Способ определения деформаций объекта
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
.11.% н -, ь, к:ьел Союз Советских Социалистических Республик(51)м. Кл. О 01 В 1 /1 б Государственный комитет СССР по делам изобретений и открытий.2(088,8) Дата опубликования описания 100280 С.Т. Де, А.Г, Козачок, А.В. Логинови Ю.Н, Солодкин(72) Авторы изобретения Новосибирский электротехнический институт(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙОБЪЕКТАс Изобретение относится к измерител 1 ьной технике и может быть использовано при измерении деформаций оптическими методами,Известен способ определения деформаций с использованием голографической интерферометрии, заключающийсяв том, что регистрируют голографическую интерферограмму деформированнойповерхности объекта и выбирают направление наблюдения за точкой, вкоторой необходимо определить деформацию, Затем направление наблюденияза выбранной точкой постепенно изменяют и подсчитывают число полос, 15проходящих через нее, По известнымвеличинам угла наблюдения, числасосчитанных полос и длины волны излучения используемого лазера определяют. векторы смещения в выбранной20точке и по ним вычисляют деформацию 4),Недостатки известного способатрудоемкость подсчета интерференционных полос и измерения величин углов 25наблюдения за выбранной точкой.Наиболее близким к изобретениюпо технической сущности и достигаемому эффекту является способ определения деформации объекта с испольэова- ЗО нием голографической интерферометрин, заключающийся в том, что регистрируют голографическую интерферограмму . деформированной поверхности объекта, восстанавливают ее, сканируют фото- приемник по восстановленной голографической интерферограмме, определяют векторы смещения в заданных точках поверхности объекта и го ним вычисляют деформацию путем подсчета числа интерференционных полос, проходящих через выбранные точки (2,Недостатком укаэанного способа., является значительная сложность процесса определения деформации, обусловленная необходимостью счета интерференционных полос,.Целью изобретения является упрощение процесса определения деформаций.Указанную цель достигают тем, что дифференцируют сигнал фотоприемника, детектируют его огибающую и по амплитуде детектированного сигнала определяют деформацию в заданных точках., На чертеже представлена схема реализации способа.Способ заключается в том, что регистрируют голографическую интерферограмму 1 деформированной поверх3 , ,741144ности 2, восстанавливают интерферограмму 1 расширенным в коллиматоре 3 пучком лазера 4, При помощи объектива 5 и дефлектора 6 сканируют по восстановленной голографической интерферограмме, дифференцируют сигнал фотоприемника 7 дифференцирующим усилителем 8, детектором 9 и по амплитуде детектированного сигнала определяют деформацию в заданных точк ах.Поскольку амплитуда детектированного сигнала представляет собой эпюру деформации поверхности объекта, то для определения деформаций устраняется необходимость счета интерференционных полос, что упрощает процесс определения деформаций;Данный способ может быть использован при исследовании прочностных характеристик объектов. Составитель Техред З,Фа сой Корректор М, Вигула едакто ирк ж 801 Подп ого комитета СССР ий и открытий аушская наб., д. 4 аказ 9267/3 ЦНИИП по 113035, ое ТирГосударственелам изобретеосква, Ж,иал ППП фпатент, г, Ужгород,оектн Формула изобретенияСпособ определения деформаций объекта с использованием голографичес/ кой интерферометрии, заключающийся в том, что регистрируют голографическую интерферограмму деформированной поверхности объекта, восстанавливают ее, сканируют фотоприемникпо восстановленной голограФическойинтерферограмме, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что, с. целью упрощенияпроцесса .определения деформаций,дифференцируют сигнал фотоприемника, детектируют его огибающую и поамплчтуде детектированного сигналаопределяют деформацию в заданныхточках.Источники информации,15принятые во внимание при экспертизе1.Алекс андров Е.А. Бонч-Бруевич А, МЖурнал технической физики, в, 2, 37,1967 с, 360.2 Голографические измерительныесистемы. Сборник чаучных трудов2 Р Новосибирского электротехническогоинститута, под ред, А.Г. Козачка.Новосибирск, 1976, ч. 28-29 (прото,тип) .
СмотретьЗаявка
2565067, 06.01.1978
НОВОСИБИРСКИЙ ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ
ДЕ СЕРГЕЙ ТИМОФЕЕВИЧ, КОЗАЧОК АРКАДИЙ ГРИГОРЬЕВИЧ, ЛОГИНОВ АЛЕКСАНДР ВЛАДИМИРОВИЧ, СОЛОДКИН ЮРИЙ НАУМОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 11/16
Метки: деформаций, объекта
Опубликовано: 05.02.1980
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-714144-sposob-opredeleniya-deformacijj-obekta.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения деформаций объекта</a>
Предыдущий патент: Датчик положения
Следующий патент: Способ контроля параметров объекта
Случайный патент: Фиксатор для остеосинтеза костей б. н. балашова и а. с. имамалиева