Способ получения и подготовки образца для микроскопических исследований

Номер патента: 1280481

Авторы: Бондаренко, Гаврилов, Жованик, Каминский, Шкарапута

ZIP архив

Текст

, 12804 СПУБЛИН аи 4001 И ПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ У СВИДЕТЕЛЬСТВУ К АВТОР талловедениеавов. М.: Наупо63,(54) СПОСООБРАЗЦА ДЛЯДОВАНИЙ ЛУЧЕНИЯ И ПОДГОТОВКИ КРОСКОПИЧЕСКИХ ИССЛЕОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ(71) Институт механики АН УССР(56) Сборник статей Мецветных металлов и сплка, 1972, с. 155.Попилов П.Я., Зайцева Л.П. Электрополирование и электротравлениеметаллографических шлифов. Гос. издво научно-технической литературычерным и цветным металлам, М., 19с. 7-10,(57) Изобретение относится к способу получения и подготовки образца для микроскопических исследований, может быть использовано в различных отраслях промышленности и позволяет обеспечить идентичность деформаций образца и нагруженной детали. Деталь 1 нагружают до заданной величины нагрузки, На исследуемую область поверхности детали 1 наносят клеевой слой и струбциной 2 к ней прижимают жесткую накладку 3 рифленой поверх. ностью. Материал накладки выбирают тверже материала детали. После снятия струбцины получают образец, де - формация которого идентична деформа- а ции нагруженной детали, посколькуе рифления жесткой накладки обеспечивают фиксацию деформированного состояния в каждой точке исследуемой поверхности. 1 ил.1280481 Составитель Л.ГоряйноваРедактор Н.Горват Техред А.Кравчук Корректор М.Пожо Заказ 7059/47 Тираж 778 ВНИИПИ Государственного комитета СССРПодписное Производственно-полиграфическое предприятие, г,ужгород, ул.Проектная, 4 11 зобретение относится к исследованиям физических свойств, в частности к способам приготовления образца для микроскопических исследований, и может быть использовано для 5изучения структуры материала детали,Целью изобретения является обес печение идентичности деформаций образца и нагруженной детали.На чертеже приведена схема осуществления предлагаемого способа.Способ осуществляют следующим образом.Деталь 1 нагружают до заданнойвеличины нагрузки. На исследуемуюобласть поверхности детали наносятклеевой слой и струбциной 2 к нейприжимают жесткую накладку 3 рифленой поверхностью, Материал накладкивыбирают тверже материала детали.После затвердевания клеевого слоядеталь 1 разгружают, снимают струбцину 2. Рифления жесткой прокладкиобеспечивают фиксацию деформированного состояния в каждой точке исследуемой поверхности. Часть детали сзакрепленной на ней накладкой 3 вырезают и получают образец, деформациякоторого идентичны деформациям нагруженной детали, Поверхность образцаподготавливают для микроскопическихисследований, например, полируют,обрабатывают реактивами и т,п,Способ был апробирован при изучении структуры материала в областиконцентраторов в полимерном материале (были испытаны образцы иэ целлулоида, эпоксидной смолы, винилласта). Испытывали пластины с центральным надрезом, нагруженные на машине 2 ЯТдо заданной величины нагрузки. Образец после вырезки шлифовали. Поверхность образца фотографировали при увеличении х 340. В результате было обнаружено существование зоны пред- разрушения и определена величина раскрытия в вершине трещины ( 50,07 мм).Способ может быть осуществлен при наличии накладок, прижимов типа струбцин, средств нагружения детали и вырезки образцов. Формула изобретения Способ получения и подготовки образца для микроскопических исследований, включающий нагружение детали, разгрузку, вырезку образца, подготовку его поверхности к микроскопическим исследованиям, о т л и ч а ю щ и й - с я тем, что, с целью обеспечения и идентичности деформаций образца и нагруженной детали, после нагружения детали фиксируют деформированное состояние в каждой точке исследуемой. части ее поверхности, путем нанесения на нее клеевого слоя, прижатия рифленой поверхности жесткой накладки, причем материал накладки выбирают тверже материала. детали, выдержки детали под нагрузкой до отверждения клея, последующего снятия усилия прижима накладки.

Смотреть

Заявка

3836780, 04.01.1985

ИНСТИТУТ МЕХАНИКИ АН УССР

БОНДАРЕНКО ВИКТОР КАРПОВИЧ, ГАВРИЛОВ ДМИТРИЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ, ЖОВАНИК ВАЛЕНТИНА ФЕДОРОВНА, КАМИНСКИЙ АНАТОЛИЙ АЛЕКСЕЕВИЧ, ШКАРАПУТА ЛЮДМИЛА МАРКОВНА

МПК / Метки

МПК: G01N 1/28, G01N 1/36

Метки: исследований, микроскопических, образца, подготовки

Опубликовано: 30.12.1986

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-1280481-sposob-polucheniya-i-podgotovki-obrazca-dlya-mikroskopicheskikh-issledovanijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ получения и подготовки образца для микроскопических исследований</a>

Похожие патенты