Способ подготовки образца для иссле-дования

Номер патента: 832399

Авторы: Гайдукова, Дубинчук, Иванов, Комиссаров, Федотов

ZIP архив

Текст

Совэ Совегскик Социаписгичесиик Республик(22) Заявлено 09,04,79 (21) 2751788/23-26с присоединением заявки йо(51)М. Кд.з 6 01 й 1/28 Государствеииый комитет СССР по делам изобретеиий и открытийП.Е.Комиссаров, В.Т.Дубинчук, В.С.Гайдукоа,А.И.федотов и И А.ИвановВсесоюзный научно-исследовательский инст тутминерального сырья з 1 РБЫ 51 И".Ы А(54) СПОСОБ ПОДГОТОВКИ ОБРАЗЦА ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ Изобретение относится к исследованиям химических и физических свойств веществ, в частности к способам приготовления образцов для электронно-микроскопических исследований.Известен способ подготовки образца для исследования, который заключается в травлении (вскрытии) полированных поверхностей разными травителями с последующим получением угольной реплики 1.Недостатком этого способа является то, что при каждом травлении возникает необходимость в подборе соот ветствующего травителя для данного объекта. При взаимодействии травителя с исследуемым веществом происходит реакция с образованием новых минеральных фаз, которые невозможно 20 удалить с поверхности исследуемого объекта. Размер исследуемого участка должен быть не менее 1 мм.Известен также способ подготовки образца для исследования, включающий скол исследуемых частиц с полированной поверхности твердого тела и сбор этих частиц 2.Недостатком известного способа является малая эФФективность и точ ность анализа, так как в процессе выкалывания частичен для препарирования нарушается целостность образца, которая очень важна при изучении геологических, минералогических и других объектовЦель изобретения - повышение эффективности и точности анализа за счет использования локального УЧастка поверхности.Указанная цель достигается тем, что перед сколом локальный участок поверхности обрабатывают эмульсией а скол проводят ультразвуком под углом 43-45Способ осуществляется следующим образом.Выбранный локальный участок поверхности твердого тела обрабатывают эмульсией, например этиловым спиртом, затем проводят скол исследуемых частиц ультразвуком под углом 43-45 Частицы собирают на стеклянный экран и исследуют.П р и м е р, Исследуемый образец горной породы - пирит с золотом - размером 3 " 3 см, отполированный с одной стороны помещают-на столик светового микроскопа МИНи при увеличении в 150 раз выбирают исследуе832399 Формула изобретения Составитель С,фатееваТехред М.Коштура Корректор Н.Стец Редактор О.Черниченко Заказ 3162/31 Тираж 907 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул, Проектная,мый участок. Устанавливают стеклянныйэкран размером 33 см, перпендикулярно оптической оси светового микроскопа МИН, на расстоянии 1,5 смот выбранного участка. Для скалывания используют ультразвуковой диспергатор УЗДНи универсальный излучатель на 22 кгГц, мощность которого 20 Вт,На рабочую часть излучателя, перПендикулярно его оси, напаиваюттвердосплавный стержень из победитадлиной 30 мм и диаметром 2 мм соскалывакщей кромкой в 10-15 мкм. Навыбранный участок наносят каплюэтилового спирта и подводят к немутвердосплавный стержень под углом45 , выбор которого обусловлен тем,очто при этом угле происходит наибольший выход сколотых частиц и ихоседание на стеклянном экране.Производят скалывание в течение2 с, Сколотые частички толщиной 1001000 Х при помощи аэрозоля собираются на,стеклянный экран. Затем снимают стеклянный экран и напыляют .его в вакуумной камере углем.Отделяют частицы от стеклянногоэкрана с помощью желатина, отмываютих в теплой воде, вылавливают наподдерживающую сеточку и просматривают в электронном микроскопе. Таким образом, предлагаемый спо соб позволяет производить прямое исследование фазового состава твердых полированных объектов, не нарушая их целостности, с высокой точностью за счет использования локальных участков объектов. Способ подготовки образца дляисследования, включакщий скоЛ исследуемых частиц с полированной поверхности твердого тела и сбор этих частиц, о т л и ч а ю щ и й с я тем, 5 что, с целью повышения эффективностии точности анализа за счет использования локального участка поверхности, перед сколом локальный участокповерхности обрабатывают эмульсией, 20 а скол проводят ультразвуком подуглом 4.3-45 Источники информации,принятые во внимание при экспертизе25 1. Грицаенко Г.С. и др. Методыэлектронной микроскопии минералов.М 1969, с. 97.2. Грицаенко Г.С. и др. Методыэлектронной микроскопии минералов.М 1969, с. 125-.127.

Смотреть

Заявка

2751788, 09.04.1979

ВСЕСОЮЗНЫЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙИНСТИТУТ МИНЕРАЛЬНОГО СЫРЬЯ

КОМИССАРОВ ПЕТР ЕГОРОВИЧ, ДУБИНЧУК ВИКТОР ТИМОФЕЕВИЧ, ГАЙДУКОВА ВАЛЕНТИНА СЕМЕНОВНА, ФЕДОТОВ АЛЕКСАНДР ИВАНОВИЧ, ИВАНОВ ИГОРЬ АЛЕКСЕЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01N 1/36, G02B 21/34

Метки: иссле-дования, образца, подготовки

Опубликовано: 23.05.1981

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-832399-sposob-podgotovki-obrazca-dlya-issle-dovaniya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ подготовки образца для иссле-дования</a>

Похожие патенты