90273

Номер патента: 1249330

Опубликовано: 07.08.1986

Авторы: Горьков, Янышев

МПК: G01B 17/04

Метки: внутренних, напряжений

...заданной нагрузке составляюгцие внутренних напряжений.Для уточнения значения масштабного коэффициента, используемого при перерасчете значений разности частот в значения внутренних напряжений, после выполнения всех необходимых действий над исследуемыми объектами, а именно: после измерения частоты собственных колебаний объекта при исходной температуре после отжига, нагревают объект на заданную величину приращения температуры, вновь возбуждают в нем колебания на собственной частоте, измеряют эту частоту, определяют расчетным путем температурные напряжения при изменении температуры, сопоставляют их с приращением периода частоты колебаний и используют полученный таким образом масштабный коэффициент при определении внутренних напряжений. 10...

Номер патента: 1539545

Опубликовано: 30.01.1990

Авторы: Жильцов, Овчинников

МПК: G01L 1/00

Метки: внутренних, напряжений, покрытиях

...1в первоначальное положение. Внутренние напряжения возникающие в реЭзультате нанесения покрытия,иэгибаютобразец 3 в сторону упоров 5 или 6(в зависимости от знака внутреннихнапряжений). Ток из упоров, в сторонукоторого изогнется образец,выворачивается до положения, исключающегоего контакт с образцом 3.Для возвращения образца в исходное положение (которое было до нанесения покрьгтия) потребуется некоторый постоянный по длине образца изгибающий момент. Этот момент создается парой сил, одна иэ который действует на образец 3 при перемещениидинамометра 10 микрометрическим винтом 9 по направляющим 11, а другаяявляется реакцией регулируемого упора 5 (или б), Если в покрытии 4 воз"никнут растягивающие внутренние напряжения и образец 3 изогнется...

Номер патента: 1649310

Опубликовано: 15.05.1991

Авторы: Анчугин, Савченко, Трунов, Фирцак

МПК: G01L 1/00

Метки: внутренних, напряжений, покрытиях

...в наносимом покрытии имеются внутренние напряжения, то на подложку оудут со стороны покрытия действовать две силы: первая - растущая иропорцио1649310 формула изобретения 10 Составитель В. ГодзиковскийРедактор С. Лисина Техред А. Кравчук Корректор Л. ПатайЗаказ 15 14 Тираж 362 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, Ж - 35, Раушская наб., д. 4/5Производственно-издательский комбинат Патент, г. Ужгород, ул. Гагарина, 101 нально времени, и вторая - периодическая с периодом, равным периоду изменения скорости нанесения покрытия при модуляции. Под действием указанной периодической силы возникают изгибные колебания подложки, амплитуду которых измеряют например с помощью...

Номер патента: 1656310

Опубликовано: 15.06.1991

Авторы: Александров, Остапенко

МПК: G01B 5/30

Метки: внутренних, напряжений, памяти, проявляющего, термочувствительном, уровня, формы, элементе, эффект

...атомов при мартенситном превращении. В результате направленного смещения всех атомов в направлении энергетически выделенном полем внутренних напряжений воэникает ма.кродеформация ео. Величина деформации обратимой памяти формы статически устойчиво сохраняется с числом циклов.При термоциклировании ТЧЗ при напряжении ар =01 (о, будет наблюдаться10 формоизменение в диапазоне неупругой деформации н 1 . Если й МС ТЧЭ разгрузить (т.е, устранить нагрузку), то у него восстановится упругая часть деформации и останется заданная деформация гл, Если теперьразгруженный ТЧЭ нагреть до АС, то произойдет полное восстановление заданной деформации я 1, При последующем термоциклировании формоизменение будет происходить только в диапазоне деформации...

Номер патента: 441490

Опубликовано: 30.08.1974

Автор: Генкин

МПК: G01N 23/20

Метки: внутренних, монокристаллах, напряжений

...плоскости, причем напряжения определяют по изменению разности брэгговских углов отражения этих лучей.Используя отражения двух рент геновских лучей от одной кристаллографической плоскости, исключают недостатки известного способа, связанные с необходимостью воспроизводить и сопоставлять брзгговские отражения рентгеновского луча от 2 О двух кристаллографических плоскостей исследуемого монокристалла.Выбирая величину угла между падающими рентгеновскими лучами, равную разности их брзгговских углов отражения, сокращают на эту величину измеряемый интервал, доводя его до области разности угловых приращений брэгговских максимумов. Этим исключают недостаток известного 30 способа, связанный с необходимостью вычислять искомые приращения как малые...