Способ определения деформаций образца
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 711351
Автор: Ларин
Текст
О П Е ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советскик Социалистических Республик(22) Заявлено 280 б,78 (21) 2647511/25-28 Кл 2 5 1 В 11 1 вки Ио присоединением сударственный комите СССР о делам изобретений и открытий501,80. Бюллетень Й та опубликования описания 25(72) Автор иЗОбРЕтЕН Г.В. Ларин 1) Заявите ОВ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДЕФОРМАЦИИ ОБРАЗЦА / 4) ся сни Изобретельной тзовано длобразца.Известен способ определения деформаций образца, заключающийся в том, что образец разрезают, на плоскость разреза .наносят эталонный растр, образец соединяют, деформируют и снова разъединяют, затем на деформированный растр накладывают эталонный растр и по полученной муаровой картине полос определяют деформации (1) . тение относится к измериехнике и может быть исполья определения деформаций Однако применение способа весьма трудоемко, так как необходима разреэка образца и нанесение растра.Известен способ определения деформаций образца, заключающийся в том, что изготавливают микрошлиф образца, получают Фотоизображения микроструктуры до и после деформирования образца, на фотоизображениях микроструктуры отмечают характерные точки (обычно точки резкого из - менения контура зерна, выступы, впадины и др.) и измеряют расстояния между ними, по которым определяют деформации 2). Целью изобретения являетжение трудоемкости.Это достигается тем, что на негативное иэображение микроструктурынакладывают соответствующее позитивное изображение микроструктуры дои после деформирования образца,совмещают эти Фотоизображения и поворачивают негативное изображение,относительно позитивного до появления муарового пятна, по диаметрукоторого взаимному углу поворотаФотоизображений микроструктуры дои после деформирования образца определяют его деформации.Сущность способа заключается втом, что изготавливают на Фотоплас-.тинках негативное и позитивное изображения недеформированной микрострук 2 О туры. Затем на негативное изображение микроструктуры накладывают соответствующее позитивное изображение,совмещают эти фотоизображения так,чтобы темные места зерен микроструктуры совпали со светлыми, и поворачивают негативное изображение относительно позитивного до появлениямуарового пятна, Измеряют угол поворота, размер муарового пятна и поего размеру опрецеляют диаметр зер7113 51 Составитель Б. ЕвстратовТехред З.Фанта Корректор А, Гриценко Редактор Л. Народная Заказ 8994/25 Тираж 801 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб д, 4/5Филиал ППП Патентф, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 на ми к рост рук т уры до де формации к акпроизведение размера пятна на уголповорота. После деформации образца Фотографируют и изготавливают негативное и позитивное изображения деформированной микроструктуры, которые совмещают одно с другим, поворачивают одно фотоизображение относительно другого так, чтобы при этом образовалось муаровое пятно, затем указанным способом вычисляют диаметр зерна микроструктуры после деформации. Зная диаметр зерен микроструктуры до и после деформации, определяют значения деформации в точке как отношение разности исходного и деформированного зерен микроструктуры к диаметру зерна исходной микроструктуры,Применение предлагаемого способа позволит определить величину пластической деформации в узких труднодоступных зонах исследуемой детали, а также снизит трудоемкость способа за счет уменьшения количества измерений. Формула изобретенияСпособ определения деформаций об -раэца, заключающийся в том, что изготавливают микрошлиф образца, получают фотоизображения микроструктурыдо и после деформирования образца,по которым определяют деформации,о т л и ч а ю щ и и с я тем, что,с целью снижения трудоемкости, нанегативное изображение микроструктуры накладывают соответствующее позитивное изображение микроструктуры дои после деформирования образца, совмещают эти фотоизображения и поворачивают негативное изображение относительно позитивного до появления муарового пятна, по диаметру которогои взаимному углу поворота Фотоизображений микроструктуры до и после деформирования образца определяют егодеформации.2 О Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1. Сборник трудов Магнитогорского горно-металлургического института. Выпуск 140, 1974, с, 98.2. Губкин С.И. Пластическая деформация металлов. М., Металлургиэдат, т. 1, 1961, с . 157 (прототип)
СмотретьЗаявка
2647511, 28.06.1978
ЛАРИН ГЕННАДИЙ ВАСИЛЬЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 11/16
Метки: деформаций, образца
Опубликовано: 25.01.1980
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-711351-sposob-opredeleniya-deformacijj-obrazca.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения деформаций образца</a>
Предыдущий патент: Способ наклейки тензорезисторов
Следующий патент: Интерференционный угломер
Случайный патент: Испарительная установка