G01N — Исследование или анализ материалов путем определения их химических или физических свойств

Номер патента: 1728721

Опубликовано: 23.04.1992

Авторы: Шантарин, Шевелев

МПК: G01N 9/00

Метки: плотности, пористых

...проверяют влажность. порошка, Из этого порошка изготовляют образцы в виде таблеток диаметром 40 мм и высотой 2 - 4 мм (лучше 3 мм) прессованием при давлении. Определяют плотность р. После чего образец помещают в ячейку в виде плоского конденсатора и на добротометре Тесла ВМ снимают спектр диэлектрических потерь в диапазоне частот электрического поля 50 кГц - 35 МГц, По известным методикам рассчитывают значения диэлектрической проницаемости,гв зависимости от частоты электрического поля, в которое помещается данный образец 06 = 4,4 мас.0 ), приведены в табл, 1.Исследуя спектр частот, находят частоту Р 1, при которой наблюдается максимум диэлектрической проницаемости е, и логарифм этой частоты 9 м 1, Результаты зависимости логаРифма...

Номер патента: 1728722

Опубликовано: 23.04.1992

Авторы: Бежаев, Малых, Маурин, Таксис, Федорова, Фельдблюм

МПК: G01N 9/02

Метки: кажущейся, плотности, порошков, после, утряски

...пробе показывает отклонение, в несколько раэ превышающее аттестационную точность измерения,Целью изобретения является повышение достоверности результатов измерений.На фиг. 1 изображено устройство для определения кажущейся плотности порошков, общий вид; на фиг, 2 - форма кулачка,Устройство для определения кажущейся плотности порошков содержит подвижно установленную на штативе 1 в вертикальных направляющих, выполненных в виде втулок 2 скольжения, мерную емкость 3, Мерная емкость своим дном 4 опирается на отбойную пяту 5. Кроме того, мерная емкость контактирует с кулачком 6 механизма уплотнения. Кулачок соединен с приводом 7 вращения. Последний представляет собой редукторн ый электродвигатель, снабженный задатчиком (счетчиком) 8...

Номер патента: 1728723

Опубликовано: 23.04.1992

Автор: Закревский

МПК: G01N 9/26

Метки: автоматический, плотномер

...планкам кулисы 38 шарнирнб кре.пится нижняя подвеска 42, которая служитдля регулирования величины перемещенияролика 43. Через ролик 43 перекинут тросик44, к концу которого подвешен груз 45. Обеветви тросика 44 разделены перегородкой46, установленной в трубке 15, Второй конец тросика 44 крепится к диску 47. которыйповорачивается на шлицевой втулке 48, последняя в свою очередь скользит по шлицевому валику 49, к которому крепится тягасердечника 11, второй конец валика 49 имеет резьбу для перемещения по тяге 50. Натяге 50 установлена планка 51.Шлицевая втулка 48 и диск 47 подпружинены пружиной 52, которая установленана шлицевой втулке 48 и фиксируется фланцем 53, Пружина.52 держит в зацеплениишлицевую втулку 48 и диск 47 с...

Номер патента: 1728724

Опубликовано: 23.04.1992

Авторы: Волкова, Некрасов, Попов

МПК: G01N 11/00

Метки: вязкости

...спектра флуоресценции и по калибровочной кривой, построенной для данной метки с помощью жидкостей с известной вяэко1728724 Формула изобретения Способ определения вязкости жидкости, включающий облучение жидкости монохроматическим светом и регистрацию спектра излучения жидкости, о т л и ч а ющ и й с я тем, что, с целью упрощения и повышения точности определения вязкости, в жидкости растворяют люминесцентную метку, регистрируют спектр флуоресценции метки на длине волны возбуждающего света, измеряют полуширину спектра и с помощью калибровочной кривой для данной метки определяют вязкость жидкости,Составитель Л,ВолковаТехред ММоргентал Корректор О,Кравцова Редактор А.Мотыль Заказ 1402 Тираж ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по...

Номер патента: 1728725

Опубликовано: 23.04.1992

Автор: Слабожанин

МПК: G01N 11/08

Метки: вязкости, жидкости

...между собой через каналы 4 и 5 в верхней и нижней частях внутренней трубки, На верхнем конце трубок установлен сильфон 6, верхний торец которого ке,стко связан с внутренней трубкой 2, а нижний - с внешней трубкой 1, Клапанное устройство состоит из двух клапанов 7 и 8, размещенных на концах трубок. Седла 9 и 10 клапанов укреплены на внешней трубке, а затворы 11 и 12 - на внутренней. Для исключения запирания канала 5 цилиндром 3 предусмотрена щель 13,Устройство работает следующим образом.Для измерения вязкости и плотности опускают конец трубки 1 в исследуемую жидкость и нажимают на верхний торец сильфона 6. При этом открываются клапаны 7 и 8, воздух вытесняется из сильфона через клапаны и трубки 1 и 2. Отпускание верхнего торца...

Номер патента: 1728726

Опубликовано: 23.04.1992

Автор: Пирогов

МПК: G01N 11/10

Метки: вискозиметр, шариковый

...его работы,Весгскозиметр сОДср 4(ит Основание, нс) 55котором шарнирно с возможностью поворота о вертикальной плоскости установленразъемный термостатируемый сс)суд 1, в котором размегцен стальной корпус 2, сооснокоторому расположена калиброоаннэя Трубка 3, вьгполненнзя из намагнитного маТЕРИс 1/Е), На К 01 Цах К(/ТОРОЙ ЗЗКРЕГ)/голы ДВЗ индуктивных датчика 4 и 5 перемещений. К верхему и нижнем,/ 1 Оре зм кзлибоозн 140 Й трубки 3 через уц/оНег 1)5 б ггримыкзОт одинзкооыа верхний 7 и нижний 8 магази 1 ы, сОедц 1 егцыа )Везобе)е)ыми стяжками 9 с корпусом 2, ),ак/ег,гй магазин имеет замкнутьй кзгзл )О, г) котором устзцое)леня верхН 5 я 11 И НглКЕяя 1 с. ЛОВЕадКИ С у Г/г у бл е) 54 и 54 м и Дл Я о3 р 0 В, р 3 с Г 1 Ол Ох(а н н ы а...

Номер патента: 1728727

Опубликовано: 23.04.1992

Авторы: Ведерко, Горшков, Марченко

МПК: G01N 11/16

Метки: вязкости, жидкости, кинематической

...поверхностной волны малой амплитуды, так 4 как при возбуждении волн большой амплиту- М ды вследствие нелинейности свойств жидко- ОО сти возникают индуцированные течения, снижающие точность определения искомо- с ) го параметра. ;4Наиболее близким к предлагаемому является способ, основанный на измерении ,ц последовательно при нескольких значениях температуры среды параметров погруженного в нее вибратора. В частности, данный способ позволяет определить вязкость жид1728727 Составитель А.ВедеТехред М.Моргентал орректор О.Кравцо Редактор А.Мотыл каз 14 2 Тираж Подписное ПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при .113035, МоскваЖ, Раушская наб., 4/5 СССР Производственно-издательский комбйнат "Патент", г. Ужгород,...

Номер патента: 1728728

Опубликовано: 23.04.1992

Авторы: Куклин, Рабинович

МПК: G01N 15/02

Метки: дисперсного, пыли, состава

...искакенных результатов анализа,Кроме того, ввод тела с развитой боковой поверхностью затрудняет проведениеанализа. Фракции пыли О - 5 мкм обладаюточень сильными адгезионными свойствами.Электролизуясь в процессе длительноговзвихривания пробы в насадке, тонкая пыльналипает на стенки продольных каналов тела и не стряхивается при обстукивании, Исключение определенной части пыли иэпроцесса отдува способствует искажениюрезультатов анализа.Целью изобретения является повышение достоверности анализа и сокращениевремени на его проведение по определению дисперсного состава пылей.Поставленная цель достигается тем, чтов устройство для определения дисперсного,ного состава пыли, содержащем трубу и насадок с каналом для подачи по его оси внизвоздуха,...

Номер патента: 1728729

Опубликовано: 23.04.1992

Автор: Скудкин

МПК: G01N 15/08

Метки: проницаемости

...В случае рас хождения значений проницаемости (пористости), что означало бы отклонение коэффициента усадки при спекании изделия, по калибровочной кривой вводятся поправки на линейные размеры изделий. 45Входом в таблицу соответствий используют значение проницаемости неспеченной заготовки иэ смеси твердых частиц и акрилового связующего, Проницаемость определяют после удаления акрилового 50 связующего и повторной пропитки пористых заготовок вспомогательной жидкостью, например спиртом или водой с применением в качестве индикаторной жидкости чернила "Радуга - 2" (оптическое 55 койтрастирование) и органических электролитов (электрическое контрастирование). Каплю индикаторной жидкости наносят на иэделие, Момент начала отсчета времени (при...

Номер патента: 1728730

Опубликовано: 23.04.1992

Автор: Лавринченко

МПК: G01N 15/00

Метки: гранулометрического, зерна, измельченного, состава

...МЭОП 1, 2 механйчески соединены чувствительными элементами 3 и 4 ввиде щелевых поверхностей, Высокочастотный генератор 5 связан с измерительнымиобмотками МЭОП 1 и 2.Силовые обмотки 50рамок соединены с усилителями 6 и 7, выходы которых подключены к демодуляторам 8и 9, обеспечивающим детектирование высокочастотных сигналов. Силовые выходы демодуляторов 8 и 9 подключены к силовым обмоткам рамок МЭОП, а сигнальные - к входам логарифмических усилителей 10 и 11,Вход логарифмического усилителя 12 подключен к выходу делителя 13, входы которого соединены с выходами логарифмических усилителей 10, 11, Выход логарифмиче-.ского усилителя 12 подключен к входуумножителя 14, На первый вход умножителя 15 подключен выход логарифмического усилителя 10, а...

Номер патента: 1728731

Опубликовано: 23.04.1992

Авторы: Виба, Грасманис, Кищенко, Страздс

МПК: G01N 19/02

Метки: гибкой, коэффициента, нити, трения

...что один конец нити через пружину связывают с основанием, а на другом располагают груз, охватывают натянутой нитью контртело, приводят их в относительное движение и по параметру их фрикционного взаимодействия судят о коэффициенте трения, используют неподвижное контртело1728731 Составитель В.КалниньРедактор А,Мотыль Техред М.Моргентал Корре Кравцо Заказ 1402 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж-ЗБ, Раушская наб 4/5 ельский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул.Г на, 10 изводственно-из относительное движение нити и контртелаосуществляют за счет падения груза из положения, соответствующего недеформированной пружине, а в. качестве параметрафрикционного взаимодействия...

Номер патента: 1728732

Опубликовано: 23.04.1992

Авторы: Матвеев, Покалицын

МПК: G01N 19/04

Метки: адгезионных, испытаний, образец, соединений

...упругой подложки кольцевых выступов указанного профиля и в этом случае движение трещины возможно лишь по поверхности раздела эдгези в - поверхность упругой и одл ожки. Энергия адгезионного разрушения О рассчитывается по выражениюР32 ОРазность величин Р или 6, рассчитанных по выражению(1), в процессе отслаивания верхней профилированной подложки при воздействии на границу раздела воздушной и жидкой сред соответстве чно позволяет сравнить стойкость клеевых соединений к расклинивающему воздействию жидких границу раздела фаз испытуемого клеевого соединения воздушной и жидкой сред и как следствие возможность оценки стойкости границы раздела фаз соединения к расклинивающему воздействию жидких сред до стигаются благодаря выполнению по...

Номер патента: 1728733

Опубликовано: 23.04.1992

Авторы: Могильная, Саяпин, Соловьев, Шляева

МПК: G01N 21/17

Метки: анализаторов, нм, области, образец, поверки, спектра, спектрофотометров, стандартный, фотоколориметров

...в качестве аттестуемой характеристики значенилоптической плотности, измеренные при любой длине волны данной области с высокойстепеныю точности. Минимумы и максимумы поглощения при длинах волн 395, 340,280,236,220 нм в соответству,ощих диапазо. нах видимой области спектра 384 - 406 нм иультрафиолетовой области 320-350, 275290, 217-.240 нм позволяет использоватьэтот раствор в качестве Стандартного образца для поверки в широком диапазоне договидимой и ультрафиолетовой областяхспектра с погрешностью 0,6-0,80 ь.П р и м е р 1. Приготовление исходногораствора. Готовят 0,5 дмзисходного раствора конго красного квалификации ч, д. а. с.содерканием основного вещества не менее85 о с концентрациеи О 25 гдм О 250. конго красного растворяют в...

Номер патента: 1728734

Опубликовано: 23.04.1992

Автор: Аднашкин

МПК: G01N 21/47

Метки: нефелометр

...11, расположеннымв фокальной плоскости фокусирующего зеркального элемента 6 под углом О к оптической оси конденсора 2 и сопряженным сэтой оптической осью. Фотоприемник 11оптически сопряжен также с входным отверстием поглотителя 12 света, на оптической оси которого вершиной установленфокусирующий зеркальный элемент 6 оптической осью под острым углом к ней и подуглом О 180 к оптической оси конденсора2.В качестве поглотителя 12 света использована модель черного тела с прямоугольным входным отверстием. Ширинафокусирующего зеркального элемента 6 недолжна быть более диаметра конденсора,.т,е. пучка света, поскольку при большем размере на него будет поступать и фокусироваться на фотоприемник не толькоизлучение, рассеянное измерительным объемом...

Номер патента: 1728735

Опубликовано: 23.04.1992

Авторы: Генрихс, Клочко, Липкин

МПК: G01N 21/49

Метки: образца, отражения, света

...следует из приведенных данных оптимальный процент составляет - 50.Результаты измерения однородностипластин при изменении процентного содержания отдельных компонентов даны в табл.4, При этом состав каждого компонента врецептуре примера принят за 1000,Влияние расстояния перемещения нарезультат измерения однородности поверхности пластин проводился на разных формах (круглых, прямоугольных) и разныхразмеров.Результаты измерения приведены накруглых формах б = 60 мм,Результаты измерения на квадратнойформе со стороной б = 80 мм и круглойформе б = 50 ммепри перемещении на 0,9 б;1 б; 1,1 б; 1,2 б даны в табл. 5.В качестве белого наполнителл в заявкеприведена окись цинка, Однако может бытьприменен другой белый наполнитель, например,...

Номер патента: 1728736

Опубликовано: 23.04.1992

Авторы: Бакиев, Валиев, Кряжев

МПК: G01N 21/55

Метки: лазерный, микроскоп, проекционный

...изображения в плоскости 7 в точке скоординатой К. Из объектива 2 этот луч выходит из точки с координатой Хл под углома к оптической оси в плоскости ХОЕ,где а=ыведено А жно сразющее вели ЬьЛ=Тогда1 2 ХхА = - хл-- 1.В соответствии с приведе2Ь 1 ыми услови- -- - Хв+Хл х Х удовлетворяющих условию у уу- -2 ХбХд,Поэта-ХПоскольку Хб-г, г, где г бражения поверхности объект 7, то должно выполняться услг га(Х - Х)/Ь, Ь - расстояние от главной плоскости объектива 2 до плоскости изображения 7. Очевидно, что луч, обратный рассматриваемому, при зеркальном отражении от обьекта 3 и после прохождения через объектив 2 через точку с координатой Х должен быть закрыт экраном, так как в противном случае нарушается условие освещения по методу темного поля....

Номер патента: 1728737

Опубликовано: 23.04.1992

Авторы: Демьянец, Кузьмина, Никитенко, Стоюхин, Терещенко

МПК: G01N 21/64

Метки: ассоциатов, дефектов, кристаллах, присутствия, точечных

...жидкого азота исследуется красная люминесценция кристаллов.Предлагаемый способ осуществляют следующим образом.По стандартной методике снимают спектр фотолюминесценции кристаллов ЕпО в области длин волн 650-800 нм. Оптимальные условия сьемки соответствуют температуре жидкого азота, что отвечает максимуму в зависимости красной люминесценции от температуры. Возбуждение образца проводится линией ртутной лампы (например, ДРТ) с длиной волны 405 нм, так как максимум в спектре возбуждения красного излучения приходится на диапазон 400 - 410 нм, и другие линии излучения пампы менее эффективны. В используемой установке излучение ртутной лампы ДРТмонохроматизируется с помощью входного монохроматора МДР-З, спектр люминесценции исследовался на...

Номер патента: 1728738

Опубликовано: 23.04.1992

Авторы: Дашин, Каплан, Карпов, Майоров, Филимонов

МПК: G01N 21/64

Метки: анализа, атомно-флуоресцентного

...кремния в индии находят по уравнению градуировочного графика, полученному по аналитическим сигналам синтетических образцов индия с известными объемными содержаниями кремния. Аналитические сигналы получают в указанных режимах работы спектрометра.П р и м е р . Пробу анализируемогоиндия с содержанием кремния 1,25 "10 мас., выполненную в виде диска диаметром 30 мм и толщиной 0,5-3 мм, помещают в камеру атомизатора и камерузакрывают. Находящийся в камере воздух откачивают до остаточного давлениям 0,25 Па и в объем камеры подают аргон с расходом, обеспечивающим его рабочее давление к 0,8 Па при непрерывной откачке газа из камеры атомизатора турбомолекулярным 40 45 50 55 от резонансного излучения лазера, настроенного на длину волны...

Номер патента: 1728739

Опубликовано: 23.04.1992

Авторы: Сницар, Чмиленко

МПК: G01N 21/78

Метки: натрия, этилендиаминтетраацетата

...0,16 1 0,010,24210,0090,33 й 0,020,65 + О,ОЗ0,99 4 004 о,о 6 о0,04 0,079 ь о,оо 5 0,05 0,18 + 0,01 0,05 0,48 1 0,02 а,а 4 0,81 + 0,04 о 0,084 о,17 о,47 0,84 оО 08110 006 017 + 0,01 0,47 1 0,02 0,83,1 0,02 0,07 а,о 6 0,04 о,а 4 о,о 7 о,о 6 о,о 4 о,о 4 0,07 0,06 0,04 о,ог Иэвестный способ 046 + 0,030,82о,о 5 059 1 0,050,86 1 0,06 о,о 7 0,07 0,08 0,45 +,0050,07 0,71 е 0,06 0,46 ь 0,03 0,70 т 0,05 0,47 0,84 о,о 7о,о 6 о, о,о 8 П р и м е ч а н и е, Бг " относительное стандартное отклонение, п " 6, Р0,95. Целью изобретения является повышение селективности и чувствительности определения ЭДТА в водах.Для определения зтилендиаминтетраацетата натрия в качестве титранта используются соли циркония, например сульфат циркония или хлорид...

Номер патента: 1728740

Опубликовано: 23.04.1992

Авторы: Мельникова, Пигарева

МПК: G01N 21/78

Метки: 1-фенил-4-амино-5-хлорпиридазона-6

...присоединяют обратный холодильник и кипятят смесь 1 ч. После этого обратный холодильник отсоединяют, колбу посредством трубки соединяют с холодильником и приемником (вместимостью 100 мл с 5 мл 1 Н хлороводородной кислоты. Нагревают колбу, после получения не менее 60 мл дистиллята колбу отсоединяют, добавляют 5 мл уксусной кислоты, 1 мл 2-ного раствора азотистокислого натрия. Через 15 мин добавляют 1 мл 10-ного рас твора сульфамиловой кислоты, еще через 10 мин приливают 5 мл 2-ного раствора анафтиламина и оставляют смесь на 30 мин, Далее доводят содержимое колбы до метки 1 Н хлороводородной кислотой, хорошо перемешивают и фотометрируют в кювете с толщиной слоя 10 см при длине волны 537 нм, Содержание феназона устанавливают по...

Номер патента: 1728741

Опубликовано: 23.04.1992

Авторы: Балог, Зимомря, Мушкало

МПК: G01N 21/78

Метки: серебра, экстракционно-фотометрического

...Фосфаты,В табл, 2-4 приведены примеры и экспериментальные данные, доказывающие существенность оптимальной кислотности, концентраций красителя и иодид-ионов для достижения максимальной чувствительности.П р и м е р 1. 8 градуированные пробирки с притертыми пробками вводят 10,79 мкг серебра (0,2 мл 5 10 М раствора нитрата серебра), 0,5 мл 1 М раствора иодида калия, 0,5 мл 0,05 М раствора серной кислоты, 0,5 мл 510 М раствора красителя ТБИК и дистиллированной воды до общего обьема водного раствора 5 мл, рН полученного раствора 2. Смесь зкстрагируют 5 мл толуола в течение 1 мин. Экстракты отделяют и через 10 мин измеряют оптическую плотность (А) при 566 нм на спектрофотометре Сфв кюветах с длиной оптического пути= 0,3 см относительно...

Номер патента: 1728742

Опубликовано: 23.04.1992

Авторы: Власов, Зубков, Романов

МПК: G01N 21/85

Метки: объемного, оптический, растворе, содержания, частиц

...излучения определяется как сумма интенсивностей полей рассеяния этихдвух лучей, т,е.(12(неког) (Е 12+ Е 22)2 Е 2 (2) Из соотношений (1) и (2) следует, что интенсивность рассеяния двух когерентных лучей почти в 2 раза превосходит интенсивность некогерентного рассеяния,Дополнительные преимущества использования когерентного рассеяния выявляются в связи с влиянием свойств среды на рассеянное излучение. Некогерентное рассеяние в сильно неоднородных системах практически не чувствительно к параметрам таких систем, поэтому создает равномерный по углам рассеяния фон; Когерентное обратное рассеяние, наоборот, очень сильно зависит от свойств среды, а именно от объемной концентрации частиц, включающей зависимость от размеров частиц, и оптических...

Номер патента: 1728743

Опубликовано: 23.04.1992

Авторы: Ашихмина, Богатиков, Садовская, Томашпольский, Фрих-Хар

МПК: G01N 23/00, G01V 9/00

Метки: восстановительной, выявления, магме, минералообразования, среды

...К; 3- втечение 1 ч при 1070 К; 4 - в течение 1 ч при 1270 К(по оси абсцисс - температура в К, по оси ординат - выход вторичных электронов в условных единицах).На фиг. 3 - температурная зависимость выхода вторичных электронов для скола породообразующего кристалла пироксена с острова Фогу, где 1- окисленные (невосстановленные) участки; 2 - участки, обогащенные восстановленными формами элементов.На фиг, 4 - температурная зависимостьвыхода вторичных электронов для частицвулканического лунного стекла, где 1 - 5окисленные (невосстановленные участки); 2- участки, обогащенные восстановленнымиформами элементов.Способ определения восстановительной среды минералообразования в магме 10состоит в следующем,Сначала отбирают пробу; свежие не измененные...

Номер патента: 1728744

Опубликовано: 23.04.1992

Авторы: Котляр, Ром, Свердлова, Ткаченко

МПК: G01N 23/20

Метки: структуры

...под заданным углом ф, угол й направле 20 25 30 35 40 45 50 55 ния первичного луча с поверхностью образца находят из соотношенияа = ч - агсщ ( эп у то 3 ),где дР - текущий угол дискретного поворота,и строят зависимость интенсивности дифрагированного излучения от угла р, из которой находят определяемую структурную характеристику материала.Отличительные признаки предлагаемго решения, характеризующие дискретность вращения образца в плоскости главной оси гониометра, проведение измерения в пау-, зах междудискретными поворотами при неподвижном образце, а также размещение образца, при котором его исследуемая поверхность установлена относительно к оси дискретного поворота образца под заданным углом Р, а угол направления первичного угла с...

Номер патента: 1728745

Опубликовано: 23.04.1992

Авторы: Гинзбург, Кузнецова, Туйчиев

МПК: G01N 23/20

Метки: механических, полимерного, рентгенодиагностики, свойств

...(гомополимера) получают бь(0)" 65, Ъ (е) = 54, следовательное = 20;(. Проводят серии таких измеренийдля различных е 0 и определяютсоответствующие значения ес . Данные сведены втаблицу.Строят график зависимости микродеформации е от макродеформации я 0 5(фиг. 2, кривая 4) для отожженного образцакапрона, для него выполняется соотношение яе, т.е. аморфные участки деформируются неодинаково, Этот случайхарактеризует неоднородность деформа-10ции.П ри мер 3, Дляобразца изсмеси 15ПА - 6 + 85% ПЭ аналогично примеру 1снимают малоугловые рентгенограммы длянедеформированного и для упруго деформированного образцов, Строят графики зависимости интенсивности рассеянногоизлучения от угла рассеяния для недефор-мированного и упруго...

Номер патента: 1728746

Опубликовано: 23.04.1992

Авторы: Борисов, Кочмола, Шиян, Юкса

МПК: G01N 23/223, G01N 33/22

Метки: зольности, продуктов, сгорания, твердого, топлива

...растет, Так как коэффициент диффузного отражения и интенсивности диффузного отражения пробы пропорциональны друг другу то для определения зольности можно использовать одну из этих величин.Из графиков на фиг. 2 видно, что с уменьшением зольности чувствительноСть анализа уменьшается, а увеличение содержания железа приводит к параллельному смещению графика,Если в топках теплоагрегатов сжигается твердое топливо различных месторождений с разным содержанием железа, то образовавшийся при высокой температуре Ее 20 з будет влиять на результаты определения зольности, так как его наличие в пробе вызывает уменьшение коэффициента отражения, что приводит к возрастанию погрешности определения зольности. Для учета этого влияния проба...

Номер патента: 1728747

Опубликовано: 23.04.1992

Авторы: Володин, Уваров

МПК: G01N 1/28, G01N 23/223

Метки: анализа, образцов, подготовки, пульпы, рентгенофлуоресцентного, стандартных

...и сноваперемешивают. В ступку с разбавленнымклеем вносят 4,5 г твердой фазы пульпы -свинцового концентрата и 20,5 г борнойкислоты, растирают и перемешивают пестиком, Ступку со смесью помещают перед электротепловентилятором и, периодическиперемешивая, испаряют спирт с водой обдувом теплого воздуха до влажной или воздушно-сухой массы. Смесь со ступки и пестикасоскабливают скальпелем, растирают и сноваподсушивают перед электротепловентилятором не менее 1 ч, Полученную смесь развешивают на две равные части и таблетируют нагидравлическом прессе под давлением 15 атмв течение 1 мин,Прочность на кручение полученныхтаблеток, определенная на приборе КМ-1, составила соответственно Х 1 = 0,40 и Х 2 - 0,44 кг м м/см, в Среднем Хср = 0,42 кг м с/см,...

Номер патента: 1728748

Опубликовано: 23.04.1992

Авторы: Бабкин, Бирюков, Макаренко, Москалев

МПК: G01N 24/00

Метки: взаимодействий, двухспиновых, квадрупольных, параметров, систем, ядерных

...поляризующего магнитного поля Н, так как внутреннюю электромагнитную структуру теоретически рассчитать трудно, Эти ограничения снижают чувствительность измерения ядерных квадрупольных взаимодействий в исследуемом образце и не позволяют получить полную информацию о его физико-химических свойствах.Целью изобретения является увеличение чувствительности и расширение диапазона измеряемых параметров,Согласно способу, основанному на оценке реакции сигнала эха от второй группы парамагнитных центров путем изменения поляризующего магнитного поля Но и введения дополнительного стимулирующего импульса, воздействуют на исследуемый образец, после отключения Но до нуля, т,е, когда в образце действует локальное поле Н., импульсом длительности,...

Номер патента: 1728749

Опубликовано: 23.04.1992

Авторы: Алексеев, Балабаева, Кирьяков, Смирнов

МПК: G01N 24/00

Метки: минералов, палеотемпературы, породообразующих

...вплоть до плавления.Различия подтверждены микроскопическими и визуальными наблюдениями. Исследуют амфибол группы роговой обманки,присутствующий в обеих скважинах. 10Образцы дробят до частиц размером,0,01 мм. Порошкообразный эталонный об-;разец роговой обманки нагревают в лабораторной печи до заданной температуры ивыдерживают в этих условиях 40 мин. Иагрев проводят в атмосфере воздуха в инетрвале от 100 до 1000 С с шагом 100 С.После остывания готовят пробу весом400 мг, которую помещают в мессбаузровский спектоомето для получения спектра 20,при комнатной температуре. Из спектровопределяют отношение количества.Ее /Ре в эталонном образце. Полученныеданные представлены на графике.Затем готовят пробы из исследуемого 25материала,...

Номер патента: 1728750

Опубликовано: 23.04.1992

Авторы: Бабкин, Дымович, Макаренко

МПК: G01N 24/08

Метки: времени, релаксации, спин-решеточной

...до 5-7,Целью изобретения является повышение точности измерения.Поставленная цель достигается тем, что вместо последовательного снятия релаксационной кривой для различных углов отклонения вектора намагниченности М производят регистрацию сигнала только вблизи "нулевой" точки, т,е. где происходит изменение фазы регистрируемого сигнала , 0(т) = г( 7), а повышения точности добиваются путем применения экстремального корреляционного метода анализа регистрируемого сигнала,На чертеже представлена схема устройства, реализующего способ,Устройство содержит первый аналоговый цифровой преобразователь (АЦП) 1, коллелятор 2, цифроаналоговый преобразователь (ЦАП) 3, вычислительное устройство 4, устройство выборки-хранения (УВХ) 5, индикатор 6...