Патенты с меткой «дифрактометрии»

Номер патента: 911264

Опубликовано: 07.03.1982

Авторы: Александров, Киселева, Кузнецов, Турянский

МПК: G01N 23/20

Метки: дифрактометрии, рентгеновской

...предлагаемого способа (б).Энергодисперсионный дифрактометр(фиг. 1) содержит генератор 1 рентгеновского излучения, ограничивающиещели 2 - 4, гониометрическое устройство 5, на оси которого помещен исследуемый кристаллический образецб, полупроводниковый детектор 7,высоковольтный источник 8 питания,линейный усилитель 9, многоканальный анализатор 10, устройство 11вывода информации, электромеханический преобразователь 12 углового смещения образца и приемной щели вэлектрический сигнал, управляющийкоэффициентом усиления усилителя икриостат 13,Способ осуществляется следующимобразом.Устанавливают детектор 7 под углом 29 О, равным удвоенному углу междунаправлением падающего луча и поверхностью образца б. При выключенной рентгеновской трубке...

Номер патента: 1167484

Опубликовано: 15.07.1985

Авторы: Корнеев, Матюшин, Шамаров

МПК: G01N 23/207

Метки: биологических, дифрактометрии, исследования, камера, малоугловой, методом, объектов, рентгеновская, энергетической

...из которых снабжен настроечным отверстием.Поворот детектора вокруг двух взаимно-перпендикулярных осей, которые расположены в меридианальной и сагиттальной плоскостях и пересекаются непосредственно на исследуемом объекте в месте его облучения, позволяет регистрировать малоугловое рассеянное излучение не только в меридиональ - ной плоскости, но и в сагиттальной плоскости, а также в любой зоне плоскости,. которая расположена по нормали к любому дифрагированному лучу. Причем расположение объекта-мышцы предусмотрено только вертикальное, что позволяет экспериментатору рабо 1167484 6тать при вполне воспроизводимых условиях на разных режимах (изометрический, изотонический и т.д,) и уменьшает аберрационные явления до допустимого предела,...

Номер патента: 1536284

Опубликовано: 15.01.1990

Авторы: Аристов, Шабельников

МПК: G01N 23/20

Метки: дифрактометрии, пленок, рентгеновской, тонких

...Ы согласновыражениюЪ=Г+ЫЯ+1,/2), (1)Так как апертура коллиматора Сол 55 лера определяется его конструктивными параметрами - базой 1., и расстоянием между пластинами Ь 9=2 Ъ/1.), то для типичных условий эксперимента величина второго слагаемого в (1) непревышает (0,3-0,5)Е и ширина пучкаЪ определяется, в основном, первымслагаемым, Таким образом, уменьшениемало сказывается на величине Яци при улучшении коллимации, приводящей к повышению пиковой интенсивностилиний с сохранением уровня фона, интенсивность которого для известныхисточников определяется облучаемойплощадью 8 , достигается улучшениеотношения интенсивностей линий к фонуП р и м е р, Способ реализуют приследующих условиях. В качестве источника излучения используют трубку2,ОБСВс...

Номер патента: 1617344

Опубликовано: 30.12.1990

Автор: Лидер

МПК: G01N 23/20

Метки: дифрактометрии, рентгеновской, трехкристальной

...невозможно использоватьи монокристалл арсенида галлия изэ слабости рефлекса (222), ни моокристалл германия (для него рефлекс (222) является запрещенным). Дляешения поставленной задачи можно исцользовать предложенный способ трех- ЗО кристальной дифрактометрии. Дпя первого монохроматора Се (100) выбирают рефлекс (422), Дпя второго монохроматора, изгатовленного также из германия, выбирают рефлекс (311). 35 Подставляя значения брэгговских углов для перечисленных вьше рефлексов в Формулу для угла , получаем, ччто при использовании непараллельной геометрии расположения монохрома О торов и образца угол . = 23,6 . Это значит, что для изготовления второго ь".онохроматора необходимо у германиевой пластины ориентации (100) делать скос,...