Способ подготовки образца для электронномикроскопического исследования
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1285337
Авторы: Бычков, Вишневецкий, Лагун, Шнырев
Текст
СОЮЗ ССЕЕТСНИХСОЦИАЛИСТИЧЕСНИХРЕСПУБЛИН 1511 4 С 01 И 1/28 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ(56) Варна А., Радноци Д. Способы приготовления образцов из тонкой проволоки вольфрама для просвечивающей электронной микроскопии. - Заводская лаборатория, 1980, т. 46, У 8, с, 741-742.Практические методы в электронной микроскопии./ Под ред. О.М.Глоэра. - Л.: Машиностроение, 1980, с. 24.(54) СПОСОБ ПОДГОТОВКИ ОБРАЗЦА ДЛЯ ЭЛЕКТРОННО-МИКРОСКОПИЧЕСКОГО ИССЛЕДОВАНИЯ А ЯО 1285337 А 1(57) Изобретение относится к техникеэлектронноч микроскопии, Цель - упрощение способа подготовки образца(О) для электронно-микроскопического исследования. Она достигаетсятем, что в способе 0 1 устанавливаютв С-образную выемку 2 оправы (ОП) 3и фиксируют слоем керамического связующего 4, например цемента (стоматологического), при этом ОП 3 имеетформу диска (Д), а 0 устанавливаюттак, что часть его выступает за образующую Д. Изобретение облегчаетоперации фиксации О, так как слойсвязующего 4 герметично уплотняет 0и вместе с тем электрически изолирует ОП 3 образца и поэтому не вноситпогрешность при снятии вольт-амперной характеристики системы 0 - электролит. 2 ил.1285337 20 ВНИИПИ Заказ 7637/44 Тираж 776 Подписное Произв.-полигр. пр-тие, г. Ужгород, ул, Проектная, 4 Изобретение относится к технике электронной микроскопии, а именно к методам подготовки образцов, предназначенных для исследования в просвечивающих электронных микроскопах, 5Цель изобретения - упрощение способа, достигаемое за счет облегчения производства операций фиксации образца, его утонения и универсальности приготовленных образцов.На фиг.1 изображена оправа с образцом, общий вид;,на фиг.2 - разрез А-А на фиг.1.Заготовку образца 1, например отрезок проволоки толщиной 0,12 - 0,20 мм, помещают в с-образную выемку 2 оправы 3 и фиксируют слоем керамического связующего 4, например цемента (стоматологического). Оправа 3 может быть выполнена вырубкой из фольги, например, нержавеющей стали 12 Х 18 Н 10 Т толщиной 0,12-0,16 мм и иметь форму диска диаметром 3 мм (согласно общепринятому размеру образца). Размеры выемки имеют, как правило, ширину 1,25 мм и глубину 2 мм. После отверждения связующего его наплывы и выступающие боковые поверхности 5 образца 1 срезают до уровня боковых поверхностей оправы 3. В случае, когда толщина образца меньше толщины корпуса, заодно с об 1 азцом обрабатывают и поверхности оправы.Оправа с образцом может быть установлена в гальванической ванне, причем образецсвободным концом прижимают к положительному контакту,являющемуся анодом, Слой связующего 4 герметично уплотняет образец 1 и вместе с тем электрически изолирует оправку 3 от образца и поэтому не вносит погрешность при снятии вольтамперной характеристики системы образец - электролитЭлектрополированный образец в средней части утоняется до образования отверстия и становится чрезвычайно хрупким, Наличие постоянной оправы обеспечивает свободное и надежное манипулирование на всех операциях, связывая их в единый технологический процесс; существенно повышается производительность труда оператора, создаются предпосылки для механизации и автоматизации приготовления образцов крупными партиями. Формула изобретения Способ подготовки образца для электронно-микроскопического исследования, включающий установку образца в оправу, его фиксацию твердеющим веществом и последующее утонение, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью упрощения способа, образец устанавливают в выемке оправы, выполненной в виде диска, таким образом, что часть образца выступает за образующую диска, а в качестве твердеющего вещества используют диэлектрическое керамическое связующее, которым заполняют зазор между образцом и внутренней поверхностью выемки.
СмотретьЗаявка
3825979, 14.12.1984
ШНЫРЕВ ГЕННАДИЙ ДМИТРИЕВИЧ, ЛАГУН СЕРГЕЙ ВЛАДИМИРОВИЧ, ВИШНЕВЕЦКИЙ ЗИНИВИЙ ДАВЫДОВИЧ, БЫЧКОВ СЕРГЕЙ ИВАНОВИЧ
МПК / Метки
Метки: исследования, образца, подготовки, электронномикроскопического
Опубликовано: 23.01.1987
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1285337-sposob-podgotovki-obrazca-dlya-ehlektronnomikroskopicheskogo-issledovaniya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ подготовки образца для электронномикроскопического исследования</a>
Способ подготовки к исследованию почвенного образца
Номер патента: 1721508
Опубликовано: 23.03.1992
Авторы: Заяц, Тихновецкий
МПК: G01N 33/24
Метки: исследованию, образца, подготовки, почвенного
...при выделении корневой системы из рыхлопесчаных, песчаных, супесчаных, торфяных и торфяно-болотных почв, она лучше, чем при известном способе. При этом степень загрязнения корней не превышает 0,5 О. Однако при работе на суглинистых и глинистых почвах достичь лучшей степени очистки корней в сравнении с известным способом не представляется возможным, т.е, более целесообразно применять данный способ для выделения корней йэ легких почв, обладающих относительно40 45 50 диаметром отаерстий). При этом наибольшие отверстия соответствую верхнему решету, наименьшие - нижнему, В низу классификатора устанавливается поддон без отверстий, Диаметр решет 0,4 м,Используют также емкость с водой диаметром 0,8 м и высотой 0,6 м,При этом отделяют...
Способ подготовки образцов горных пород для исследований
Номер патента: 1157232
Опубликовано: 23.05.1985
Авторы: Каменецкий, Онищенко, Соболев
МПК: E21C 39/00
Метки: горных, исследований, образцов, подготовки, пород
...образцами и массивом.- Целью изобретения является повышениекачества подготовки образцов.Поставленная цель достигается тем, чтосогласно способу подготовки образцов гор. э 5ных пород для исследований, основанномуна восстановлении естественного состоянияобразцов путем их размещения в месте отбора, восстановление естественного состоянияобразцов проводят при создании. термодинамического равнове ия между образцами имассивом при помощи выполнения плотногоконтакта образцов с массивом и герметизацией места установки образцов,При этом процесс восстановления естественного термодинамического состояния образцов контролируют: путем измерения температуры и влажности образцов,На чертеже изображена схема осуществления способа.Способ осуществляют...
Установка для исследования термостойкости образцов
Номер патента: 1128148
Опубликовано: 07.12.1984
Авторы: Волчок, Колотилкин
МПК: G01N 3/60
Метки: исследования, образцов, термостойкости
...сприспособлением для перемещения захвата, а в верхней части внешней исредней. втулок имеются патрубки дляподвода и бтвода охлаждающей среды.Кроме того, установка снабженачетвертой втулкой, надетой на внеш. нюю втулку и выполненной из жаропрочного и износостойкого материала.На чертеже изображена схема предлагаемой установки,Установка содержит емкость 1,виутри которой установлены нагреватель 2 и тигель 3 для высокотемпературного расплава 4, например стекломассы, Приспособление для перемещения захвата 5 состоит пз привода б, соединенного через редуктор 7 и кривошип 8 с тягой 9. Захват 5 для крепления образцов 10 выполнен в виде полой плиты и установленных перпендикулярно к ней трех,концентрично расположенных втулок 1214 с зазорами...
Способ приготовления образца дифракционной решетки для исследования в электронном микроскопе
Номер патента: 1272160
Опубликовано: 23.11.1986
Авторы: Дегтева, Сулабе, Тихомиров
Метки: дифракционной, исследования, микроскопе, образца, приготовления, решетки, электронном
...заключается в следующем. 1 ОНа поверхность дифракциоиной решеткичерез заслонку в вакууме напыляют углерод толщиной 1 О - 20 нм. Заслонка необхо.дима для получения более прочного слоя.Для уменьшения времени изготовления реп.лики желательно дополнительно напылить15углерод без использования заслонки такойтолщины (30 - 40 нм), чтобы прн перегибе реплика не рвалась, После напыленияуглеродную реплику отделяют от поверхности решетки с. помощью желатина. По 2 овысохшей поверхности желатина делают разметку образца, одна из сторон которогопараллельна линии перегиба, перпендикулярной направлению штрихов решетки. Далеевырезают образец, отмывают его от желатина в дистиллированной воде и вылавливают на ребро сетки-подложки, подводя ееснизу под...
Способ подготовки для исследования на электронном микроскопе мелких водных животных
Номер патента: 1042720
Опубликовано: 23.09.1983
МПК: A01N 1/00
Метки: водных, животных, исследования, мелких, микроскопе, подготовки, электронном
...необходимости применения особых криостатов, главным образом зарубежного производства, а.такженеобходимость получения и хранениясжиженного углекислого газа.Цель изобретения - устранение дороговизны, малой доступности для исследователей - морфологов и необходимости работы со сжиженными газами.Поставленная цель достигается35тем, что согласно способу подготовкидля исследования нэ электронном микроскопе мелких, водных животных, включающему фиксацию животных органичес 40кими растворителями, химическое обезвоживание, многократную промывкуэфиром при повышении его концентрации и сублимационной сушке последнюю проводят спомощью нафталина,45которым пропитывают животных, предварительно введя нафталин в эфир впроцессе химического...
Предыдущий патент: Пробоотборник для сыпучих материалов с конвейерных лент
Следующий патент: Реактив для выявления микроструктуры магния и его сплавов
Случайный патент: Ротационный чашечный резец