Торпачев
Эталон для калибровки спектрофлуорометра
Номер патента: 1807351
Опубликовано: 07.04.1993
Авторы: Коржик, Лившиц, Мейльман, Нижников, Смирнова, Торпачев
МПК: G01N 21/64
Метки: калибровки, спектрофлуорометра, эталон
...наиболее часто используемому во флюорометрии и ограниченный значениями Р - 0,1-0,3, что при длине эталона 1 см соответствует диапазону значений концентрации церия (0,00025-0,00075) 5 10 15 20 25 30 35 40 вес.0 при длине 0,5 см - (0,0005, - 0,00150)вес %В течение четырех лет в пределах погрешности измерений прибора РРА, составляющей 20 , не было обнаруженозависимости г от: (1) длины волны возбуждения при изменении ее в диапазоне 270320 нм; (2) длины волны регистрации приизменении ее в диапазоне ЗЗО в 4 нм;(3)температуры в диапазоне ее изменений+10 - +50 С; (4) О в диапазоне 0,1-0,3; (5)толщины в диапазоне 0.5 - 1 см; (61 концентрации в диапазоне (0,25-1,5) 10 з %.П р и м е р 1, После проведения указанных исследований изготовлен эталон с...
Способ определения относительного спектрального распределения интенсивности излучения вторичного процесса
Номер патента: 1770855
Опубликовано: 23.10.1992
Авторы: Воропай, Казак, Лугина, Надененко, Санников, Торпачев
МПК: G01N 21/63
Метки: вторичного, излучения, интенсивности, относительного, процесса, распределения, спектрального
...излучение служит зондирующим для находящегося внутри ЫК исследуемого объекта, Отражатели МК образуют оптический резонатор, высокодобротный на частоте зондирующего излучения и низко- добротный на частоте излучения лазера, При этом регистрируемая амплитуда сигнала вторичного процесса, являющегося следствием возбуждения обьекта зондирующим излучением, нормируют на амплитуду преобразованного по частоте излучения, вышедшего иэ МК через один из ее отражателей эа все время взаимодействия со средой.Сущность изобретения можно проил ластрировать следующими расчетными соотношениями.Считаем, что длительность импульса лазера Ьтя значительно больше времени т, прохода излучением МК, равного 1 о -1/С, 10 где 1 - длина МК С - скорость излучения вней....
Способ измерения разности хода между обыкновенным и необыкновенным лучами с помощью поляризационного микроскопа
Номер патента: 1755122
Опубликовано: 15.08.1992
Авторы: Воропай, Нижников, Торпачев
МПК: G01N 21/23
Метки: лучами, между, микроскопа, необыкновенным, обыкновенным, поляризационного, помощью, разности, хода
...чувствительного . оттенка с Во = 555 нм, поскольку ею снабжаются все поляризационные микроскопы, для нее предусмотрено гнездо в поляризационном микроскопе. Если используется штатная пластинка чувствительного оттенка, то при вводе ее в предусмотренное для этого гнездо микроскопа она уже находится в диагональном положении. При использовании другой пластинки ее поворачивают вокруг оптической оси до тех пор. пока не наступит максимальное затемнение поля зрения микроскопа. От этого положения пластинку поворачивают на угол 45 так, чтобы направление колебаний света в ней составлялоугол 45 с направлением колебаний в поляризаторе и анализаторе, Затем начинают вводить между поляризатором и анализатором оптический клин, наблюдая20 253035...
Эталон для калибровки спектрофлуорометра
Номер патента: 1718058
Опубликовано: 07.03.1992
Авторы: Воропай, Коржик, Мейльман, Нижников, Павленко, Смирнова, Торпачев
МПК: G01N 21/64
Метки: калибровки, спектрофлуорометра, эталон
...365 нм (линия спектра ртутной лампы) пик рэлеевского рассеяния будет на длине волны 365 нм (первый порядок) и 730 нм (второй порядок решетки монохроматора), при этом будет одновременно наблюдаться пик комбинационного рассеяния на длине волны 416 нм, В том случае, когда длины волн возбуждения и люминисценции близки одна к другой, искажения из-за рассеяния не позволят точно измерить 7.Рассеянный свет можно отличить от флуоресценции по степени поляризации, т,е, его можно отсечь поляризационными фильтрациями, Однако такие фильтры, отличаясь сложностью, сильно снижают величину сигнала и тем самым понижают точность измерений. Для уменьшения влияния рассеянного света регистрируют интенсивность люминесценции через светофильтр, пропускающий...
Способ определения относительного спектрального распределения интенсивности излучения вторичного процесса
Номер патента: 1679305
Опубликовано: 23.09.1991
Авторы: Воропай, Казак, Лугина, Надененко, Павленко, Санников, Торпачев
МПК: G01N 21/63
Метки: вторичного, излучения, интенсивности, относительного, процесса, распределения, спектрального
...излучения.Для сравнения получают выражение отклика детектора вторичного процесса при отсутствии нормировки на энергию импуль) са зондирующего излучения за время взаимодействия со. средой.Если в МК введена интенсивность 1 л, то ее изменение со временем описывается выражениемф)-1 ле , (14) где с,; - время жизни фотона в МК, рав- ное%6 Д1, ЬсА А (15)В случае известного способа ЛЬ = -21 С В качестве единицы времени берется время прохода МК Ю = ОС, Считают, что в течение этого времени энергия излучения в МК постоянна, а импульс лазера имеет длительность Ьл.После первого прохода объектом излучения измеряется заряда =2 к 1 лтое 11 г" (16) Тогда общий заряд, измеренный датчиком вторичного процесса после и проходов, составляет Ое =23 суАаеф...
Способ определения постоянной времени фотоприемника и устройство для его осуществления
Номер патента: 1642442
Опубликовано: 15.04.1991
Авторы: Воропай, Гусенков, Кудинов, Саечников, Торпачев
МПК: G04F 10/00
Метки: времени, постоянной, фотоприемника
...шаг выборкиЬдля применяемого БВХ (например, Лтв= 0,1 нс), что соответствует установке временной шкалы таким образом, чтобы по обе стороны от пикового значения на нарастающей и спадающей части было измерено одинаковое число мгновенных значений напряжения.Перед поступлением импульса с выхода первого одновибратора 19 на вход синхронизации БВХ 14 импульс синхронизации задерживается в плавно перестраиваемой Л 315 для того, чтобы с учетом задержки сигнала Ч(т) в Л 313 БВХ 14 произвел выборку мгновенного значения Ч(т) в момент времени 1 о. Таким образом, БВХ 14 измеряет то же пиковое значение импульса Ч(т), к которому осуществлена временная привязка блока 11 синхронизации.Выходные сигналы с БВХ 10 и 14 в цифровом виде поступают на встроенные в...
Способ измерения концентраций примеси
Номер патента: 1341556
Опубликовано: 30.09.1987
Авторы: Акимов, Акимова, Торпачев
МПК: G01N 21/62
Метки: концентраций, примеси
...концентрации и время коррекции на медленный относительный дрейф характеристик каналов, то при одном ФП на такое же время не совпадают моменты измерения 1, и 1 , что вносит большую погрешность. Разделив (3) на (4), с учетом (1) получимС = 1 КогБ, 11"г1 о где Ь = - в - постоянная величина.гПоместив вместо образца эталон с известной концентрацией Сэ примеси иэ измерив соответствующие сигналы (1,,з э эПг, Уо Уо, .находим окончательное выражение для измеряемой концентрации: э э.1 г ПоП1-1 огСэе(б) П р и м е р. Излучение источника 1 света с частотой о возбуждает КР в образце 2. Излучение КР разделяется на два канала детектирования, основной и дополнительный. Перед фотоприБ (1) К(;)(.)11и 77 К (7 Т 77 Т 1 ггде Т, и Т - пропускания нейтральных...
Способ измерений зависимости сечения двухфотонного поглощения от длины волны излучения
Номер патента: 1323999
Опубликовано: 15.07.1987
Авторы: Воропай, Гусенков, Саечников, Торпачев
МПК: G02F 1/35
Метки: волны, двухфотонного, длины, зависимости, излучения, измерений, поглощения, сечения
...сечейия двух 40л (аЪфотонного поглощения о , Регистрируют сигнал М опорного детектора 5, на который посгупает излучение,1РоТраженное от светоделителя 4 , и,сигнал Мизмерительного детекто 45ра 6, на кОторый поступает излучение,Иотраженное от светоделителя 4 . Затем ослабитель 3 из положения А, когда он ослабляет поступающее на объект50излучение, переводят в положение В,когда ослабляется только поступающеенепосредственно на детекторы излучение, Регистрируют сигнал М, (1) опорного детектора 5 и сигнал М( М )измерительного детектора 6. Затемустанавливают следующее значениедлины волны излучения, возвращаютослабитель 3 в положение А и повто ряют. указанную последовательностьопераций. Зависимость сечения двухфотонного поглощения от длины...
Фотоприемник
Номер патента: 1229591
Опубликовано: 07.05.1986
Авторы: Воропай, Карась, Ломако, Торпачев
МПК: G01J 1/44
Метки: фотоприемник
...термодатчика 5 появляется разбаланс напряжений, который усиливается операционным усилителем 4 и поступает на нагреватели (транзисторы) б, что приводит к увеличению их коллекторного тока. Выделяющаяся в нагревателях 6 мощность передается тепло- проводящей подложке 2, с которой они находятся в тепловом контакте, нагревая тем самым все расположенные на подложке элементы. Повышение температуры на термодатчике 5 уменьшает падение напряжения на нем, вследстввие чего разбаланс на входе операционного усилителя 4 уменьшается, что вызывает уменьшение тока через нагреватели 6. Подводимая к теплопроводящей подложке 2 мощность уменьшается, причем уменьшение мощности происходит до тех пор, пока не установится баланс между подводимой к...
Способ измерения светового излучения и устройство для его осуществления
Номер патента: 1221507
Опубликовано: 30.03.1986
Авторы: Воропай, Карась, Ломако, Торпачев
МПК: G01J 1/44
...измеряемого излучения, сигналы обоих фотоприемников уравнивают с погрешностью,не превышающейпогрешность измерителя 6 (например, с помощью оптическогоклина); В этом случае разность сигналов йь при закрытом источнике 7равна нулю. После измерения ьЧ, экран8 открывают и снова измеряют разностьсигналов ьЧ Фотоприемников. Тогдаизмеряемая интенсивность 1 световогоизлучения равнао) 7 К07 2гце К - коэффициент чувствительно(сти фотоприемника 4. Измерения величин ьУ и ьЧ, можно про водить и в обратной последовательно - сти.Погрешность измерений света с помощью предложенного устройства определяется флуктуациями и дрейфом величины ьЧ , представляющей собой уровень отсчета измеряемой интенсивности излучения. При реализации способа измеления в течение...
Способ измерений оптических характеристик объектов
Номер патента: 1198387
Опубликовано: 15.12.1985
Авторы: Воропай, Карась, Ломако, Торпачев
МПК: G01J 1/16
Метки: измерений, объектов, оптических, характеристик
...5, излучение в опорном каналефотодиодом 6, Сигналы с выходов обоихфотодиодов усиливаются идентичными операционными усилителями 7 и 8, имеющими одинаковые сопротивления обратной связи, и поступают на два входа измерителя9 разности сигналов, причем сигнал фотодетектора опорного канала поступает такжена вход другого измерителя 10, Оба изме.рения начинают и заканчивают одновременно,Измеряются одновременно разность д Оринтенсивностей и величина Ор, интенсивности без объекта в измерительном канале.Затем в измерительный канал помещаетсяобъект 13 измерений и фиксируются соответствующие величины Ь 0 и О Всеизмерения проводятся за время дт нечув.ствительности величины Ь(1 к дрейфу,которое определяется предварительно.Так, при О,: 10,380 В...
Устройство для вибровыглаживания поверхностей
Номер патента: 337240
Опубликовано: 01.01.1972
Авторы: Архипов, Волков, Московский, Торпачев, Хворостухин
МПК: B24B 39/04
Метки: вибровыглаживания, поверхностей
...инструмента с цилиндрическим наконечником относительно оси вращения корпуса,На фиг. 1 изображено предлагаемое устройство, разрез; на фиг. 2 - то же, вид спереди,Инструмент 1 с цилиндрическим наконечником устанавливается в держатель 2 под определенным углом сс к оси вращения корпуса д и закрепляется винтом 4. В корпусе расположен шпиндель б и жестко связанное с ним зубчатое колесо б, с которым входят в зацепление две диаметрально расположенные ведомые шестерни 7. Пальцы 8 каждой шестерни, эксцентричные относительно их оси вращения,входят в эксцентричные отверстия оправок 9, хвостовики которых свободно устанавливаются в отверстиях держателя инструмента,Вращение шпинделя передается через зубчатое колесо на шестерни. При этом держатель с...