Поляризационно-оптический способопределения напряжений b образце

ОП ИСАНИ ЕИ ЗЬБРЕТЕН ИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз СоветсникСоциапистичесникРеспублик о 1 83439 О(23) Приоритет Опубликовано 30,05,81, Бюллетень Лф 20 ао делан изабретеиий и открытий(53) УДК 531 ,781,2(088,8) Дата опубликования описания 03.06,81(72) Авторы изобрете фанасьев и Л. К. Андрианова 1) ЗаявитеРИЗАЦИОННО-ОПТИЧЕСКИЙ СПОСОБ ЕДЕЛЕНИЯ НАПРЯЖЕНИЙ В ОБРАЗЦЕ ний в обчто новосвоей оси, просвванным лучом сизмеряют оптичеспо которой опреразце 2,Недостатком способа является то, чтоон не позволяет определить полное число компонент напряжений. Кроме того,он не позволяет определить напряженияв кристаллах кубической сингонии из-заих анизо тропин. Цель изобретения - обеспечение определения напряжений в образцах иэ моно- кристаллов кубической сингонии.Указанная цель достигается тем, что перед просвечиванием образца измеряют углы ориентации его осей относительно основных осей решетки кристалла, измеряют оптическую разность хода лучей при различных углах поворота образца, а количество просвечиваний образца выбиИзобретение относится к поляризационно оптическим способам определения напряжений в образцах из кристаллов кубической,сингонии.Известен поляризационно-оптический способ определения напряжений в образ 5 цах монокристаллов с кубической симметрией, заключающийся в том, что из образца изготавливают срезы, просвечивают их лучом поляризованного света,10 измеряют оптическую разность хода луча, по которой определяют напряжения 51.Недостатком данного способа является то, что образец для проведения измерений разрезают на срезы, т.е, разру 15 шают. Кроме того, точность определения напряжений невысока, так как переход от напряжений в срезах к напряжениям в целом образце происходит путем привлечения целого ряда дополнительных пред положений.Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности является полярнзационно-оптический способ определения 2разце, заключающийся рачивают образец вокруг ечивают его поляризовета до и после поворота кую разность хода лучей деляют напряжения в об3 8343рают равным или большим числа известных компонент напряжений.Поляриэационно-оптический способ определения напряжений в образце осуществляется следующим образом.Берут произвольно ориентированныйобразец монокристалла и в нем подходящим образом вводят оси декартовых координат ХЪ . Определяют углы ориентацииэтих осей относительно основных осей 10разметки кристалла и просвечивают образец вдоль различных направлений, поворачивая его вокруг одной из осей Хили У, причем свет в исходном положении распространяется вдоль оси. йля 15каждого угла поворота образца вокругизвестной оси измеряют оптическую разность хода лучей, по которой рассчитывают из пьезооптического уравнения соответствующие фотоупругие постоянные для 20всех компонент тензора напряжений.Возможное число определяемых компонент напряжений зависит от ориентацииосей в решетке кристалла. Если оси ХУ 2коллинеарны высокосимметричным направ -лениям ( 100), (110), (111) кристаллаи их комбинациям, то число определяемыхкомпонент не превышает четырех, Припроизвольном выборе осей ХЪ 2 можноопределить все шесть компонент напря- ЗОжений, действующих в засвечиваемом объеме образца монокристалла, Число просвечиваний образца больше или равно числунеизвестных компонент напряжений. Неизвестные компоненты напряжений находят иэ решения системы линейных алгебраических уравнений.Предлагаемый способ позволяет определить все шесть компонент напряжений,не содержит никаких дополнительных гипотез об общем характере напряженногосостояния и о чисто упругом цоведении 90 4материала под действием напряжений,чем определяется его более высокая информативность и точность по сравнениюс известными способами, а определениенапряжений можно вести путем измерения разности хода лучей без измеренияпараметра изоклины, что упрощает измерения и открывает возможность широкогоиспользования для измерения круговогополярископа,формула изобретенияПоляризационно-оптический способопределения напряжений в образце, заключающийся в том, что поворачиваютобразец вокруг своей оси, просвечиваютего поляризованным лучом света, измеряютоптическую разность хода лучей, по которой определяют напряжения в образце,отличающийся тем,что,сцелью обеспечения определения напряжений в образце из монокристаллов кубической сингонии, перед просвечиваниемобразца измеряют углъ ориентации егоосей относительно основных осей решетки кристалла, измеряют оптическую разность хода лучей при различных углахповорота образца, а количество просвечиваний образца выбирают равным илибольшим числа известных компонентнапряжений .Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1, Напряжения и дислокации в полупроводниках. Сборник. М., АН СССР,1962, с. 8-33.2. Александров А. Я., Ахметзанов М.Х.Поляризационно-оптические методы механики деформируемого тела. М Наука,1973, с. 191-198 (прототип), Составитель Б, ЕвстратовРедактор А, Лежнина, Техред И.Асталощ КорректорС. ЩомакЗаказ 4044/60 Тираж 642 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб., д, 4/5