G01N — Исследование или анализ материалов путем определения их химических или физических свойств

Страница 1870

Шаблон для нанесения решетчатых надрезов при испытании лакокрасочных покрытий на адгезию

Загрузка...

Номер патента: 1770841

Опубликовано: 23.10.1992

Автор: Глускин

МПК: G01N 19/04

Метки: адгезию, испытании, лакокрасочных, надрезов, нанесения, покрытий, решетчатых, шаблон

...ее части. От кромки прорези 2 до крал пластины нанесены риски 4, расположенные на одинаковых расстояниях одна от другой в направлении, перпендикулярном прорези 2, На обеих сторонах кромок выреза 3 нанесены дополнительные риски 5, расположенные на расстоянии одна от другой, равном расстоянию между рисками 4, Причем длина прорези 2 больше длины рисок 4. Кромки выреза 3 срезаны по криволинейной поверхности 6, при этом дополнительные риски 5, нанесенные на этой поверхности, образуют с краем кромок выреза 3 пазы 7,Испытание лакокрасочных покоытий на адгезию с помощью предлагаемого шаблона осуществляется следующим образом,Шаблон накладывают на испытываемый участок покрытия, Режущим инструментом вдоль внутренней кромки направляющей...

Оптическая кювета для микроскопического исследования жидкости в тонком слое

Загрузка...

Номер патента: 1770842

Опубликовано: 23.10.1992

Авторы: Колпаков, Лаптева, Пожарская, Скрипов

МПК: G01N 21/03

Метки: жидкости, исследования, кювета, микроскопического, оптическая, слое, тонком

...кинетикирасслаивания растворов, а именно: наличие тонкого слоя исследуемого образца (40100 мкм) для исключения эффектовсуперпозиции отраженных потоков Света откапель; обеспечение однородности раствора по. концентрации в исследуемом объемепутем перемешивания в любой момент времени; воспроизводимость и контроль основных характеристик раствора(концентрации и температуры расслаивания) за счет герметичности камеры и возможности термостатирования образца.Целью изобретения является повышение достоверности исследований при изучении кинетики расслаивания растворов подмикроскопом.Цель достигается тем, что в оптическойкювете стеклянный вкладыш в виде диска,расположенный внутри замкнутого объемакамеры, образованного плоскопараллельными окнами...

Способ визуализации микронеоднородностей в кристаллах

Загрузка...

Номер патента: 1770843

Опубликовано: 23.10.1992

Авторы: Карпова, Комар, Мигаль, Терейковская

МПК: G01N 21/19

Метки: визуализации, кристаллах, микронеоднородностей

...осуществляется следующим способом.Свет от источника 1, пройдя через конденсор 2, светофильтр 3 и поляризатор 4 становится линейно поляризованным, Затем свет проходит через матовое стекло 5 и исследуемый кристалл 6 и анализатор 9. Изображение кристалла б в поляризованном свете получаем с помощью обьектива 10 на экране 11. Микронеоднородности и различного рода остаточные напряжения в кристалле создают сложную картину двойного лучепреломления на экране, однозначная интерпретация которой невозможна, Однако если в кристалле с помощью приспособления 7 создать напряжения чистого изгиба, то картина на экране 11 существенно изменяется, Центральная часть кристалла, в которой отсутствует напряжение, создает на экране темную нейтральную...

Способ определения микроколичеств кремния

Загрузка...

Номер патента: 1770844

Опубликовано: 23.10.1992

Авторы: Бабкина, Потапенко, Соловьева

МПК: G01N 21/25

Метки: кремния, микроколичеств

...25 см, создают рН среды 6 - 7 последовательной обработкой 0,15 н. серной кислоты и 0,3 н. аммиака (предварительно перегнанного). Объем раствора не должен превышать 15 см, Добавляют 0,3 мл 8 н, серной кислоты, 1,25 мл 5-ного молибдата аммония, перемешивают и выдерживают 15-20 мин, добавляют 3 мл 8 н. серной кислоты и через 1 - 2 мин 2,5 мл 10/,-ного раствора аскорбиновой кислоты, через 10 - 15 мин добавляют 500 мг сорбента АВв хлор-форме и перемешивают 25 - 30 мин. Окрашивание ионообменника (сорбция молибденовой сини) начинается с 1-й минуты контакта раствора с сорбентом и достигает максимального значения (100 О) через 25-30 мин, т.е. наблюдается полнота извлечения кремния анионообменником. Сорбент не изменяет свой цвет в течение...

Фотометрический портативный анализатор для экспресс-анализа газовой или жидкой среды

Загрузка...

Номер патента: 1770845

Опубликовано: 23.10.1992

Авторы: Арсенькин, Исаев

МПК: G01N 21/25, G01N 31/22

Метки: анализатор, газовой, жидкой, портативный, среды, фотометрический, экспресс-анализа

...кассету 3 с помещенными внутри ее двухсторонним чувствительным прозрачным индикаторным элементом 4, нэд чувствительными слоями которого расположены секции 5. 6 реакционной камеры, которые гидравлически соединены между собой и штуцерами входа 7 и выхода 8 анализируемой среды, эталон сравнения 9. Корпус 1 в нижней части снабжен матированным светорассеивающим стеклом 10. а крышка 2 имеет прорезь - направляющую, в которой свободно передвигается эталон сравнения 9, выполненный в виде съемной планки 11 с имитаторами окрасок, На фиг,2 показаны два различных варианта расположения имитаторов окрасок на передвигающейся съемной планке 11(а).в виде прямой полоски, плоскость которой параллельна плоскости индикаторного элемента 4 и сьемной...

Фотометрический анализатор для экспресс-анализа газовой среды

Загрузка...

Номер патента: 1770846

Опубликовано: 23.10.1992

Авторы: Арсенькин, Исаев

МПК: G01N 21/25, G01N 31/22

Метки: анализатор, газовой, среды, фотометрический, экспресс-анализа

...пищевой резиной и имеет свободное вращение на оси 35, а другой выполнен из пластполимера и жестко связан со съемной рукояткой 36 протягивающего приспособления индикаторного элемента 2.Фотометрический анализатор (фиг.2) вместо оптической головки 6 содержит цилиндрический держатель 37, снабженный изнутри вкладышем 38 с продольными направляющими 39, а снаружи - гайкой 40 и имеющий в своей верхней части разъем с реакционной камерой 3 в виде шарнирного соединения прозрачной крышки 41 реакционной камеры 3 через Г-образную скобу 42, устанрвпенной на срезе гайки 40, которая имеет совместно с реакционной камерой 3 коаксиальное перемещение вокруг оси держателя 37, Разъем реакционной камеры 3 с держателем 37 фиксируется запорной пружинной...

Устройство для измерения распределения градиента показателя преломления

Загрузка...

Номер патента: 1770847

Опубликовано: 23.10.1992

Автор: Гуменник

МПК: G01N 21/41

Метки: градиента, показателя, преломления, распределения

...на угол Оотневозмущенного направления распространения. При этомО= -- д г 1 ), гдвп,1 дппо оду по - показатель преломления в обьекте и окружающей объект среде соответственно; . - протяженность объекта вдоль направления распространения, а направления осей координат показаны на фиг.1, При сканировании лазерного пучка осуществляется переход к другой точке объекта и лазерный пучок откланяется от невозмущенного направления распространения на.угол О 1 и т.д.При достаточно быстром сканировании (когда время кадра меньше характерного времени изменения объекта) временнаязависимость О(т) связана с пространственным распределением величины15-- б(у/ч), где у - координата, вдольпо О 3 укоторой осуществляется сканирование; ч -скорость...

Способ определения показателя преломления клиновидных образцов

Загрузка...

Номер патента: 1770848

Опубликовано: 23.10.1992

Автор: Герасимова

МПК: G01N 21/41

Метки: клиновидных, образцов, показателя, преломления

...от зеркальной поверхности и вновь прошедшим через образец, дополнительно формируют два изображения диафрагмы, второе образованное излучением, прошедшим через образец, отраженным от зеркальной поверхности и вновь прошедшим через образец при двукратном отражении внутри клина, третье - образованное излучением, прошедшим через образец, при двукратном отражении внутри него, отраженным от зеркальной поверхности и прошедшим вне исследуемого клина, измеряют угловые расстоянил между первым и вторым изображением Й и между первым и третьим изображением Й а показатель преломления и образца определяют из соотношенияИ 12 й:,ИГИзвестно, что при установке первой по ходу луча грани клина и зеркала нормально или под малым углом я к падающему излучению...

Способ ориентации одноосных оптически прозрачных кристаллов

Загрузка...

Номер патента: 1770849

Опубликовано: 23.10.1992

Авторы: Войтукевич, Лапицкий, Лившиц

МПК: G01N 21/45, G03H 1/00

Метки: кристаллов, одноосных, оптически, ориентации, прозрачных

...монохроматическим когерентным излучением. обеспечивающее достижение положительного эффекта - повышение точности определения ориентации оптической оси кристалла, Следовательно, заявляемыйспособ ориентации одноосных оптическипрозрачных кристаллов представляет собой новую совокупность признаков как сочетание известных признаков и нового технического свойства, что позволяет признать его соответствующим критерию "существенныеотличия",На чертеже представлена оптическая схема устройства, реализующего предлагаемый способ,Схема устройства содержит источник 1монохроматического плоскополяризованного когерентного излучения, двухосевой20 гониометр 2, исследуемый кристалл 3, систему 4 сбора оптической информации и оптический регистратор 5.Процесс...

Способ определения спектральных направленно-полусферических коэффициентов отражения образцов

Загрузка...

Номер патента: 1770850

Опубликовано: 23.10.1992

Авторы: Скоков, Судариков, Титов, Фомичев

МПК: G01N 21/55

Метки: коэффициентов, направленно-полусферических, образцов, отражения, спектральных

...канала, Световой диаметр Оо зеркала 255 выбран из условия Оо = 41 ф, где т- фокусноерасстояние зеркала 2. Плоское зеркало,4имеет возможность линейного перемещения в направлении, перпендикулярном оптической оси зеркала 2, что позволяет5 10 изменять угол падения света на образец 3. Приемник излучения 5 с помощью устройства сканирования имеет возможность перемещения в плоскости, перпендикулярной оптической оси зеркала 2. Спектральный направленно-полусферический коэффициент отражения определяют следующим образом. Измеряемый и эталонный образцы последовательно помещают в фокус зеркала 2, а плоское зеркало 4 устанавливают в положение, обеспечивающее освещение образцов под требуемыми углами, Источник света 7 формирует параллельный пучок лучей...

Способ измерения плотности потока излучения в условиях взаимно изменяющейся ориентации источника и фотоприемного устройства

Загрузка...

Номер патента: 1770851

Опубликовано: 23.10.1992

Авторы: Асадчий, Ашкинадзе, Красовский, Людчик, Покаташкин

МПК: G01J 1/04, G01N 21/59

Метки: взаимно, излучения, изменяющейся, источника, ориентации, плотности, потока, условиях, устройства, фотоприемного

...ее внутреннюю поверхность покрытием, пропусканиекоторого Т(а) характеризуется следующимсоотношением:Т(а) = А/К(а),где а - угол падения пучка излучения начувствительную площадку фотоприемногоустройства;ЧЧ(а) - зависимость чувствительностифотоприемного устройства от угла паденияизлучения;А - коэффициент, равный произведению угловой чувствительности и пропускания при максимально допустимом углепадения,Нэ чертеже показано устройство дляосуществления предлагаемого способа,Устройство содержит фотоприемник 1,в качестве которого используется кремниевый фотодиод ФДс диаметром входногоокна 2 10 мм. Фотодиод закреплен в центральном отверстии металлической пластины 3, представляющей собой цилиндрвысотой 5 мм, поверхность которого покрыта...

Устройство для измерения концентрации жидких сред

Загрузка...

Номер патента: 1770852

Опубликовано: 23.10.1992

Автор: Беляков

МПК: G01N 21/59

Метки: жидких, концентрации, сред

...17 с измерителем ультразвуковых колебаний 21. Управление работой устройства, обработка измерительной информации и выдача результатов измерений осуществляется с помощью вычислительного микропроцессорного блока 22.ЯПомимо оптического датчика (передающий световод 5 - приемный световод б),ультразвукового (передающий пьезопреобраэователь 9 - приемный пьезопреобразователь 10) и СВЧ-датчика (передающий СВЧ-колебания электрод 7 и воспринимающий СВЧ-колебания электрод 8), в данном устройстве могут быть использованы дополнительные СВЧ-датчики, образованные наружными поверхностями цилиндрических электродов 7 и 8 и наружными поверхностями(обращенными внутрь в контролируемую жидкость) пьезопреобразователей 9 и 10 соответственно.Для измерения...

Способ фотометрического определения газосодержания в газожидкостной эмульсии

Загрузка...

Номер патента: 1770853

Опубликовано: 23.10.1992

Авторы: Горбачева, Ставаш, Чернышев, Шишкин

МПК: G01N 21/59

Метки: газожидкостной, газосодержания, фотометрического, эмульсии

...похорде любой длины, характерный размер .сопределяют по теореме о среднем2 гс/Ь(х) с 3 х = 2 гс .с, (3)огде п(х) - текущая длина хорды, м;х - текущая координата хорды, м,Выполнив интегрирование, получимдля измерительной ячейки цилиндрическойформы, образованной двумя световодамикруглого сеченияЛ-с = 2 гсПроведя аналогичные рассуждения дляпузыря, принимач его форму сферическойраДиусом гав получим значение характерно 1го размера пузыря Ь.:ЛЬ 1=гщ(5)Длительность импульса снижения интенсивности излучения 1 определяе-ся суммой характерных размеров приемника ипузыря и выражается соотношениеме-с + -и1 =где % - скорость движения 1-го пузыря, м / с.С другой стороны, длительность импульса 1 снижения интенсивности излучения -измеряемая величина....

Способ измерения светопропускания толуольного экстракта сажи

Загрузка...

Номер патента: 1770854

Опубликовано: 23.10.1992

Авторы: Еремина, Клочко

МПК: G01N 21/59, G01N 3/08

Метки: сажи, светопропускания, толуольного, экстракта

...коэффициента светопропускания образца сравнения проводят на длине волны Л= 550 нм,В предложенном способе при Уплотнении заданным усилием анализируемой порции сажи с известным значением структурности можно определить ее массу, а следовательно, и нужный обьем толуола ло1770854 Составитель Г, ВинарскаяТехред М,Моргентал Корректор Л, Филь Редактор Т. Иванова Заказ 3737 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб,. 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород. Ул,Гагарина, 101 высоте уплотненной сажи, Количество прибавляемого толуола прямо пропорционально высоте уплотненной сажи, На фиг,1 представлена линейная зависимость объема толуола от...

Способ определения относительного спектрального распределения интенсивности излучения вторичного процесса

Загрузка...

Номер патента: 1770855

Опубликовано: 23.10.1992

Авторы: Воропай, Казак, Лугина, Надененко, Санников, Торпачев

МПК: G01N 21/63

Метки: вторичного, излучения, интенсивности, относительного, процесса, распределения, спектрального

...излучение служит зондирующим для находящегося внутри ЫК исследуемого объекта, Отражатели МК образуют оптический резонатор, высокодобротный на частоте зондирующего излучения и низко- добротный на частоте излучения лазера, При этом регистрируемая амплитуда сигнала вторичного процесса, являющегося следствием возбуждения обьекта зондирующим излучением, нормируют на амплитуду преобразованного по частоте излучения, вышедшего иэ МК через один из ее отражателей эа все время взаимодействия со средой.Сущность изобретения можно проил ластрировать следующими расчетными соотношениями.Считаем, что длительность импульса лазера Ьтя значительно больше времени т, прохода излучением МК, равного 1 о -1/С, 10 где 1 - длина МК С - скорость излучения вней....

Способ испытания электролюминофора на стабильность

Загрузка...

Номер патента: 1770856

Опубликовано: 23.10.1992

Автор: Ковалев

МПК: G01N 21/66

Метки: испытания, стабильность, электролюминофора

...конденсатор, измерением начальной и текущей величины яркости через определенные промежутки времени при частотах, в 10-50 раз превышающих частоту питающего напряжения в рабочем режиме, при начальной яркости, равной яркости в режиме эксплуатации, и контролируют время уменьшения яркости до заданного 1-го уровня, после чего определяют коэффициент относительной стабильности испытуемого люминофора по формулеп= - ,тэ 1 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 где п - коэффициент относительной стабильности испытуемого люминофора;1 щ - время работы испытуемого люминофора при уменьшении яркости до 1-го уровня в режиме испытания;тэ - время работы эталонного люминофора при уменьшении яркости до 1-го уровня в режиме испытания,Более подробно...

Реагент для раздельного определения анилина и м нитроанилина в смеси

Загрузка...

Номер патента: 1770857

Опубликовано: 23.10.1992

Авторы: Евгеньев, Евгеньева, Мухарлямов, Сарандова, Фаляхов, Цивунин, Юсупова

МПК: G01N 21/78

Метки: анилина, нитроанилина, раздельного, реагент, смеси

...дифференциально-спектрофотометрическое определение о-нитроанилина в присутствии м-нитроанилина (7), ЗО основанное на использовании раствора мнитроанилина в качестве раствора сравнения. Недостатком метода является невозможность определения содержания одного из изомеров нитроанилина в присут ствии двух других.Преимуществом предлагаемого реагента по сравнению с известными является то,что он позволяет раздельно определять анилин и м-нитроанилин в реакционных смесях,содержащих анилин и смесь изомеров нитроанилина.Изобретение иллюстрируется примерами конкретного определения анилина, мнитроанилина в смеси, содержащей анилини о", м- и п-нитроднилин,Для определения анилина анэлизируезФмую смесь растворяют в 100 см ацетонитрила. 1 смз...

Устройство для фотометрического титрования

Загрузка...

Номер патента: 1770858

Опубликовано: 23.10.1992

Автор: Чистяков

МПК: G01N 21/79

Метки: титрования, фотометрического

...вставленной пробке 18 и снятой пробке 19 в камеру 9 заливается реагент 10. После герметизации камеры 9 пробкой 19 пробка 18 удаляется. Камеры 9. и 11 начинают работать как сообщающиеся сосуды, При подаче по трубке 16 контролируемого материала 17 в количестве, необходимом для смачивания, происходит постоянная пропитка фитиля 7. Одновременно с фитиля 8 на фитиль 7 поступает реагент 10. Исследуемый материал 13 проходит через воронку 5 и заполняет контрольную кювету 4. Оптико-электронная система в составе источника света 2, светоприемника 3 и исполнительного устройства 20 контролирует изменение окраски титруемого материала 17. В случае ее изменения вырабатывается аварийный дискретный сигнал, который фиксируется оператором, С течением...

Способ неразрушающей диагностики самоцветов

Загрузка...

Номер патента: 1770859

Опубликовано: 23.10.1992

Авторы: Решетняк, Третьякова

МПК: G01N 21/87

Метки: диагностики, неразрушающей, самоцветов

...и предварительной подготовки образца, оп рава камня не является препятствием для съемки спектра, Спектр снимается с зеркальной поверхности образца - полированной для ограненных камней или естественной - гранной, спайной плоскости 15 кристалла. Размер образца - от 2 мм.Ограничением операции может быть отсутствие полос отражения в этом диапазоне для ряда минералов (например, киновари, прустита, алмаза, флюорита, сфалерита, га ленита, пирита, гематита и других минералов), что не позволяет использовать спектр ЗО для решения поставленной задачи - видовой диагностики самоцвета.Операция съемки спектра ДО в види мом диапазоне (25000-13000 см ) проводится для выбора оптимальной длины волны возбуждающего света при получении спектра КР,...

Способ контроля чистоты поверхности оптических элементов зрительной трубы

Загрузка...

Номер патента: 1770860

Опубликовано: 23.10.1992

Автор: Черний

МПК: G01N 21/88

Метки: зрительной, оптических, поверхности, трубы, чистоты, элементов

...содержит обьектив 1 и окуляр 2,Пусть на поверхности линзы объектива 1 имеется инородная частица 3 штриховой формы, а на поверхности линзы окуляра 2 инородная частица 4, Освещают объектив 1 зрительной трубы осветителем 5, содержащим лампу б накаливания, конденсорную линзу 7 и сменную диафрагму 8. Диафрагма 8 представляет собой пластину, в которой выполнен ряд сквозных отверстий различного диаметра например 0,01 мм, 0,05 мм, 0,1 мм, Диафрагму можно перемещать относительно оптической оси осветителя и тем самым регулировать величину точечного источника света, Осветитель 5 закреплен посредством скользящей посадки на направляющем стержне 9. что позволяет изменять положение осветителя относительно оптической оси зрительной трубц,Осветитель 5...

Способ измерения параметров отрезка провода

Загрузка...

Номер патента: 1770861

Опубликовано: 23.10.1992

Авторы: Иванюк, Широтов

МПК: G01N 22/00

Метки: отрезка, параметров, провода

...частоты 1 р для конкретных параметров полосковой линии и исследуемого проводника,При внесении в электромагнитное поле полосковой линии измеряемого отрезка провода он переизлучает часть энергии падающего на него поля. Максимальное пере- излучение (эффект резонанса) происходитЛпри выполнении условия Е =, где 1 -Еэ длина отрезка калиброванного провода, Л - длина облучающей электромагнитной волны в свободном пространстве, еэ - эквивалентная относительная диэлектрическая проницаемость пластины, определяемая параметрами диэлектрика и конструктивными особенностями полосковой линии,Предварительно перед проведением измерений длин отрезков провода снимают зависимость (. = р(р) для конкретных параметров калиброванного провода (геометрических...

Измерительный преобразователь

Загрузка...

Номер патента: 1770862

Опубликовано: 23.10.1992

Авторы: Арсеньева, Бурашников, Дроздов, Рябков

МПК: G01N 22/04

Метки: измерительный

...диаметр которой отличается не менее чем в 1,2 раза от диаметра основного цилиндра, Металлический экран отнесен от основного цилиндра не менее чем в 1,2 раза от диаметра основного цилиндра, который жесткоскреплен с втулкой 2, выполнен из диамагнетика и заземлен. Экран устраняет наводки со стороны окружающих устройство предметов. Внутренняя поверхность втулки 2 ограничивает область с кваэиоднородным электромагнитным полем, куда помещается испытываемая древесина для измерения ее технологических параметров,Устройство для измерения технологических параметров древесины состоит из источника стабильного напряжения, электромагнитного ключа, блока 11 для измерения технологических параметров древесины, усилителя 12, компаратора 13,...

Способ измерения влажности

Загрузка...

Номер патента: 1770863

Опубликовано: 23.10.1992

Авторы: Банный, Борзенко, Васильченко, Виноградов, Живетин, Корячко, Орехов, Таран, Федоров, Хрюкин, Шемякина

МПК: G01N 22/04

Метки: влажности

...Ю 1ЧЧЧЧ 2, то измеренное значение влажности принимают за истинное; если ЧЧЧЧ 2, сушку образца ведут до получения значения влажности Юк = ЧЧ 2, КОТОРОЕ ОПРЕДЕЛЯЮТ ПО ВЕЛИЧИНЕ И фазовому сдвигу СВЧ сигнала; если ЧЧВ/1, сушку образца ведут до значения влажности %, равного остаточной влажности, а истинное значение влажности Юн в обоих случаях определяют по Формуле (1), то есть глкВ основе заявляемого способа лежит, таким образом, известная идея комплексирования термогравиметрического и нетермогравиметрического методов измерения. Вместе с тем заявляемое решение отличается от известного установлением нового интервала (Ю 1, Я 21 нетермогравиметрического измерения в средней части диапазона измеряемых влажностей, а также пезеходом к...

Способ оптического совмещения объекта с рентгеновским пучком

Загрузка...

Номер патента: 1770864

Опубликовано: 23.10.1992

Автор: Долгополов

МПК: G01N 23/20

Метки: объекта, оптического, пучком, рентгеновским, совмещения

...попадал и на объект, и на экран, Недостатком этого способа является то, что экран частично закрывает объект, что сильно затрудняет его наблюдение и совмещение с пучком, Кроме того, при указанном способе возможно попадание рассеянного рентгеновского излучения на части тела оператора, поэтому необходимо использование громоздких защитных устройств,Целью изобретения является повышение точности совмещения объекта с рентгеновским пучком при съемке на дифрактометре.Поставленная цель достигается тем, что экран с отверстием размещается в держателе образца, отверстие выводят на ось рентгеновского пучка по сигналу (максимальному) с детектора, установленному по оси пучка за экраном, заменяют рентгеновский пучок пучком света, юстируют ось...

“способ определения склонности стали к образованию дефекта эмалевого покрытия “рыбья чешуя”

Загрузка...

Номер патента: 1770865

Опубликовано: 23.10.1992

Авторы: Бреус, Дроздова, Моисеев, Павленко, Сергеева, Ульянова

МПК: G01N 23/20

Метки: дефекта, образованию, покрытия, рыбья, склонности, стали, чешуя, эмалевого

...график зависимости.На фиг,1 приняты следующие обозначения; стакан 1, опоры 2, образец 3, анод 4(нержавеющая сталь), источник 5 тока, амперметр 6, включатель 7, реостат 8, электролит 9,Изобретение поясняется примеромконкретного выполнения для стали 08 К,П.Предварительно определяют градуировочную зависимость на образцах стали 08КП, Для этого отбирался комплект образцовстали 08 КП, полученный при различных режимах прокатки и термообработки, Определяют время полного наводороживанияобразцов с помощью известного способа 15 20 30 35 40 45 50 55(ТУ 14-14180-86). Полученные значения приведены в табл,1,Затем иэ тех же материалов изготавливают образцы размером 60 х 40 х 1 мм и определяют полуширину интерференционной линии дальнего порядка...

Держатель образца рентгеновского гониометра

Загрузка...

Номер патента: 1770866

Опубликовано: 23.10.1992

Авторы: Горбачева, Едигарова, Жигалова, Сидохин, Утенкова

МПК: G01N 23/20

Метки: гониометра, держатель, образца, рентгеновского

...образной скобе на головке, и снабжена на торцах ее полок в середине соосными вырезами в виде призмы, при этом на одной из полок вставки выполнены сбоку щечки, охватывакйцие соответствующую полку скобы нз головке, а вставка подпружинена посредством прижима к скобе на головке,Нз фиг,1 схематически показан вид держателя; на фиг.2 - разрез А - А нз фиг.1 (расположение образца держателя сбоку); на фиг.3- разрез Б-Б на фиг.2 (вид на образец сверху).Держатель образца рентгеновского гониометра содержит основание 1, установленную на нем головку 2, выполненную в виде платформы с жестко закрепленной на ней -образной скобой 3. На торцах полок 4 -образной скобы 3 нз головке выполнена базовая плоскость 5. Держатель образца снабжен подпружиненным...

Способ определения наличия органических соединений в разбухающих глинистых минералах

Загрузка...

Номер патента: 1770867

Опубликовано: 23.10.1992

Авторы: Сидоренко, Тарасиков

МПК: G01N 23/20

Метки: глинистых, минералах, наличия, органических, разбухающих, соединений

...+ 14.2)/2. Аналогичные межпласкостные расстояния в структурах этих минералов, насыщенных глицерином, после такой же обработки увеличены для смектита до 13,4 Д, хлорит-смектита до 14.5 А, гидрослюда-смектита до 11.2 А,Причем съемку рентгенограмм необходимо производить сразу после прокаливэния образцов (в теплом состоянии), поскольку разбухающие глинистые минера ступке до тонкодисперсного состояния, готовят.из него водную суспензию; затем ориентированный препарат.Этот препарат прокаливают в муфельной печи при температуре 340 в 3"С в течение 1 ч 50 минч 10 мин,Сразу после этого, не давая остыть, препарат помещают в дифрактометр и и раизво 40 дят сьемку на отражение По значениям первых базальных рефлексов определяют наличие или отсутствие...

Способ рентгеноспектрального определения содержания шлака в цементе

Загрузка...

Номер патента: 1770868

Опубликовано: 23.10.1992

Авторы: Альперович, Исмаилов, Нуруллаев, Перлов, Рахимов

МПК: G01N 23/223

Метки: рентгеноспектрального, содержания, цементе, шлака

...и экспрессности при массовых измерениях,Поставленная цель достигается тем, чтов способе рентгеноспектрального определения содержания шлака в цементе. заключающемся в облучении анализируемогообразца цемента и трех эталонных образцов цемента, содержащих известные количества шлака, и измерении интенсивностихарактеристического рентгеновского излучения кальция, дополнительно используют еще по крайней мере четыре эталонных образца, измеряют от всех образцов интенсивности рентгеновского излучения кремния и серы, а содержание шлака определяют по формуле О , = аа+аХ Х Ь.1 где , Ц - интенсивности характеристического рентгеновского излучения от кальция,кремния и серы;а, а, Ь - калибровочные коэффициенты,В расчетной формуле могут быть использованы...

Способ определения температуры прокалки кокса

Загрузка...

Номер патента: 1770869

Опубликовано: 23.10.1992

Авторы: Волга, Котосонов, Левинтович, Логачева

МПК: G01N 25/04

Метки: кокса, прокалки, температуры

...температура предыдущего нагрева, Перед первой термообработкой и после каждой термообработки измеряют термоЭДС пробы, причем при анализе пробы с различными температурами обработки перепад температур на пробе устанавливается одним и тем же. Если температура обработки не превышает температуру прокалки кокса, то термоЭДС пробы не изменяется. Если же температура обработки превышает температуру прокалки анализируемого кокса, то термоЭДС пробы. монотонно изменяется (увеличивается или уменьшается) с ростом температуры обработки. Температура прокалки кокса соответствует положению излома на графической зависимости термоЭДС от температуры обработки (см. примеры), Диапазон возможных температур прокалки кокса, которые можно определять предложенным...

Способ тепловой дефектоскопии

Загрузка...

Номер патента: 1770870

Опубликовано: 23.10.1992

Автор: Алиев

МПК: G01N 25/18

Метки: дефектоскопии, тепловой

...участка перегрева и повышению разрешающей способности в определении местонахождения дефекта. Поддерживая определенную среднюю температуру проволоки, можно надежно выявлять дефекты, проявляющиеся в росте сопротивления. уменьшении теплоемкости и теплопроводности дефектных областей. В изобретении такие условия создаются периодической последовательностью коротких импульсов тока (тм = 10 -10 с) со-з . -а скважностью 10-20. создающих устойчивый тепловой рельеф, воспроизводящий дефектную картину участка проволоки.При этом большая скважность обеспечивает низкую температуру (для исключения окисления проволоки) беэдефектных областей, При приложении короткого импульса тока к движущемуся проводу нагрев участка происходит по закону ЬТ= Ь - 2,4...