Патенты с меткой «микронеоднородностей»

Способ фотоэлектрохимического контроля локальных микронеоднородностей поверхности полупроводников

Загрузка...

Номер патента: 1597814

Опубликовано: 07.10.1990

Авторы: Кулак, Свиридов, Стрельцов

МПК: G01N 27/26

Метки: локальных, микронеоднородностей, поверхности, полупроводников, фотоэлектрохимического

...при 400 С, и наконец, на участки 2 и 4 с термообработкой при 200 С. Методом электронной дифракции установлено, что при прогреве данных пленок в интервале температур 200 в 4 С формируют 1597814ся амофорные пленки, при 700 С они имеют структуру анатаза, а при 600 Сструктуру анатаза с амфорными вкраплениями. Измерение фототока проводилосьс использованием стандартного электрохимического оборудования - потенциостатаи двухкоординатного самописца. Сканирование пучком УФ-излучения (источник лампаДРК - 120 с диафрагмой) осуществлялосьв направлении от участка 1 к участку5. В начале регистрировался анодный фототок (при потенциалах положительнеепотенциала плоских зон Т 402), а затем вточно такой же последовательности - катодный фототок...

Способ визуализации микронеоднородностей в кристаллах

Загрузка...

Номер патента: 1770843

Опубликовано: 23.10.1992

Авторы: Карпова, Комар, Мигаль, Терейковская

МПК: G01N 21/19

Метки: визуализации, кристаллах, микронеоднородностей

...осуществляется следующим способом.Свет от источника 1, пройдя через конденсор 2, светофильтр 3 и поляризатор 4 становится линейно поляризованным, Затем свет проходит через матовое стекло 5 и исследуемый кристалл 6 и анализатор 9. Изображение кристалла б в поляризованном свете получаем с помощью обьектива 10 на экране 11. Микронеоднородности и различного рода остаточные напряжения в кристалле создают сложную картину двойного лучепреломления на экране, однозначная интерпретация которой невозможна, Однако если в кристалле с помощью приспособления 7 создать напряжения чистого изгиба, то картина на экране 11 существенно изменяется, Центральная часть кристалла, в которой отсутствует напряжение, создает на экране темную нейтральную...

Способ определения концентрации фазовых микронеоднородностей в потоке жидкости

Загрузка...

Номер патента: 1803815

Опубликовано: 23.03.1993

Авторы: Беззаботнов, Немцев

МПК: G01N 15/02, G03B 15/02

Метки: жидкости, концентрации, микронеоднородностей, потоке, фазовых

...осуществляют наразовый (единичный) кадр, т.е, в режимеоткрытого затвора фотоаппарата без перемотки пленки, Экспозиция кадра начинается в момент включения источника 15постоянного щелевого света, а заканчивается в момент его выключения. Источник щелевого света выполнен таким образом,чтобы свет, проходящий через узку)ю щелевую диафрагму(ширина "щели" равна ширине резко изображаемого пространстваобъектива, а длина - размеру кадра в предметной плоскости объектива) высвечивалобъем исследуемой жидкости, заключенныймежду ближней и дальней границами резко 55изображаемого пространства. При этом поле щелевого света должно быть расположено в плоскости, параллельной предметнойплоскости объектива. При таком расположении поля щелевого света...