Устройство для измерения деформаций
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
О П И-С А.Н."И Е ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз СоветскикСоциалистическихРеспублик и 706692 К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУпо делан изобретений н отирцтий,2 (088.8) Дата опубликования описания 30.12,79(72) Авторы изобретения Н. В. Акрушкин, Н. Е. Конюхов, В, В. Иванов и В. С, Кочкарев Куйбышевский ордена Трудового Красного Знамени авиационный институт имени акад. С, П, Королева(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ. ДЕФОРМАЦИЙ Изобретение относится к области измерения деформаций матерчатых материалов,Известно устройство для измерения деформаций, содержагцее воспринимающий деформацию шток, рычаг, поворотный валик, зеркаль 5 це и траверсы 113.Недостатком известного устройства явля ется то, что оцо це может быть применено для измерения деформаций матерчатых материалов.Наиболее близким к изобретению техническим решением является устройство для измерения деформаций, содержащее измерительную базу с двумя концами, выполненными в виде отрезка ленты и цедеформируемой нити, и регистратор деформаций (23.Недостатком известного устройства является его невысокая точность измерения деформа цнй.Целью изобретения является повышение точности.Для этого в предлагаемом устройстве один конец измерительной базы выполнен в виде светонепроницаемого корпуса с закрепленным в нем источником света, а другой - в виде расположенного внутри корпуса стержня со све. точувствительным материалом, закрепленным на нем напротив источника света.На фиг. 1 изображено предлагаемое устрочство для измерения деформаций, продольный разрез; на фиг, 2 - засвеченные участки ца светочувствительном материале.Устройство содержит измерительную базу с двумя концами, один из которых выполнен в виде светонепроницаемого корпуса 1 с закрепленным в нем источником 2 света, а дру гой - в виде расположенного внутри корпуса стержня 3 со светочувствительным материалом 4, закрепленным на стержне 3 напротивисточ ника 2 света. Корпус закреплен в точке 5 ца деформируемом материале 6, а стержець 3 - в точке 7, Источник 2 света, управляемый ге. нератором меток времени (не показан), с выбранной частотой подает световые импульсы, Расстояние между точками 5 и 7 равно длине 1 измерительной базы.Устройство работает следующим образом,При деформации материала 6. источник 2 света движется над светочувствительным мате.70669 гибких крыльев и других аналогичных устройствах.3риалом 4, засвечивая егь в моменты вспы. шек,Проявленный светочувствительный материалдешифруют,Для этого номеруют засвеченные участки,начиная с ближайшего к стержню 3 участка,и измеряют расстояние 1; между ними (см. фиг2). Расстояние от первого участка до -го естьвеличина деформации в момент времени т,который можно определить из выражения1 - 1п Формула изобретения5 Устройство для измерения деформаций, содержащее измерительную базу с двумя концамии регистратор деформаций, о т л и ч а ю щ е.е с я тем, что, с целью повышения точности,один конец измерительной базы выполнен в виде светонепроницаемого корпуса с закрепленнымв нем источником света, а другой - в виде расположенного внутри корпуса стержня со светочувствительным материалом, закрепленным нанем напротив иСточника света.Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1, Авторское свидетельство СССР У" 185525,кл. 601 В 5/30, 1965,2. "Испытательные приборы и стенды", 1978Кф 7, с. 11-13, (прототип). где- номер засвеченного участка;Ф - частота следования меток времени, Таким образом, устройство позволяет определить деформации в дискретные моменты времени.Описанное устройство имеет гибкую конструкцию, малые габариты и вес, что позволя ет устанавливать его на элементах парашюта,Составитель Б. Евстратов . едактор О. Юркова Техред М.Келемеш . Корректор М.ШарошиЗаказ 8205/34 Тираж 845 ЦНИИПИ Государственного ком по делам изобретений и откр 113035, Москва, Ж, РаушскаяПодпнсно итета ССС тий наб., д, 4 илиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектн
СмотретьЗаявка
2647269, 24.07.1978
КУЙБЫШЕВСКИЙ ОРДЕНА ТРУДОВОГО КРАСНОГО ЗНАМЕНИ АВИАЦИОННЫЙ ИНСТИТУТ ИМ. АКАДЕМИКА С. П. КОРОЛЕВА
АКРУШКИН НИКОЛАЙ ВЛАДИМИРОВИЧ, КОНЮХОВ НИКОЛАЙ ЕВГЕНЬЕВИЧ, ИВАНОВ ВЛАДИМИР ВАСИЛЬЕВИЧ, КОЧКАРЕВ ВЛАДИМИР СЕМЕНОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 11/16
Метки: деформаций
Опубликовано: 30.12.1979
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-706692-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-deformacijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения деформаций</a>
Предыдущий патент: Устройство для измерения упругих деформаций
Следующий патент: Оптически чувствительный материал
Случайный патент: Колонковая труба для разведочного и промышленного бурения