Устройство для определения деформа-ции материалов

нц 83232 Союз Советских Сфциа 1.истическик республикОПИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВ ЕП.:ЛЬСТВУ(22) Заявлено 2906,78 (21) 2637328(25-28 с присоединением заявки Нов 6 01 Р 11/26 Государственный комитет СССР оо делам изобретений н открытий,52(088.8) Дата опубликования описания 230581 Н.Е.Комов, В.М.Сапожников, Н.И,Перова, А.Н,Кретойа; -Н.С.Муромова, А,С.Бернштейн И Н.Н,Губин(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДЕФОРМАЦИИ МАТЕРИАЛОВИзобретение относится к областиизмерительной техники и может бытьиспользовано для измерения и контролядеформации материаловИзвестно устройство для измерениядеформации материалов содержащее оптический блок, последовательно включенные между собой фотоприемник световых сигналов оптического блока,,дифференциатор, диодный ограничитель, амплитудный, дискриминатор,схему совпадения, триггер и интегратор, а также генератор низкой, частоты, подключенный ко входам фотоприемника и схеьысовПадения 1(.Недостатком известного устройстваявляется его помехонезащищенность.Наиболее близким по техническойсущности к предлагаемому являетсяустройство для измерения деформацииматериалов, содержащее оптическийблок, фотоприемник его световых сиг"налов и синхронный детектор нечетных гармоник, подключенный к выходуфотоприемника 21,Недостатком устройства являетсято, что оно имеет недостаточновысОкую точность измерения.Цель изобретения - повывениеточности измерений. Поставленная цель достигается тем, что устройство снабжено синхронным детектором четных гармоник,подключенным к фотоприемнику,и блоком преобразования выходных сигналов детекторов в сигнал пропорциональный отношению этих выходных сигналов, подключенным к выходам обоих детекторов.На фиг.1 представлена блок-схема устройства; на фиг.2 - зависимость отношения сигналов нечетных гармоник к четным -15 Устройство содержит оптическийблок 1 со сканирующей диафрагмой(не указанной на чертеже), фотоприемник 2 его световых сигналов, синхронный детектор 3 нечетных гармо ник и синхронный детектор 4 четныхгармоник, подключенные к выходамФотоприемника 2, и блок,5 преобразования выходных сигналов Яи иЯг детекторов 3 и 4 в сигнал, про порциональный отношению этих выходныхсигналов, подключенный к выходамобоих детекторов,На чертеже представлены также испытуемый материал 6 и две метки 7 30 и 8, нанесенные на нем.Опорный сигнал синхронного детектора 3 нечетных гармоник должен иметь частоту, равную частоте сканирования, а синхронного детектора 4 четных гармоник - удвоенной частоте сканирования,Работа устройства заключается в следующем.При изменении расстояния между метками 7 и 8, нанесенными на материал 6, подвергаемый деформации, оптический блок 1 проектирует изображение обоих меток в плоскость сканирующей диафрагмы, Оптическая информация о положении меток далее йоступает в фотоприемник 2, который вырабатывает на выходе электрическое, напряжение. Для выделения наиболее полезного сигнала нечетных гармоник и подавления игнала четных гармоник после фотоприемника 2 его выходное напряжение направляется в синхронные детекторы 3 и 4 нечетных и четных гармоник, Отношение этих сигналов, вырабатываемое блоком 5 преобразования, однозначно связано с расстоянием между изображе" нием метки и осью сканирования, что позволяет оценить деформацию материала. Таким образом, работа устройства основана на использовании зависимости спектрального состава выходного напряжения фотоприемника от смещения метки относительно оси сканирования.Эа счет использования синхронного детектирования работа устройства свободна от воздействия условий освещенности в помещении, где проводится измерение, и изменений коэффициента отражения поверхности материала, что упрощает процесс измерений.Вследствие этого устройство можетбыть применено для определения напряжений трубопроводов гидрогазовых и топливных систем летательных аппаратов непосредственно при монтаже трубопроводов в изделиях.0Формула изобретенияУстройство для измерения деформации материалов, содержащее опти ческий блок, фотоприемник его световых сигналов и синхронный детекторнечетных гармоник, подключенныйк выходу фотоприемника, о т л ич а ю щ е е с я тем, что, с целью 20 повышения точности измерений, оноснабжено синхронным детекторомчетных гармоник, подключенным кфотоприемнику, и блоком преобразования выходных сигналов детекторовв сигнал, пропорциональный отношению этих выходных сигналов, подключенным к выходам обоих детекторов.Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1.Бернштейн А.С., Джохадзе Ш.Р.и Перова Н,И. Фотоэлектрические измерительные микроскопы. М., Машиностроениеф, 1976, с.49.2. Бернштейн Л.С., Джохадзе Ш.Р.и Перова Н.И. Фотоэлектрические измерительные микроскопы. М., "Машино.строение", 1976, с. 94 (прототип).832327 Составитель В.Туляковедактор В.Данко Техред М. Голинка Корректор Н.Бабинец иал ППП фПатентф, г.укгород, ул.Проектна акаэ 3663/68 . Тирах 642 ВНИИПИ Государственного по делам изобретений 113035, Москва, З, Р