G01N — Исследование или анализ материалов путем определения их химических или физических свойств

Номер патента: 1562792

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Дараган, Ларченко, Миндюк, Филиппов

МПК: G01N 21/47

Метки: анализатор, нефелометрический

...блоком 9 оЬработки сигнала. Анализатор раЬотает следующимз 1562792 4 оставитель С.ехред М,дидьи ор И. Кучерявая нящаяКор Редактор Н. Лазоренк ж 511 Подписное ета по изобретениям и открытиям а, Ж, Раушская наб., д, 4/5 59 и осударственного ком113035, Иос аказ НИИП НТ СССР здательский комбинат "Патент", г.ужгород,Производстве гарина, 101 Часть светового потока, рассеянного на частицах, регистрируется фотоприемником 2, Электрический сигнал фотоприемника 2, который затем обрабатывается блоком 9, пропорционален концентрации пыли в зоне 8 анализа.Светоловушка 3 совместно с установленным в ней имитатором служит для снижения фоновых засветок, попадающих 1 р на фотоприемник 2., Для периодического контроля градуировки прибора с помощью механизма...

Номер патента: 1562793

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Куимов, Лагутин, Левандовская, Малый

МПК: G01N 21/55

Метки: абсолютных, зеркального, коэффициентов, отражения

...ч вводится в5поток излучения, При этом поток из,лучения, пройдя через светоделитель,поступает на приемник 10, и полученный отсчет А оказывается пропорцио"нальным коэффициенту пропускания это.гр светоделителяА, = ф(1 -Рс).,где- коэффициент зеркального отражения светоделителя, причем предполагается, чтоср + сгде г, -, коэффициент пропускания светоделителя.На третьем этапе зеркало 7 посредством механизма 9 вводится в потокизлучения, отразившись от светоделителя 3 и плоских зеркал 5-7, поступает на приемник 10 излучения. Полученный при этом отсчет А з пропорцио" 25нален пропусканию опорного каналаАэ Ф сдРюМт эгде , 6,ят - коэффициенты зеркаль 1ного отражения зеркал 5, б и 7 соответственно.На четвертом этапе устанавливается исследуемый...

Номер патента: 1562794

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Колосанов, Марков

МПК: G01N 21/55

Метки: коэффициента, отражения, поверхностей

...приэтом свет эффективно рассеивается ичерез прорези в светонепроницаемыхэкранах 8 и 9 попадает внутрь образцов, Велицины световых потоков ЙР иЫ с участков прорези 61 вблизи торцов со стороны истоцника излученияи на расстоянии 1 от этих торцов связаны с величинами световых потоковГ входящих в торцы, и Р, прошедших расстояние 1 вдоль световодов,соотношениями- линейный коэффициент ослабления излучения в ма 5териале световодов;ДБ 6 Б- площади окон прорези вблизи торцов световодов состороны источника излучения и на расстоянии 1 отэтого торца соответственно,Из этих соотношений следует, что в предположении неизменности величины светового потока, выходящего внутрь образцов, по длине световодов имеет место равенство где К ДБе ДБю где Н, и Н...

Номер патента: 1562795

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Брюханов, Ибраев, Кецле, Лауринас, Мулдахметов, Регир, Рунов

МПК: G01N 21/64

Метки: газах, кислорода

...раствора эозина с концентра 1 ией, изменяющейся в диапазоне5;10 - 5 -.10 М. Далее поступают,как описано в примере 1, получая сорбенты с содержанием красителя в диапазоне 2,5-10 - 2 10 Мг (поскольку при концентрациях эозина,больших 2 10М, сорбция не количественна,. содержание красителя в фазеО сорбента находят по изменению оптической плотности исходного растворапосле сорбции),Отношение интенсивностей замедленной,флуоресценции эозина, сорбирован ного на кремнеземе, содержащем химически привитые молекулы триметилпропиламмоний хлорида, при концентрацияхкислорода 440 и 0,17 мкг/л (Ь) приведено в таблице.о Содержание эозина, Мг 2,5 10 5 10 5 10 1,5 10 2 10 Ь . 80 140 540 150 50 Значение Ь в известном способе рав 55 но 90,П р и м е р...

Номер патента: 1562796

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Александров, Бородин, Журавлев, Позубенков

МПК: G01N 21/64

Метки: вращательной, газа, молекулярного, температуры

...Ту,у ) почти прямолиней- .на, что очень удобно для измерения,На фиг. 3 показана зависимость относительной ошибки АТ/Т от температуры. Иэ Фиг . 3 видно, что данный способ определения температуры особенноудобен и точен для диапазона высокихтемператур 10000 : 20000 К, где относительная ошибка менее 53.Данный способ поост в поимечениии позволяет определять температуры вдиапазоне до 20000 К, что весьма важно при исследовании мощнь,:х дуговыхплазмотронов, ВЧ-плазмотронсв и других плазменных устройств,П о и м е р . Способ применяютпри исследовании дуги выс 1.,;ого давления в плазмотроне переменного тока.В измерительное устройство входят монохроматор с дифракционной решеткой,ФЭУ и самописец, На фиг, 1 приведеназапись части...

Номер патента: 1562797

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Будько, Хабаров

МПК: G01N 21/64

Метки: мезатона

...подобно пробе анализируемого раство" ра, Концентра ция вещества определяет О ся по калибровочному графику. Предла" гаемый способ позволяет определять ,до 0,1 мкг/мл.П р и м е р 2. Воздух с объемным расходом 10 л/мин аспирируют через фильтр АФАВП .10 в течение 15 мин.Фильтр с отобранной .пробой помещают в химический стакан, прибавляют 5 мл изопропилового спирта и извлекают мезатон. 20К 1 мл отобранной пробы прибавляют 1 мл 703"ной гидроокиси калия и О, 1 мл хлороформа,. Раствор кипятят 15 с на спиртовке через 13 мин объем доводят до 10 мл смесью, состоя.25 щей из ЛИФА (80"903) и 103,-ного рас" твора аммиака (20"103), и измеряют интенсивность флуоресценции при длит. не волны флуоресценции 460470 нм, . 703-наяКОН 6 7 8 9 10 11 12 13 40...

Номер патента: 1562798

Опубликовано: 07.05.1990

Автор: Аполицкий

МПК: G01N 21/67

Метки: анализа, лазерного, локального, спектрального

...возрастает в 3-5 раз при испарении одного и того же количества исследуемого вещества по срав-нению с известным способом (прототип) возЬуждения спектра при локально-ла" зерном спектральном анализе. Устройство позволяет осуществить загорание двух высоковольтных разрядов в момент поступления исследуемого, вещества в их межэлектродные промежутки, повысить коэффициент использования исследуемого вещества, увеличить время пребывания атомов определяемых элементов в зоне возбуждения, т.е, повысить чувствительность локаль. но-лазерного анализа.Увеличение размеров высокотемпературной зоны способствует не только повышению чувствительности анализа, но и повышает точность анализа, как за счет снижения нижней границы определяемых содержаний, так и за...

Номер патента: 1562799

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Гордеев, Гришнова, Моисеев, Салганский, Шишов

МПК: G01N 21/67

Метки: алкильных, анализа, высокочистых, группы, металлов, соединений

...охлаждения. Углеводороды через патрубок 11 удалялись из зоны реакции. Поскольку упру."5 1562799 6 гость пара примесных металлов значи- вестным, следует, что содержа ние алютегьно ниже, чем у цинка, они кон- миния и магния, определяемых предла-". центрировались на графитовом коллек- гаемым способом, в 1 О раз превышает торе 12. После отгонки через деструк- концентрацию тех же примесей, опретор-концентратор 1 г диэтилцинка кон деленных известным способом. Анализ центраты примесей из ампул 1 и 4, по- известным способом дает заниженные лученные в результате двухстадийно- результаты по содержанию примесей го концентрирования, извлекали и ана- алюминия и магния в образце диметиллизировали атомно-эмиссионным мето" кадмия. Пределы обнаружения...

Номер патента: 1562800

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Герасименко, Мосенкис, Остапишин, Пилипчук

МПК: G01N 21/76

Метки: чувствительного, элемента

...пористого слоя оксида металлоида и соединения обоих слоев (слоя, поверхность которого покрыта люминофором20и второго слоя), и уменьшение шлифованием толщины второго слоя до величины, при которой выходной сигнал элемента не зависит от влагосодержанияанализируемого газа, обеспечивает новое свойство чувствительного элемента - независимость его чувствительности от влажности анализируемого газа беэ ухудшения динамических свойствэлемента,Соединение двух слоев выполняется,30например, склеиванием прозрачным клеем. В случае выполнения пористогослоя из селикагеля в качестве проз-.рачного клея может использоваться силикатный клей или поливиниловыйспирт..Чувствительный элемент работаетследующим образом.Возбуждающее излучение, частичнопоглащаясь в...

Номер патента: 1562801

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Бутенко, Дядюк, Искин, Черкашина

МПК: G01N 22/00

Метки: биологической, исследования, среды

...стержне 3 бегущую волну на частоте Г которая,распространяясь вдоль стержня 3, по"падает в измеритель 2 мощности. Приэтом генератор 6 Фотонного излученияравномерно засвецивает слой 5 фотополупроводника, обеспечивая тем са"мым малые потери мощности в диэлектрическом стержне 3 из-эа высокойпроводимости слоя 5, которая вызвана засветкой слоя 5 фотонным иэлучнием от генератора 6. Проводимостьслоя 5 растет за счет повышения концентрации носителей в полупроводнике при увеличении интенсивности Фотонного излучения, причем небольшаячасть мощности, доли процента, проникает через слой 5 в биологическуюсреду 1, обеспечивая ее облучение.Если частота 1 не является биологически активной частотой, т.е. невлияет на свойства, в том числе...

Номер патента: 1562802

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Жданов, Сельченков, Твердохлебов, Токарев

МПК: G01N 23/04

Метки: автомобильных, рентгенотелевизионного, шин

...и при ее установке на опорномдиске возможны некоторый разбросПоложения элементов структуры и ихразмеров, а также вибрации шины приее вращении, изображение стандартноцшины обрабатывают в телевизионномтракте ВКУ таким образом, чтобы онобыло расАокусированным ("размытым")в пределах поля допуска. О2 О25 выбранного элемента структуры шины,например, рисунка протектора, Принеобходимости стробоскопическоеиэображение центрируется по меткамна телевизионном экране ВКУ, послечего с блока Я хранения на второйвход ВКУ подается электрическийсигнал, несущий инАормацию об изобраении стандартной шины, выполненнойв обратном контрасте, В этом случае позитивному иэображению элементов структуры контролируемой шинысоответствует негативное...

Номер патента: 1562803

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Алавердова, Бабенко, Дудкин, Коваль, Михайлов

МПК: G01N 23/20

Метки: анализа, пленок, рентгеноструктурного, тонких

...гониометра, а также угловую ширину пучка в антибрегговском направлении. Затем с помощью щелевой системы Формируют пучок, .имеющий прямоугольную форму сечения, при этом большая сторона прямоугольника параллельна поверхности образца и составляет угол Ы с экваториальной плоскостью,Затем устанавливают в держатель гониометра массивный эталон под углом М к экваториальной плоскости и 40 производят его юстировку, Установив угол падения пучка Ч и произведя серию съемок от эталона при различиой ширине пучка в брегговской плоскости, находят ЬЦ и уста на вли дают угловую ширину пучка в брегговской плоскости для съемок тонкопленочного образца, который затем помещают в держатель, после чего приступают к съемке.П р и м е р. Производится анализ...

Номер патента: 1562804

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Асланян, Безирганян, Мартиросян, Симонян

МПК: G01N 23/20

Метки: кристаллов, рентгеновской, топографии

...9 овЫ 9 лАгде 8, и В - углы наклонов левойи боковой поверхностейОА и О+Псоответственно. При одинаковых наклонах боковые поверхности Ь, и Дравны. Этот способ позволяет получить маят" никовые полосы от достаточно толстых клиновидных кристаллов, от которых можно получить и эффект Бормана.Когда в толстых кристаллах (фиг.8) первичная волна падает ближе к боковой поверхности, из верхней части кристалла в направлении отражения выходят ворны с волновыми векторами Ки К ь и образуют маятниковые по"Илосы, а от основания в результате эффекта Боомана выходят волны второФ, Уго поля К и К. На Фиг. 9 привеР 2.дена схема распределения интенсивности в зависимости от расстояния линии падения первичной волны до боковой поверхности призмы, показанной на...

Номер патента: 1562805

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Киселев, Нигметова, Швецов

МПК: G01N 23/20

Метки: анализа, жидкостей, кювета, рентгеноструктурного

...возможность герметизации первой полости спомощью прижимного кольца 9 и резино- З 0вого уплотнения 10,Кювету используют следующим образом.При исследовании жидкой ртути полость 2 заполняют (примерно на 903от ее объема) ртутью, закрывают крышкой 4, выполненной из вакуумплотнойбериллиевой пластинки, и герметизируют с помощью уплотнительной прокладки 10 и прижимного кольца 9. Кюветуустанавливают в вертикальном положе- ,нии (т.е так, чтобы облучаемая черезкрышку поверхность ртути лежала ввертикальной плоскости) на предварительно отъюстированный гониометрГУРс помощью отъюстированной приставки ГП. При этом ось гониометраоказывается в плоскости, разделяющейисследуемую жидкость (ртуть) и бериллиевую крышку кюветы.5 ОПри установившейся...

Номер патента: 1562806

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Богданов, Зырянов

МПК: G01N 23/20

Метки: разновидностей, хризотил-асбеста

...значение.40При прокаливании нормального хризотил-асбеста в течение 50-70 мининтенсивность рефлексов Форстеритамаксимальна и не увеличивается в течение времени, Следовательно, оптимальным временем прокаливания является время 50-70 мин. При прокаливании в течение времени больше 70 мин,на дифрактограммах ломкого хризотиласбеста возможно появление рефлексов Форстерита, при прокаливаниив течение времени меньшем, чем 50 мин,различия в дифрактограммах ломкогои нормального хризотил-асбеста проявляются нечетко,о 55Температура прокаливания 640-660 Сявляется оптимальной, поскольку припрокаливании при меньших температурах характер дифрактограмм нормального и ломкого .хризотил-асбестоводинаков (Фиг, 2), а при болеевысоких температурах на...

Номер патента: 1562807

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Агафонов, Демкин, Кац, Петьков

МПК: G01N 23/20

Метки: автоматический, дифрактометр

...валов. Весь шаг ьв представляслуцае, когда период импуль овериод импульсов сос- ется последовательностью микрошаговтавляет 5-30 мкс. Коэффициент деле Абм, равных дискретности преобразования делителя 11 частоты выбирается телей 3 5 у - д,й 3 и 5 гол-ко т,е. минимальтаким, цтобы его выходные импульсы ному контролируемому интервалу повоимвли цастоту, равн."ю частоте прие- рота вала. При этом каждый микрошагмистости шаговых двигателей приводов А Ом должен отрабатываться за время4 и 6, что обеспечивает максимально. 20 микроэкспозиции с м, определяемоедопустимую скорость вращения рентгеновской трубки 15 и детектора 16,= ф- т.е. с, =эустановленных на выходных валах при Ом мкэИсходя из этой зависимости, передмистости шаговых двигателей от 100...

Номер патента: 1562808

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Вавилин, Онищенко, Тузиков

МПК: G01N 23/201

Метки: дифрактометр, малоугловой, рентгеновский

...кинематической парывинт - гайка. Держатель 4 образцаразмещен на подвижной каретке 10гониометра и выполнен в виде кюветыс плоскопараллельными окнами, адиаАрагма 5 и детектор 7 установленына платформе 1 неподвижно. Кроме того, на каретке 10 и платАорме 1 размещены элементы датчика расстоянияобразец - детектор (не показан), выполненные, например, в виде линейногопотенциометра. К центру диафрагмы 5прикреплен поглотитель 14 рентгеновского пучка. Кювета держателя 4образца состоит из нижнего и верхнего оснований, между которыми размещены эластичный вкладыш со сквозным отверстием, образующим полость,и полимерные пленки. Эластичныйвкладыш изготовлен из вакуумной резины толщиной 1 мм, а полимерныепленки, ограничивающие полость кюветы, - из...

Номер патента: 1562809

Опубликовано: 07.05.1990

Автор: Дегтярев

МПК: G01N 23/227

Метки: изломов, концентрации, молибден, поверхности, содержащих, сплавах, фосфора

...концентрации фосдюра.Способ осуществляется следующим образом.В дополнение к облучению пучком электронов поверхности исследуемого излома в сплавах, содержащих молибден, регистрации оже-электронов, измерению интенсивности пиков оже.801 6 809 А 1 2(57) Изобретение относится к электронной оже-спектроскопии и может быть использовано при исследовании инструментальных сталей и их сплавов. Цель - повьппение точности определения концентрации Фосфора на поверхности изломов в сплавах, содержащих молибден, Дополнительно к регистрации оже-спектра электронов от поверхности излома проводят регистрации ,спектра оже-электронов от шлифа, а интенсивность пика оже-электронов Фосфора определяют как разницу между интенсивностью пика оже-электронов с...

Номер патента: 1562810

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Катаев, Садыков

МПК: G01N 24/00

Метки: исследования, магнитного, металлических, образцов, приготовления, резонанса

...растягивающие усилия,1562810 Формула изобретения Составитель Т, ТоропкинаТехред Л,Олийнык Корректор В, Кабаций Редактор Н. Лазаренко Заказ 1060 Тираж ч 88 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Иосква, Ж, Раушская наб., д. /5 Производс.твегнно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул, Гагарина,101 При этом толщины непроводящей эластичной основы и клеящих слоев выбирают, как правило, такими, чтобы они не превосходили размеры металлических 5 частиц, а клеящее вещество после высыхания образует эластичную пленку,В приготовленном образце для иссле дования магнитного резонанса металлические частицы оказываются плотно прижатыми и надежно электрически изолированными друг от друга. При...

Номер патента: 1562811

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Бабикова, Островская, Попов, Суздалев, Филиппов, Фролов

МПК: G01N 24/00

Метки: газа, состава, химического

...их мессбауэровскиеспектры, сравнивают полученные спектры сисходными мессбауэровскими спектрами и по их различию судят о соста-ве газа,35На чертеже представлены мессбауэровские спектры,Исходный спектр тонкой пленкиРез на алюминиевой Фольге йзображен на чертеже кривой 1, тонкаяпленка Реа" на алюминиевой Фольгепосле обработки трибутилйосФатомл(анод) кривой 2; тонкая пленка Рена алюминиевой йольге после обработкитрибутилйосйатом (катод) - кривой 3.П р и м е р 1. В качестве анализируемого газа использованы пары трибутилйосйата, В качестве активных веществ (анода и катода) использовазтчлись тонкие пленки. Ге толщиноиО400 - 500 А на алюминиевой Фольге.Мессбауэравские спектры таких тонких пленок Ге представляют собоиючхорошо разрешенные линии...

Номер патента: 1562812

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Болелый, Гаевой, Куц

МПК: G01N 24/08

Метки: жировым, загрязнениям, моющей, отношению, способности

..."Ама" 57,3+0,864,5+0,8577,5+0,7 порошок "Лотосавтомат" при 90 С То жепорошки с ферментами при 50 С 14 По сравнению с известным в предлагаемом способе точность определенияповышается в 1,5-2 раза, а времясокращается не менее чем в 10 раз. экспрессности анализа, а также безопасности условий работы, одновременно регистрируют спектр ядерного магнитного резонанса протонов жировыхзагрязнений на ткани и эталона -(0,01-2,0)И ацетилацетоната марганца в дейтеробензоле или дейтероацетоне, в качестве физико"химическогопараметра выбирают интенсивность сигналов протонов жировых загрязнений,а о моющей способности судят по изменению интенсивности, нормированнойк сигналу эталона. Формула изобр етенияСпособ определения моющей способности по отношению к...

Номер патента: 1562813

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Комаров, Корнилов, Туров

МПК: G01N 24/08

Метки: исследования, органических, соединений

...диамагнитног.о хелата пропорциональность ЛИС от молярного отношейия ЛСР 1: субстрат сохраняется,что дает возможность вычислять веЛичины удельных ЛИС. ИспользованиеЬа (ФОЛ), У (ФОЛ)ь, Ьц (ФОЛ)з вызывает не .только повышение растворимости соединений, но и значительный(в 2-3 раза) рост величин ЛИС притех же количествах добавленного Ец(ФОЛ) . Увеличение ЛИС, вызванныхсдвигающими реагентами в присутствииЬа (ФОЛ)з, У (ФОД)з, Ьц (ФОЛ) обес"печивает их определение для сигналовмагнитных ядер тех соединений, которые плохо взаимодействуют с ЛСР (например, тетрафторбораты), и дает меньшие относительные ошибки измерений.Поэтому при исследовании с помощьюЛСР даже растворимых соединений, длякоторых не требуется достижение растворения, также...

Номер патента: 1562814

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Абеляшев, Бержанский, Полулях, Сергеев, Федотов

МПК: G01N 24/08

Метки: веществах, взаимодействий, квадрупольных, магнитоупорядоченных, регистрации, сверхтонких, электрических, ядер

...ьса ми и частотой заполнения возбуждающих импульсов, соответствующей ларморовской частоте исследуемого ядра . Соотношение длительностей первого е и второго ед РЧ-импульсов удовлетворяет условию /%2. Произ Водя перестройку спектрометра по часготе в пределах существования сигнала СЭ на 2и варьируя амплитуду РЧ-импульсов, доби ва ются поя вления сигнала СЭ, возникающего в момент е =5/2 ь, Затем регистрируют спектр ЯМР, который является функцией амплитуды сигнала СЭ в момент времени С=5/21,. Из полученных спектров определяются параметры электрического квадрупольного 20 СТВ.На фиг. 1 изображена Фотография Двух сиг,налов СЭ ядер ззСг при Т = = Й,2 К в СЙ о,о 4 АВ о,о 4 СгЯ 14, возникающих в момент времени =2 В и = 25 5/2 Т после воздейст вия...

Номер патента: 1562815

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Иванов, Кляшторный, Мухаммад, Соложенкин

МПК: G01N 24/10, G01N 31/22

Метки: изотопного, меди, реагент, состава

...расчет изотопной концентрации меди). 45 Полученный таким образом раствор переливают в фарфоровую чашечку и в токе воздуха испаряют растворитель, Образец магнитноразбавленного комплекса Сц, Нд(ЕЭс) осторожно растирают до порошкообразного состояния, засыпают н стеклянную ампулу и записывают высокопольные компоненты СТСпараллельной ориентации, по которымпроводят расчет изотопной концентрации меди, Далее из спектров рассчитывают отношение амплитуд компо"нент СТС, обусловленных изотопамимедии меди. Полученное отношение умножают на эмпирический коэффициент пересчета и вычисляют изотопную концентрацию меди, соответствующую полученной величине,Для расчета эмпирического коэффициента записывают спектр ЭПР магнитноразбавленной системы...

Номер патента: 1562816

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Осоргин, Томиленко

МПК: G01N 25/00

Метки: микротермокамера

...в крышке по ее оси выполненыцили ндрич ес кое углубление для ра змещения образца и сквозное отверстие,а по периметру цилиндра выполненыотверстия, в одном из которых уста новлен перфорированный капилляр, соеди"няющий внутреннюю полость цилиндра сканалом для инертного газа.ил. нагревателя, уменьшение вр дувки газом, уменьшение об ра и снижение тепловых потНа чертеже предстаалена кротермока мерыМикротермокамера содерж крышку 2, перфорированный каналы 4 водяного охлажден 5; нагреватель б, лейкосап ложку 7, верхнее смотровое термопреобразователь 9, сп1562816 Составитель Е. Полуниактор Н, Лазаренко Техред Л.Олийнык рректор Т, Пали Заказ 1060 Тираж 493ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и113035, Иосква, Ж, Раушская наб...

Номер патента: 1562817

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Коваль, Новиков, Рябчиков

МПК: G01N 25/00

Метки: модуля, объемной, упругости

...Использование обнаруженного ново" го свойства металлических стекол, характеризующегося приведением выше уравнением, позволяет определять Кметаллических стекол только по одному регистрируемому параметру - с( причем для определения К нет необходимости специально тщательно готовить (обрабатывать) образец фольги, что очень упрощает и повышает производительность предчагаемого способа определения К металлических стекол относительно известных технических решении.П р и м е р. Металлические стекла различных химических составов получают известным методом закалки расплава на вращающемся медном диске. Аморфность полученных фольг проверяют рентгенографически на дифрактометре ДРОН-З,О (Ко-К излучение). Все образцы рентгеноаморфны.Для всех...

Номер патента: 1562818

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Петухов, Пылайкин

МПК: G01N 25/00

Метки: выявления, наружных, поверхностях, стальных, трещин

...применения предлагаемого способаостатки трещины снова проявились итолько после разделки зоны трещины,до глубины 23 мм трещина не обнаруживалась и предлагаемым способом.Далее зона трещины механическимпутем бьцта обработана с расчетом,чтобы границы зоны трещины и дно 25выборки имели плавные радиусные переходы, как это показано на фиг.7,С разделанной таким образом зонойтрещины днище быпо допущено к дальнейшей эксплуатации,При нагреве зоны трещины использовался обычный резак для кислородно-ацетиленовой резки металла. Наибольшая температура пламени резакана расстоянии 3-5 мм от ядра пламени составляет 3100-3150 С, а по обестороны этой точки она значительноменьше, но выше температурй плавлеония стали 1510 С. Механизм выявления .скрытой...

Номер патента: 1562819

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Коваль, Новиков, Прядко

МПК: G01N 25/18

Метки: теплофизических, характеристик

...концам нагревателя. (Образца ) подключен источник 4 тока. Для измерения и регулирования температур дополнительного нагревателя (образца), защитного кожуха и камеры используется схема 5 измерения и регулирования температур.К исследуемому образцу (дополнительному нагревателю) 2 от источника 4 тока подается дозированное количество тепла Щ = 1 Кд 1: в виде Прямоугольного импульса тока силой 1 за короткое время Ьс (К -сопротивление спиралевидного нагревателя). Схема 5 измерения температур определяет начальную Тн и конечную Тк температуру исследуемого образца после сообщения ему тепловой энергии Щ. Зная К, , Т-Т., можно определить теплоемкость образца С = 1 К (Т- - Тц), если в период времени С тепловые потери будут малы по сравнению35 Биток...

Номер патента: 1562820

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Гумеров, Дудко, Ковалев, Пахомов, Теличкун

МПК: G01N 25/18

Метки: теплофизических, характеристик

...Переход на новый режим осуществляется при условии, чтобы квазистационарный тепловой режим при двух раз 2(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТЕПЛОфИЗИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК МАТЕРИАЛОВ(57) Изобретение относится к технической физике и может быть использовано для определения теплофизическиххарактеристик материалов. Цель изобретения - повышение точности определения теплофизических характеристик.Теплопроводность, объемную теплоемкость и температуропроводность определяют квазистационарным методом нагрева образца, в среднем слое которого размещен нагревате ь, при двухрежимах нагрева. Нагрев образца навтором режиме уменьшают до величины,обеспечивающей соотношение первоначального темпа нагрева и последующего в диапазоне 1,8-5,0, 1 ил,ц (Ьт + Ьс ) - ц...

Номер патента: 1562821

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Бабенко, Бердышев, Захаров, Коростелев, Ценципер

МПК: G01N 25/32

Метки: металлов, состава, сплавов, термоэлектрического

...14. Холодный электрод 6 и под5 его действием держатель пробы с пробой опускаются по рейке 11 до установления контакта пробы с горячим электродом. В момент контакта выключатель 10 фиксирует данное положение пробы, Подпружиненный извлекатель пробы пос- лЕ окончания замера и отвода системы впервоначальное положение поднимает пРобу на треть. ее высоты, позволяя таким образом легко извлечь ее из держателя и быстро заменить. Такое конструктивное решение позволяет сократить цикл измерения н повышает эКспрессивность контроля. Градиент температуры создается в пробе 16 прямоугольной формы путем погружения од ного конца пробы в емкость 2 с кипящим теплоносителем, а другого в , в холодную проточную воду, поступающую 25 по трубе 3 и...