Патенты с меткой «деформа-ции»
Устройство для определения деформа-ции материалов
Номер патента: 832327
Опубликовано: 23.05.1981
Авторы: Бернштейн, Губин, Комов, Кретова, Муромова, Перова, Сапожников
МПК: G01B 11/16
Метки: деформа-ции
...иЯг детекторов 3 и 4 в сигнал, про порциональный отношению этих выходныхсигналов, подключенный к выходамобоих детекторов,На чертеже представлены также испытуемый материал 6 и две метки 7 30 и 8, нанесенные на нем.Опорный сигнал синхронного детектора 3 нечетных гармоник должен иметь частоту, равную частоте сканирования, а синхронного детектора 4 четных гармоник - удвоенной частоте сканирования,Работа устройства заключается в следующем.При изменении расстояния между метками 7 и 8, нанесенными на материал 6, подвергаемый деформации, оптический блок 1 проектирует изображение обоих меток в плоскость сканирующей диафрагмы, Оптическая информация о положении меток далее йоступает в фотоприемник 2, который вырабатывает на выходе электрическое,...
Способ измерения поперечной деформа-ции движущегося ленточного носителя
Номер патента: 838748
Опубликовано: 15.06.1981
Авторы: Лялин, Нистюк, Рагульскис
МПК: G11B 27/10
Метки: движущегося, деформа-ции, ленточного, носителя, поперечной
...экрана их потенциал достигает напряжения пробоя, результатом которого является перенос заряда на движущийся носитель 3. Величина переносимого заряда прямо пропорциональна разности потенциалов между электродами экрана и участками носителя 3. Поскольку потенциальные полосы 4 имеют остаточный потенциал, то при их пересечении лучом трубки на носитель 3 переносится заряд, количество которого отлично от величины заряда, переносимого на носитель 3 в моменты сканирования луча по незаряженным его участкам.Перенесенный заряд в виде тока стекает по цепи: носитель 3 - контр- электрод 2 - резистор 7 - корпус. На резисторе 7 Формируется сигнал, изображенныи на фиг,2, причем уровень напряжениями соответствует моментам сканиронания луча по незаряженным...