Полиэктов

Рентгеновский дифрактометр

Загрузка...

Номер патента: 1476360

Опубликовано: 30.04.1989

Авторы: Дроздова, Евграфов, Киселев, Полиэктов, Топильская

МПК: G01N 23/20

Метки: дифрактометр, рентгеновский

...излучения осуществляется путем поворота поворотной платформы 4 вокруг оси 12.При работе с монохроматором кронштейн 5 устанавливается в положение 1. К кожуху 7 рентгеновской трубки крепится корпус монохроматора 9 с установленным в нем кристаллом-монохроматором 1 О. Брэгговский угол 20 дифракции кристалла-монохроматора 10 устанавливается непосредственно путем разворота поворотной платформы 4. Так как ось 12 вращения поворотной платформы 4 совпадает с осью 16 вращения кристалла-монохроматора и проходит через точку пересечения фокусирующей окружности 14 с нулевой линией 15 гониометра, то при развороте поворотной платформы 4 угол 20 дифракции кристалла-монохроматора отсчитывается непосредственно по шкале поворотной платформы...

Неразрушающий способ определения толщины покрытия на кристаллической подложке

Загрузка...

Номер патента: 1249414

Опубликовано: 07.08.1986

Авторы: Дроздова, Евграфов, Назарьян, Полиэктов, Чирков

МПК: G01N 23/20

Метки: кристаллической, неразрушающий, подложке, покрытия, толщины

...РЕПЕ Е ,Ияиулт 011 ис 1СуЩИОств с 1 особ; :,;-" кл ед(7 ОЩе М,ЦРИ ДИЪРаКЦИ 11 РЕт ГГОС :.1 ей от какОЙ - либо се зии 1"кристалличсскоЙ под.ожки в т.ИИ ПОК 1 тт,. 01;( т тяжести диф 1 акцио;н,ИЗМЕ.Е.НИЕ .О, т ОВ 01 ЗВСЛЕДС т В 1 Е .0 О, :, та. - .-: т,.тДИФРаКЦИ ПЛОСтОС "7: РИ( ,:Г1;ОДЛОЖКИМЕЩННЫ . т( т 10(.т 1,т.-,;НОСТИ, тта ИЗМЕЕПИ( ВтИ , - , г .т.брЗГГВСКОГО тГЛНлибо сеоии Г.тогко"-:.Й 11( -1 РЫТИЕМ ОТ ИЗМЕНЕНтот 0Говского угл дт,ит;р,.-.(.;д.11 ЛОСКОСТСЙ "Пт( ТО;"т од( 11,"т,МЕтОдИКа ИЗМЕРЕН,я -.;:.1 - ,т.;,; т; - ; В предлагаемом -, тос;:е 1 ИЮ брЗГОБСК 01 " а т, 111 -цени 5 крист,-;.555,(усирукщей зкрт";10и ГОЛЩИНЕ ПОКРЫТ.Я П: - .(С.РИСтаЛЛИтЕ КУО ;,О-.-:ЧЕТНЫЕ СООТНОЕт 5,-;5ТОЛЩИНЫ ( .;10 КрЫТ;.я На т(0;КОЙ пОДлОжке разлитт"...