Способ обнаружения дефектов поверхности

СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК ЯО 14956 1)4 С 01 М 21/8 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЦТИПРИ ПНТ СССР Е ИЗОБРЕТСВИДЕТЕЛЬСТВУ ПИС(71) Тульский политехнический институт(56) Заявка Великобритании 1 Ф 1350189, кл, С 1 А, 1974.Авторское свидетельство СССР Мф 236024, кл. С 01 В 11/30, 1969. (54) СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ ДЕФЕКТОВ ПОВЕРХНОСТИ(57) Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для обнаружения посторонних включений в структуру материала детали, неодинаковой цветности участков поверхности детал Целью изобретения является повышение надежно фектов поверхно шающих поверхно риала детали, п ния к ффици влиян снижениверхнос направляютемой детаазуют в я этого световои т ост контролир т и преоб на повер ли, реги электрич трир ские игналы зеркально е световые поток диффуэно отраж гналы обои на Электрически усиливают, о абсолютных м сигналов тов. Сум- Е по налиоставлявщи уд переменныхусловиях отс утствия де ые сигналы силе мир чию электрического импуль судят поверх дефектнос сти. 1 ил онтролируем еи. к контрол Изобретение относится измерительной технике ду зеркально отраженного отруемой детали 3 луча световка, фотоприемник 4, располопо ходу диффузно отраженного луча светового потока, усилитель 5, входо подключенный к фотоприемнику 2, усилитель 6, входом подключенный к фотоприемнику 4, сумматор 7, подключенный к выходам усилителей 5 и 6, выход сумматора 7 подклвчен к формирователю 8 импульсов.Способ осуществляют следувщим образом. контролиого пото- женный и может бытьния постоуру материаиспользовано для обнаруж ронних включений в струк а детали, неодин частков поверхноЦелью изобрете ение надежности ково тности алей ти де ия яв бнару талей сплош яется и ения де ек- шаюериав поверхнос не наости м ой их поверхноса детали. На чертеже представлена блоксхема устройства, реализующего спо соб,Устройствофотоприемник 2 нтролируемойсветовой луч отьно и диффузионно На поверхностьетали 3 направляюзлучателя 1, зерк включает излучатель расположенный по х Н АВТОРСКОМУ ти обнаружения дети деталей, не нарутной сплошности матоявляющихся как кол нта отражения, путемя микрогеометрии позультаты контроля. спечивая равенствоовенных значений ампли -1495693 ются,отраженные световые потоки регистрируют и преобразуют в электрическиесигналы с помощью Фотоприемников 2 и4. Злек,трическне сигналы с фотоприемников 2 и 4 усиливают усилителями5 и 6, причем коэффициенты усиленияподобраны так, что при отсутствиидефектов на поверхности контролируемой детали абсолютные мгновенные 30значения амплитуд переменных составляющих электрических сигналов на выходах усилителей, определяемые рельеФом контролируемой поверхности, равны между собой. Быравтенные сигналы 15суммируют в сумматоре 7. При отсутствии дефектов переменные составляющие электрических сигналов на выходах усилителей 5 и 6 находятся впротивофазе, так как их фазы определяются соответственно зеркальным идиффузным характером отражения светаи после сложения взаимно компенсируВ случае наличия дефекта, появляющегося как нарушение поверхности контролируемой детали (царапины, трещины, сколы, выбоины), импульсы электрических сигналов определяемые де фектами этого типа на вь.ходах усилителей 5 и 6 противофазны и при сложении также взаимно компенсируются, При наличии на поверхности детали дефектов, не нарушающих микро- рельеф поверхности (посторонние включения в структуру материала детали, неодинаковая цветноссь участков поверхности и т.п.), импульсы электрических сигналов от дефектов на вы ходах усилителей 5 и 6 синфазпы, так как при отражении света от поверхности с такими дефектами непроисходит изменения характера индикатриссы рассеивания света и ин тенсивность света, отраженного как зеркально, так и диффузно, изменяется синфазно в зависимости от коэфФициента отражания участка детали.Сложение усиленных электрических сигналов увеличивает амплитуду результирующего импульса от дефекта,компенсируя шумы от микронеровностейи механических дефектов поверхности,Из сигнала с выхода сумматора 7выделяют переменную составляющую иФормируют электрический импульс Формирователем 8 импульсов, по отсутствио илп наличию которого судят о годности или негодности контролируемойдетали,Б связи с тем, что электрическиесигналы Фотоприемников усиливают,обеспечивая равенство абсолютныхмгновенных значений амплитуд переменных составляющих сигналов на выходах усилителей в условиях отсутствиядеФектов, и суммируют усиленныеэлектрические сигналы, полностьюкомпенсируются шумы, определяемые микронеровностями поверхности и дефектамц, изменяющими микрорельеф поверхности детали, увеличивается отношение сигнал/шум и повышается надежность обнаружения дефектов типа посторонних включений в структуру материала детали, изменение цветностиучастков поверхности и т,п,Формула изобре тения Способ обнаружения дефектов поверхности, заключающийся в том, что световой поток направляют на поверхность контролируемой детали, регистрируют и преобразуют в электрические сигналы зеркально и диффузно отраженные световые потоки, по которым судят о наличии деФектов, о т л и ч а ю - щ и й с я тем, что, с целью повышения надежности обнаружения дефектов, не нарушающих поверхностной сплошности материала детали, электрические сигналы, соответствующие зеркально и диффузно отраженным световым потокам, усиливают, выравнивают абсолютные мгновеннье значения амплитуд переменных составляющих усиленных сигналов в условиях отсутствия дефектов поверхности, суммируют выравненные сигналы и по амплитуде результирующего сигнала судят о наличии дефектов.1495693 Составитель Е,МаколкинРедактор С.Пекарь Техред Л,Олийнык Корректор Т.Ма Подписно КНТ СССР ткрытиям д, 4/5м аб оск ельский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина, 1 О Производственно Заказ 4258/41 ВНИИПИ Государственного 113035, Тираж 789та по изобретен