Патенты с меткой «микроанализа»

Номер патента: 84536

Опубликовано: 01.01.1950

Авторы: Беркович, Хрущев

МПК: G01J 3/02, G01J 3/28

Метки: держатель, микроанализа, прибора, спектрально, электрода

...5 постоянного состава.Образец, подлежащий испытанию, кладут иа предэ)етитяй Столик 1, которьш предварительно поворачивают в крайнее положение до упора. Рассматривая поверхность шлифа образца 6 в мшроскои и иерсдвитая столик при помощи двух винтов координатной подачи, находят место пробы и совмещают его с перекрестием нитей, Затем иа шлиф накладывают тонкую пластинку 7 изолирующего вещества (сго;(а) с отверстием 10 - 15 мк так, чтобы центр отверстия совпадал с, перекрестием, и н этом положении пластинку 7 посредством Объет(тоде 1)кате)Тя 8 фикс 11)у)от иа шлифе. Затем столик поворачивают до упора так, что с вь)бранной точкой иа шлифе будет совмещена ось электрода 5. Таким образом, искра оказывается строго направленной иа выбранцьш...

Номер патента: 179495

Опубликовано: 01.01.1966

Авторы: Бессонов, Качурин, Солдатов

МПК: G01J 3/10

Метки: держатель, микроанализа, образцов, спектрального, электродов

...микрон.На фиг. 1 изображен предложенный держатель электродов; на фиг. 2 - столик микроскопа,На тубусе 1 микроскопаходника 2 и опорной гайкиворотная фигурная втулкарально противоположнымими 5 и 6. Втулка фиксируется в требуемом положении с помощью стопора 7. В ушках смонгированы на полуосях 8 и 9 два электро- держателя 10 и 11, которые могут поворачиваться и фиксироваться в требуемом положении.Каждый электродержатель содержит наружную втулку 12, внутри которой расположены изолирующая втулка 1 д с центральны О стержнем 14, имеющие возможность перемещаться в продольном направлении при помощи регулировочной гайки 15 и возвратной пружины 1 б. Верхний конец стержня 14 снабжен клеммой 17, на которой закрепляется 5 провод электропитания,...

Номер патента: 239638

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Осадчий, Федосеев

МПК: C01C 1/00, G01N 31/20

Метки: аммиака, микроанализа, прибор

...аммиак титрованной кисло вальную бумагу, за в крышку 5. от известс упором, проточке. нализа.с донной ки ть ечк а; н Предмет изобретения,роточки 2,Приб щий из ли чаюи ности а р для микроанализа а чашечки с проточкам 1 шсч тем, что, с целью ализа, он снабжен лод м для прижима лодо ммиака, состояи 1 срышки, отповышения точочкой с упором, ки к проточке. ооразом, ки 1 наливают раствор ставятой. При накрыжап. Известен, прибор для микроанализа аммиаа, состоящий из чашечки с донными проточПредложенный прибор отлича ных тем, что он снабжен лодоч служащим для прижима лодоч Зто позволяет повысить точнос На фиг. 1 представлена чаш проточкой; на фит, 2 - крышк лодочкаПрибор состоит из чашечки лодочки 3, упора 4 и крышки 5 Работает прибор...

Номер патента: 301602

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Карташов, Красногорский

МПК: G01N 23/223

Метки: микроанализа, рентгеноспектрального

...рычаг тоже равен радиусу круга Роуланда и тоже имеет несколько отверстий, соответствующих отверстиям в раздвижном рычаге,Изменением плеч раздвижного рычага платформа с детектором переставляется в соответствующее отверстие рычага, на котором расположен счетчик. На противоположных кон цах раздвижного рычага, равного диаметрукруга Роуланда, укреплены кристалл-анализаторы. Их перемещение происходит под углом 90 относительно друг друга.На чертеже представлена схема предлагае мого устройства.Механизм включает кристалл-анализатор 1,жестко закрепленный на рычаге 2, конец которого шарнирно закреплен на гайке 3, приводимой в движение ходовым винтом 4. Второй 15 конец рычага неподвижно скреплен винтом 5с рычагом б, на противоположном конце...

Номер патента: 376069

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Авторы

МПК: A01K 67/04

Метки: бабочек, микроанализа, препарата, приготовления, тутового, шелкопряда

...фильтра создается вилкой 12 с помощью электромагни та 13. Дозатор воды состоит из трубопровода14 и крана 15, открываемого электромагнитом 16. Время работы дозатора регулирует реле времени. Под рабочим цилиндром находится спускная воронка 17, внутрь которой встав ляется приемный стакан 18,3Устройство работает следующим образом, Бабочек тутового шелкопряда подают в рабочий цилиндр 1 через воронку б. Затем воронку вынимают, а отверстие приемного патрубка перекрывают заслонкой 7. Включают электродвигатель 5, который приводит во вращение крыльчатку 3. Лопасти крыльчатки, выгнутые под определенным углом, захватывают засыпанных бабочек, подают их на неподвижные радиальные ребра 2, ударяясь о которые части бабочек снова попадают на...

Номер патента: 748169

Опубликовано: 15.07.1980

Автор: Комаренко

МПК: G01N 11/00

Метки: абсорбционный, датчик, микроанализа

...узел 2 смешения газа с электролитом, трубку 3для абсорбции определяемого компонента газа, выполненную в виде плоского капилляра, сепаратор 4, электродную камеру с платиновыми электродами 5, трубку 6 для циркуляции электролита, трубку 7 для вывода газа и металлические проводники 8.Датчик работает следующим образомАнализирующий газ проходит через трубку для подачи газа, смешивается с электролитом в узле смешения, проходит через трубку для абсорбции, где происходит. полное поглощение определяемого компонента, отделяется от электролита в сепараторе и выводится из датчийа, а количество абсорбированного компонента регистрируется путем измерения полного сопротивленияэлектролита посредством платиновыхэлектродов и металлических проводни 10...

Номер патента: 987484

Опубликовано: 07.01.1983

Авторы: Бакуров, Гимельфарб, Гончаров, Кочергина, Орлов, Пухов

МПК: G01N 23/22

Метки: микроанализа, нелюминесцирующих, твердых, тел, элетронно-зондового

...р и м е р 2. Образец металлического серебра соответствует ГОСТ 5.1214-72 со средним содержанием меди менее 0,01 масс.Ъ. Спектральный анализ, не позволяю,ций исследовать распределение меди в образце, дает среднее ее содержание (3,1+0,6) ф ф 10-з масс.%.Метод рентгеноспектрального микро- анализа не мог быть использован для изучения распределения меди, поскольку предел ее обнаружения из-за наличия тормозного излучения при оптимальных условиях анализа составляет 1,8 10- масс.Ъ.Образец механически отполировывают по 10 кл шероховатости поверхности, подвергают обработке сероводородом при 300 С в течение 3 ч и охлаждают до комнатной температуры. Точно такой же обработке подвергают стандартный образец серебра с известным однородным...

Номер патента: 1091251

Опубликовано: 07.05.1984

Авторы: Рыбалко, Савкин, Тихонов

МПК: H01J 37/28

Метки: гетерофазных, микроанализа, объектов

...равными размерам аппроксимирующей фигуры, затем совмещают сформированный зонд с исследуемым микроучастком и ориентируют относительно него по азимуту для полного перекрытия зондом поверхности исследуемого участка. После этого регистрируют характеристическое излучение с микроучастка и измеряют его интенсивность. При такой последовательности операций обеспечиваютзначительное повышение точности проведения микроканализа за счет того, что практически вся площадь исследуемой фазы (или соответствующего ей микроучастка) облучается зондом, так как форма зонда и его размеры с точностью аппроксимации совпадают с формой и размерами микроучастка, т.е, в генерации характеристического излучения принимает участие весь объем микроучастка, а...

Номер патента: 1100525

Опубликовано: 30.06.1984

Авторы: Гимельфарб, Гончаров, Сиденко, Соловьев, Фатюшин

МПК: G01N 1/28, G01N 1/32, G01N 1/44 ...

Метки: веществ, микроанализа, нелюминесцирующих, образца, подготовки, электронно-зондового

...и обезжиривали четыреххлористым углеродомЗатем путем вакуумного напыления в установке типа ЛЕЕ-УВ фирмы ЗЕОЬ-Япония на поверхность образца наносили слой металлического иттрия толщиной 1 мкм и подвергали образец с нанесенным на него слоем вакуумО ному диффузионному отжигу при 850 С в течение двух часов.Далее образец окисляли в атмосфеоре кислорода при 450 С в течение одного часа и охлаждали до комнатнойтемпературы. Одновременно окиспялипо такому же режиму образец сравнения (стандартный образец) - иттрийс известным содержанием (6, 1+.ф 0,6)10 4 мас,. Ж,Исследуемый и стандартный образцы помещали в колонну микроанализатора, где они облучались пучкомэлектронов 4 1 мкм, с энергией электронов 15 кэВ, ток пучка 30 нА. СпектОрометр...

Номер патента: 1125502

Опубликовано: 23.11.1984

Авторы: Водолазов, Кахаева, Комарова, Родионов

МПК: G01N 1/36

Метки: ионообменного, микроанализа, образцов, подготовки, полимерного, рентгеноспектрального

...пленкой клея Бф - 6.Способ состоит в следующем.Зерна иоццтов в воздушно. сухом состоянии после отделения от равновесного раствора центрифугированием закрепляют в металлической формс смесьго эпоксидной смолы и отвердителя 1 полггэтипеггполцдмина) в соотношении 1:7 - 1:10, В смесь добавляют алюмини. евую пудру в соотношении 1:2 - 1:2,5, что улучшает тепло. и электропроводность образца-излучателя ц предотвращает растрескивание исследуемых гранул иоцитов. Затем дают выдержку в течение суток дпя затвердевания, Зерна смолы сошпифовывдют до половины диаметра с погрешностью 2 - 3%, Окончатель. ную полировку проводят алмазной пастой ца батггсте, затем образцы тщательно протирают этиловым спиртом. На полированную поверхность образца...

Номер патента: 1155925

Опубликовано: 15.05.1985

Авторы: Красов, Рудакова, Тимонин

МПК: G01N 23/225

Метки: микроанализа, рентгеноспектрального

...системы регистрации рентгеновского излучения, а именно, импульсы задают длительностью не больше "мертвого" времени системы регистрации рентгеновского излучения Кроме того, их подают с интервалом длительностью не меньше того же мертвого" времени.При этом в объекте в промежутке между импульсами происходит полное торможение электронов предыдущего импульса и прекращается возбуждение рентгеновского излучения, В отсутствие последнего система регистрации рентгеновского излучения переходит в состояние ждущего режима работы. Приход очередного импульса электронов вызывает возбуждение рентгеновского излучения прежде всего в месте встречи импульса с объектом. Поскольку система регистрации находится в ждущем режиме, то она срабатывает от первого...

Номер патента: 1191788

Опубликовано: 15.11.1985

Авторы: Алехова, Гимельфарб, Гончаров

МПК: G01N 21/64

Метки: микроанализа, нелюминесцирующих, твердых, тел, электронно-зондового

...что предлагаемый способ дает возможность проводить локальный анализ примесей в кремнии, в частности, германия при их содержании порядка 10мас / При исследовании этого образца известным способом, а именно: при окислении кремния в парах воды, не удалось определить ни распределение, ни наличие германия, так как предел обнаружения примесей в кремнии по известному способу составляет 10мас.Я, т.е. предел обнаружения примесей в кремнии по предлагаемому способу на порядок ниже, чем поизвестному,Пример 2. Исследовали образец кремния, легированный германием. Интегральное содержание германия (5,1-0,5) 10 мас.(данные спектрального анализа) определяли распределением германия точно также, как в примере 1.Обработку (окисление) в атмосфере...

Номер патента: 1257479

Опубликовано: 15.09.1986

Авторы: Атнашев, Музгин, Пупышев

МПК: G01N 21/74

Метки: атомно-абсорбционного, микроанализа

...температуры разогрева спирали). Максимальная длитель ность импульсов разогрева спирали задается с учетом степени уменьшения амплитуды импульсов поглощения при уменьшении скорости разогрева спирали атомизатора. Интервал приращения темо пературы разогрева спирали (50-100 С) Задается с учетом длительности импульсов разогрева спирали (0,05"0,2 с) для обеспечения определенного градиента температур по длине спирали ато ,мизатора для ее точечного разогрева,Проводили атомно-абсорбционный микроанализ с использованием вольфра мовой спирали от лампы накаливания типа ОП 8-9. Перед пробоотбором и высушиванием производили отжиг спирали начиная с 2600 до 3000-3200 С при длидлительности импульсов 0,05, О,1, 0,2, 0,3 с и с приращением температуры...

Номер патента: 1407409

Опубликовано: 30.06.1988

Авторы: Бернар, Жорж, Франсуа

МПК: G01N 23/225

Метки: микроанализа, образца, прибор, твердого, тела

...также экранирующий электрод 39и отрицательный управляющий электродЬ 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 37, Действие фокусирующих электрод втаково, что вторичное ионное изображение Формируется в плоскости диафрагмы 34 (фиг,3), В системе 4 формирования ионного зонда пучок вторичных ионов подвергается воздействиюлинз 29 и 30, которые формируют про. -межуточные изображения. В системе 3осуществляется разделение первичныхположительных ионов с энергией около10 кэВ и отрицательных вторичных ионов с энергией около 5 кэВ. Последние отклоняются на угол 12 . Послеразделения пучок вторичных ионовподвергают противофазному сканированию в системе 16 синхронной динамической коррекции для согласованияего приема масс-спектрометром. Установленный на...

Номер патента: 1464064

Опубликовано: 07.03.1989

Авторы: Соловьев, Суворов

МПК: G01N 3/08

Метки: деформирования, микроанализа, образцов, проведении, структуры

...траверса 3 соединена с подвижной траверсой 7 колоннами 8, Между траверсами размещена тариро ванная цилиндрическая пружина 9, центрируемая на конусных опорах 10 и 11, одна из которых закреплена на подвижной траверсе 7, а вторая связана с активным захватом 12 образца 5. Захват 12 и хвостовик конической опоры 11 размещены соосно в направляющей втулке 13, закрепленной в неподвижной траверсе 3. Устройство.снабжено приводом 14 перемещения подвижной траверсы 7 и измерителем 1535 сжатия пружины.Устройство работает следующим образом.о Образец 5 устанавливают без зазора между опорами 4 и активным захвату 12. Подводят ножку индикатора 6 в соприкосновение с образцом и устанавливают индикатор и измеритель 15 на нуль. Перемещая от привода 14...

Номер патента: 1502990

Опубликовано: 23.08.1989

Авторы: Гимельфарб, Городский

МПК: G01N 23/227

Метки: количественного, микроанализа, образцов, поверхностью, шероховатой, электронно-зондового

...направление проекции нормали к поверхности образца в этой точке на горизонтальную плоскость, а угол . между нормалью к поверхности в данной точке и оптической осью микроанализатора однозначно определяется отношением разности максимальной и минимальной интенсивностей1502990 где в правой части находятся известные (определенные из эксперимента) функции, х и у - координаты выбранной точки, а Е(0,0)=сопзС, произвольно. Тогда путем интегрирования в этой системе уравнений находят функцию 2(х,у), описывающую микрорельеф поверхности на исследуемом участке.П р и м е р 2. Требуется определять элементный состав поверхности излома кристалла СаАз в трех заданных точках А, В, С . Для этого образец 9 помещают в держатель 3, оснащенный описанным...

Номер патента: 1539572

Опубликовано: 30.01.1990

Авторы: Водолазов, Комарова, Молчанова, Родионов

МПК: G01N 1/28, G01N 23/22

Метки: микроанализа, образцов, органических, пробоподготовки, рентгеноспектрального

...анионита ВПАп приОхлаждении насыщенных образцов: нао,фиг. 1 при -15 С, на фиг. 2 при,20 С, на Аиг. 3 при -10 С, на Фиг.4а,1 ри -25 С, на Фиг. 5 - по известномуспособу-прототипу (в качестве криагента использован жидкий азот). Температура -10 -15охлаждения, С Из данных таблицы следует, чтов интервале температур охлаждения,равных (-15) - (-20)"С, воспроизводи.мость результатов РСИА улучшаетсяпрактически на порядок, следовательНо, температура охлаждения, равная(-15) - (-20) С является оптимальнойдля Фиксации концентрационных проФилей,П р и м е р 2. Проводили подготовку образцов для РСМА зерен азотуглеродсодержащего анионита ВПА дляисследования пространственного распределения азота внутри гранулы впроцессе полимераналогичных превращений....

Номер патента: 1673355

Опубликовано: 30.08.1991

Авторы: Войленко, Ягодка

МПК: B23K 35/40

Метки: микроанализа, образцов, припоев

...2 ближе к одному из ее краев устанавливают металлическую шайбу 3, преимущественно из титанового сплава, внутреннии диаметр которой и толщина определяются размерами таблетки припоя, необходимой для дальнейшего микроанализа, Вовнутрь шайбы 3 помещают твердый образец припоя 4 или его гранулы в необходимом количестве. Нагреватель включают и доводят его до заданной температуры. При этом припой 4 или его гранулы постепенно плавятся и стекают в полость шайбы 3, для чего ее верхняя поверхность может быть выполнена с небольшой конусностью, После полного расплавления припоя 4 шайбу 3 с расплавом медленно смещают по поверхности стекла на расстояние, несколько превышающее внутренний диаметр шайбы 3, Как показали многочисленные опыты, при...

Номер патента: 1698915

Опубликовано: 15.12.1991

Авторы: Васичев, Смирнов

МПК: H01J 37/28

Метки: микроанализа, образца

...возбуждается рентгеновское излучение, пространственное распределение которого зависит от положения"границ раздела в сложном образце по отношению направления выхода возбуждения излучения,С помощью механизмов приводов 17 и 20 и соответствующих систем 11 и 14 отсчета откалиброванные на равные характеристики детекторы 6 симметрично располагаются над образцом в полярных направлениях= (/ и на расстоянии Ь до входного окна каждого детектора 6, Для повышения точности в определении функции Ц(к) с помощью механизма приводов 18 устанавливаются меньшие по размеру отверстия в диафрагмах 7. Диаметр Й отверстия в диафрагме 7 выбирают исходя из необходимости обеспечить следующее соотношение:Й =- -- )Ь где 1 - расстояние от точки анализадо передней...

Номер патента: 1755144

Опубликовано: 15.08.1992

Автор: Городский

МПК: G01N 23/22

Метки: микроанализа, рентгеноспектрального, твердых, тел

...микроанализа, заключающемся в том, что образец облучают электронным зондом, регистрируют характеристическое и фоновое рентгеновское излучение исследуемого образца и образцов сравнения известного состава, по интенсивйости которого рассчитывают элементный состав исследуемого образца в выбранной точке; образец размещают в осесимметричном магнитном поле, ось которого пересекает плоскость рабочего окна регистратора вторичного рентгеновского излучения, электронный зонд направляют на образец вдоль оси осесимметричного магнитного поля, регистрацию рентгеновского излучения исследуемого образца осуществляют в направлении, обратном направлению электронного зонда, а пучок вторичных электронов отклоняют в направлении...

Номер патента: 1824558

Опубликовано: 30.06.1993

Авторы: Борзенко, Гимельфарб, Касицкая

МПК: G01N 23/223

Метки: микроанализа, образцов, приготовления, рентгеноспектрального, сравнения

...собой торцовую поверхность для РСМА, не требующую дополнительной полировки. Вследствие этого, погрешность анализа на стадии подготовки ОС снижается до 0,5-1 особенно для мягких рентгеновских линий (А0,5 нм). Повышение экспрессности анализа достигается исключением на стадии пробоподготовки операций шлифовки и полировки, а также возможностью получения ОС практически с любым набором определяемых элементов в широком интервале концентраций, и следовательно, значительным уменьшением количества ОС, требуемых для анализа материала сложного состава, Возможность получения ОС, максимально приближенных по составу к анализируемому материалу, позволяет легче учитывать взаимные влияния элементов доля многокомпонентных образцов.П р и м в р. Порошок...

Номер патента: 1521035

Опубликовано: 15.09.1994

Авторы: Иммель, Пузыревич, Рябчиков, Шипилов

МПК: G01N 23/225

Метки: вещества, возбуждением, ионным, микроанализа, рентгеноспектрального, состава

СПОСОБ РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНОГО МИКРОАНАЛИЗА СОСТАВА ВЕЩЕСТВА С ИОННЫМ ВОЗБУЖДЕНИЕМ, включающий попеременное облучение потоком ионов образца анализируемого вещества и стандартного образца, изготовленного из материала, отличного по атомному номеру от элементов, содержащихся в анализируемом веществе, регистрацию характеристических рентгеновских излучений определяемых элементов и элемента стандартного образца одним детектором излучения и одним спектрометрическим трактом с формированием единого многоканального спектра, измерение набранных чисел импульсов, обусловленных характеристическими рентгеновскими излучениями определяемых элементов и элемента стандартного образца, по которым судят о содержаниях определяемых элементов, отличающийся тем, что,...