Архив за 1985 год

Номер патента: 1138704

Опубликовано: 07.02.1985

Авторы: Гончаренко, Кричмар, Семенченко

МПК: C01G 27/06, G01N 13/00

Метки: диффузии, измерений, коэффициентов, неизоконцентрационных

...для хорошей экстраполяции.Что касается нижнего предела, то чемниже частота, тем точнее будет оценено поведение кривой вблизи д = О,однако практически частота ниже0,04 Гц (период капания 25 с) недости.жима, а выше 0,05 Гц ее выбирать нецелесообразно. Следует учесть приэтих измерениях; что размер капилляра должен быть достаточно мал, чтобыобеспечить эти низкие частоты при высотах столба ртути не менее 20-25 см.Это исключает влияние изменения обратного давления на частоту капания,связанного в свою очередь с изменением поверхностного натяжения на границе ртуть - раствор при изменениипотенциала электрода.Что касается количества частот,.при которых проводят измерения,то так как экстраполируемая зависимость может оказаться нелинейной,то...

Номер патента: 1138705

Опубликовано: 07.02.1985

Автор: Петров

МПК: G01N 13/02

Метки: веществ, натяжения, поверхностного, стеклообразных

...приводят каплю в соприкосновение с подложкой, дополнительно измеряют вес стержня с каплей в контакте с подложкой последостижения его стационарного значения, измеряют радиус перешеикаи по полученным данным определяют поверхностное натяжение,1138- Г/2 ЛГ С 0503Использование стеклообразного вещества в випе капли ограниченного объема, которую помешают на специальную подложку, выполненную из материала, несмачиваемого жидкостью, позволяет при сильном загустевании тела со сформированным перешейком отделять каплю от подложки и использовать для нахождения поверхностноГо натяжения метод нулевой ползуО чести.Предлагаемый способ реализуется следующим образом.Тонкий цилиндрический стержень предпочтительно небольшим радиусом г = 0,5/1,0 мм...

Номер патента: 1138706

Опубликовано: 07.02.1985

Авторы: Егорушкин, Павлов

МПК: G01N 15/02

Метки: аэрозолей, ввода, калибровочных, счетчик, частиц

...этом площадь отверстиякрышки равна площади отверстий, выполненных в стенке стакана, верхний конец трубки выступает над поверхностью диафрагмы на высоту 0,определяемую из соотношения Ь 2а высота слоя калибровочных частицпорошка над диаФрагмой Ъ с дКроме того, с целью измельчениякалибровочных частиц, верхний конецтрубки выполнен в виде конусообразной воронки,На чертеже изображено предложенное устройство, общий вид.Устройство состоит из цилиндрического стакана 1 с восемью диаметрально противоположными отверстиями 2 и кольцевого уплотнения 3,трубки 4, на которой укреплены поглощающий фильтр 5, воздухопроницаемаядиафрагма б и конусообразная воронка 7 трубки, кольца 8, крышки 9 споглощающим фильтром 1 О и отверстием 11.Устройство работает...

Номер патента: 1138707

Опубликовано: 07.02.1985

Авторы: Егоров, Козлов, Котов, Мишин, Улахович, Чупарев

МПК: G01N 15/02

Метки: доменной, испытания, печи, шихтовых

...общим приводом 32 для их поочередного открывания и закрывания. Для обеспечения- более полного разделения пробы по. классам крупности накопителя 30 проб также снабжены соответствующими з 1Над бункером 3 затвора 4 размещена распределительная воронка. 11 с перекиднымшибером 12, имеющим индивидуальный привод 13. Распределительная воронка 11 служит для направления материалов или в бункер 3 затвора 4 или на конвейер 14 возврата.Для обеспеченияточной дозировки испытываемой 1 пробы, при подаче материалов из промежуточного бункера 15 в бункер 3, транспортер 2 пробы также выполнен ленточным с, возможностью изменения скорости движения ленты.Над распределительной воронкой 11 размещен испытательный барабан 7 с приемной воронкой 16, имеющей свой...

Номер патента: 1138708

Опубликовано: 07.02.1985

Авторы: Дрибин, Зайдман, Костин, Лысиков, Пимонов, Руднев

МПК: G01N 15/06

Метки: концентрации, механических, примесей

...коаксиально вцилиндрическом неподвижном элементетрения, иричем разность внутреннегорадиуса цилиндрического неподвижного 55элемента трения и радиуса плунжераравна размеру анализируемых частиц,цилиндрический неподвижный элемент 2трения выполнен с возможностью присоединения к исследуемой гидросистеме, .а тяговым механизмом служит вибратор направленных колебаний.Частицы загрязнений с размерами,близкими к размеру определенного зазора в гидросистеме, являются дляузлов и агрегатов машин наиболееопасными.Величина этого зазора определяеттребуемую степень .очистки жидкостиот загрязнений, так как в ней должны отсутствовать частицы с размерами, близкими к размеру зазора. Приэксплуатации машин возникает необхо"димость проведения...

Номер патента: 1138709

Опубликовано: 07.02.1985

Авторы: Внуков, Дерягин, Лячин, Новиков, Сорокин, Федосеев

МПК: G01N 15/08

Метки: поверхности, порошковых, удельной

...площадь которыхсоставляет 5-107 от площади поперечного сечения кюветы,Виброукладка. в укаэанных режимахпозволяет частицам порошка укладываться в вакууме непосредственно перед фильтрацией разреженного газа;таким образом, что они занимают естественное положение друг относительно друга, при котором исключаются изменения формы частиц порошка,образование трещин в слое порошка,а также тупиковые каналы. Такая укладка частиц порошка наиболее близка к модели, которая используетсяв методике для расчета удельной поверхности порошков.Используемое.давление величиной(2-3 ) 10 З Н/м 2 на слой порошка,осуществляемое металлическим цилиндром массой 20-30 г на 1 см 2 слоя порошка, не вызывает разрушений и пластических деформаций частиц...

Номер патента: 1138710

Опубликовано: 07.02.1985

Авторы: Ракитин, Федоров, Финогенов

МПК: G01N 15/08

Метки: аппарат, микрои, параметров, процессов, ультрафильтрации

...параметров процесса фильтрации. Например, не учтены факторы 45образования осадка на фильтрующей поверхности и закупорки пор фильтра, которые, в свою очередь, зависят от гидродинамических условий потока разделяемой жидкости и 50влияют на результаты измерений фильтрационных свойств материала,Кроме того, известный аппаратне позволяет определить оптимальныеразмеры рабочих каналов фильтрующнх элементов для широкого кругаобъектов разделения микро- и ультрафнльтрацией, отличающихся, напри1138710 35 3является опорным элементом дляФильтра и представляет собой крупнопористый материал, например, в видесетки саржевого плетения. Нижняя.часть корпуса 1 содержит камеру5приема фильтрата, разделенную насекции 6, Каждая секция 6 имеет канал...

Номер патента: 1138711

Опубликовано: 07.02.1985

Авторы: Аржанников, Неуймин, Пальгуев

МПК: G01N 15/08

Метки: газопроницаемости

...на ось ЭДС, проходящую через точку, соответствующую моменту выключения тока,С целью, дальнейшего упрощения оп- . ределения величины Е на прямолинейном участке спада ЭДС концентрационного гальванического элемента измеряют по крайней мере два значения ЭДС Е и Е через определенные интервалы времени 1 и Йг с момента вы - ключения тока, например в точках А и В (фиг.2 ), Величину ЭДС Е в момент выключения тока (точка О ) определяют следующим образом. Из фиг.2 видно, что Е = ОМ + Е, так как отрезок ЧМ параллелен оси абсцисс по построению. Прямоугольные треугольники АОИ и АВМ подобны вследствие равенства их углов, из подобия треугольников следует ОИ = МВ АИ/АМ.Отношение отрезков АИ/АМ равноотношению Й /С -Й ; а величина отрезг 1 фка МВ...

Номер патента: 1138712

Опубликовано: 07.02.1985

Авторы: Булдаков, Варушкин

МПК: G01N 19/04

Метки: подложкой, покрытия, прочности, сцепления

...когезионных участков разрушения покрытия.35Цель достигается тем, что согласно способу определения прочности сцепления покрытия с подложкой, заключающемуся в том, что на поверхности покрытия закрепляют прозрачную пластину, измеряют световой поток, проходящий через пластину до ее закрепления на покрытии и после ее отрыва, и по изменению светового потока судят о прочности сцепления, измеряют световой поток, отраженный от поверхности подложки после отрыва покрытия, и по сравнению интенсив,ности светового потока, проходящего через пластину, и интенсивности све О тового потока, отраженного от подложки, на их соответствующих участках судят о характере сцепления покрытия с подложкой.На фиг.1 изображен образец в сборе для осуществления...

Номер патента: 1138713

Опубликовано: 07.02.1985

Авторы: Гуминецкий, Подкамень

МПК: G01N 21/21

Метки: непрозрачных, ориентации, рассеивающем, слое, степени, частиц

...от степени ориентации частицР;на фнг,2 - графики зависимостиприведенного четвертого параметраСтокса, прошедшего слой излученияот угла ориентации частиц 8 в рассеивающем слое при различных напряженностях приложенного к слою ориентирующего магнитного поля,Циркулярность поляризации облучающего светового пучка достигаетсяс помощью стандартного круговогоциркулярного 1 поляризатора, Поляризация прошедшего рассеянного слоемсвета измеряется при помощи анализатора, состоящего из пленочного поляроида и четвертьволновой пластинки,Степень ориентации частиц в слоеопределяется ,по расчетному значениюнормированного четвертого параметраСтоксаЯ = 5 /5 рассеянного света15 - первый параметр Стокса), Дляэтого снимают четыре отсчета регистрирующего...

Номер патента: 1138714

Опубликовано: 07.02.1985

Автор: Сушков

МПК: G01N 21/41

Метки: рефрактометр, угловой

...увеличивает трудоемкость работ с прибором,Целью изобретения является повышение точности измерения угловой рефракции,4 2Укаэанная цель достигается тем,что в угловой рефрактометр, содержащий два лазера с различными длинамиволн и расположенные последовательнопо ходу излучения коллиматор, приемную оптическую систему, элемент переворота изображения, поляризатор,двулучепреломляющую пластину и фОтоприемник, соединенный со схемой регистрации, дополнительно введены элемент разделения излучения по длинамволн, два электрооптических компенсатора, второй и третий поляризаторы,два регулятора напряжения и схемасравнения напряжений, причем элементразделения излучения по длинам волнустановлен между двулучепреломляющейпластиной и фотоприемником,...

Номер патента: 1138715

Опубликовано: 07.02.1985

Авторы: Аксенов, Бергер, Воронкин, Тарасов, Фролов, Шадура

МПК: G01N 21/43

Метки: автоматический, внутреннего, отражения, полного, рефрактометр

...щель целесообразно применять возможно более узкой, так как возрастает крутизна характеристики у(1 ). Ограничением является уменьшение полезного сигнала, а также опасность получения не3 11387 управляемой следящей системы при компенсационной схеме измерения.На фиг. представлены графики относительного изменения светового потока у , ) и у ( ) соответственно для щелей длиной а и а, на фиг.2 - реверсивная характеристика управления; на фиг.З - схема компенсационного автоматического рефрактометра; на фиг.4 - расположе- О ние щелей анализатора относительно границы раздела светаи тени.Кривая для щели длиной а смег щена в светлую зону поля таким образом, чтобы кривые пересека лись на, к при одном значении(1 ), при котором щель размером а Цнаходится...

Номер патента: 1138716

Опубликовано: 07.02.1985

Автор: Перевертень

МПК: G01N 22/04

Метки: влагомер, сверхвысокочастотный

...циркулятор, первое и45 второе плечи которого включены соответственно между первым выходом первого делителя мощности и передающей антенной, второй фазовращатель, подключенный к третьему плечу циркуля 50 тора, и переключатель, первый вход которого соединен через, первый фазовращатель с приемной антенной, второй вход подсоединен к выходу второго фазонращателя, первый выход нагру 55 жен на введенную согласованную нагрузку, а второй подключен к первому входу второго делителя мощности, второй вход которого через аттенюатор соединен с вторым выходом первого делителя мощности,На чертеже приведена структурнаяэлектрическая схема сверхвысокочастотного влагомера,Сверхвысокочастотный влагомер содержит СВЧ-генератор 1, первыи делитель 2 мощности,...

Номер патента: 1138717

Опубликовано: 07.02.1985

Авторы: Гусев, Дорожкин, Комяк, Левчук, Петрашень, Чернов

МПК: G01N 23/20

Метки: дифракционных, монокристаллов, отражение, рентгеновских, топограмм

...1 рентгеновских лучей располагается в одной плоскости с фотопластинкой 2 или дру гим регистрирующим устройством. При этом отражающие плоскости кристалла 3 должны быть параллельны,пласкОС". ти;регистрации., Во время съемки кристалл облучают расходящимся йубж рентгеновских лучей через щель 4 так, чтобы имело место одновременное отражение обеих составляющих К дуплета (3, и д ) и линейно сканируют в направлении, перпендикулярном к отражающим плоскостям. При этом как и согласно известному способу, имеет место фокусировка по длинам волн ( см, чертеж, штриховые линии А( А") и В 1,Вц) - точки на кристалле; А и В - соответствующие им точки в плоскости регистрирующего устройства ). В симметричном случае дифракции изображение всегда...

Номер патента: 1138718

Опубликовано: 07.02.1985

Авторы: Конкин, Мейкляр, Фалин

МПК: G01N 24/00

Метки: двойного, измерительный, резонанса, резонатор, спектрометра, электронно, ядерного

...для наблюдения ДЭЯР нанекрамерсовых ионах.Поставленная цель достигаетсятем, что в измерительном резонатореспектрометра двойного электронноядерного резонанса (ДЭЯР ), состоящем из резонансной полости и узловвозбуждения сверхвысокочастотных(РЧ) колебаний, задняя стенка резонатора отражательного типа иэготовена в виде короткозамкнутого порня с пружинящими контактами, закрепленного на диэлектрическом основа,нии, в диэлектрическом основании ипоршне имеется прямоугольное отверстие, через которое в полостьрезонатора параллельно его широкойстенке введена диэлектрическая плоская вставка с нанесенными на неедвумя проводящими 0 -образными петлями, одна из которых соединена сгенератором РЧ ядерной накачки, адругая - с высокочастотным...

Номер патента: 1138719

Опубликовано: 07.02.1985

Авторы: Линев, Маршалко, Мочальский, Муравский, Фурса

МПК: G01N 24/10

Метки: магнитного, радиоспектрометр, резонанса

...этого образца; на фиг.4эпюры сигналов на выходе блоков,поясняющие работу радиоспектрометрамагнитного резонанса,Радиоспектрометр магнитного резонанса содержит (фиг,1 ) источник 1поляризующего магнитного поля, блок2 развертки, измерительный резонатор 3, блок 4 регистрации, дифференциальный усилитель 5, интегратор6, цифроаналоговый преобразователь7, блок 8 управления и комнаратор 9,На фиг,4 изображены сигнал 1 Она выходе блока 2 развертки, сигнал11 магнитного резонанса на выходеблока 4 регистрации на фоне низкочастотных шумов (дрейфов ), сигнал12 на выходе цифроаналогового преобразователя 7.1138719 4 40 45 50 55 3Блок 2 развертки подключен одним выходом к источнику 1 поляриэующего магнитного поля и другим выходом - к первому...

Номер патента: 1138720

Опубликовано: 07.02.1985

Авторы: Бабаев, Кашкай

МПК: G01N 25/02

Метки: анализа, дифференциального, термического

...достигаемому результату является способ дифференциального термического анализа, вклю О чающий нагрев пробы и измерение термоэффектов с помощью термодатчиков 1 3. Недостатком известного способа является низкая производительность анализа и сложность количественного определения фазы.Цель изобретения - повышение производительности. Указанная цель достигается тем, что согласно способу, включающему нагрев пробы и измерение термоэффектов., пробу транспортируют через предварительно разогретую печь с градиентом температуры по ее длине и регистрируют максимальное значение термоэффекта с помощью термодатчика, установленного неподвижно в зоне печи, имеющей температуру, соответ- ЗО ствующую термоэффекту. На чертеже изображена принципиальнач схема...

Номер патента: 1138721

Опубликовано: 07.02.1985

Автор: Дмитриев

МПК: G01N 25/02

Метки: высоких, давлений, определении, превращений, создания, твердых, температур, фазовых

...удельной нагрузке на частицу0,1-2 г силы обеспечивает созданиедавлений в диапазоне мегабар, варьируемых в пределах этого диапазонапосредством изменения размеров, формы и материала частиц.Использование тонкодисперсногопорошка в качестве среды для передачи давления обеспечивает возможностьсоздания высоких давлений в сочетании со сдвиговыми напряжениями.При относительном перемещении тонкодисперсного алмазного порошка поповерхности материала со скоростью10-100 м/с одновременно с высокимидавлениями вследствие трения достигаются высокие температуры. Для этого чаиболее эффективны заданные траектории кривых второго порядка и фигурЛисажу.П р и м е р, Создаются высокиедавления на поверхности материала наоснове о-окиси алюминия с...

Номер патента: 1138722

Опубликовано: 07.02.1985

Автор: Попов

МПК: G01N 25/18

Метки: свойств, теплофизических

...по результатаь 1 измерений определяют температуропроводность выделенных областей.Сущность предложенного способа заключается в следующем.Нагревают поверхность эталона и исследуемых образцов равномерно распределенным источником энергии, который, например, может быть выполнен на основе серии ( 5-10 штук) электроламп типа КГМ-220 с использованием Плоского отражателя, в течение определенного, заданного заранее времени, В процессе нагрева или после его окончания регистрируют температурное распределение по нагретой поверхности эталона и исследуемых образцов. Такал регистрация может быть осуществлена, например, при помощи быстродействующего тепловизора (например; тепловиэоров "АОА", "АСА-б 80", "АСА", "АСА"), В1138при измерениях,...

Номер патента: 1138723

Опубликовано: 07.02.1985

Авторы: Бялик, Жилинский, Завьялов, Литвинов, Сатыр

МПК: G01N 25/56

Метки: влажности, газов, датчик, подогревной, электролитический

...сеткой (5 с), имеют температуру Т 1 )Тр, Это обусловлено тем, что места соприкосновения электродов с ВЧС обладают повышенным электрическим сопротивлением.Из-за отсутствйя непосредственно-. го контакта с окружающей средой ТЧЭ датчика измеряет-усредненную температуру ВЧЭ датчика (Тр), т,е, среднюю температуру электродов, сетки и части ВЧЭ, не покрытой электрода" ми и сеткой.Предварительные экспериментальные замеры температур Тр, Т и Тр проводятся на ВЧЭ с электродами из разных материалов (например, токопроводящей ткани ). Они показывают, что в области рабочих напряжений питания на всей рабочей поверхности ВЧЭ разность температур ЬТр = Тр-Тр и 0,4 С; дТ = Т.-Т 1 С,1 1 рТемпература, измеряемая ТЧЭ датчика, находится из условия теплового...

Номер патента: 1138724

Опубликовано: 07.02.1985

Авторы: Кузнецов, Кузьминова, Седых

МПК: C12N 9/00, G01N 27/02

Метки: активности, ферментов

...проницаемости исследуемой и эталонной среды 13.Однако известный способ имеет недостаточную точность в случае слабой полярности компонент среды, в случае сильнопроводящих сред, дисперсных сред. 15Целью изобретения является повыше" ние точности способа.Поставленная цель достигается тем,.что согласно способу определения активности ферментов путем измерения скорости изменения диэлектрической проницаемости исследуемой и эталонной сред, дополнительно определяют изменение удельной электропроводности исследуемой и эталонной сред, из мерение осуществляют на критической частоте низкочастотной релаксации исследуемой и эталонной сред, а активность ферментов определяют по фоРмУле З - З 6 . З 0аа д дгде А - активность фермента...

Номер патента: 1138725

Опубликовано: 07.02.1985

Авторы: Доронин, Мунтяну

МПК: G01N 27/28

Метки: ультрамикроанализа, электрохимическая, ячейка

...выполненным в графитовой шайбе, а нижняя поверхность шайбы отшлифована.В предлагаемой ячейке торец нижнегодержателя с индикаторным электродомзакрывается пришлифованной поверхностью торца вспомогательного электрода, сообщающимся с камерой электрода сравнения. Пленка электролита между шлифованными поверхностями торцовверхнего и нижнего держателя осуществляет электрический контакт вспомогательного, индикаторного и электродасравнения, а также позволяет уменьшить диффузию анализируемого раствора из капилляра индикаторного электрода,В данной ячейке предлагается использовать в качестве индикаторногоэлектрода углеродное волокно, чтопозволяет расширить область потенциалов измерения вследствие того,что на углеродных материалах...

Номер патента: 1138726

Опубликовано: 07.02.1985

Авторы: Зегжда, Попов

МПК: G01N 27/30

Метки: ионов, ионоселективный, концентрации, марганца, растворе, электрод

...для З 5 измерения концентрации ионов марганца (11) в растворе, содержащем мембрану, состоящую из электродно-активного вещества и связующего - силиконового каучука, и токоотвод, в качест ве электродно-активного вещества использован пирофосфат марганца, а в состав связующего дополнительно введены кремнекислота и пероксимон Ф, при этом мембрана нанесена на марганцввую пластину, соединенную с токо- отводом и имеет следующий состав, мас.Е:Пирофосфат марганца . 50-60 Силиконовый каучук 30-37 Пероксимон Ф1-2 Кремнекислота Остальное На фиг. приведен предлагаемый электрод, осевое сечение; на фиг.2 графическая зависимость ЭДС электро да от концентрации марганца (11 ),Корпус электрода состоит из стеклянной трубки 1, в торцовой части 26...

Номер патента: 1138727

Опубликовано: 07.02.1985

Автор: Кричмар

МПК: G01N 27/42

Метки: детектор, использования, кулонометрический, проточный, состав, электролита

...уровень шума и увеличивает чувствительность благодаря повышению критического соотношения газ-жидкость.Наличие дросселя стабилизирует регулярный режим движения пробок, не давая развиваться резонансным низкочастотным колебаниям при работе уст" ройства.Химический состав электролита, включающий синтетическое моющее средство и спирт, обеспечИвает лучшую смачиваемость стенок канала, повышенную растворимость в электролит. случайных примесей органического происхождения и (что самое важное ) изменяет реологические свойства жидкости в направлении увеличения критического соотношения газ-жидкость. Последнее обстоятельство увеличивает устойчивость работы детектора в подкритической области и позволяет заметно увеличить чувствительность. На фиг. 1...

Номер патента: 1138728

Опубликовано: 07.02.1985

Авторы: Богданов, Кунин, Мурзин, Пинхусович, Подругин, Родионов

МПК: G01N 27/46

Метки: газов, металлах, содержания

...созданиярабочей температуры выше 600 С. Блокперемещения тигля жестко закрепленс рабочей камерой 1 и выполнен в видесильфона 3 со штоком 4, жестко закрепленным с основанием сильфона. Вверхней части штока 4 расположенасъемная подставка 5 под тигель 6,выполненная на резьбовом соединении.Тигель 6 имеет указатель уровня заполнения металлом 7. В тигле находится металлическая ванна 8, представляющая собой расплавленный металл.В основании рабочей камеры 1 расположена жестко закрепленная с нейподставка,9.В подставке расположенагайка 1 О, соединенная резьбовым соединением с нижней частью штока 4,что позволяет производить вертикальное перемещение тигля 6. На подставке расположена шкала 11 точной установки, а на сильфоне указатель 12уровня точной...

Номер патента: 1138729

Опубликовано: 07.02.1985

Авторы: Гасанов, Исаева, Рзаев

МПК: G01N 27/72

Метки: горных, естественных, намагниченности, образцов, осадочных, остаточной, пород, природы

...переосажденного образца (определение величины отношения остаточной намагниченности исходного образца к50 остаточной намагниченности переосажденного образца) 21 Основой способа является положение о различной степени ориентации магнитных моментов зерен ферромагнитных минералов по направлению действующего магнитного поля в момент приоб" ретения осадком разных видов остаточной намагничености: ориентационной, химической или термоостаточной.Однако для известного способа характерен недостаточный объем информации о природе остаточной намагниченности горных пород, так как процесс происходит в однородном магнит"ном поле одного знака.Целью изобретения является получение расширенного объема информациио природе остаточной намагниченности...

Номер патента: 1138730

Опубликовано: 07.02.1985

Авторы: Бусов, Ксенофонтов

МПК: G01N 29/00

Метки: глубины, закаленного, слоя

...цель достигается тем,что согласно способу контроля глубины закаленного слоя, заключающегосяв том, что в контролируемом закаленном изделии возбуждают импульсыультразвуковой волны и регистрируютосциллограмму, эхо-сигнала, в аналогичном контролируемому изделию отожженном изделии возбуждают импульсыультразвуковой волны, регистрируют35осциллограмму эхо-сигнала и по длине участка от переднего фронта эхосигнала отожженного изделия до второго максимума контролируемого закаленного изделия определяют полнуюглубину закаленного слоя.На фиг.1 изображено устройство,реализукицее способ контроля глубинызакаленного слоя, общий вид; нафиг.2 - то же, вид слева.Устройство, реализующее способконтроля глубины закаленного слоя,содержит изделие 1, опорные...

Номер патента: 1138731

Опубликовано: 07.02.1985

Авторы: Абрамович, Недбай, Сакиев, Шутилов

МПК: G01N 29/04

Метки: акустической, регистрации, сигнала, эмиссии

...часть экспериментально полученной амплитудно-частотной характеристики пьезоэлектрического преобразователя с пьезопластиной из гексагонального иодата лития толщиной 0,05 мм.Сущность способа заключается в следующем.Устанавливают на исследуемый объект несколько дополнительных узкопо. - . полосных преобразователей, например, пьезоэлектрических преобразователей с пьезопластиной из ЦТС, амплитудно-частотная характеристика одного из которых приведена на фиг, 1, кривая а . Полосы пропускания узкополосных преобразователей выбирают таким образом, чтобы они перекрывали интересующий диапазон частот, т,е. тот диапазон частот, в который должна входить верхняя граничная частота Гв спектра сигнала акустичеСкой эмиссии.Определяют наличие разности...

Номер патента: 1138732

Опубликовано: 07.02.1985

Авторы: Гуров, Слюсаренко, Таран, Трахтенберг

МПК: G01N 29/04

Метки: дефектов, поверхностных, ультразвукового

...и отражается от дефектов, и определяют дефектность материала по параметрам отраженной волны 11,15Недостатком данного способа является невозможность контроля поверхностных дефектов иэ-за наличия сигнала от поверхности изделия,Наиболее близким к изобретению потехнической сущности и достигаемомурезультату является способ ультразвукового контроля поверхностных дефектов иэделий, заключающийся в том,что контролируемое изделие погружаютв иммерсионную жидкость, возбуждаютв нем пбверхностную волну ирегистрируют сигналы, рассеянные дефектом Г 23.Недостатком известного способаявляется низкая надежность контролякрупнозернистых материалов из-за высокого уровня структурных помех.Целью изобретения является повышение надежности контроля.Эта цель...

Номер патента: 1138733

Опубликовано: 07.02.1985

Авторы: Лукьянов, Подгорный

МПК: G01N 29/04

Метки: акустико-эмиссионное, качества

...представлено акустикоэмиссионное устройство контроля качества изделий и материалов.Устройство содержит последова- тельно соединенные преобразова тель 1, усилитель 2 и формирователь 3 огибающей, последовательно соединенные электронный ключ 4 и интенсиметр 5, первый счетчик 6, подключенный к выходу электронного ключа 4. Устройство снабжено также последовательно соединенными блоком 7 выделения экстремума, формирователем 8 нормированных импуль- . сов, триггером 9, схемой 10 задержки, вторым счетчиком 11, цифроаналоговым преобразователем 12 и регистратором 13, первым компаратором 14, включенным между формирователем 3 огибающей и вторым входом триггера 9, вторым кампаратором 15, включенным между усилителем 2 и вторым входом второго%счетчика 1,...