Устройство для измерения деформацийобекта

Номер патента: 832326

Автор: Штанько

ZIP архив

Текст

(22) Заявлено 300578 (21) 2622773/25-28с присоединением заявки Ио -6 01 В 11/16 Государственный комитет СССР яо делам изобретений и открытий(2 З) Приоритет Опубликовано 2305,81 Бюллетень ИЯ 19 Дата опубликования описания 210581(54) УСТРОЙСТВО ДАН ИЗМЕРЕНИЯ ДЕФОРМАЦИИ ОБЪЕКТАИзобретение относится к области измерения деформацкй оптическими методамк.Известно устройство для измерения деформаций по муаровым пслосам, содержащее контролируемый объект с зеркальной поверхностью, источник излучения, оптическую систему, эталонную сетку и приемник излучения Г 11.Область применения этого устройства огранкчена спецкальнымк требованиями к качеству поверхностк.Наиболее близким по технкческой сущности к предлагаемому является устройство для измерения деформаций объектов, содержащее расположенные по ходу оптического пучка источник когерентного излучения, эталонную в виде растра решетку, подобную решетку, наносимую на поверхность объекта, и оптическую систему Г 2 .Основным недостатком данного .Устройства является низкая точность иэ" мерения деформаций кэ-за ограниченной линеатуры используемых растров.Цель изобретения - повышение точности измерения. Поставленная цель цостигается, тем что обе решетки выполнены в виде голограмм с записью двух сигнальных пучков, углы между ЗО которыми обеспечивают восстановлениеголограьыой на объекте действитель"ных изображений источника излучения,внутри входного зрачка оптическойсистемы.На чертеже приведена схема работыустройства для измерения деформацийобъекта.Устройство содержит источник 1 из-.лучения, освещающий эталонную голограмму 2. Пучки 3, восстановленныеэтой голограммой, являются опорнымидля голограммы 4, нанесенной на объект 5, которая восстанавливает двасопряженных изображения 6 источникаизлучения внутри оптической систеьн7, с помощью которой наблюдают полосы интерференции,Устройство работает следующимобразом.При деформации объекта 5 изменяются геометрические характеристикиголограммы 4, нанесенной на объект5, что вызывает изменение расстояниямежду восстановленными сопряженнымиизображениями 6 источников излучения и сдвиг полос интерференции;наблюдаемых через оптическую систему 7.По величине этого сдвига судят о. дефорМации объекта.832326 формула изобретения Составитель Н.ужоведактор В,Данко Техред Е. Гаврилешко Корре Н.Бабинец/68 Тираж 642 ВНИИПИ Государственнпо делам изобрете 113035, Москва, Жказ 36 Подписноекомитета СССРи открытийаушская наб., д.4/5 филиал ППП Патент, г,ужгород, ул.Проектн Устройство позволяет с высокойточностью измерять деформации объекта,так как голограммы обладают высокимоптическим разрешением,Устройство для измерения деформаций объекта, содержащее расположенные по ходу оптического пучка источник излучения, эталонную решетку, решетку, наносимую на поверхность объекта, и оптическую систему, о т л ич а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности измерения, обе решетки выполнены в виде голограммс записью двух сигнальных пучков,.углы между которыми обеспечивают восстановление голограммой на объектедействительных изображений источникаизлучения внутри входного зрачка оптической системы. Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1.Авторское свидетельство СССР 10 М 225463, кл. С 01. В 11/30, 1967.2. Шнейдерович Р.М. и Левин О.А.Измерение полей пластических деформаций методом муара. М "Машиностроение", 1972, с,3-4 (прототип) .

Смотреть

Заявка

2622773, 30.05.1978

НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТСТРОИТЕЛЬНОЙ ФИЗИКИ ГОССТРОЯ CCCP

ШТАНЬКО АЛЕКСАНДР ЕВГЕНЬЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01B 11/16

Метки: деформацийобекта

Опубликовано: 23.05.1981

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-832326-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-deformacijjobekta.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения деформацийобекта</a>

Похожие патенты