G01N 1/36 — встраивание или аналогичное крепление образцов

Страница 2

Способ фиксирования образцов при микроскопических исследованиях

Загрузка...

Номер патента: 623134

Опубликовано: 05.09.1978

Автор: Воронцов

МПК: G01N 1/36, G02B 21/34

Метки: исследованиях, микроскопических, образцов, фиксирования

...тем, чтов качестве стабилизирующего ингредиентаиспользуют стальную дробь диаметром от1,0 до 1,5 мм,., По предлагаемому способу исследуемый образец устанавливают на поверхность стальной дроби диаметром от 1,0до 1,5 мм, которой заполнена, например,:.,прямоугольная с плоским шлифованным основанием 70 х 70 мм коробка высотой от 20 до 36 мм (дробь используется от аробеструйных аппаратом), Затем образец фиксируют путем вдавливания вручну илн с помощью ручного прессика в слой дроби так, чтобы исследуемая поверхност образца была расположеиа параллельно основанию коробки. Затем образец в коробке переносят на предметный столик микроскопа МЯУили под бинокулярную лупу для исследования,Применение стальной дот 1,0 до 1,5 мм в качруюшего...

Способ изготовления образца для исследования свойств слабопрочных материалов

Загрузка...

Номер патента: 666464

Опубликовано: 05.06.1979

Автор: Волковецкий

МПК: G01N 1/36

Метки: исследования, образца, свойств, слабопрочных

...больше для предыдущего слоя. После эатвердевания слоев производят механическую обработку образца.Свойства и структура образца не нарушаются в случае, если толщина перво го слоя. (пропитанной ткани) меньше среднего размера заготовки примерно в 1066 раз. При этом делать о к пь тонким первый слой нецелесообразно по той причине, что для обеспечения достаточной прочности образца в целом пришлось бы наносить большее количество последующих слоев, так как достаточно толстый второй слой при тонком первом приводит к нарушению свойств и структуры образца и первый слой оказывается недостаточно прочнымчтобы воспрепятствовать давлению второго слоя.П р и м е р, Ткань, пропитанную твердеющей композицией, например эпоксидной смолой с отвердителем,...

Образец для определения трещиностойкости битуминозного покрытия

Загрузка...

Номер патента: 666465

Опубликовано: 05.06.1979

Автор: Воронин

МПК: G01N 1/36

Метки: битуминозного, образец, покрытия, трещиностойкости

...определения трещиноЦелью изобретения является повышеие точности определенця трещинострой1( н 4 е 5 Составитель А. ХачатурянРедактор Л. Курасова Техред Н, Андрейчук Корректор О. Билак Заказ 3173/34 Тираж 1089 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д, 4/5филиал ППП Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4 На чертеже показан предлагаемый образец.Образец включает подложку 1, например иэ бетона или цементно-песчаного раствора, покрытие 2 требуемой толщины из битуминозных составов, параллельные полоски 3 токопроводящего слоя, последовательно соединенные одна с другой,При ширине полосок 3 токопроводяшего слоя и расстоянии между ними 0,05- 0,1 ширины покрытия длина...

Способ определения глубины залегания микрослоев и микродефектов

Загрузка...

Номер патента: 688857

Опубликовано: 30.09.1979

Авторы: Полякова, Прохоров, Тарасевич, Точицкий, Чечера

МПК: G01N 1/36, H01L 21/66

Метки: глубины, залегания, микродефектов, микрослоев

...получают путем скола излома или среза, а также изготовлением перпендикулярного или наклонного шлифа. Далее измеряют профиль поперечного сечения, например излома, на электронном микроскопе или с помощью других специальных устройств. Затем наносят реплику одновременно на поперечное сечение и боковые стороны образца. Укб 118857 Формула изобретения Составитель А. Хачатурян Техред Т. Писакииа Корректор В. Дод Редактор А. Соловьева Заказ 210210 Изд. Ме 550 Тираж 1090 Подписное НПО Поиск Государственного комитета ГССР по делам изооретепий и открытий 113035, Москва, К.35, Расписка; наб., л. 45Типография, пр. Сапунова, 2 репляют реплику, например ультрафиолетовым облучением, и снимают ее с образца с разворотом в одну плоскость. Далее...

Способ подготовки образца для иссле-дования

Загрузка...

Номер патента: 832399

Опубликовано: 23.05.1981

Авторы: Гайдукова, Дубинчук, Иванов, Комиссаров, Федотов

МПК: G01N 1/36, G02B 21/34

Метки: иссле-дования, образца, подготовки

...локальный участок поверхности твердого тела обрабатывают эмульсией, например этиловым спиртом, затем проводят скол исследуемых частиц ультразвуком под углом 43-45 Частицы собирают на стеклянный экран и исследуют.П р и м е р, Исследуемый образец горной породы - пирит с золотом - размером 3 " 3 см, отполированный с одной стороны помещают-на столик светового микроскопа МИНи при увеличении в 150 раз выбирают исследуе832399 Формула изобретения Составитель С,фатееваТехред М.Коштура Корректор Н.Стец Редактор О.Черниченко Заказ 3162/31 Тираж 907 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул, Проектная,мый участок. Устанавливают...

Способ изготовления металлографическихшлифов

Загрузка...

Номер патента: 836558

Опубликовано: 07.06.1981

Авторы: Бусел, Крицкий, Немировский, Розенберг

МПК: G01N 1/36

Метки: металлографическихшлифов

...В результатев процессе изготовления шлифа на его поверхности образуется наклепанный слой высокой тверцости, Наклепанный слой вносит значительные иска.кения в общую картину полученных результатов. -Для его удаления требуются очень трудоемкие специальные методы обработки,Цель изобретения - уменьшение твердостинакцепанного при шлифовании слоя,Цель достигается тем, что в известномспособе изготовления металлографическихшлифов, включающем закрепление образца воправке и их совместное шлифованне алмазно-абразивным инструментом, используют оправку, твердость которой выше твердости образца.Проводили изготовление металлографическихшлифов из стали Х 18 Н 10 Т, имеющей твердостьСоставитель Д., ЛапинТехред С. Мигунова Корректор А. 1 риценко...

Способ отслоения пленки-подложки при изготовлении препаратов для электронной микроскопии

Загрузка...

Номер патента: 859862

Опубликовано: 30.08.1981

Авторы: Кейсевич, Медвецкий

МПК: G01N 1/36

Метки: изготовлении, микроскопии, отслоения, пленки-подложки, препаратов, электронной

...что значительно усложняет процесс, увеличивает расход формвара и увеличивает брак. Кроме того, необходимо каждый раз готовить свежий раствор формвара, тщательно контролируя и подбирая его концентрацию, при,этом для облегчения отслоения пленки-подложкиЭаказ 7536/64 Тираж 907 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Филиал П 1 П "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4 приходится спеЦиально испольэовать стекла с неровной поверхностью, что ухудшает качество пленки-подложки.Цель изобретения - упрощение способа и уменьшение брака.Указанная цель достигается тем, что при осуществлении способа отслое. ния пленки-подложки при изготовлении препаратов путем погружения...

Способ подготовки образца для исследования

Загрузка...

Номер патента: 947687

Опубликовано: 30.07.1982

Авторы: Дубинчук, Комиссаров, Федотов

МПК: G01N 1/36, G01N 23/225

Метки: исследования, образца, подготовки

...Ю. Харитончик, Корректор М, Еароши Редактор М. Янович Тираж 887 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб д, 4/5в Заказ 5620/64 Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4 в 160 раз выбирают исследуемый участок. Затем помещают образец подколокол вакуумной установки ВУПКи проводят откачку воздуха до5 10 4 тор. После этого под углом90 к поверхности образца производятнапыление алюминием, Под колоколнапускают воздух, вынимают образеци переносят его снова под световоймикроскоп МИН, на выбранный участок образца наносят каплю этилового 10спирта, устанавливают .на расстоянии,15 мм от плоскости образца стеклянный экран и производят скалываниеультразвуковой иглой частиц...

Способ получения тонких пленок эластичных полимеров

Загрузка...

Номер патента: 954399

Опубликовано: 30.08.1982

Авторы: Носова, Погорельская, Репин, Шеин, Шутилин

МПК: G01N 1/36, G01N 23/225

Метки: пленок, полимеров, тонких, эластичных

...р и м е р 1. По предлагаемому способу готовят пленку дивинилстирольного термоэластопласта ДСТ, содер-О жащего 26 мас.% стирола. Для этого 0,13 г ДСТрастворяют в 50 мл толуола. Тщательно очищенную петролейным эфиром стеклянную пластинку, (покровное стекло для микропрепара25 тов) однократно погружают в раствор полимера и высушивают до получения на нем тонкой полимерной пленки(40 нм) .Затем стеклянную пластинку с находящейся на ее поверхности пленкой помещают в бюкс с четырехокисью осмин и обрабатывают ее парами в теченые 5 ч, После контрастирования стекло с находящейся на его поверхности пленкой медленно погружают под острым углом в раствор плавиковой кислоты35 (5 мас.Ъ). По мере погружения пленку постепенно отделяют от стекла,...

Способ подготовки поверхности полимерных материалов к испытаниям на фунгицидность

Загрузка...

Номер патента: 956501

Опубликовано: 07.09.1982

Авторы: Лобанок, Малама, Миронова, Моисеев, Нестеренко, Рудакова

МПК: C12Q 1/24, G01N 1/36

Метки: испытаниям, поверхности, подготовки, полимерных, фунгицидность

...легко может быть получена из торфа, бурых углей, почвы и некоторых других видов дешевого непищевого сырья н лабораторных и промышленных условиях.П р и м е р 1. Готовят в этаноле 0,1 нес.-об.Ъ-ный раствор гиматомелановой кислоты, получаемой из торфа, Образцы пленки иэ базового полиэтилена высокого давления (ГОСТ 16 337-70, марка 10812-020) Подготавливают очисткой и стерилизацией этанолом, нысушиванием на воздухе при комнатной температуре и погРужением в раствор гиматомелановой кислоты на 2-5 с, последующим нысушинанием в аналогичных условиях. После удаления образцов из раствора гиматомелановой кислоты на их поверхности остается слой раствора толщиной 0,1- 0,5 мм, полностью смачивающий поверхность, а после испарения растворителя - сухая...

Способ получения угольных реплик

Загрузка...

Номер патента: 966544

Опубликовано: 15.10.1982

Автор: Комиссаров

МПК: G01N 1/36, G01N 23/225

Метки: реплик, угольных

...1010 мм, толщиной 1 мм, помещают их под колокол вакуумной установки типа ВУПК, доводят вакуум до 5 104 торр и подпрямым углом к поверхности пластинок напыляют алюминий (или хром). Напускают воздух под колокол, вынимают пластинки, на напыленную поверхность одной иэ них помещают порошок (технологическую пробу) в количестве 50 мг, состоящую иэ бокситовой руды. Проба, предварительно обогащенная, имеет раз" мер частиц (зерен) 0,1-1 мкм (удельный вес меньше 2,7, твердость 1), 60 т.е. состоит в основном из Рыхлых частиц, например каолинита, гидро- слюды. Затем обе пластинки помещают на предметные стекла, помецают на нагревательное устройство, например наэлектроплитку, нагревают пластинки до температуры жидко-текучего состояния й =...

Способ получения тисненных реплик

Загрузка...

Номер патента: 966545

Опубликовано: 15.10.1982

Авторы: Толстикова, Херсонский

МПК: G01N 1/36, G01N 23/225

Метки: реплик, тисненных

...вакуумный пост ВУПК и обеспечивают в нем вакуум не менее 10 4 мм рт.ст. В качестве электродов применяют спектрально чистые угли цилиндрической формы, один из которых оканчивается 40плоским срезом (экраном), выполненнымпод углом, равным углу оттенения, а второй - усеченным конусом с вершиной, направленной к центру среза пер- вого электрода. диаметр вершины усе ченного конуса второго электрода составляет 0,5-1,0 мм, при этом диаметр1-го электрода значительно (более 3 раз) превышает диаметр второго электрода, У вершины второго электрода и в центре первого электрода выполнейы уступы-площадки для размещения платиновых петель, выполненных из платиновой проволоки диаметром 0,2-4 мм (отходы термопар ПП). Радиус петли 0.,5-1,0 мм. Полистироль...

Способ подготовки предметной сетки с подложкой для электронно-микроскопического исследования и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 976336

Опубликовано: 23.11.1982

Авторы: Алешкина, Боткина, Стебаева

МПК: G01N 1/36, G02B 21/34

Метки: исследования, подготовки, подложкой, предметной, сетки, электронно-микроскопического

...9 черездвухходовой кран 10. При этом ктрубке 7 через трехходовой кран 8 З 0подключен насос 11. 36 4го кран 8 закрывают и открывают кран 10, и вода из сосуда ч заполняет ем кость 1, обеспечивая готовность устройства к следующему циклу работы,Если при налегании подложки на предметные сетки в момент опускания уровня воды в емкости 1 произошло смещение подложки, возвращают воду в количестве, необходимом для поднятия пленки над сетками, путем сокращения насоса 11, При этом подставка 3 и обратная струя воды дают возможность исправить налегание подложки,Использование предлагаемого способа и устройства для его осуществления позволяет облегчить процесс нанесения подложки на предметную сетку, сократить время подготовки предметных сеток с...

Устройство для крепления металлографических образцов

Загрузка...

Номер патента: 1032358

Опубликовано: 30.07.1983

Автор: Тузова

МПК: G01N 1/36

Метки: крепления, металлографических, образцов

...иэ оргстекла в виде кольца прямоугольного сечения, установлены соосно держателю я жестко закреплены на нем, а дисковый держатель выполнен с отверстием в цент. ре. На чертеже схематично показано предлагаемое устройство.К держателю 1 жестко крепится оргетеклянная кольцевая оправка 2, например, с помощью клея, так что ось дискового держателя 1 совпадает с осью оправки 2. 58 2Металлографические образцы Э закрепляют на оправке 2 следующим образом. Раскладывают образцы на плоской стек лянной пластинке вдоль кольца, нарисованного с противоположной стороны пластинки (размеры кольца должны соответствовать кольцевому сечению оправки), Затем на торцевую поверхность оправки 2 наносят дихлорэтановый клей и прижимают оправку с разложенным на...

Способ для приготовления препаратов ферромагнитных веществ для электронной микроскопии и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1033904

Опубликовано: 07.08.1983

Авторы: Гринько, Дудченко, Кузема, Лялько

МПК: G01N 1/36, G01N 27/00

Метки: веществ, микроскопии, препаратов, приготовления, ферромагнитных, электронной

...ферромагнитных веществ за счет уменьшения слипаемости частиц,Указанная цель достигается тем что согласно способу приготовления препаратов ферромагнитных веществ цля электронной микроскопии, включающему нанесение.на пленку-поцложку циспергированного вещества, воздействие на него ультразвуком и послецующее закрепление частиц, оцновременно с возцействием ультразвуком вещество намагничивают цо насыщения в магнитном поле, перпеьцикулярном плоскости пленки-подложки.Для осуществления способа используется устройство, соцержащее генераторультразвука и излучатель с цилинцричес4 4ду разноименными полюсами частиц и,магнита, Существуют также силы трениямежду частицами. Под воздействием этойсистемы сил частицы ферромагнитного порошка...

Способ подготовки пробы для ядерно-физических методов анализа

Загрузка...

Номер патента: 1103112

Опубликовано: 15.07.1984

Авторы: Андреев, Кузьмин, Шныкин

МПК: G01N 1/36, G01N 23/22

Метки: анализа, методов, подготовки, пробы, ядерно-физических

...подложки изиндия состоит в следующем,Заготовку индия необходимого размера прокатывают в лист толщиной0,2"0,3 мм и вырезают образцы требуемого размера. Для обеспечения жесткости подложки образцы индия накла.дывают на аналогичного размера пластины из меди (предварительно протравленные) толщиной0,5 мм, на ин-дий помещают пленку из лавсана испрессовывают путем последовательного увеличения давления з1 10 Н/м .7После окончания прессовайия лавсанудаляют, и подложка готова для переноса на нее микровзвеси.Перенос пробы микровзвеси осущест"вляют следующим образом.Из фильтра вырезают образцы, размеры которых равны размерам подложки, накладывают их на индий стороной,на которой находится микровзвесь, испрессовывают, постепенно...

Способ подготовки образцов полимерного ионообменного материала для рентгеноспектрального микроанализа

Загрузка...

Номер патента: 1125502

Опубликовано: 23.11.1984

Авторы: Водолазов, Кахаева, Комарова, Родионов

МПК: G01N 1/36

Метки: ионообменного, микроанализа, образцов, подготовки, полимерного, рентгеноспектрального

...пленкой клея Бф - 6.Способ состоит в следующем.Зерна иоццтов в воздушно. сухом состоянии после отделения от равновесного раствора центрифугированием закрепляют в металлической формс смесьго эпоксидной смолы и отвердителя 1 полггэтипеггполцдмина) в соотношении 1:7 - 1:10, В смесь добавляют алюмини. евую пудру в соотношении 1:2 - 1:2,5, что улучшает тепло. и электропроводность образца-излучателя ц предотвращает растрескивание исследуемых гранул иоцитов. Затем дают выдержку в течение суток дпя затвердевания, Зерна смолы сошпифовывдют до половины диаметра с погрешностью 2 - 3%, Окончатель. ную полировку проводят алмазной пастой ца батггсте, затем образцы тщательно протирают этиловым спиртом. На полированную поверхность образца...

Способ подготовки проб к рентгеноспектральному анализу

Загрузка...

Номер патента: 1139996

Опубликовано: 15.02.1985

Авторы: Альперович, Богданова, Максимов

МПК: G01N 1/36

Метки: анализу, подготовки, проб, рентгеноспектральному

...материала с флюсом и сплавлениесмеси на горизонтальной поверхности 55графитовой подложки, подложку предварительно пропитывают аммиачнымраствором борной кислоты или смачивают раствором нитрата щелочного металла, или вводят нитрат щелочного металла в сплавляемую смесь.При этом используют 10-402-ный аммиачный раствор борной кислоты, О, 1-10 Х-ный раствор нитрата щелочного металла.Кроме тогов сплавляемую смесь вводят нитрат щелочного металла в соотношении ( 1-5): 100.Использование боратов обусловлено их разложением по формулеоИН ) 3 ВОэ Вг Оз+ЗН 2 01+6 ИН 1,Образующиеся газы создают микро- поры в подложке, а оксид бора остается в них и, растворяясь в расплаве анализируемой смеси, обеспечивает сцепление его с подложкой, Механизм...

Способ подготовки водорастворимых биопрепаратов микроорганизмов для электронно-микроскопического исследования

Загрузка...

Номер патента: 1154585

Опубликовано: 07.05.1985

Авторы: Герасимов, Камынин

МПК: A61B 10/00, G01N 1/36

Метки: биопрепаратов, водорастворимых, исследования, микроорганизмов, подготовки, электронно-микроскопического

...плотные среды, о т л ич а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения сохранности ультраструктуры сухого биопрепарата, его фиксацию проводят в парах четырехокиси осмия, в качестве заключающей среды используют формвар.1 1154585 2Изобретение относится к медицине, разцы, например бактериальные клетки в частности к электронно-микроекопи- ЕзсЬек 1 сЫа Со 1, по 25 мг вносят в ческому исследованию структуры микро" сосуд и выдерживают в нем при 49 С во организмов. течение 48 ч.Целью изобретения является ловы-Далее 5 мг исследуемого образца шение сохранности ультраструктуры заливают 0,5 мл 17."ного раствора формсухого биопрепарата микроорганизмов. вара на дихлорэтане и суспензируют.Способ осуществляют следующим Полученную суспензию наносят на...

Способ подготовки поперечных сечений образцов для электронной микроскопии

Загрузка...

Номер патента: 1182322

Опубликовано: 30.09.1985

Автор: Родионова

МПК: G01N 1/36

Метки: микроскопии, образцов, подготовки, поперечных, сечений, электронной

...микроскопа с отверстием в середине (фиг. 16) и покрываютзащитным слоем (лаком, клеем, парафином), не взаимодействующим с травителем, в котором утоняется образец (фиг.1 в). В защитном слое проделывают окно (фиг.1 г) и помещают образец в травитель. По мере утоненияобразца защитный слой, нависая надкраямгг утоняемой области, препятствует ее травлению (фиг.1 д). Удаляязащитный слой у исследуемой области(фиг. 1 е, получают равномерно утоненный участок, содержащий приповерхностную область образца, Защитный слой растворяют фиг.1 ж).Предлагаемый способ используютдля исследования границы раздела,А 1-8, На подложку кремния путемтермического испарения в вакууменаносят пленку алюминия толщинойо500 А. Из структуры подложка-пленкавырезают образцы...

Способ подготовки образцов для радиохимического анализа

Загрузка...

Номер патента: 1186995

Опубликовано: 23.10.1985

Авторы: Гладышев, Коробочкин, Крюков, Латыпова, Мищенко

МПК: G01N 1/36, G01N 21/03

Метки: анализа, образцов, подготовки, радиохимического

...из капрона с прно впрессовыванным в неею органического растворителям - древесной массой толщи 6-0,024 мг/см, на которуюанализируемый растворЗаказ 6538/46 , Тираж 896 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб д. 4/5 Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4 1 1186Изобретение относится к аналитической химии и может быть использовано при изучении процесса обогащения полезных ископаемых,Пелью изобретения является повышение чувствительности и точности анализа.П р и м е р 1, В кювету из капрона вносится 0,5 мл растворителя - клеющей массы. После размягчения 10 поверхностного слоя кюветы в нее равномерно вносится слой сорбента - древесной массы толщиной -0,001 мм....

Способ получения одноступенчатых реплик с рыхлых объектов

Загрузка...

Номер патента: 1204994

Опубликовано: 15.01.1986

Авторы: Комашко, Раев

МПК: G01N 1/36

Метки: объектов, одноступенчатых, реплик, рыхлых

...операциях. Кроме того, замораживание объекта .пе всегда эффективно для снятия угольой реплики с желатеной и очень ас то велико количество извлечений на реплику, что затрудняет просмотр рельефа образца,1 ель изобретения - расширение области применения и снижение трудоемкости.Способ реализуется в следующей ослецовательости.11 а исследуемь образец наносят тонкий слой термостойкого клея, который после высыхания снимают вместе с приклеенным верхним слоем изучаемого образца, обратная сторона которого пригодна для напыления угольной пленки. Приготовленньй таким способом образец можно нагревать до 200 С при исследовании методом вакуумого декорирования и лспол зовать в обычном методе одноступенчатых реплик, Затем производят либо...

Способ приготовления образца дифракционной решетки для исследования в электронном микроскопе

Загрузка...

Номер патента: 1272160

Опубликовано: 23.11.1986

Авторы: Дегтева, Сулабе, Тихомиров

МПК: G01N 1/28, G01N 1/36

Метки: дифракционной, исследования, микроскопе, образца, приготовления, решетки, электронном

...заключается в следующем. 1 ОНа поверхность дифракциоиной решеткичерез заслонку в вакууме напыляют углерод толщиной 1 О - 20 нм. Заслонка необхо.дима для получения более прочного слоя.Для уменьшения времени изготовления реп.лики желательно дополнительно напылить15углерод без использования заслонки такойтолщины (30 - 40 нм), чтобы прн перегибе реплика не рвалась, После напыленияуглеродную реплику отделяют от поверхности решетки с. помощью желатина. По 2 овысохшей поверхности желатина делают разметку образца, одна из сторон которогопараллельна линии перегиба, перпендикулярной направлению штрихов решетки. Далеевырезают образец, отмывают его от желатина в дистиллированной воде и вылавливают на ребро сетки-подложки, подводя ееснизу под...

Способ получения и подготовки образца для микроскопических исследований

Загрузка...

Номер патента: 1280481

Опубликовано: 30.12.1986

Авторы: Бондаренко, Гаврилов, Жованик, Каминский, Шкарапута

МПК: G01N 1/28, G01N 1/36

Метки: исследований, микроскопических, образца, подготовки

...образца для микроскопических исследований, и может быть использовано для 5изучения структуры материала детали,Целью изобретения является обес печение идентичности деформаций образца и нагруженной детали.На чертеже приведена схема осуществления предлагаемого способа.Способ осуществляют следующим образом.Деталь 1 нагружают до заданнойвеличины нагрузки. На исследуемуюобласть поверхности детали наносятклеевой слой и струбциной 2 к нейприжимают жесткую накладку 3 рифленой поверхностью, Материал накладкивыбирают тверже материала детали.После затвердевания клеевого слоядеталь 1 разгружают, снимают струбцину 2. Рифления жесткой прокладкиобеспечивают фиксацию деформированного состояния в каждой точке исследуемой поверхности. Часть детали...

Способ подготовки образца для электронномикроскопического исследования

Загрузка...

Номер патента: 1285337

Опубликовано: 23.01.1987

Авторы: Бычков, Вишневецкий, Лагун, Шнырев

МПК: G01N 1/28, G01N 1/36

Метки: исследования, образца, подготовки, электронномикроскопического

...- упрощение способа, достигаемое за счет облегчения производства операций фиксации образца, его утонения и универсальности приготовленных образцов.На фиг.1 изображена оправа с образцом, общий вид;,на фиг.2 - разрез А-А на фиг.1.Заготовку образца 1, например отрезок проволоки толщиной 0,12 - 0,20 мм, помещают в с-образную выемку 2 оправы 3 и фиксируют слоем керамического связующего 4, например цемента (стоматологического). Оправа 3 может быть выполнена вырубкой из фольги, например, нержавеющей стали 12 Х 18 Н 10 Т толщиной 0,12-0,16 мм и иметь форму диска диаметром 3 мм (согласно общепринятому размеру образца). Размеры выемки имеют, как правило, ширину 1,25 мм и глубину 2 мм. После отверждения связующего его наплывы и выступающие...

Способ соединения образца со стержнем-волноводом при испытании на высокоскоростное растяжение

Загрузка...

Номер патента: 1352307

Опубликовано: 15.11.1987

Авторы: Астахов, Голенченко, Логинов, Лошманов

МПК: G01N 1/36, G01N 3/30

Метки: высокоскоростное, испытании, образца, растяжение, соединения, стержнем-волноводом

...Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4Изобре-,ие относится к исследованию прочпостны свойств материалов при высокоскоростном нагружении, а именно - к способам сосдинсния образца со стержнемволноводом при испытании на высокоскоростное растяжение.Цель изобретения повышение точности испытаний за счет уменьшения искажений волны нагрузки при прохождении ее через резьбовое соединение.На чертеже изображена схема осуществления предлагаемого способа. Образец 1 испытуемого материала, сое диняемый со стержнем-волноводом 2, на котором установлен тензорезистор 3, имеет резьбовую захватнуо головку 4, а стерженьволновод 2 выполнен с глухим резьбовым отверстием 5 с плоским дном 6. Д.я соединения образца 1 со...

Устройство пробоподготовки для аналитических исследований

Загрузка...

Номер патента: 1435994

Опубликовано: 07.11.1988

Авторы: Суриков, Таразанов

МПК: G01N 1/36, G01N 21/64, G01N 23/223 ...

Метки: аналитических, исследований, пробоподготовки

...держателя образца, Внутренний диаметр гнезда 10 (ниже уровня ступеньки 16) равен диаметру циска держателя образца, что обеспечивает отцентрированное положение диска 15 держателя образца, Далее на диск 5 держателя образца и ступеньку 16 гнезданакладывают съемное кольцо 12 с установленным внутри него наружным кольцом 14 образца, Затем подавателем 8передвигают гнездо 10 с установленными в нем деталями образца и.центри=рующими элементами внутрь устройствадо срабатывания фиксатора 18, т,е,до совмещения гнезда 10 с пуансоном3, Шарик 19 фиксатора заходит в лунку22 на подавателе 8 и удерживаетсятам пружиной 20 фиксатора, тем самым обеспечивая соосное положениегнезда 10 и пуансона 3. Нажимают наголовку 4 пуансона вниз до упора,приэтом пуансон 3...

Способ приготовления образцов порошкообразных объектов для исследования в просвечивающем электронном микроскопе

Загрузка...

Номер патента: 1559263

Опубликовано: 23.04.1990

Авторы: Григорьева, Ерофеев

МПК: G01N 1/28, G01N 1/36, G01N 23/225 ...

Метки: исследования, микроскопе, образцов, объектов, порошкообразных, приготовления, просвечивающем, электронном

...частицы порошксоединяют с инертной жидкостью иготавливают суспензию, напримердом перемешивания. Приготовленнуюспекзию продавливают через твердпористый фильтрующий элемент, сттура которого подобна губке. В п неи исследуемыми ча - Л ную часть матрицы ус- лектронно-Аикрсскопи1559263 нейшее препарирование производили по стандартному методу ультратонких срезов. Полученные срезы фильтрующего элемента толщиной 300 А закреплялись на электронно"микроскопической сетке.Из примеров видно, что по предложенному способу образцы могут приготовляться из смеси разнородных материалов, включая металлы, а также из малых примесей, содержащихся в сырье,Формула изобретения Составитель В.ГаврюшинТехред М.Дидык . Корректор М.Самборская Редактор В,Данко Заказ...

Способ фиксирования образцов при исследованиях в растровом электронном микроскопе

Загрузка...

Номер патента: 1608531

Опубликовано: 23.11.1990

Автор: Филиппов

МПК: G01N 1/36, G01N 23/225

Метки: исследованиях, микроскопе, образцов, растровом, фиксирования, электронном

...в процессе поующие операций. На подготовленный м образом держатель образцов, наблюв оптический микроскоп. размещают кты исследования. Затемдержательобов с установленными объектами поме(55 0 01 К 23/225,1/28(54) СПОСОБ ФИКСИРОВАНИЯ ОБРАЗЦОВ ПРИ ИССЛЕДОВАНИЯХ В РАСТРОВОМ ЭЛЕКТРОННОМ МИКРОСКОПЕ (57) Изобретение позволяет снизить вероятность загрязнения исследуемой поверхности образца. Для этого слой клеевого состава высушивают после нанесения его на обьектодержатель. Затем на высушенную поверхность устанавливают образец и парами растворителя размягчают клеевой состав. щают в сосуд, на дно которого наливают необходимое количество растворителя, например ацетон, для клея "Суперцемент", и накрывают стеклом. При этом пары растворителя...

Способ изготовления таблеток из жидких радиоактивных проб

Загрузка...

Номер патента: 1295891

Опубликовано: 07.04.1991

Авторы: Антонова, Байковская, Прокофьев

МПК: G01N 1/36, G01N 23/12

Метки: жидких, проб, радиоактивных, таблеток

...сцепления между поверхЙостями (в данном случае сопротивление сдвигу сцепления между пластиной и образующей таблетки). Как показали проведенные опыты, таблетка. извлекается из подложки вместе с пластиной, когда отношение поверхностей соприкосновения образующей таблетки с пластиной и торца таблетки с дном подложки больше О,5.После извлечения таблетки из подложки пластина разгибается под действием собственной силы упругости и таблетка освобождается. При разгибании пластины под действием силы упругости на контакт между поверхностью пластины и поверхностью образующей таблетки действует сила растяжения. А сопротивление растяжению пользованию антиадгезионного вещества, Поэтому сила упругости пластины разрывает контак между поверхностью...