэдательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарина, 101,прямое преобразование Фурье. Полученный спектр ввычислительном блоке 6 умножается на коэффициент передачи образца с модулируемым искус"5 ственным дефектом, значение которого находится в блоке 12 памяти АРД диаграмм, управляемом блоком 11 ввода имитируемых параметров, и на коэффициенты, учитывающие частотную за висимость коэффициента передачиобразцового преобразователя 2 истандартного образца 1. Их значения находятся в блоке 10 ввода исходных параметров установки (опреде ляют при аттестации этого устройства). В блоке 7 осуществляетсяобратное преобразование Фурье и с помощью цифроаналогового преобразователя 8 формируется аналоговый сигнал 20 отклика, который усиливается усилителем 9 и через блок 3 управления излучается образцовым преобразователем 2 в сторону поверяемого контрольно"измерительного прибора, 2 Формула изобретения Способ электронного моделирования дефектов, заключающийся в формировании зондирующего сигнала, создании сигнала отклика и воздействии им на ультразвуковой контрольно-измерительный прибор, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности моделирования дефектов, измеряют спектр зондирующего сигнала, определяют коэффициент передачи в акустическом тракте для каждой спектраль" ной составляющей этого сигнала, несущих основную долю энергии, изменяют амплитуды этих спектральных составляющих с учетом полученных коэффициентов передачи и формируют сигнал отклика в соответствии с полученным спектром,
СмотретьЗаявка
4227320, 10.04.1987
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Р-6542
РОМАНКО АЛЕКСЕЙ АНАТОЛЬЕВИЧ, СЕМЕНОВ ВАЛЕРИЙ ЯКОВЛЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 29/04
Метки: дефектов, моделирования, электронного
Опубликовано: 07.08.1989
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1499220-sposob-ehlektronnogo-modelirovaniya-defektov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ электронного моделирования дефектов</a>
Предыдущий патент: Устройство для анализа жидкостей и газов
Следующий патент: Устройство испытания изделий на собственных частотах
Случайный патент: Устройство к строгальному станку